JPH05107294A - 電子部品の導通検査方法並びにリード線引出しコネクタ及び電子部品の導通検査装置 - Google Patents
電子部品の導通検査方法並びにリード線引出しコネクタ及び電子部品の導通検査装置Info
- Publication number
- JPH05107294A JPH05107294A JP3266618A JP26661891A JPH05107294A JP H05107294 A JPH05107294 A JP H05107294A JP 3266618 A JP3266618 A JP 3266618A JP 26661891 A JP26661891 A JP 26661891A JP H05107294 A JPH05107294 A JP H05107294A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- insertion hole
- inspection
- electronic component
- continuity
- lead
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電子部品の導通検査を、短時間で信頼性良く
行なう。 【構成】 電子部品１のリード線引出しコネクタ６に検
査プローブ挿入孔６０を設け、この検査プローブ挿入孔
６０に検査プローブ７を挿入して上記電子部品の導通検
査を行なう。
行なう。 【構成】 電子部品１のリード線引出しコネクタ６に検
査プローブ挿入孔６０を設け、この検査プローブ挿入孔
６０に検査プローブ７を挿入して上記電子部品の導通検
査を行なう。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電子部品の導通検査を行
う検査方法、並びに上記検査方法を実施するためのリー
ド線引出しコネクタ及び電子部品の導通検査装置に関す
るものである。
う検査方法、並びに上記検査方法を実施するためのリー
ド線引出しコネクタ及び電子部品の導通検査装置に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】図５は電子部品の一例であるモータの外
観を示す斜視図である。図において、１はモータ、２は
リード線、３はリード線端末コネクタ、４はリード引出
しコネクタ、５ははんだ付部である。これらのモータの
最終検査に相当する導通検査は、従来人手によってリー
ド線２を手でつかみ、リード線端末コネクタ３を導通検
査機に当てることで電子部品の検査を行っていた。
観を示す斜視図である。図において、１はモータ、２は
リード線、３はリード線端末コネクタ、４はリード引出
しコネクタ、５ははんだ付部である。これらのモータの
最終検査に相当する導通検査は、従来人手によってリー
ド線２を手でつかみ、リード線端末コネクタ３を導通検
査機に当てることで電子部品の検査を行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前述した例でもそうで
あるように、電子部品のリード線端末部分は、製品仕様
によって様々な種類のコネクタが着けられることが多く
一定でない。またリード線の長さも製品仕様によって様
々である。さらにリード線は互いにからみやすいという
特徴をもつ。このためリード線を伴う電子部品は、その
検査箇所であるリード線端末部分を見つけることが難し
く、検査時間がかかっていた。また上述のことは電子部
品の導通検査の自動化を行うことの大きな妨げとなって
いた。
あるように、電子部品のリード線端末部分は、製品仕様
によって様々な種類のコネクタが着けられることが多く
一定でない。またリード線の長さも製品仕様によって様
々である。さらにリード線は互いにからみやすいという
特徴をもつ。このためリード線を伴う電子部品は、その
検査箇所であるリード線端末部分を見つけることが難し
く、検査時間がかかっていた。また上述のことは電子部
品の導通検査の自動化を行うことの大きな妨げとなって
いた。
【０００４】本発明は上記のような問題点を解消するた
めになされたもので、以上に述べた様なリード線を伴う
電子部品の導通検査を、短時間で信頼性良く行なうこと
目的とする。
めになされたもので、以上に述べた様なリード線を伴う
電子部品の導通検査を、短時間で信頼性良く行なうこと
目的とする。
【０００５】さらに、電子部品の導通検査が自動化でき
る導通検査装置を提供することを目的とする。
る導通検査装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
【０００７】本発明に係る電子部品の導通検査方法は電
子部品のリード線引出しコネクタ部に検査プローブ挿入
孔を設け、この検査プローブ挿入孔に検査プローブを挿
入して上記電子部品の導通検査を行なうものである。
子部品のリード線引出しコネクタ部に検査プローブ挿入
孔を設け、この検査プローブ挿入孔に検査プローブを挿
入して上記電子部品の導通検査を行なうものである。
【０００８】また、本発明の別の発明に係るリード線引
出しコネクタは電子部品のリード線引出しコネクタ本体
に検査プローブの挿入孔を設けたものである。
出しコネクタは電子部品のリード線引出しコネクタ本体
に検査プローブの挿入孔を設けたものである。
【０００９】さらに、本発明の別の発明に係る電子部品
の導通検査装置は上記リード線引出しコネクタの挿入孔
を照明する照明装置、上記挿入孔部の画像を撮像するテ
レビカメラ、このテレビカメラによって得られた画像を
記憶する画像メモリ、画像メモリに記憶された画像デー
タから上記挿入孔の位置を測定する測定部、測定部から
出力された位置データをもとに検査プローブを上記挿入
孔に挿入する機構部、上記検査プローブで測定したデー
タを取り込み、良否を判定する判定部を備えたものであ
る。
の導通検査装置は上記リード線引出しコネクタの挿入孔
を照明する照明装置、上記挿入孔部の画像を撮像するテ
レビカメラ、このテレビカメラによって得られた画像を
記憶する画像メモリ、画像メモリに記憶された画像デー
タから上記挿入孔の位置を測定する測定部、測定部から
出力された位置データをもとに検査プローブを上記挿入
孔に挿入する機構部、上記検査プローブで測定したデー
タを取り込み、良否を判定する判定部を備えたものであ
る。
【００１０】
【作用】本発明に係る電子部品の導通検査方法による
と、位置が固定されているリード線の引出しコネクタ部
で検査するため、検査箇所の位置決めが容易になる。ま
たリード線の端末を捜すなどの困難なリード線のハンド
リング動作も必要がなくなることで、自動化が容易にな
るとともに検査の高速化が可能になる。
と、位置が固定されているリード線の引出しコネクタ部
で検査するため、検査箇所の位置決めが容易になる。ま
たリード線の端末を捜すなどの困難なリード線のハンド
リング動作も必要がなくなることで、自動化が容易にな
るとともに検査の高速化が可能になる。
【００１１】上記導通検査を行なうには、電子部品のリ
ード線引出しコネクタ本体に検査プローブの挿入孔を設
けたリード線引出しコネクタを使用する。
ード線引出しコネクタ本体に検査プローブの挿入孔を設
けたリード線引出しコネクタを使用する。
【００１２】また、上記リード線引出しコネクタの挿入
孔を照明し、挿入孔部の画像を撮像して、この画像デー
タから上記挿入孔の位置を測定し、この位置データをも
とに検査プローブを上記挿入孔に挿入する機構と、上記
検査プローブで測定したデータを取り込み、良否を判定
する判定部を備えた装置により、導通検査の自動化が実
現できる。
孔を照明し、挿入孔部の画像を撮像して、この画像デー
タから上記挿入孔の位置を測定し、この位置データをも
とに検査プローブを上記挿入孔に挿入する機構と、上記
検査プローブで測定したデータを取り込み、良否を判定
する判定部を備えた装置により、導通検査の自動化が実
現できる。
【００１３】
実施例１．本発明の一実施例を図１及び図２に示す。図
１、図２は前述したモータの導通検査の場合の検査例を
模式的に示す斜視図である。図において、１はモータ、
２はリード線、３はリード線端末コネクタ、５ははんだ
付部、６は検査プローブの挿入孔６０を備えたリード線
引出しコネクタ、７は検査プローブ、８は検査プローブ
挿入機構部、９は判定部、１０は検査結果である。
１、図２は前述したモータの導通検査の場合の検査例を
模式的に示す斜視図である。図において、１はモータ、
２はリード線、３はリード線端末コネクタ、５ははんだ
付部、６は検査プローブの挿入孔６０を備えたリード線
引出しコネクタ、７は検査プローブ、８は検査プローブ
挿入機構部、９は判定部、１０は検査結果である。
【００１４】次に動作について説明する。まず、検査プ
ローブ挿入機構部８によって、検査プローブ７がコネク
タ６の挿入孔６０に挿入される。このプローブ７によっ
て電流あるいは電圧の測定が行われ、この測定値から判
定部９によって導通検査の結果１０が出力される。
ローブ挿入機構部８によって、検査プローブ７がコネク
タ６の挿入孔６０に挿入される。このプローブ７によっ
て電流あるいは電圧の測定が行われ、この測定値から判
定部９によって導通検査の結果１０が出力される。
【００１５】実施例２．図３は、実施例１において、検
査プローブ７の挿入を画像処理を用いた位置決めを利用
することによって信頼性高く行おうとした例を模式的に
示す構成図である。ここで１１はコネクタ６の挿入孔を
照明する照明装置、１２はテレビカメラ、１３は画像メ
モリ、１４は画像データからコネクタ６の挿入孔の位置
を計測する測定部である。
査プローブ７の挿入を画像処理を用いた位置決めを利用
することによって信頼性高く行おうとした例を模式的に
示す構成図である。ここで１１はコネクタ６の挿入孔を
照明する照明装置、１２はテレビカメラ、１３は画像メ
モリ、１４は画像データからコネクタ６の挿入孔の位置
を計測する測定部である。
【００１６】次に動作について説明する。まず照明装置
１１を点灯し、テレビカメラ１２によって挿入孔の画像
を撮像する。この画像は画像メモリ１３に記憶され、測
定部１４は画像メモリ１３に記憶された画像データを処
理することによって挿入孔の位置を測定する。この位置
測定の処理フローの例を図４に示す。処理フローの説明
は以下の通りである。ステップＳ１で取り込まれた入力
画像は、ステップＳ２でしきい値によって２値化処理
し、ステップＳ３で粒子の塊ごとに番号付けする（ラベ
リング処理）。ステップＳ４で番号付けした塊について
それぞれに面積、重心を求め、ステップＳ５で前もって
調べてある挿入孔の面積と比較し、その差が小さいもの
を複数選び、挿入孔候補とする。次にステップＳ６〜Ｓ
８で挿入孔候補の中から、その重心位置が所定の幾何学
的関係を満足するように挿入孔を選び、その重心位置を
もって挿入孔の位置とする。（例えば、挿入孔が２つあ
る場合には面積の値から３つまで候補を選ぶ。その候補
から２つを選び、その重心位置から孔間隔を求める。そ
の値が設計値の範囲内に入っていれば、その２つを挿入
孔の位置として採用し、そうでなければ候補から２つを
選び直す。） 上記測定部１４が出力する挿入孔の位置データは検査プ
ローブ挿入機構部８に入力され、検査プローブ挿入機構
部８はそのデータをもとに検査プローブ７を正確に挿入
孔６０に挿入する。以下の動作は実施例１と同様であ
る。
１１を点灯し、テレビカメラ１２によって挿入孔の画像
を撮像する。この画像は画像メモリ１３に記憶され、測
定部１４は画像メモリ１３に記憶された画像データを処
理することによって挿入孔の位置を測定する。この位置
測定の処理フローの例を図４に示す。処理フローの説明
は以下の通りである。ステップＳ１で取り込まれた入力
画像は、ステップＳ２でしきい値によって２値化処理
し、ステップＳ３で粒子の塊ごとに番号付けする（ラベ
リング処理）。ステップＳ４で番号付けした塊について
それぞれに面積、重心を求め、ステップＳ５で前もって
調べてある挿入孔の面積と比較し、その差が小さいもの
を複数選び、挿入孔候補とする。次にステップＳ６〜Ｓ
８で挿入孔候補の中から、その重心位置が所定の幾何学
的関係を満足するように挿入孔を選び、その重心位置を
もって挿入孔の位置とする。（例えば、挿入孔が２つあ
る場合には面積の値から３つまで候補を選ぶ。その候補
から２つを選び、その重心位置から孔間隔を求める。そ
の値が設計値の範囲内に入っていれば、その２つを挿入
孔の位置として採用し、そうでなければ候補から２つを
選び直す。） 上記測定部１４が出力する挿入孔の位置データは検査プ
ローブ挿入機構部８に入力され、検査プローブ挿入機構
部８はそのデータをもとに検査プローブ７を正確に挿入
孔６０に挿入する。以下の動作は実施例１と同様であ
る。
【００１７】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば電子部品
のリード線引出しコネクタ部に検査プローブ挿入孔を設
け、この検査プローブ挿入孔に検査プローブを挿入して
上記電子部品の導通検査を行なうようにしたので、検査
箇所の位置決めが容易になるため、自動化が可能とな
り、検査の信頼性も向上する。また、従来人手で行って
いるリード線のハンドリングも不要となるため、検査時
間も短縮できる効果がある。
のリード線引出しコネクタ部に検査プローブ挿入孔を設
け、この検査プローブ挿入孔に検査プローブを挿入して
上記電子部品の導通検査を行なうようにしたので、検査
箇所の位置決めが容易になるため、自動化が可能とな
り、検査の信頼性も向上する。また、従来人手で行って
いるリード線のハンドリングも不要となるため、検査時
間も短縮できる効果がある。
【００１８】また、本発明の別の発明に係るリード線引
出しコネクタは電子部品のリード線引出しコネクタ本体
に検査プローブの挿入孔を設けたので、上述の電子部品
の導通検査方法に利用できる。
出しコネクタは電子部品のリード線引出しコネクタ本体
に検査プローブの挿入孔を設けたので、上述の電子部品
の導通検査方法に利用できる。
【００１９】さらに、本発明の別の発明に係る電子部品
の導通検査装置は上記リード線引出しコネクタの挿入孔
を照明する照明装置、上記挿入孔部の画像を撮像するテ
レビカメラ、このテレビカメラによって得られた画像を
記憶する画像メモリ、画像メモリに記憶された画像デー
タから上記挿入孔の位置を測定する測定部、測定部から
出力された位置データをもとに検査プローブを上記挿入
孔に挿入する機構部、上記検査プローブで測定したデー
タを取り込み、良否を判定する判定部で構成されるの
で、導通検査の自動化が可能となる。
の導通検査装置は上記リード線引出しコネクタの挿入孔
を照明する照明装置、上記挿入孔部の画像を撮像するテ
レビカメラ、このテレビカメラによって得られた画像を
記憶する画像メモリ、画像メモリに記憶された画像デー
タから上記挿入孔の位置を測定する測定部、測定部から
出力された位置データをもとに検査プローブを上記挿入
孔に挿入する機構部、上記検査プローブで測定したデー
タを取り込み、良否を判定する判定部で構成されるの
で、導通検査の自動化が可能となる。
【図１】本発明の実施例１によるモータの導通検査を模
式的に示す斜視図である。
式的に示す斜視図である。
【図２】本発明の実施例１によるモータの導通検査を模
式的に示す斜視図である。
式的に示す斜視図である。
【図３】本発明の実施例２によるモータの導通検査を模
式的に示す構成図である。
式的に示す構成図である。
【図４】本発明の実施例２に係わる位置測定の処理フロ
ーを示すフローチャートである。
ーを示すフローチャートである。
【図５】モータの外観を示す斜視図である。
２ リード線 ６ リード線引出しコネクタ ７ 検査プローブ ８ 検査プローブ挿入機構部 ９ 判定部 １１ 照明装置 １２ テレビカメラ １３ 画像メモリ １４ 測定部 ６０ 挿入孔
Claims (3)
- 【請求項１】 電子部品のリード線引出しコネクタ部に
検査プローブ挿入孔を設け、この検査プローブ挿入孔に
検査プローブを挿入して上記電子部品の導通検査を行な
う電子部品の導通検査方法。 - 【請求項２】 電子部品のリード線引出しコネクタ本体
に検査プローブの挿入孔を設けたリード線引出しコネク
タ。 - 【請求項３】 請求項２記載のリード線引出しコネクタ
の挿入孔を照明する照明装置、上記挿入孔部の画像を撮
像するテレビカメラ、このテレビカメラによって得られ
た画像を記憶する画像メモリ、画像メモリに記憶された
画像データから上記挿入孔の位置を測定する測定部、測
定部から出力された位置データをもとに検査プローブを
上記挿入孔に挿入する機構部、上記検査プローブで測定
したデータを取り込み、良否を判定する判定部を備えた
電子部品の導通検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3266618A JPH05107294A (ja) | 1991-10-16 | 1991-10-16 | 電子部品の導通検査方法並びにリード線引出しコネクタ及び電子部品の導通検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3266618A JPH05107294A (ja) | 1991-10-16 | 1991-10-16 | 電子部品の導通検査方法並びにリード線引出しコネクタ及び電子部品の導通検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05107294A true JPH05107294A (ja) | 1993-04-27 |
Family
ID=17433320
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3266618A Pending JPH05107294A (ja) | 1991-10-16 | 1991-10-16 | 電子部品の導通検査方法並びにリード線引出しコネクタ及び電子部品の導通検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05107294A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101032840B1 (ko) * | 2002-10-23 | 2011-05-06 | 니혼앗짜쿠단시세이소 가부시키가이샤 | 커넥터 및 커넥터의 제조 방법 |
-
1991
- 1991-10-16 JP JP3266618A patent/JPH05107294A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101032840B1 (ko) * | 2002-10-23 | 2011-05-06 | 니혼앗짜쿠단시세이소 가부시키가이샤 | 커넥터 및 커넥터의 제조 방법 |
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