JPH0487325A - 多結晶膜の作製法 - Google Patents

多結晶膜の作製法

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JPH0487325A
JPH0487325A JP2201542A JP20154290A JPH0487325A JP H0487325 A JPH0487325 A JP H0487325A JP 2201542 A JP2201542 A JP 2201542A JP 20154290 A JP20154290 A JP 20154290A JP H0487325 A JPH0487325 A JP H0487325A
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JP
Japan
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plasma
buffer layer
polycrystalline
substrate
film
Prior art date
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Pending
Application number
JP2201542A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinori Okayasu
良宣 岡安
Keiji Kumagai
熊谷 啓二
Masanori Kitano
北野 昌則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tonen General Sekiyu KK
Original Assignee
Tonen Corp
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Publication date
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Publication of JPH0487325A publication Critical patent/JPH0487325A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は多結晶膜の作製法に係わる。
〔従来の技術〕
多結晶シリコン薄膜を用いた太陽電池は発電効率が比較
的高く、また、多結晶シリコン薄膜の製膜も比較的低コ
ストであることから、有望視され、開発が進められてい
る。
多結晶シリコン薄膜の製膜法として、本発明者らはプラ
ズマCVD法の開発を進めている。プラズマCVD法は
低温で良質の結晶薄膜を製膜できる利点がある。
また、プラズマ溶射法は主に金属へのセラミックコーテ
ィング、セラミック粒子の製造、金属表面の改質などに
用いられている。
〔発明が解決しようとする課題〕
多結晶シリコン薄膜を用いた太陽電池を実用化するため
には、安価な基板上に良質で結晶粒径の大きい多結晶シ
リコン薄膜を製膜する必要がある。
しかしながら、プラズマCVD法は低温で製膜できる点
で基板に耐熱性を要求しない点で有利であるが、実際に
、プラズマCVD法で結晶粒径が大きい多結晶シリコン
薄膜を製膜てきる基板は限られている。例えば、ステン
レス綱は安価な耐久性の基板であるが、ステンレス綱の
ような異質基板上の多結晶シリコン薄膜の粒径をIIH
n以上にすることは非常に難しい。
そこで、本発明は、異質な基板上に多結晶シリコン薄膜
を製膜するヘテロ成長方法を提供し、多結晶シリコン薄
膜を用いた太陽電池の実用化に寄与することを目的とす
る。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、上記目的を達成するために、基板上に下地多
結晶層をプラズマ溶射法で形成し、その上に上層多結晶
膜をプラズマCVD法で成長することを特徴とする多結
晶膜のヘテロ成長方法を提供する。
すなわち、本発明は、太陽電池の所望性能を実現できる
品質の多結晶膜を異質な基板上にプラズマCVD法で成
長できるようにするために、基板上に先ず成長すべき多
結晶膜に近い格子定数を有する多結晶層からなるバッフ
ァー層(下地層)を形成し、このバッファー層の形成を
プラズマ溶射法で行うものである。
本発明でプラズマCVD法で成長する多結晶膜の典型例
は、シリコン、ゲルマニウム、シリコン・ゲルマニウム
などである。
成長すべき多結晶膜に近い格子定数を有する多結晶とは
、成長すべき多結晶と同一材料の他、これと格子定数の
近い材料でも良いことを意味する。
例えば、シリコンを成長する場合、シリコンの他ニケル
マニウム、シリコン・ゲルマニウム、フッ化カルシウム
などを用いてバッファー層を形成することができる。格
子定数が近いとは格子定数のずれが5%以内をいう。
本発明において基板の種類は限定されないが、太陽電池
用基板としては、例えばアルミナのようなセラミックス
基板あるいはステンレス綱のような金属基板への適用が
望まれる。
バッファー層を形成するプラズマ溶射法は、大気圧又は
大気圧に近い圧力下で高温プラズマ(約1万度)を発生
させ、高温プラズマ中に原料粒子又は原料ガスを導入し
、溶融・分解し、基板上へ膜を堆積させる方法である。
高温プラズマの発生法としてアークプラズマを用いる直
流法と、誘導プラズマを用いる高周波法があるが、どち
らでもよい。典型的には、直流法では、第1図の如く、
電極部1と陰極部20間でアーク放電を発生させ、ギャ
ップ間に流れているアルゴンガスを分解し、高温プラズ
マを形成する。ギャップ付近に原料3が通常は横から供
給され、アルゴンプラズマにより溶融・分解され、基板
4へ輸送される。比較的にプラズマフレーム径が小さい
。一方、高周波法では、第2図の如く、石英管5の中央
に巻かれたコイル6により誘導プラズマを発生させるた
め、広がったプラズマ7を形成する。
プラズマ溶射法の原料は固体粒子のほか、気体や液体で
もよい。また、バッファー層上に形成する活性層を成す
多結晶薄膜はプラズマCVD法によって低温で成長する
ので、バッファー層の純度は低くてもよい。バッファー
層は結晶粒径だけが重要である。
また、本発明によれば、好ましい態様として、プラズマ
溶射法でバッファー層を形成した後、バッファー層の充
填率向上(平坦化)、結晶粒径の増大のたtに、アルゴ
ンなどの不活性プラズマによる再溶融を行うことができ
る。なお、プラズマ溶射法による製膜条件自体を制御し
て、製膜時に膜を溶融状態にすることにより、製膜終了
とともに徐冷・再結晶化させることも可能である。
バッファー層上への多結晶膜のプラズマCVD法による
製膜の方法は特に限定されず、慣用の方法によることが
できる。
〔作 用〕
プラズマ溶射法で結晶性のバッファー層を形成したこと
により、異質基板上に高品質の多結晶薄膜を成長するこ
とができるようになる。
〔実施例〕
実施例1 基板として、シリコンウェーハ、石英ガラスを用い、バ
ッファー層として第1図の装置で直流法による多結晶シ
リコン膜を形成した。形成条件は下記の通りとした。
放電電流       400A 放電電圧        41V 放電圧力       100TorrAr流量   
     6L/m1nS】粒子サイズ   10〜4
0廁 S1供給量      20Orpm 基板までの距n     200mm 得られた多結晶シリコン膜は、TEM観察によると、5
000人程度0粒径であることが認められた。
基板の種類のよる差は認められなかった。
次いで、この多結晶シリコン膜上にプラズマCVD法で
多結晶シリコン薄膜を成長した。その条件は下記の通り
とした。
供給ガス Sin<       0.5〜23secmH20〜
100sec+n S+F、        Q 〜5Qsccm圧力  
    0.1〜ITorr 電力密度    10〜500mW/cn!こうして得
られた多結晶シリコン薄膜は、TEM観察によると50
00人程度0粒径てあり、また結晶の品質は良好である
ことが’JJ?bられた。
実施例2 基板として、シリコンウェーハ、石英ガラスを用い、バ
ッファー層として第2図の装置で高周波法による多結晶
シリコン膜を形成した。形成条件は下記の通りとした。
反応炉圧力     約300Torr放電電力   
   10〜20kW Si粒子サイズ  10〜100肉 S1供給量     1〜5g/m1nAr流@   
    6C1−80L /m1nH2流量     
   81/min高周波電極・基板 間距離       10〜20cm 得られた多結晶シリコン膜は、TEM観察によると、3
m程度の粒径であることが認められた。
基板の種類のよる差は認められなかった。
次いで、この多結晶シリコン膜上に実施例1と同様な条
件下プラズマCVD法で多結晶シリコン薄膜を成長した
こうして得られた多結晶シリコン薄膜は、TEM観察に
よると3−程度の粒径であり、また結晶の品質は良好で
あることがgJ?bられた。
実施例3 実施例2と同様の条件で基板上にプラズマ溶射法で多結
晶シリコン膜を形成した後、同じ第2図の装置でアルゴ
ンプラズマを照射して多結晶シリコン膜を再溶融し、再
結晶化させた。
得られた再結晶化多結晶シリコン膜は、研磨なしでもか
なり平坦な膜になっており、またTEM観察によると、
50I!Ia程度の粒径まで粒成長していることがg忍
められた。
次いで、この多結晶シリコン膜上にプラズマCVD法で
多結晶シリコン薄膜を成長した。その条件は実施例1と
同様とした。
こうして得られた多結晶シリコン薄膜は、50声程度の
粒径となっており、良好な膜特性を示している。
〔発明の効果〕
以上の如く、本発明によれば、良質でかつ結晶粒径の大
きい多結晶薄膜を異質基板上に成長することができ、多
結晶薄膜を用いた太陽電池の実用化に寄与する。
【図面の簡単な説明】
第1図は直流法によるプラズマ溶射法の装置の模式図、
第2図は高周波法によるプラズマ溶射法の装置の模式図
である。 1・・・電極、     2・・・陰極、3・・・原料
、     4・・・基板、5・・・石英管、    
 6・・・コイノベ7・・・プラズマ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板上に下地多結晶層をプラズマ溶射法で形成し、
    その上に上層多結晶膜をプラズマCVD法で成長するこ
    とを特徴とする多結晶膜のヘテロ成長方法。 2、基板上にプラズマ溶射法で形成した下地多結晶層を
    続いて不活性ガスプラズマで再結晶化する請求項1記載
    の方法。
JP2201542A 1990-07-31 1990-07-31 多結晶膜の作製法 Pending JPH0487325A (ja)

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