JPH0418249B2 - - Google Patents

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JPH0418249B2
JPH0418249B2 JP60211316A JP21131685A JPH0418249B2 JP H0418249 B2 JPH0418249 B2 JP H0418249B2 JP 60211316 A JP60211316 A JP 60211316A JP 21131685 A JP21131685 A JP 21131685A JP H0418249 B2 JPH0418249 B2 JP H0418249B2
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JP
Japan
Prior art keywords
light
optical
position detecting
optical system
detecting means
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP60211316A
Other languages
English (en)
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JPS6270710A (ja
Inventor
Motoo Igari
Akira Nagaoka
Yoshiaki Kanbe
Hitoshi Myashita
Masaharu Myazaki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP60211316A priority Critical patent/JPS6270710A/ja
Publication of JPS6270710A publication Critical patent/JPS6270710A/ja
Publication of JPH0418249B2 publication Critical patent/JPH0418249B2/ja
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  • Switches Operated By Changes In Physical Conditions (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【技術分野】
本発明は、投光手段から検知エリアに投光され
る光ビームの被検知物体による反射光を受光手段
にて受光し、受光手段の出力に基づいて検知エリ
ア内の被検知物体の有無を検知する反射型光電ス
イツチに関するものである。
【背景技術】
従来の反射型光電スイツチとしては、投光手段
から検知エリアに投光した光の被検知物体による
反射光を受光手段にて受光し、被検知物体からの
反射光量の大小によつて被検知物体の有無を判定
するものがある。このような反射型光電スイツチ
にあつては、被検知物体の後方に高反射率の物体
がある場合や、被検知物体の反射率が異なる場合
などにおいて測距誤差が生じて誤動作が発生(検
知距離が変化)するという問題があつた。 そこで、このような誤動作を防止するようにし
た反射型光電スイツチとして、発明者らが特願昭
58−14163号として出願している三角測量方式の
ものがある。 この反射型光電スイツチを第4図及び第5図に
示す。この反射型光電スイツチの投光手段1は、
投光用発光素子12と、投光タイミングを設定す
るクロツクパルスを発生する発振回路10と、投
光用発光素子12を駆動するドライブ回路11
と、凸レンズよりなる投光用光学系13とで構成
され、投光用発光素子12から発せられる光を投
光用光学系13で光ビームPに成形して検知エリ
アに投光する。 上記投光手段1から所定距離l0をおいた側方に
は凸レンズからなる受光用光学系2を配置してあ
り、この受光用光学系2で被検知物体Xによる光
ビームPの反射光Rを集光する。 この受光用光学系2の集光面には位置検出手段
4を配置し、集光スポツトSの位置(距離lに対
応してM方向に移動する)に対応した位置信号
IA,IBを出力する。上記位置検出手段4として
は、例えば1次元位置検出素子(PDS)を用い
ることができ、この出力信号は相反した信号とな
つている。ところで、第6図a〜cは、夫々被検
知物体Xまでの距離がlb,la,lcである場合にお
ける位置検出手段4上の集光スポツトSの位置を
示している。なお、上述の1次元位置検出素子に
代えて2個のフオトダイオードをM方向(集光ス
ポツトSの移動方向)に連設したものを位置検出
手段4として用いてもよいことは言うまでもな
い。 判別制御手段5は、上記位置検出手段4の出力
に基づいて被検知物体Xが所定の検知エリア内に
存在するかどうかを判別して出力回路6を制御す
る。 この判別制御手段は、上記位置検出手段4から
出力される位置信号(相反する電流信号IA,IB
を夫々増幅して電圧信号VA,VBに変換する受光
回路21a,21bと、受光回路21a,21b
の出力を対数増幅する対数増幅回路22a,22
bと、対数増幅回路22a,22bの出力lnVA
lnVBの差を演算する減算回路23と、減算回路
23の出力lnVA,lnVBと距離設定用ボリユーム
VRにて設定される基準電圧VSとを比較電圧コン
パレータよりなる比較回路24と、比較回路24
の出力を発振回路10の出力に基づいてチエツク
(クロツクパルスに同期してレベルを判定)する
ことにより誤動作を防止する信号処理回路25と
で構成してある。なお、比較回路24では、減算
回路23の出力lnVA,lnVBが第7図に示すよう
に基準電圧VS以下のとき(被検知物体Xが検知
エリア内に存在するとき)に出力が“H”レベル
となる。そして、上記信号処理回路25から物体
検知信号が出力されたとき、出力回路5が駆動さ
れる。 なお、被検知物体Xが検知エリアの遠点(検知
距離)に存在する場合における集光スポツトSの
位置(IA,IBが同一値になる中央位置)が第6図
bになるように光学系13,2及び光フアイバ
7,8a,8bの相対位置を設定するようにすれ
ば、受光回路21a,21bの出力VA,VBを比
較回路24にて直接に比較してその大小を判定す
ることにより、比較回路24の出力として物体検
知信号を得ることができ、回路構成が簡単になる
とともに、距離設定用ボリユームVRによる調整
作業も不要になる。 ところで、このような従来例において、被検知
物体Xが近距離(例えば第4図中の距離ld)に存
在すると、受光用光学系2にて集光される反射光
Rが位置検出手段4に入射せず、位置検出手段4
の出力の信号レベルが小さくなつて(あるいは零
になつて)、物体検知動作が不能になる問題があ
つた。 第3図に示す実線は上記従来例の距離lに対す
る減算回路23の出力lnVA/VBを示すもので、
被検知物体Xが近距離に存在する場合において、
位置検出手段4への入射光がないために減算回路
23の出力lnVA/VBが得られず、被検知物体X
が近距離に存在する場合において、不感領域L0
が発生していることを示す。なお、位置検出手段
4に入射される光が少なくなつて、出力される位
置信号IA,IBの電流レベルが受光回路21a,2
1bにおいて処理できる電流レベル以下になる
と、誤動作が発生することになるため、検知動作
をオフするようになつている。また、検知距離
(検知エリアの遠点)の設定可能範囲Lは減算回
路の出力lnVA/VBが正の領域に設定されている。 つまりは、この種の光電スイツチでは、検知距
離よりも手前に被検知物体Xが存在する場合には
検知信号が出力され、検知距離よりも遠くに被検
知物体Xがある場合に検知信号が出力されないよ
うに設定されるべきであるにもかかわらず、光電
スイツチの真近に不感領域が発生してしまうとい
う問題があるのである。
【発明の目的】
本発明は上述の点に鑑みて為されたものであ
り、その目的とするところは、被検知物体が近距
離に存在する場合において物体検知動作が不能に
なることがなく、不感領域を殆ど無くすことがで
きる反射型光電スイツチを提供することにある。
【発明の開示】
(実施例) 第1図及び第2図に本発明の一実施例を示す。
本実施例の反射型光電スイツチでは、両光学系
2,13を光学ブロツクAとして投光用発光素子
12及び位置検出手段4から分離し、光学ブロツ
クAと投光用発光素子12及び位置検出手段4と
の間を夫々光フアイバ7,8a,8bにて光学的
に接続してある。このようにすれば、反射型光電
スイツチを狭いスペースに配設しやすくなる。な
お、2個のフオトダイオードを連設して位置検出
手段4を形成したものでは、各フオトダイオード
を受光用光フアイバ8a,8bの出光端面に夫々
光結合し、各フオトダイオードの出力を受光回路
21a,21bに入力すればよい。 夫々の投受光用光フアイバ7,8a,8bは保
持体30に穿設された保持孔35,36に挿入し
て所定間隔で保持してある。なお、保持孔35の
前面部には光源径を小さくするアパーチヤ39を
設けてある。 投受光用光学系2,13は小型の凸レンズより
なり、ケース31を構成するボデイ31aの前面
に、投受光用開口32a,32bを形成して夫々
の投受光用光学系2,13を収納保持するレンズ
ホルダ部32を形成してある。そして、夫々の開
口32a,32bにはレンズ保護を兼ねるフイル
タ33a,33bを被着する。 上記保持体30はボデイ31aの所定位置に嵌
合して収められ、カバー31bを被着すると、光
学ブロツクAが形成される。つまり、このように
して保持体30で光フアイバ7,8a,8bを保
持し、この保持体30をさらにケース31に固定
することで、光フアイバ7,8a,8bを光学ブ
ロツクAを取り付けるケース31に位置決めして
固定できるようにしてある。 ところで、本実施例では、受光用光学系2と受
光用光フアイバ8a,8bの受光面との間の光路
の側方に、V字状反射板34を取り付ける構造と
してある。つまり、このV字状反射板34で、近
距離の被検知物体による反射光の内で受光用光学
系2により位置検出手段4(受光用光フアイバ8
a,8bの受光面)上に集光されない光を、位置
検出手段4(受光用光フアイバ8a,8bの受光
面)上の適所に入射させる光路変更手段9を構成
してある。 このようにすれば、例えば、距離ldに被検知物
体Xが存在する場合においても、受光用光学系2
にて集光された光の内で、従来例では位置検出手
段4に入射されないようになつていた光も、反射
板34で反射して位置検出手段4の一方側(被検
知物体Xが近距離にあつた場合における集光スポ
ツトSの移動側)に入射させることができる。 第3図の点線は本実施例における減算回路3の
出力lnVA/VBを示し、従来例における不感領域
L0に被検知物体Xが存在する場合においても、
受光回路21a,21bにて十分信号処理が行え
る電流レベルの信号電流IA,IBが出力され、減算
回路23の出力lnVA/VBとして距離Lに応じた
レベルの信号が得られており、不感領域L0′を殆
ど無くすことができる。 なお、上記実施例の場合には反射面が平面にな
つていたが、凹面として受光用光学系2にて集光
された光の内で、従来例では位置検出手段4に入
射されないようになつていた光を、位置検出手段
4の一方側に集中的に入射させるようにしてもよ
い。この場合には、第3図中の一点鎖線で示すよ
うに、被検知物体Xが至近距離に存在する場合に
あつても、減算回路23の出力lnVA/VBとして
距離lに略正確に対応した信号が得られ、不感領
域をより確実に少なくすることができる。さら
に、上記実施例の場合には光路変更手段9を反射
板で形成していたが、プリズムあるいは光フアイ
バを用いて形成してもよい。
【発明の効果】
本発明は上述のように、投光用光源から発せら
れる光を投光用光学系にて光ビームに成形して検
知エリアに投光する投光手段と、投光手段の側方
に所定距離をもつて配置され被検知物体による光
ビームの反射光を集光する受光用光学系と、受光
用光学系の集光面に配置され被検知物体までの距
離に応じて集光面内で移動する集光スポツトの位
置に対応した位置信号を出力する位置検出手段
と、位置検出手段の出力に基づいて被検知物体が
所定の検知エリア内に存在するかどうかを判別し
て出力回路を制御する判別制御手段とを備えた反
射型光電スイツチにおいて、両光学系を光学ブロ
ツクとして投光用光源及び位置検出手段から分離
すると共に、光学ブロツクと投光用光源及び位置
検出手段との間を夫々光フアイバにて光学的に接
続し、光学ブロツクを取り付けるケースに位置決
めして夫々の光フアイバを固定し、近距離の被検
知物体による反射光であつて受光用光学系により
位置検出手段上に集光されない光を位置検出手段
上の適所に入射させる光路変更手段を受光用光学
系から位置検出手段に対応する光フアイバに至る
光路の側方に設けてあるので、被検知物体が近距
離に存在し、受光用光学系にて集光された光が位
置検出手段に直接に入射されない場合に、この光
を光路変更手段によつて反射させて位置検出手段
の適所に入射させることができ、被検知物体が近
距離にあつても確実に検出できる。つまり、本発
明では近距離に存在する被検知物体を検知できな
い不感領域を殆ど無くすことができる。しかも、
発明では、両光学系を光学ブロツクとして投光用
光源及び位置検出手段から分離すると共に、光学
ブロツクと投光用光源及び位置検出手段との間を
夫々光フアイバにて光学的に接続し、光学ブロツ
クを取り付けるケースに位置決めして夫々の光フ
アイバを固定し、近距離の被検知物体による反射
光であつて受光用光学系により位置検知手段上に
集光されない光を位置検出手段上の適所に入射さ
せる光路変更手段を受光用光学系から位置検知手
段に対応する光フアイバに至る光路の側方に設け
てあるので、位置検出手段、光学系及び光路変更
手段の位置関係が固定され、このため不感領域が
変動する恐れがなく、確実に不感領域を小さくす
るという効果を得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の要部の断面図、第
2図は同上の要部の分解斜視図、第3図は同上の
動作説明図、第4図は従来の反射型光電スイツチ
の要部の概略構成図、第5図は同上の回路構成を
示すブロツク図、第6図は位置検出手段の動作説
明図、第7図は被検知物体の検知動作の説明図で
ある。 1は投光手段、2は受光用光学系、4は位置検
出手段、5は判別制御手段、6は出力回路、7,
8a,8bは光フアイバ、9は光路変更手段、1
3投光用光学系、31はケースである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 投光用光源から発せられる光を投光用光学系
    にて光ビームに成形して検知エリアに投光する投
    光手段と、投光手段の側方に所定距離をもつて配
    置され被検知物体による光ビームの反射光を集光
    する受光用光学系と、受光用光学系の集光面に配
    置され被検知物体までの距離に応じて集光面内で
    移動する集光スポツトの位置に対応した位置信号
    を入力する位置検出手段と、位置検出手段の出力
    に基づいて被検知物体が所定の検知エリア内に存
    在するかどうかを判別して出力回路を制御する判
    別制御手段とを備えた反射型光電スイツチにおい
    て、両光学系を光学ブロツクとして投光用光源及
    び位置検出手段から分離すると共に、光学ブロツ
    クと投光用光源及び位置検出手段との間を夫々光
    フアイバにて光学的に接続し、光学ブロツクを取
    り付けるケースに位置決めして夫々の光フアイバ
    を固定し、近距離の被検知物体による反射光であ
    つて受光用光学系により位置検出手段上に集光さ
    れない光を位置検出手段上の適所に入射させる光
    路変更手段を受光用光学系から位置検知手段に対
    応する光フアイバに至る光路の側方に設けたこと
    を特徴とする反射型光電スイツチ。
JP60211316A 1985-09-25 1985-09-25 反射型光電スイッチ Granted JPS6270710A (ja)

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JP60211316A JPS6270710A (ja) 1985-09-25 1985-09-25 反射型光電スイッチ

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JP60211316A JPS6270710A (ja) 1985-09-25 1985-09-25 反射型光電スイッチ

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JPS6270710A JPS6270710A (ja) 1987-04-01
JPH0418249B2 true JPH0418249B2 (ja) 1992-03-27

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2683927B2 (ja) * 1988-12-22 1997-12-03 キヤノン株式会社 記録装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58179828A (ja) * 1982-04-15 1983-10-21 Canon Inc 能動型オートフォーカス装置

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JPS58179828A (ja) * 1982-04-15 1983-10-21 Canon Inc 能動型オートフォーカス装置

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JPS6270710A (ja) 1987-04-01

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