JPH05102522A - Led表示装置の製造方法 - Google Patents

Led表示装置の製造方法

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JPH05102522A
JPH05102522A JP13218591A JP13218591A JPH05102522A JP H05102522 A JPH05102522 A JP H05102522A JP 13218591 A JP13218591 A JP 13218591A JP 13218591 A JP13218591 A JP 13218591A JP H05102522 A JPH05102522 A JP H05102522A
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film
electroless plating
ito
itoa
plating method
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Kotaro Yoneda
公太郎 米田
Toshihiko Tsuboi
敏彦 坪井
Akihito Nogata
彰人 野方
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Stanley Electric Co Ltd
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Stanley Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】この発明は、メタライズのシート抵抗を低い範
囲で制御可能なLED表示装置の製造方法を目的にして
いる。 【構成】ガラス基板B上に、透明導電膜ITOAを、ス
パッタ蒸着等で成膜する第1工程と、該ITOAを、フ
オトリソ工程でパターン化する第2工程と、無電解めっ
き法により、ITOA上だけにNi・P膜Dを施し、そ
の後置換めっき法によりNi・P膜Dの上層をAu膜に
置換する第3工程と、第1〜第3工程で成膜されたメタ
ライズに、予め外部より引き出しされている引き出しパ
ターンを用い、電気めっき法によりAu膜Cを施す第4
工程と、無電解めっき法と電気めっき法により、ITO
A上にNi・P膜Dを成膜すると共に、AuEをメタラ
イズの所定位置に、LEDチップFをダイボンドする第
5工程と、AuワイヤーGで、前記LEDチップFのボ
ンデングパッドとAu膜E上とをワイヤーボンデングす
る第6工程で、順次行うものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、LED表示装置の製
造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種LED表示装置の製造方法
の公知例を記載した刊行物は、発見することができな
い。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記従来の技
術では、ITOの固有シート抵抗は、かなり高い値(1
0オーム〜300オーム/□)であるため、直接電気め
っき法でNi、Auの成膜を施すことはできないという
問題点がある。
【0004】また、従来のLED表示装置では、LED
の電流制限抵抗器が必要であるという問題点がある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明におけるLED表示装置の製造方法において
は、ガラス基板上に、透明導電膜ITOを、スパッタ蒸
着又は真空蒸着にて成膜する第1工程と、該ITOを、
フオトリソ工程で所定パターンにパターン化する第2工
程と、無電解めっき法により、ITO上だけにNi・P
膜を施し、その後置換めっき法によりNi・P膜の上層
をAu膜に置換する第3工程と、前記第1〜第3工程で
成膜されたメタライズに、予め外部より引き出しされて
いる引き出しパターンを用い、電気めっき法によりAu
膜を施す第4工程と、無電解めっき法と電気めっき法に
より、ITO上にNi・P膜を成膜すると共に、Auを
メタライズの所定位置に、LEDチップをダイボンドす
る第5工程と、Auワイヤーで、前記LEDチップのボ
ンデングパッドとAu膜上とをワイヤーボンデングする
第6工程を、順次行う構成にされている。
【0006】
【実施例】実施例について図1を参照して本発明のLE
D表示装置の製造方法の製造工程を工程順に説明する。
【0007】第1工程では、所望のガラス基板Bに、透
明導電膜ITOAを、スパッタ蒸着又は真空蒸着により
成膜する工程である。
【0008】前記ガラス基板Bは、特に、材質は問わな
いが、ソーダーガラス等アルカリを含む場合には、アル
カリイオンの析出を防ぐため、ガラス基板Bと透明導電
膜ITOAとの間に、Sio2 膜を成膜する。
【0009】第2の工程では、ITOAを、通常のフオ
トリソ工程により、所定のパターンにパターン化する。
【0010】第3の工程では、無電解めっき法により、
ITOA上だけにNi・P膜Dを0.3〜0.8μm施
す。その後置換めっき法によりNi・P膜Dの上層約3
00〜500をAu膜Cに置換する。
【0011】第4の工程では、第1〜第3工程で成膜さ
れたメタライズに、予め外部より引き出しされている引
き出しパターンを用い、電気めっき法によりAu膜E
を、0.3〜0.5μm施す。
【0012】第5の工程では、無電解めっき法と電気め
っき法により、ITOA上にNi・P膜Dを0.3〜
0.8μm成膜すると共に、Au膜C及びEを0.3〜
1.5μm成膜されたメタライズの所定位置に、Agペ
ースト等を用いてLEDチップFをダイボンドする。
【0013】第6の工程では、AuワイヤーGで、前記
LEDチップFのボンデングパッドとAu膜E上とをワ
イヤーボンデングする。
【0014】なお、上記第3工程において、第3〜〜第
4工程を連続的に流す場合は、置換めっき法によるAu
膜を省略することも可能である。
【0015】前記LEDチップF又はAuワイヤーGに
保護が必要な場合には、シリコーン系、アクリル系、エ
ポキシ系等の樹脂でコーテングを施すようにする。
【0016】
【発明の効果】本発明は、上述の通り構成されているの
で、次に記載する効果を奏する。従来は、ITOの固有
シート抵抗は、かなり高い値であるために、直接電気め
っきでNi、Au膜を施すことはできなかったが、無電
解めっき法を用いて、Ni・P、AuをITO上に成膜
を施すことにより、最上層には電気めっき法でAu膜
を、0.3μ〜1.5μmまで施すことができる。従っ
て、Au膜の膜厚を容易に調整でき、メタライズのシー
ト抵抗をかなり低い範囲で制御できる。
【0017】また、LEDの電流制限抵抗器の機能は、
メタライズパターン自体に持たせることもできるため、
該抵抗器が不要となる。従って、抵抗器の耐消費電力を
軽減できる。
【0018】さらに、Au膜の膜厚を厚くすることによ
り、LEDから発熱する熱の放熱性を良くすることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明ののLED表示装置の製造方法の製造工
程を表した図である。
【符合の説明】
A ITO B ガラス基板 C Au膜 D Ni・P膜 E Au膜 F LEDチップ G Auワイヤー

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ガラス基板上に、透明導電膜ITOを、ス
    パッタ蒸着又は真空蒸着にて成膜する第1工程と、該I
    TOを、フオトリソ工程で所定パターンにパターン化す
    る第2工程と、無電解めっき法により、ITO上だけに
    Ni・P膜を施し、その後置換めっき法によりNi・P
    膜の上層をAu膜に置換する第3工程と、前記第1〜第
    3工程で成膜されたメタライズに、予め外部より引き出
    しされている引き出しパターンを用い、電気めっき法に
    よりAu膜を施す第4工程と、無電解めっき法と電気め
    っき法により、ITO上にNi・P膜を成膜すると共
    に、Auをメタライズの所定位置に、LEDチップをダ
    イボンドする第5工程と、Auワイヤーで、前記LED
    チップのボンデングパッドとAu膜上とをワイヤーボン
    デングする第6工程を、順次行うLED表示装置の製造
    方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002129347A (ja) * 2000-10-19 2002-05-09 Sumitomo Osaka Cement Co Ltd 選択メッキ下地膜の形成方法、選択メッキ下地膜、および微細金属配線付き基板
JP2002129345A (ja) * 2000-10-19 2002-05-09 Sumitomo Osaka Cement Co Ltd 選択メッキ下地形成用感光性塗布液
WO2002086972A1 (en) * 2001-04-23 2002-10-31 Plasma Ireland Limited Illuminator
JP2012222191A (ja) * 2011-04-11 2012-11-12 Okuno Chem Ind Co Ltd Led照明ユニット

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002129347A (ja) * 2000-10-19 2002-05-09 Sumitomo Osaka Cement Co Ltd 選択メッキ下地膜の形成方法、選択メッキ下地膜、および微細金属配線付き基板
JP2002129345A (ja) * 2000-10-19 2002-05-09 Sumitomo Osaka Cement Co Ltd 選択メッキ下地形成用感光性塗布液
WO2002086972A1 (en) * 2001-04-23 2002-10-31 Plasma Ireland Limited Illuminator
US6995405B2 (en) 2001-04-23 2006-02-07 Plasma Ireland Limited Illuminator
JP2012222191A (ja) * 2011-04-11 2012-11-12 Okuno Chem Ind Co Ltd Led照明ユニット

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