JPH0510892A - 放射線画像記録板 - Google Patents
放射線画像記録板Info
- Publication number
- JPH0510892A JPH0510892A JP3160368A JP16036891A JPH0510892A JP H0510892 A JPH0510892 A JP H0510892A JP 3160368 A JP3160368 A JP 3160368A JP 16036891 A JP16036891 A JP 16036891A JP H0510892 A JPH0510892 A JP H0510892A
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- Japan
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- sample
- image recording
- recording plate
- rays
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- Pending
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 記録した放射線画像を読み出して解析する場
合に、記録時の放射線の傾斜角や試料までの距離の違い
に起因する強度補正処理が不要で、解析処理を簡易に成
し得ると同時に、解析処理時間を短縮することができ、
さらに、測定精度を向上させることのできる放射線画像
記録板を提供すること。 【構成】 試料５から放たれる放射線を吸収・蓄積する
画像記録面２０ａを、試料５の設置位置を曲率中心Ｏと
する球面に形成する。
合に、記録時の放射線の傾斜角や試料までの距離の違い
に起因する強度補正処理が不要で、解析処理を簡易に成
し得ると同時に、解析処理時間を短縮することができ、
さらに、測定精度を向上させることのできる放射線画像
記録板を提供すること。 【構成】 試料５から放たれる放射線を吸収・蓄積する
画像記録面２０ａを、試料５の設置位置を曲率中心Ｏと
する球面に形成する。
Description
【０００１】
【産業業上の利用分野】本発明は、結晶性試料のＸ線回
折像などを記録するために、結晶構造解析システム等に
使用される放射線画像記録板に関するものである。
折像などを記録するために、結晶構造解析システム等に
使用される放射線画像記録板に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図２は、Ｘ線を使って単結晶試料の構造
解析をする結晶構造解析システムの従来例を示したもの
である。
解析をする結晶構造解析システムの従来例を示したもの
である。
【０００３】この結晶構造解析システムでは、Ｘ線源１
の発したＸ線ビーム２はモノクロメータ３およびコリメ
ータ４を介して試料５に照射し、その結果として試料か
ら放たれる回折Ｘ線を放射線画像記録板（イメージング
プレート）６に記録する。
の発したＸ線ビーム２はモノクロメータ３およびコリメ
ータ４を介して試料５に照射し、その結果として試料か
ら放たれる回折Ｘ線を放射線画像記録板（イメージング
プレート）６に記録する。
【０００４】この放射線画像記録板６は、円盤状の基板
の表面（試料に面した面）一面に、放射線を吸収・蓄積
するとともに励起光が照射されると蓄積した放射線の強
弱に応じて発光（輝尽発光）する蛍光体層を形成したも
のである。
の表面（試料に面した面）一面に、放射線を吸収・蓄積
するとともに励起光が照射されると蓄積した放射線の強
弱に応じて発光（輝尽発光）する蛍光体層を形成したも
のである。
【０００５】そして、放射線画像記録板６に記録された
画像（この場合は、Ｘ線回折像）を、システムに付属の
読取装置７で読み取って、読み取った画像に基づいて所
定の解析処理を行なう。
画像（この場合は、Ｘ線回折像）を、システムに付属の
読取装置７で読み取って、読み取った画像に基づいて所
定の解析処理を行なう。
【０００６】前記読取装置７は、励起光を発生する励起
光源８と、励起光照射時の前記蛍光体層の発光強度を検
出する読取センサ９と、前記励起光源８から放射線画像
記録板６まで励起光を導くとともに、前記蛍光体層の発
光による光を読取センサ９まで導く光学系１０とを具備
した構成である。
光源８と、励起光照射時の前記蛍光体層の発光強度を検
出する読取センサ９と、前記励起光源８から放射線画像
記録板６まで励起光を導くとともに、前記蛍光体層の発
光による光を読取センサ９まで導く光学系１０とを具備
した構成である。
【０００７】なお、補足説明すると、試料５は試料駆動
部１１によって回転させることで入射するＸ線に対する
向きを調整することができ、また、放射線画像記録板６
は記録板駆動部１２によって円盤の中心軸廻りに回転可
能にされている。また、制御部１３は、読取センサ９か
ら受けるデータに基づいて所定の解析処理を行なう他、
画像記録時および画像読取時にシステム内の駆動部（例
えば、前記試料駆動部１１や記録板駆動部１２など）の
動作を制御している。
部１１によって回転させることで入射するＸ線に対する
向きを調整することができ、また、放射線画像記録板６
は記録板駆動部１２によって円盤の中心軸廻りに回転可
能にされている。また、制御部１３は、読取センサ９か
ら受けるデータに基づいて所定の解析処理を行なう他、
画像記録時および画像読取時にシステム内の駆動部（例
えば、前記試料駆動部１１や記録板駆動部１２など）の
動作を制御している。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図２に示し
たように、従来の放射線画像記録板６は、平坦な円盤状
であるため、該記録板６の中心に向う経路（イ）では、
試料５からのＸ線が蛍光体層に対して垂直に当るが、経
路（イ）以外では、試料５からのＸ線が蛍光体層に対し
て斜めに当ることになる。
たように、従来の放射線画像記録板６は、平坦な円盤状
であるため、該記録板６の中心に向う経路（イ）では、
試料５からのＸ線が蛍光体層に対して垂直に当るが、経
路（イ）以外では、試料５からのＸ線が蛍光体層に対し
て斜めに当ることになる。
【０００９】この蛍光体層に対する試料５からのＸ線の
傾斜角は、記録板６の中心から離れるほど大きくなり、
そして、この傾斜角が大きくなるほど、蛍光体層に吸収
・蓄積されるＸ線強度は弱まる。
傾斜角は、記録板６の中心から離れるほど大きくなり、
そして、この傾斜角が大きくなるほど、蛍光体層に吸収
・蓄積されるＸ線強度は弱まる。
【００１０】また、前述した従来例の記録板６では、記
録板６の中心から離れるほど、試料５までの距離が増大
し、これによっても、蛍光体層に吸収・蓄積されるＸ線
強度が弱まる。
録板６の中心から離れるほど、試料５までの距離が増大
し、これによっても、蛍光体層に吸収・蓄積されるＸ線
強度が弱まる。
【００１１】したがって、従来の場合では、記録板６に
記録した画像を読み取る際に、記録時のＸ線の傾斜角や
試料までの距離の違いに応じた強度補正処理が必要とな
り、そのために、結晶構造解析システムにおける解析処
理が複雑化したり、あるいは解析処理時間が長引くとい
った問題が生じており、また、測定精度の向上を図るこ
とが困難になるという問題もあった。
記録した画像を読み取る際に、記録時のＸ線の傾斜角や
試料までの距離の違いに応じた強度補正処理が必要とな
り、そのために、結晶構造解析システムにおける解析処
理が複雑化したり、あるいは解析処理時間が長引くとい
った問題が生じており、また、測定精度の向上を図るこ
とが困難になるという問題もあった。
【００１２】本発明は前記事情に鑑みてなされたもの
で、記録した放射線画像を読み出して解析する場合に、
記録時の放射線の傾斜角や試料までの距離の違いに起因
する強度補正処理が不要で、解析処理を簡易に成し得る
と同時に、解析処理時間を短縮することができ、さら
に、測定精度を向上させることのできる放射線画像記録
板を提供することを目的とする。
で、記録した放射線画像を読み出して解析する場合に、
記録時の放射線の傾斜角や試料までの距離の違いに起因
する強度補正処理が不要で、解析処理を簡易に成し得る
と同時に、解析処理時間を短縮することができ、さら
に、測定精度を向上させることのできる放射線画像記録
板を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明に係る放射線画像
記録板は、試料から放たれる放射線を吸収・蓄積する画
像記録面が、試料の設置位置を曲率中心とする球面に形
成されていることを特徴とする。
記録板は、試料から放たれる放射線を吸収・蓄積する画
像記録面が、試料の設置位置を曲率中心とする球面に形
成されていることを特徴とする。
【００１４】
【作用】本発明に係る放射線画像記録板を使用する時に
は、画像記録面上のどの位置でも、試料からのＸ線の照
射は面に垂直で、しかも、試料までの距離も一定となる
ため、画像記録面に入射するＸ線の傾斜角や画像記録面
から試料までの距離の変動によって放射線画像記録板に
吸収・蓄積されるＸ線強度が弱まるといった不都合が生
じない。
は、画像記録面上のどの位置でも、試料からのＸ線の照
射は面に垂直で、しかも、試料までの距離も一定となる
ため、画像記録面に入射するＸ線の傾斜角や画像記録面
から試料までの距離の変動によって放射線画像記録板に
吸収・蓄積されるＸ線強度が弱まるといった不都合が生
じない。
【００１５】したがって、記録したＸ線画像を読み出し
て解析する場合に、記録時のＸ線の傾斜角や試料までの
距離の違いに起因する強度補正処理が不要となり、解析
処理を簡易に成し得ると同時に、解析処理時間を短縮す
ることができ、さらに、測定精度を向上させることがで
きる。
て解析する場合に、記録時のＸ線の傾斜角や試料までの
距離の違いに起因する強度補正処理が不要となり、解析
処理を簡易に成し得ると同時に、解析処理時間を短縮す
ることができ、さらに、測定精度を向上させることがで
きる。
【００１６】また、平坦な円盤状の従来の放射線画像記
録板と比較すると、画像記録面の面積が同一であればよ
り広角にデータを採取（記録）することができるといっ
た利点も得られる。
録板と比較すると、画像記録面の面積が同一であればよ
り広角にデータを採取（記録）することができるといっ
た利点も得られる。
【００１７】
【実施例】図１は、本発明の一実施例である放射線画像
記録板２０を使用した結晶構造解析システム２１の概略
構成を示したものである。
記録板２０を使用した結晶構造解析システム２１の概略
構成を示したものである。
【００１８】この結晶構造解析システム２１は、Ｘ線を
使って単結晶試料の構造解析をするもので、Ｘ線源１の
発したＸ線ビーム２はモノクロメータ３およびコリメー
タ４を介して試料５に照射し、その結果として試料から
放たれる回折Ｘ線を前記放射線画像記録板（イメージン
グプレート）２０に記録する。
使って単結晶試料の構造解析をするもので、Ｘ線源１の
発したＸ線ビーム２はモノクロメータ３およびコリメー
タ４を介して試料５に照射し、その結果として試料から
放たれる回折Ｘ線を前記放射線画像記録板（イメージン
グプレート）２０に記録する。
【００１９】前記放射線画像記録板２０は、試料５から
放たれるＸ線を吸収・蓄積する画像記録面２０ａが、試
料５の設置位置を曲率中心（球心）Ｏとする球面に形成
されている。前記画像記録面２０ａは、Ｘ線を吸収・蓄
積するとともに励起光が照射されると蓄積したＸ線の強
弱に応じて発光（輝尽発光）する蛍光体層によって提供
されている。
放たれるＸ線を吸収・蓄積する画像記録面２０ａが、試
料５の設置位置を曲率中心（球心）Ｏとする球面に形成
されている。前記画像記録面２０ａは、Ｘ線を吸収・蓄
積するとともに励起光が照射されると蓄積したＸ線の強
弱に応じて発光（輝尽発光）する蛍光体層によって提供
されている。
【００２０】そして、放射線画像記録板２０に記録され
た画像（この場合は、Ｘ線回折像）を、図３に示すよう
に、システムに付属の読取装置２２で読み取って、図示
略の制御部が読み取った画像に基づいて所定の解析処理
を行なう。
た画像（この場合は、Ｘ線回折像）を、図３に示すよう
に、システムに付属の読取装置２２で読み取って、図示
略の制御部が読み取った画像に基づいて所定の解析処理
を行なう。
【００２１】なお、この結晶構造解析システム２１にお
いて、前記試料６は試料駆動部１１によって図２のシス
テムと同様に入射するＸ線に対する向きを調整可能にさ
れており、また、放射線画像記録板２０も記録板駆動部
１２によって中心軸廻りに回転可能にされている。
いて、前記試料６は試料駆動部１１によって図２のシス
テムと同様に入射するＸ線に対する向きを調整可能にさ
れており、また、放射線画像記録板２０も記録板駆動部
１２によって中心軸廻りに回転可能にされている。
【００２２】前記読取装置２２は、励起光を発生する励
起光源（図示略）と、励起光照射時の前記画像記録面
（即ち、蛍光体層）２０ａの発光強度を検出する読取セ
ンサ（図示略）と、励起光源から放射線画像記録板２０
まで励起光を導くとともに、前記画像記録面２０ａの発
光による光を読取センサまで導く光学系２２ａ（図３参
照）とを具備した構成である。読取装置２２の光学系２
２ａは、図３にも示したように、前記画像記録面２０ａ
の曲率中心Ｏから前記画像記録面２０ａに励起光を当て
る。また、光学系２２ａは図３に矢印（ロ）で示すよう
に前記曲率中心Ｏとして首振り動作させることができ、
この首振り動作と前記放射線画像記録板２０の回転運動
とによって、画像記録面２０ａに記録された画像を走査
する。
起光源（図示略）と、励起光照射時の前記画像記録面
（即ち、蛍光体層）２０ａの発光強度を検出する読取セ
ンサ（図示略）と、励起光源から放射線画像記録板２０
まで励起光を導くとともに、前記画像記録面２０ａの発
光による光を読取センサまで導く光学系２２ａ（図３参
照）とを具備した構成である。読取装置２２の光学系２
２ａは、図３にも示したように、前記画像記録面２０ａ
の曲率中心Ｏから前記画像記録面２０ａに励起光を当て
る。また、光学系２２ａは図３に矢印（ロ）で示すよう
に前記曲率中心Ｏとして首振り動作させることができ、
この首振り動作と前記放射線画像記録板２０の回転運動
とによって、画像記録面２０ａに記録された画像を走査
する。
【００２３】以上に説明した一実施例の放射線画像記録
板２０では、画像記録面２０ａ上のどの位置でも、試料
５からのＸ線の照射は面に垂直で、しかも、試料５まで
の距離も一定となるため、画像記録面２０ａに入射する
Ｘ線の傾斜角や画像記録面２０ａから試料５までの距離
の変動によって放射線画像記録板２０に吸収・蓄積され
るＸ線強度が弱まるといった不都合が生じない。
板２０では、画像記録面２０ａ上のどの位置でも、試料
５からのＸ線の照射は面に垂直で、しかも、試料５まで
の距離も一定となるため、画像記録面２０ａに入射する
Ｘ線の傾斜角や画像記録面２０ａから試料５までの距離
の変動によって放射線画像記録板２０に吸収・蓄積され
るＸ線強度が弱まるといった不都合が生じない。
【００２４】したがって、記録したＸ線画像を読み出し
て解析する場合に、記録時のＸ線の傾斜角や試料５まで
の距離の違いに起因する強度補正処理が不要となり、解
析処理を簡易に成し得ると同時に、解析処理時間を短縮
することができ、さらに、測定精度を向上させることが
できる。
て解析する場合に、記録時のＸ線の傾斜角や試料５まで
の距離の違いに起因する強度補正処理が不要となり、解
析処理を簡易に成し得ると同時に、解析処理時間を短縮
することができ、さらに、測定精度を向上させることが
できる。
【００２５】また、平坦な円盤状の従来の放射線画像記
録板と比較すると、画像記録面の面積が同一であればよ
り広角にデータを採取（記録）することができるといっ
た利点も得られる（図１において、符号２４は、画像記
録面の面積が前記記録板２０と同一の平坦な円盤状の放
射線画像記録板を示している）。
録板と比較すると、画像記録面の面積が同一であればよ
り広角にデータを採取（記録）することができるといっ
た利点も得られる（図１において、符号２４は、画像記
録面の面積が前記記録板２０と同一の平坦な円盤状の放
射線画像記録板を示している）。
【００２６】なお、以上の一実施例では、Ｘ線を使って
単結晶試料の構造解析をする結晶構造解析システムの場
合について説明したが、本発明に係る放射線画像記録板
は、Ｘ線以外の放射線を使う場合でも利用することがで
きる。ここに、Ｘ線以外の放射線とは、ガンマ線、ベー
タ線、アルファ線、中性子線等を示す。
単結晶試料の構造解析をする結晶構造解析システムの場
合について説明したが、本発明に係る放射線画像記録板
は、Ｘ線以外の放射線を使う場合でも利用することがで
きる。ここに、Ｘ線以外の放射線とは、ガンマ線、ベー
タ線、アルファ線、中性子線等を示す。
【００２７】また、前記一実施例では、画像読取時の走
査は、読取装置の光学系２２ａの首振り動作と放射線画
像記録板２０の回転運動とで達成することとしたが、光
学系２２ａや放射線画像記録板２０を一実施例とはこと
なる動きにしてもよいし、いずれか一方の動きで所定の
走査を可能ならしめることも考えられる。
査は、読取装置の光学系２２ａの首振り動作と放射線画
像記録板２０の回転運動とで達成することとしたが、光
学系２２ａや放射線画像記録板２０を一実施例とはこと
なる動きにしてもよいし、いずれか一方の動きで所定の
走査を可能ならしめることも考えられる。
【００２８】また、前述の一実施例は、単結晶試料の構
造解析をする結晶構造解析システムに使用した場合であ
ったが、本発明の放射線画像記録板は、放射線画像を記
録するシステムなら前記実施例に限らず、種々のものに
利用することができる。
造解析をする結晶構造解析システムに使用した場合であ
ったが、本発明の放射線画像記録板は、放射線画像を記
録するシステムなら前記実施例に限らず、種々のものに
利用することができる。
【００２９】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
に係る放射線画像記録板を使用する時には、画像記録面
上のどの位置でも、試料からのＸ線の照射は面に垂直
で、しかも、試料までの距離も一定となるため、画像記
録面に入射するＸ線の傾斜角や画像記録面から試料まで
の距離の変動によって放射線画像記録板に吸収・蓄積さ
れるＸ線強度が弱まるといった不都合が生じない。
に係る放射線画像記録板を使用する時には、画像記録面
上のどの位置でも、試料からのＸ線の照射は面に垂直
で、しかも、試料までの距離も一定となるため、画像記
録面に入射するＸ線の傾斜角や画像記録面から試料まで
の距離の変動によって放射線画像記録板に吸収・蓄積さ
れるＸ線強度が弱まるといった不都合が生じない。
【００３０】したがって、記録したＸ線画像を読み出し
て解析する場合に、記録時のＸ線の傾斜角や試料までの
距離の違いに起因する強度補正処理が不要となり、解析
処理を簡易に成し得ると同時に、解析処理時間を短縮す
ることができ、さらに、測定精度を向上させることがで
きる。
て解析する場合に、記録時のＸ線の傾斜角や試料までの
距離の違いに起因する強度補正処理が不要となり、解析
処理を簡易に成し得ると同時に、解析処理時間を短縮す
ることができ、さらに、測定精度を向上させることがで
きる。
【００３１】また、平坦な円盤状の従来の放射線画像記
録板と比較すると、画像記録面の面積が同一であればよ
り広角にデータを採取（記録）することができるといっ
た利点も得られる。
録板と比較すると、画像記録面の面積が同一であればよ
り広角にデータを採取（記録）することができるといっ
た利点も得られる。
【図１】本発明の一実施例を使用した結晶構造解析シス
テムの概略構成図である。
テムの概略構成図である。
【図２】従来の放射線画像記録板を使用した結晶構造解
析システムの概略構成図である。
析システムの概略構成図である。
【図３】本発明の一実施例を使用する結晶構造解析シス
テムの読取装置の説明図である。
テムの読取装置の説明図である。
１ Ｘ線源 ２ Ｘ線ビーム ３ モノクロメータ ４ コリメータ ５ 試料 Ｏ 曲率中心 ２０ 放射線画像記録板 ２０ａ 画像記録面 ２１ 結晶構造解析システム
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 試料から放たれる放射線を吸収・蓄積す
る画像記録面が、試料の設置位置を曲率中心とする球面
に形成されていることを特徴とする放射線画像記録板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3160368A JPH0510892A (ja) | 1991-07-01 | 1991-07-01 | 放射線画像記録板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3160368A JPH0510892A (ja) | 1991-07-01 | 1991-07-01 | 放射線画像記録板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0510892A true JPH0510892A (ja) | 1993-01-19 |
Family
ID=15713468
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3160368A Pending JPH0510892A (ja) | 1991-07-01 | 1991-07-01 | 放射線画像記録板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0510892A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5446292A (en) * | 1992-11-20 | 1995-08-29 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method and apparatus for recording and reading radiation images |
-
1991
- 1991-07-01 JP JP3160368A patent/JPH0510892A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5446292A (en) * | 1992-11-20 | 1995-08-29 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method and apparatus for recording and reading radiation images |
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