JPH0487005A - 磁気ヘッド - Google Patents
磁気ヘッドInfo
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- JPH0487005A JPH0487005A JP20337090A JP20337090A JPH0487005A JP H0487005 A JPH0487005 A JP H0487005A JP 20337090 A JP20337090 A JP 20337090A JP 20337090 A JP20337090 A JP 20337090A JP H0487005 A JPH0487005 A JP H0487005A
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- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
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Landscapes
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明はVTR(ビデオテープレコーダ)、DAT(デ
ジタルオーディオテープレコーダ)等の磁気記録装置に
使用される磁気ヘッドに関する。
ジタルオーディオテープレコーダ)等の磁気記録装置に
使用される磁気ヘッドに関する。
(ロ)従来の技術
近年、VTR,DAT等の磁気記録再生装置においては
、記録信号の高密度化が進められておりこの高密度記録
に対応して、磁性粉としてFe、C01N1等の強磁性
金属粉末を用いた抗磁力の高いメタルテープが使用され
るようになっている。例えば、8ミリビデオと称する小
型のVTRではHc=1400〜1500エルステッド
程度の高い抗磁力を有するメタルテープが用いられる。
、記録信号の高密度化が進められておりこの高密度記録
に対応して、磁性粉としてFe、C01N1等の強磁性
金属粉末を用いた抗磁力の高いメタルテープが使用され
るようになっている。例えば、8ミリビデオと称する小
型のVTRではHc=1400〜1500エルステッド
程度の高い抗磁力を有するメタルテープが用いられる。
その理由は、磁気記録再生装置を小型化するために記録
密度を高める必要性から、信号の記録波長を短くするこ
との可能な記録媒体が要求されてきたためである。
密度を高める必要性から、信号の記録波長を短くするこ
との可能な記録媒体が要求されてきたためである。
一方、このメタルテープに記録するために従来のフェラ
イトのみからなる磁気ヘッドを用いるとフェライトの飽
和磁束密度が高々5500ガウス程度であることから磁
気飽和現象が発生するためメタルテープの性能を充分に
活用することができない。そこで、この高い抗磁力を有
するメタルテープに対応する磁気へ7ドとしては、通常
磁気ヘッドとして要求される磁気コアの高周波特性や耐
摩耗性の他に、磁気コアのギャップ近傍部の飽和磁束密
度が大きいことが要求される。この要求を満たすメタル
テープ対応型の磁気ヘッドとしては、特開昭60−22
9210号公報(GIIB5/′187)等に開示さn
ているような磁気飽和現象の最も生じやすい磁気ギャッ
プ近傍部分を、磁気コアとして使用されるフェライトよ
りも飽和磁化の大きな金属磁性材料(たとえば、パーマ
ロイ、センダスト、アモルファス磁性体)で構成したM
I G (Metal In Gap)型の磁気ヘッ
ドが提案されている。この複合型の磁気ヘッドは信頼性
、磁気特性、耐摩耗性等の点で優れた特性を有する。
イトのみからなる磁気ヘッドを用いるとフェライトの飽
和磁束密度が高々5500ガウス程度であることから磁
気飽和現象が発生するためメタルテープの性能を充分に
活用することができない。そこで、この高い抗磁力を有
するメタルテープに対応する磁気へ7ドとしては、通常
磁気ヘッドとして要求される磁気コアの高周波特性や耐
摩耗性の他に、磁気コアのギャップ近傍部の飽和磁束密
度が大きいことが要求される。この要求を満たすメタル
テープ対応型の磁気ヘッドとしては、特開昭60−22
9210号公報(GIIB5/′187)等に開示さn
ているような磁気飽和現象の最も生じやすい磁気ギャッ
プ近傍部分を、磁気コアとして使用されるフェライトよ
りも飽和磁化の大きな金属磁性材料(たとえば、パーマ
ロイ、センダスト、アモルファス磁性体)で構成したM
I G (Metal In Gap)型の磁気ヘッ
ドが提案されている。この複合型の磁気ヘッドは信頼性
、磁気特性、耐摩耗性等の点で優れた特性を有する。
このMIG型の磁気ヘッドには、第1図、第2図、第3
図及び第4図に夫々示すように様々な形状がある。図中
、(1)(1°)はM n −Z nフェライト等の強
磁性酸化物材料よりなる一対の第1、第2磁気コア半体
、(2)は磁気ギャップであり、前記第1、第2磁気コ
ア半体(1)(1’)の磁気ギヤノア(2)近傍にはセ
ンダスト等の金属磁性体膜(3)(3)が被着形成され
ている。(4)は巻線溝、(5)は前記第1、第2磁気
コア半体(1)(1’)を結合する為のガラスであり、
該ガラス(5)は前記金属磁性体膜(3)(3>に接触
している。
図及び第4図に夫々示すように様々な形状がある。図中
、(1)(1°)はM n −Z nフェライト等の強
磁性酸化物材料よりなる一対の第1、第2磁気コア半体
、(2)は磁気ギャップであり、前記第1、第2磁気コ
ア半体(1)(1’)の磁気ギヤノア(2)近傍にはセ
ンダスト等の金属磁性体膜(3)(3)が被着形成され
ている。(4)は巻線溝、(5)は前記第1、第2磁気
コア半体(1)(1’)を結合する為のガラスであり、
該ガラス(5)は前記金属磁性体膜(3)(3>に接触
している。
しかし乍ら、上述のようなMIG型の磁気ヘッドでは、
第1、第2磁気コア半体(1)(1’)を結合するため
のガラス(5)(5)により金属磁性体膜(3)(3)
が浸食され、これにより磁気ギャップ(2)のトラック
幅やギャップ深さが小さくなったり、磁気特性が劣化す
るという問題が生じる。
第1、第2磁気コア半体(1)(1’)を結合するため
のガラス(5)(5)により金属磁性体膜(3)(3)
が浸食され、これにより磁気ギャップ(2)のトラック
幅やギャップ深さが小さくなったり、磁気特性が劣化す
るという問題が生じる。
上述の欠点を解消する磁気ヘッドとしては、例えば特開
昭62−145510号公報(611B5 / 127
)等に示されているように金属磁性体膜上にS10.
やCr等よりなる反応防止膜を設けた磁気ヘッドが提案
されている。しかし乍ら、この磁気ヘッドにおいてら、
金属磁性体膜上に反応防止膜を形成することにより、製
造工程における工数が増加するという間組が生じる。
昭62−145510号公報(611B5 / 127
)等に示されているように金属磁性体膜上にS10.
やCr等よりなる反応防止膜を設けた磁気ヘッドが提案
されている。しかし乍ら、この磁気ヘッドにおいてら、
金属磁性体膜上に反応防止膜を形成することにより、製
造工程における工数が増加するという間組が生じる。
また、金属磁性体膜へのガラスの浸食を考慮して、予め
磁気ギャップのトランク幅やギャップ深さを大きくする
ことも考えられるが、ガラスの浸食度は不安定であり、
この方法は実用的でない。
磁気ギャップのトランク幅やギャップ深さを大きくする
ことも考えられるが、ガラスの浸食度は不安定であり、
この方法は実用的でない。
(ハ)発明が解決しようとする課題
本発明は上記従来例の欠点に鑑み為されたものであり、
製造工程の工数を増やすことなく、金属磁性体へのガラ
スの浸食を抑え、磁気ギャップのトラック幅やギャップ
深さの増大を防止した磁気ヘッドを提供することを目的
とするものである。
製造工程の工数を増やすことなく、金属磁性体へのガラ
スの浸食を抑え、磁気ギャップのトラック幅やギャップ
深さの増大を防止した磁気ヘッドを提供することを目的
とするものである。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明の磁気ヘッドは、一対の磁気コア半体同士をギャ
ンプ接合するためのガラスを、そのガラスを構成する元
素のうち酸素を除いた元素の組成比ごとその元素の電気
陰性度βとの比の合計γ(=Σ(α/β))が60以上
になるようにしたことを特徴とする。
ンプ接合するためのガラスを、そのガラスを構成する元
素のうち酸素を除いた元素の組成比ごとその元素の電気
陰性度βとの比の合計γ(=Σ(α/β))が60以上
になるようにしたことを特徴とする。
また、本発明の磁気ヘッドは、そのガラスを構成する元
素のうちに、OとNa、Oの組成比の合計が10.0a
t、%以上になるようにしたことを特徴とする。
素のうちに、OとNa、Oの組成比の合計が10.0a
t、%以上になるようにしたことを特徴とする。
(ホ)作 用
上記組成のガラスは、KやNa等の電気陰性度の小さい
、即ち化学的に不安定な元素が多いため、金属磁性体を
構成する元素との反応が起きにくく、金属磁性体への浸
食が抑えられる。
、即ち化学的に不安定な元素が多いため、金属磁性体を
構成する元素との反応が起きにくく、金属磁性体への浸
食が抑えられる。
(へ)実施例
以下、本発明の磁気ヘッドについて詳細に説明する。
本実施例では、下記の第1表に示した組成の試料a−s
のガラスについて金属磁性体に対する浸食の程度を調べ
た。
のガラスについて金属磁性体に対する浸食の程度を調べ
た。
上述の試料a−sのガラスの金属磁性体に対する浸食を
検討した結果、ガラスの浸食はガラスの組成元素の電気
陰性度と強い関係があることが判明した。
検討した結果、ガラスの浸食はガラスの組成元素の電気
陰性度と強い関係があることが判明した。
上記試料a−sのガラスを構成する元素のうち酸素を除
いた元素のり、 Paul ingによる電気陰性度β
を下記の第2表に示す。
いた元素のり、 Paul ingによる電気陰性度β
を下記の第2表に示す。
第1表
(れ%)
第 2 表
次に、上記試料a −sのガラスを構成する元素のうち
酸素を除いた元素の組成比aとその元素の電気陰性度β
との比(α/β)の合計γと、そのガラスの金属磁性体
材料に対する浸食の程度とを下記の第3表に示す。
酸素を除いた元素の組成比aとその元素の電気陰性度β
との比(α/β)の合計γと、そのガラスの金属磁性体
材料に対する浸食の程度とを下記の第3表に示す。
尚、ガラスの浸食の程度は、Fe−Al−Si系合金等
の金属磁性体く本実施例ではFe:82.55wt、%
、Aj! : 7.11wt、%、sin’11゜7
w1%、 Cr : 0 、64 wt4o)の上にガ
ラス棒を置き、ガラス溶着工程と同じ温度サイクルで温
度を加えた後、ガラスを取り除き、その部分の表面状態
を表面荒さ計で測定することにより求めた。
の金属磁性体く本実施例ではFe:82.55wt、%
、Aj! : 7.11wt、%、sin’11゜7
w1%、 Cr : 0 、64 wt4o)の上にガ
ラス棒を置き、ガラス溶着工程と同じ温度サイクルで温
度を加えた後、ガラスを取り除き、その部分の表面状態
を表面荒さ計で測定することにより求めた。
第 3 表
上記第3表から判るように、γが約60(試料pの59
8)以上であれば、浸食の程度が1.0以下となり、ガ
ラスは金属磁性体に対してほとんど浸食しない。一方、
γが約60(試料Oの59.4)以下であれ:J、浸食
の程度が2.5以上と急激に大きくなり、ガラスが金属
磁性体に対して大きく浸食することが判る。実用上、ガ
ラスの浸食の程度が2.0以下であれば磁気ヘッドに対
して全く間組はない。従って、γが60以上になるよう
にガラスの組成を選べば、ガラスの金属磁性体への浸食
は実用上問題とならない程度に抑えることが出来る。
8)以上であれば、浸食の程度が1.0以下となり、ガ
ラスは金属磁性体に対してほとんど浸食しない。一方、
γが約60(試料Oの59.4)以下であれ:J、浸食
の程度が2.5以上と急激に大きくなり、ガラスが金属
磁性体に対して大きく浸食することが判る。実用上、ガ
ラスの浸食の程度が2.0以下であれば磁気ヘッドに対
して全く間組はない。従って、γが60以上になるよう
にガラスの組成を選べば、ガラスの金属磁性体への浸食
は実用上問題とならない程度に抑えることが出来る。
また、上記第1表及び第3表から、ガラスの組成の中で
特にNa、0とに、Oの組成比の合計がlO、Oat、
%よりも大きい試料c、d、e、i、j、p、q、r、
sのガラスは、浸食の程度が1、O以下となり、ガラス
が金属磁性体に対してほとんど浸食しないことが判る。
特にNa、0とに、Oの組成比の合計がlO、Oat、
%よりも大きい試料c、d、e、i、j、p、q、r、
sのガラスは、浸食の程度が1、O以下となり、ガラス
が金属磁性体に対してほとんど浸食しないことが判る。
即ち、Na、0とKIOの組成比の合計が10.Oat
、%よりも大きくなるようにガラスの組成を選べば、ガ
ラスの金属磁性体への浸食は実用上問題とならない程度
に抑えることが出来る。
、%よりも大きくなるようにガラスの組成を選べば、ガ
ラスの金属磁性体への浸食は実用上問題とならない程度
に抑えることが出来る。
尚、Fe−Al−3i系合金においては、その組成元素
の中にテルミット反応等によって容易に酸化されること
で有名であるAlを含んでおり、これがガラス中に含ま
れる酸素と反応することによりAlの相対的な量が少な
くなり、Fe−Al−Si系合金の緒特性が劣化する。
の中にテルミット反応等によって容易に酸化されること
で有名であるAlを含んでおり、これがガラス中に含ま
れる酸素と反応することによりAlの相対的な量が少な
くなり、Fe−Al−Si系合金の緒特性が劣化する。
本発明のガラスでは、KやNa等の電気陰性度の小さい
、即ち、単体で科学的に不安定な元素を従来に比べて多
くすることにより前記電気陰性度の小さい元素が酸素と
結合するため、Fe−Al−Si系合金のA2と酸素と
の反応が抑えられる。
、即ち、単体で科学的に不安定な元素を従来に比べて多
くすることにより前記電気陰性度の小さい元素が酸素と
結合するため、Fe−Al−Si系合金のA2と酸素と
の反応が抑えられる。
(ト)発明の効果
本発明に依れば、金属磁性体へのガラスの浸食を抑え、
磁気ギャップのトラック幅やギャップ深さの増大を防止
した磁気ヘッドを提供し得る。
磁気ギャップのトラック幅やギャップ深さの増大を防止
した磁気ヘッドを提供し得る。
第1図、第2図、第3図及び第4図は夫々磁気ヘッドの
外観を示す親図である。 (1)(1’)・・・第1、第2磁気コア半体、(2)
・・・磁気ギャップ、 (3)・・・金属磁性体膜、 (5)・・・ガラ
外観を示す親図である。 (1)(1’)・・・第1、第2磁気コア半体、(2)
・・・磁気ギャップ、 (3)・・・金属磁性体膜、 (5)・・・ガラ
Claims (3)
- (1)一対の磁気コア半体のうち少なくとも一方の磁気
コア半体が金属磁性体を備え、前記一対の磁気コア半体
同士を前記金属磁性体に接触するガラスによりギャップ
接合してなる磁気ヘッドにおいて、前記ガラスを構成す
る元素のうち酸素を除いた元素の組成比αとその元素の
電気陰性度βとの比の合計γ(=Σ(α/β))が60
以上であることを特徴とする磁気ヘッド。 - (2)一対の磁気コア半体のうち少なくとも一方の磁気
コア半体が金属磁性体を備え、前記一対の磁気コア半体
同士を前記金属磁性体に接触するガラスによりギャップ
接合してなる磁気ヘッドにおいて、前記ガラスを構成す
る元素のうちK_2OとNa_2Oの組成比の合計が1
0.0at.%以上であることを特徴とする磁気ヘッド
。 - (3)前記金属磁性体がFe−Al−Si系合金よりな
ることを特徴とする請求項(1)又は(2)記載の磁気
ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20337090A JPH0487005A (ja) | 1990-07-31 | 1990-07-31 | 磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20337090A JPH0487005A (ja) | 1990-07-31 | 1990-07-31 | 磁気ヘッド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0487005A true JPH0487005A (ja) | 1992-03-19 |
Family
ID=16472910
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20337090A Pending JPH0487005A (ja) | 1990-07-31 | 1990-07-31 | 磁気ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0487005A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6428248A (en) * | 1987-07-21 | 1989-01-30 | Sony Corp | Composite magnetic head |
JPH0238340A (ja) * | 1988-03-29 | 1990-02-07 | Sony Corp | ボンディングガラス及び磁気ヘッド |
-
1990
- 1990-07-31 JP JP20337090A patent/JPH0487005A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6428248A (en) * | 1987-07-21 | 1989-01-30 | Sony Corp | Composite magnetic head |
JPH0238340A (ja) * | 1988-03-29 | 1990-02-07 | Sony Corp | ボンディングガラス及び磁気ヘッド |
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