JPH0489583A - フラットパックｉｃ検査治具 - Google Patents

フラットパックｉｃ検査治具

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Publication number
JPH0489583A
JPH0489583A JP2203644A JP20364490A JPH0489583A JP H0489583 A JPH0489583 A JP H0489583A JP 2203644 A JP2203644 A JP 2203644A JP 20364490 A JP20364490 A JP 20364490A JP H0489583 A JPH0489583 A JP H0489583A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
flat pack
lead
inspection jig
heat radiation
Prior art date
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Pending
Application number
JP2203644A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshitaka Masuda
増田　嘉孝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0489583A publication Critical patent/JPH0489583A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はフラットパックＩＣの検査治具に関し、特にフ
ラットパックＩＣが発する熱を放熱する機能を有するフ
ラットパックＩＣ検査治具に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種のフラットパックＩＣ検査治具はフラット
パックＩＣのリードをコンタクトピンに接触させ、フラ
ットパックＩＣの検査を行っていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のフラットパックＩＣ検査治具は、フラッ
トパックＩＣのリードとコンタクトピンとを接触させる
だけの構造であり、フラットパックＩＣからの熱を放熱
する機構がないため、低消費電力ＩＣは検査可能である
が、大消費電力のＩＣについては検査を行うことができ
ないという欠点がある。
本発明の目的は大消費電力ＩＣの検査を可能にしたフラ
ットパックＩＣ検査治具を掛供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
前記目的を達成するため、本発明に係るフラットパック
ＩＣ検査治具においては、コンタクトピンと、リード押
え部と、放熱機構とを有するフラブトバックＩＣ検査治
具であって、 コンタクトピンは、フラットパックＩＣのリードに接触
するものであり、 リード押え部は、フラットパックＩＣのリードをコンタ
クトピンに圧下接触させるものであり、放熱機構は、弾
性支持され、フラットパックＩＣに弾接することにより
、該ＩＣが発する熱を放熱するものである。
〔作用〕
ＩＣ５のリード６をコンタクトピン７に接触させ、かつ
ＩＣ５に放熱機構３を弾接させ、ＩＣ５の熱を放熱１１
ｍ３にて放熱する。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図により説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す断面図である。
図において、コンタクトピン７は治具本体Ｍの下部にＩ
Ｃ５のリード６に対応して上向き姿勢で植設されている
。
またスライダ８は治具本体Ｍの上部に昇降可能に支持し
である。１はスライダ８を昇降させる押えレバーである
。また、ＩＣ５のリード６をコンタクトピン７に圧下す
るリード押え部４はスライダ８の下部に設けである。
さらに、スライダ８は２本のガイド３ａ、３ａを両側の
リード押え部４．４間に位！させて下向きに設けてあり
、放熱機構３はガイド３ａ、３ａに昇降可能に支持して
あり、かつスプリング２により付勢されている。放熱機
構３はＩＣ５にスプリング力を受けて弾接し、ＩＣ５の
熱を放熱するものである。
実施例において、押えレバー１を矢印の方向へ動かすと
、スライダ８が下降してフラットパックＩＣのリード押
え部４でリード６を押えることにより、リード６がコン
タクトピン７と接触する。
また、スプリング２が付いていることにより、放熱機４
１！３とＩＣ５が的確に接触するため、ＩＣ５のリード
６に無理な力が加わらず曲がることがなく、大消費電力
のＩＣでも放熱効果が得られる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は放熱機構を弾性支持し、放
熱機構をＩＣに押し当てることにより、ＩＣの熱を放熱
するようにしたなめ、大消費電力のＩＣでも検査可能と
なり、放熱効果も得ることができる。
さらに、放熱機構は弾性支持するなめ、ＩＣのリードに
無理な力を加えることがなく、リードの曲がりを防止で
きる効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例を示す断面図である。 １・・・押えレバー　　　　２・・・スプリング３・・
・放熱機構　　　　　４・・・リード押え部５・・・Ｉ
Ｃ６・・・リード ７・・・コンタクトピン 特許出願人　　　日本電気株式会社 代　　理　　人　　　　弁理士　菅　野　　　中第１図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）コンタクトピンと、リード押え部と、放熱機構と
    を有するフラットパックＩＣ検査治具であって、 コンタクトピンは、フラットパックＩＣのリードに接触
    するものであり、 リード押え部は、フラットパックＩＣのリードをコンタ
    クトピンに圧下接触させるものであり、放熱機構は、弾
    性支持され、フラットパックＩＣに弾接することにより
    、該ＩＣが発する熱を放熱するものであることを特徴と
    するフラットパックＩＣ検査治具。
JP2203644A 1990-07-31 1990-07-31 フラットパックｉｃ検査治具 Pending JPH0489583A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6097198A (en) * 1997-01-10 2000-08-01 Jsr Corporation Inspection jig
JP2011089956A (ja) * 2009-10-26 2011-05-06 Nec Corp インサーキットテストフィクスチャの冷却構造

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