JP2988995B2 - 蓄積性蛍光体、ｘ線回折装置およびｘ線回折方法 - Google Patents
蓄積性蛍光体、ｘ線回折装置およびｘ線回折方法Info
- Publication number
- JP2988995B2 JP2988995B2 JP2284390A JP28439090A JP2988995B2 JP 2988995 B2 JP2988995 B2 JP 2988995B2 JP 2284390 A JP2284390 A JP 2284390A JP 28439090 A JP28439090 A JP 28439090A JP 2988995 B2 JP2988995 B2 JP 2988995B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stimulable phosphor
- ray diffraction
- ray
- sample
- rays
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、蓄積性蛍光体と、これを利用したＸ線回
折装置およびＸ線回折方法とに関する。
折装置およびＸ線回折方法とに関する。
［従来の技術］ 蓄積性蛍光体は、Ｘ線などの放射線を検出する二次元
検出器として最近脚光を浴びているものである。蓄積性
蛍光体に放射線が当たると、その像が潜像として記録さ
れ、この潜像にレーザ光などの励起光を当てると、蛍光
が発生する。この蛍光の強度を読み取ることによって蓄
積性蛍光体に照射された放射線の強度を求めることがで
きる。
検出器として最近脚光を浴びているものである。蓄積性
蛍光体に放射線が当たると、その像が潜像として記録さ
れ、この潜像にレーザ光などの励起光を当てると、蛍光
が発生する。この蛍光の強度を読み取ることによって蓄
積性蛍光体に照射された放射線の強度を求めることがで
きる。
この蓄積性蛍光体は、Ｘ線回折の分野では、２次元的
なＸ線回折像を記録する手段として役立ち、従来のＸ線
フィルムの代わりをするものとして期待されている。
なＸ線回折像を記録する手段として役立ち、従来のＸ線
フィルムの代わりをするものとして期待されている。
従来の蓄積性蛍光体は、通常は平板状であり、これに
回折Ｘ線の二次元像を記録している。特殊な形状として
は、円筒面の一部を備えた形状のものが知られており、
この種の蓄積性蛍光体は、例えば、特開昭62−39815号
公報、特開昭62−147858号公報、特開昭64−6918号公報
に開示されている。
回折Ｘ線の二次元像を記録している。特殊な形状として
は、円筒面の一部を備えた形状のものが知られており、
この種の蓄積性蛍光体は、例えば、特開昭62−39815号
公報、特開昭62−147858号公報、特開昭64−6918号公報
に開示されている。
［発明が解決しようとする課題］ 試料から回折Ｘ線がいろいろな方向に出て行く場合
に、これらの回折Ｘ線を試料から等距離の位置で二次元
的に記録することができれば、回折像の解析が格段に容
易になる場合がある。試料から等距離の位置で回折Ｘ線
を二次元的に記録するには、試料を中心とした球面上に
二次元的なＸ線記録手段を配置すればよい。しかしなが
ら、これまで球面状のＸ線記録手段は知られていない。
に、これらの回折Ｘ線を試料から等距離の位置で二次元
的に記録することができれば、回折像の解析が格段に容
易になる場合がある。試料から等距離の位置で回折Ｘ線
を二次元的に記録するには、試料を中心とした球面上に
二次元的なＸ線記録手段を配置すればよい。しかしなが
ら、これまで球面状のＸ線記録手段は知られていない。
この発明の目的は、試料から等距離の位置で回折Ｘ線
を二次元的に記録することのできる蓄積性蛍光体と、こ
れを利用したＸ線回折装置およびＸ線回折方法とを提供
することにある。
を二次元的に記録することのできる蓄積性蛍光体と、こ
れを利用したＸ線回折装置およびＸ線回折方法とを提供
することにある。
［課題を解決するための手段］ この発明に係る蓄積性蛍光体は球面を備えていること
を特徴としている。ここで、球面とは、中心点から等距
離にあるような点で構成された二次元曲面のことを指
す。したがって、蓄積性蛍光体は必ずしも球体の形状を
している必要はなく、球体の一部を備えていればよい。
例えば、蓄積性蛍光体を半球状に形成することができ
る。潜像を記録する面としては球面の内面を利用する。
を特徴としている。ここで、球面とは、中心点から等距
離にあるような点で構成された二次元曲面のことを指
す。したがって、蓄積性蛍光体は必ずしも球体の形状を
している必要はなく、球体の一部を備えていればよい。
例えば、蓄積性蛍光体を半球状に形成することができ
る。潜像を記録する面としては球面の内面を利用する。
この発明に係るＸ線回折装置は、このような球面状の
蓄積性蛍光体を回折Ｘ線の記録手段として利用すること
を特徴としている。
蓄積性蛍光体を回折Ｘ線の記録手段として利用すること
を特徴としている。
また、この発明に係るＸ線回折方法は、このような球
面状の蓄積性蛍光体を単結晶試料のＸ線回折像を記録す
るのに利用している。
面状の蓄積性蛍光体を単結晶試料のＸ線回折像を記録す
るのに利用している。
［作用］ 記録したい放射線（例えば回折Ｘ線）の発生源を中心
として球面状の蓄積性蛍光体を配置すれば、放射線発生
源から等距離の位置でその放射線画像を二次元的に記録
することができる。
として球面状の蓄積性蛍光体を配置すれば、放射線発生
源から等距離の位置でその放射線画像を二次元的に記録
することができる。
このような球面状の蓄積性蛍光体を回折Ｘ線の記録手
段として利用すれば、試料から等距離の位置で回折Ｘ線
の二次元画像を得ることができ、回折像の解析が容易に
なる。
段として利用すれば、試料から等距離の位置で回折Ｘ線
の二次元画像を得ることができ、回折像の解析が容易に
なる。
［実施例］ 次に、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
第１図はこの発明の一実施例の斜視図である。この実
施例は、蓄積性蛍光体を透過型Ｘ線回折装置の回折Ｘ線
記録手段として利用している例である。蓄積性蛍光体２
は半球形状をしており、その内面が回折Ｘ線の記録面と
なっている。半球状の蓄積性蛍光体２の中心位置に試料
６が配置され、Ｘ線源４から出射されたＸ線は試料で回
折および透過して、蓄積性蛍光体２の内面に到達する。
施例は、蓄積性蛍光体を透過型Ｘ線回折装置の回折Ｘ線
記録手段として利用している例である。蓄積性蛍光体２
は半球形状をしており、その内面が回折Ｘ線の記録面と
なっている。半球状の蓄積性蛍光体２の中心位置に試料
６が配置され、Ｘ線源４から出射されたＸ線は試料で回
折および透過して、蓄積性蛍光体２の内面に到達する。
蓄積性蛍光体に潜像として記録された回折Ｘ線像は、
レーザ光を照射することによって蛍光として読み出すこ
とができる。レーザ光で読み出すときは、レーザ光源を
蓄積性蛍光体の球面の中心に配置して、レーザ光を二次
元走査する。発生した蛍光は、レーザ光の照射位置に応
じて移動する光ファイバーで集光して、光電子増倍管で
検出する。
レーザ光を照射することによって蛍光として読み出すこ
とができる。レーザ光で読み出すときは、レーザ光源を
蓄積性蛍光体の球面の中心に配置して、レーザ光を二次
元走査する。発生した蛍光は、レーザ光の照射位置に応
じて移動する光ファイバーで集光して、光電子増倍管で
検出する。
上述の実施例では蓄積性蛍光体を半球形状にしている
が、球面を備えているものであれば別の形状を利用する
こともできる。例えば、球体の４分の１の形状のものを
利用することができる。
が、球面を備えているものであれば別の形状を利用する
こともできる。例えば、球体の４分の１の形状のものを
利用することができる。
第２図はこの発明の別の実施例の斜視図である。この
実施例では、半球状の蓄積性蛍光体12、14を二つ組み合
わせて全体として球形の記録面を形成している。Ｘ線源
４から出射されたＸ線は、片方の蓄積性蛍光体14に形成
した孔16を通過して試料６に照射されるようになってい
る。試料６で回折したＸ線のうち、反射Ｘ線は、試料６
の前方にある蓄積性蛍光体14の内面に当たり、透過Ｘ線
は試料６の後方にある蓄積性蛍光体12の内面に当たるよ
うになっている。すなわち、この実施例では、反射型の
Ｘ線回折測定と透過型のＸ線回折測定とを同時に行うこ
とができる。
実施例では、半球状の蓄積性蛍光体12、14を二つ組み合
わせて全体として球形の記録面を形成している。Ｘ線源
４から出射されたＸ線は、片方の蓄積性蛍光体14に形成
した孔16を通過して試料６に照射されるようになってい
る。試料６で回折したＸ線のうち、反射Ｘ線は、試料６
の前方にある蓄積性蛍光体14の内面に当たり、透過Ｘ線
は試料６の後方にある蓄積性蛍光体12の内面に当たるよ
うになっている。すなわち、この実施例では、反射型の
Ｘ線回折測定と透過型のＸ線回折測定とを同時に行うこ
とができる。
第１図と第２図の実施例において、試料として単結晶
を利用する場合には、特に効果的である。従来、単結晶
試料の構造解析をする場合には、単結晶試料をいろいろ
な角度に傾けて、その都度、平面上の蓄積性蛍光体に回
折像を記録している。この場合でも、入射Ｘ線に対して
高角度側の回折Ｘ線は蓄積性蛍光体からはみ出してしま
い、これを記録することはできなかった。もし高角度側
の回折Ｘ線を記録しようとすれば、入射Ｘ線に対して試
料の回りに蓄積性蛍光体を各種の位置に配置する必要が
あり、このようにすることは、装置構成上、極めて困難
であった。これに対して、球面状の蓄積性蛍光体を利用
すると、すべての回折方向で回折像を記録することがで
きるので、低角度側から高角度側まで回折像を一度に記
録することができる利点がある。このため、数回の測定
をするだけで単結晶試料の構造解析が可能となる。
を利用する場合には、特に効果的である。従来、単結晶
試料の構造解析をする場合には、単結晶試料をいろいろ
な角度に傾けて、その都度、平面上の蓄積性蛍光体に回
折像を記録している。この場合でも、入射Ｘ線に対して
高角度側の回折Ｘ線は蓄積性蛍光体からはみ出してしま
い、これを記録することはできなかった。もし高角度側
の回折Ｘ線を記録しようとすれば、入射Ｘ線に対して試
料の回りに蓄積性蛍光体を各種の位置に配置する必要が
あり、このようにすることは、装置構成上、極めて困難
であった。これに対して、球面状の蓄積性蛍光体を利用
すると、すべての回折方向で回折像を記録することがで
きるので、低角度側から高角度側まで回折像を一度に記
録することができる利点がある。このため、数回の測定
をするだけで単結晶試料の構造解析が可能となる。
［発明の効果］ この発明の蓄積性蛍光体は球面を備えているので、記
録したい放射線の発生源を中心として球面状の蓄積性蛍
光体を配置すれば、放射線発生源から等距離の位置でそ
の放射線画像を二次元的に記録することができる。
録したい放射線の発生源を中心として球面状の蓄積性蛍
光体を配置すれば、放射線発生源から等距離の位置でそ
の放射線画像を二次元的に記録することができる。
また、このような球面状の蓄積性蛍光体をＸ線回折装
置の回折Ｘ線記録手段として利用すれば、試料から等距
離の位置で回折Ｘ線の二次元画像を得ることができ、回
折像の解析が容易になる。
置の回折Ｘ線記録手段として利用すれば、試料から等距
離の位置で回折Ｘ線の二次元画像を得ることができ、回
折像の解析が容易になる。
また、このようなＸ線回折装置を利用して単結晶試料
の構造解析をする場合には、低角度側から高角度側まで
一度の測定で回折像を記録することができて構造解析が
容易になる。
の構造解析をする場合には、低角度側から高角度側まで
一度の測定で回折像を記録することができて構造解析が
容易になる。
第１図はこの発明の一実施例の斜視図、 第２図は別の実施例の斜視図である。 ２……蓄積性蛍光体 ４……Ｘ線源 ６……試料
Claims (3)
- 【請求項１】球面を備えた蓄積性蛍光体。
- 【請求項２】球面を備えた蓄積性蛍光体を回折Ｘ線の記
録手段として利用することを特徴とするＸ線回折装置。 - 【請求項３】単結晶試料にＸ線を照射して、そのＸ線回
折像を、球面を備えた蓄積性蛍光体上に記録することを
特徴とするＸ線回折方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2284390A JP2988995B2 (ja) | 1990-10-24 | 1990-10-24 | 蓄積性蛍光体、ｘ線回折装置およびｘ線回折方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2284390A JP2988995B2 (ja) | 1990-10-24 | 1990-10-24 | 蓄積性蛍光体、ｘ線回折装置およびｘ線回折方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04159540A JPH04159540A (ja) | 1992-06-02 |
| JP2988995B2 true JP2988995B2 (ja) | 1999-12-13 |
Family
ID=17677962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2284390A Expired - Fee Related JP2988995B2 (ja) | 1990-10-24 | 1990-10-24 | 蓄積性蛍光体、ｘ線回折装置およびｘ線回折方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2988995B2 (ja) |
-
1990
- 1990-10-24 JP JP2284390A patent/JP2988995B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04159540A (ja) | 1992-06-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6054712A (en) | Inspection equipment using small-angle topography in determining an object's internal structure and composition | |
| US10247683B2 (en) | Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams | |
| EP0898704A1 (en) | Inspection equipment using small-angle topography in determining an object's internal structure and composition | |
| WO2000016691A1 (en) | Transillumination imaging instrumentation with scattered light discrimination | |
| EP1445604A1 (en) | Apparatus and method for x-ray analysis | |
| EP1672361B1 (en) | X-ray diffraction microscope and x-ray diffraction measurement method using x-ray diffraction microscope | |
| JP2009002805A (ja) | 小角広角ｘ線測定装置 | |
| US5003570A (en) | Powder diffraction method and apparatus | |
| JP2988995B2 (ja) | 蓄積性蛍光体、ｘ線回折装置およびｘ線回折方法 | |
| JP2006250642A (ja) | Ｘ線回折分析方法およびｘ線回折分析装置 | |
| JP3880033B2 (ja) | 結晶格子を有する物体の放射線撮影法による検査 | |
| JP3049313B2 (ja) | Ｘ線撮像分析方法および装置 | |
| GB2343825A (en) | X-ray micro-diffraction apparatus comprising a cylindrical surrounding the specimen | |
| RU2137114C1 (ru) | Способ малоугловой интроскопии и устройства для его осуществления (варианты) | |
| JP4604242B2 (ja) | Ｘ線回折分析装置およびｘ線回折分析方法 | |
| JP2981696B2 (ja) | 検体の３次元情報計測方法および装置 | |
| JPH05322806A (ja) | 微小領域ｘ線回折装置 | |
| JP3626965B2 (ja) | Ｘ線装置及びｘ線測定方法 | |
| JPH0483149A (ja) | 蛍光像画像化装置 | |
| JPH0212043A (ja) | 連続的ｘ線回折像撮影法 | |
| JPS5910870A (ja) | 放射性同位元素検査方法 | |
| JPH06130003A (ja) | Ｘ線回折測定法及びｘ線回折装置 | |
| SU1040388A1 (ru) | Устройство дл рентгеновской топографии | |
| JP3742200B2 (ja) | Ｘ線、中性子線又は電子線回折方法 | |
| JPH05215698A (ja) | 結晶構造解析方法及び装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |