JPH0481348B2 - - Google Patents
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- JPH0481348B2 JPH0481348B2 JP58097628A JP9762883A JPH0481348B2 JP H0481348 B2 JPH0481348 B2 JP H0481348B2 JP 58097628 A JP58097628 A JP 58097628A JP 9762883 A JP9762883 A JP 9762883A JP H0481348 B2 JPH0481348 B2 JP H0481348B2
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 72
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 claims description 27
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 claims description 27
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 18
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 17
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 13
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 21
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 14
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 14
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 14
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000002843 nonmetals Chemical class 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 239000004859 Copal Substances 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 229910017401 Au—Ge Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910015363 Au—Sn Inorganic materials 0.000 description 1
- 241000016649 Copaifera officinalis Species 0.000 description 1
- 241000782205 Guibourtia conjugata Species 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000009863 impact test Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、発光ダイオードやフオトダイオード
に代表される光素子を収納する光素子用パツケー
ジの構造の改良に関するものである。
に代表される光素子を収納する光素子用パツケー
ジの構造の改良に関するものである。
[従来の技術]
光素子用パツケージは光素子を収納する作用を
営むが、この光素子用パツケージに要求される主
な技術要素は、光の取り入れや光の取り出し時に
おける対象光に対して透明となる光導入用の構造
を有すること、光素子にダイボンド及びワイヤー
ボンド等の配線を行い、光素子から電極を取り出
す構造を有すること、そして、光素子の耐環境性
と信頼性を向上させるための気密封止の構造を有
することである。
営むが、この光素子用パツケージに要求される主
な技術要素は、光の取り入れや光の取り出し時に
おける対象光に対して透明となる光導入用の構造
を有すること、光素子にダイボンド及びワイヤー
ボンド等の配線を行い、光素子から電極を取り出
す構造を有すること、そして、光素子の耐環境性
と信頼性を向上させるための気密封止の構造を有
することである。
従来における光素子用パツケージの構造につい
ては様々なものがあるが、以下、従来の光素子用
パツケージの構造について、フオトダイオードの
収納例を例にして説明する。
ては様々なものがあるが、以下、従来の光素子用
パツケージの構造について、フオトダイオードの
収納例を例にして説明する。
従来における光素子用パツケージは第8図及び
第9図に示す如く、TO−18型のパツケージ1の
上面中央に、エポキシ樹脂や共晶ハンダ等を介し
てフオトダイオード2がダイボンドされるととも
に、このフオトダイオード2と電極引き出し用の
リード線3の突出頂部には、湾曲した金線4がワ
イヤーボンドされ、パツケージ1には、下面が開
口した筒形のキヤツプ5が冠着して溶接されてお
り、このキヤツプ5の上面中央の孔には、コパー
ルガラスからなる光透過用の窓6が嵌着されてい
る。
第9図に示す如く、TO−18型のパツケージ1の
上面中央に、エポキシ樹脂や共晶ハンダ等を介し
てフオトダイオード2がダイボンドされるととも
に、このフオトダイオード2と電極引き出し用の
リード線3の突出頂部には、湾曲した金線4がワ
イヤーボンドされ、パツケージ1には、下面が開
口した筒形のキヤツプ5が冠着して溶接されてお
り、このキヤツプ5の上面中央の孔には、コパー
ルガラスからなる光透過用の窓6が嵌着されてい
る。
そして、この窓6の直上には、光線(矢印参
照)を伝送する光フアイバ7が近接配置されてい
る。
照)を伝送する光フアイバ7が近接配置されてい
る。
尚、第9図に示す光素子用パツケージも第8図
と同様に構成されているが、キヤツプ5の上面中
央の孔に嵌着される窓6がサフアイア板から構成
されている点が異なる。
と同様に構成されているが、キヤツプ5の上面中
央の孔に嵌着される窓6がサフアイア板から構成
されている点が異なる。
従来における光素子用パツケージは以上のよう
に構成されてフオトダイオード2を収納する作用
を営むが、この光素子用パツケージの構造には、
パツケージ1とキヤツプ5の製造上の寸法精度及
び金線4が障害となり、フオトダイオード2の上
面と窓6の距離が長くなつてフオトダイオード2
と光フアイバ7の光結合効率が悪くなるという問
題点があつた。
に構成されてフオトダイオード2を収納する作用
を営むが、この光素子用パツケージの構造には、
パツケージ1とキヤツプ5の製造上の寸法精度及
び金線4が障害となり、フオトダイオード2の上
面と窓6の距離が長くなつてフオトダイオード2
と光フアイバ7の光結合効率が悪くなるという問
題点があつた。
次に、第10図は従来における第2の光素子用
パツケージを示すもので、この場合には、通常の
TO−46型のパツケージ1の中心に、貫通孔8が
縦貫して穿設され、パツケージ1の上面中央に
は、フオトダイオード2が貫通孔8の中心に軸合
わせしてダイボンドされるとともに、このフオト
ダイオード2と電極引き出し用のリード線3の突
出頂部には、湾曲した金線4がワイヤーボンドさ
れており、パツケージ1には、下面が開口した筒
形のキヤツプ5が冠着して溶接されている。
パツケージを示すもので、この場合には、通常の
TO−46型のパツケージ1の中心に、貫通孔8が
縦貫して穿設され、パツケージ1の上面中央に
は、フオトダイオード2が貫通孔8の中心に軸合
わせしてダイボンドされるとともに、このフオト
ダイオード2と電極引き出し用のリード線3の突
出頂部には、湾曲した金線4がワイヤーボンドさ
れており、パツケージ1には、下面が開口した筒
形のキヤツプ5が冠着して溶接されている。
そして、貫通孔8の下方には、光線(矢印参
照)を伝送する光フアイバ7が近接配置されてい
る。
照)を伝送する光フアイバ7が近接配置されてい
る。
第10図に示す光素子用パツケージは以上のよ
うに構成されてフオトダイオード2を収納する作
用を営むが、この光素子用パツケージの構造に
も、上記従来例と同様に、フオトダイオード2の
下面と光フアイバ7の距離が長くなつてフオトダ
イオード2と光フアイバ7の光結合効率が悪くな
るという問題点があつた。
うに構成されてフオトダイオード2を収納する作
用を営むが、この光素子用パツケージの構造に
も、上記従来例と同様に、フオトダイオード2の
下面と光フアイバ7の距離が長くなつてフオトダ
イオード2と光フアイバ7の光結合効率が悪くな
るという問題点があつた。
次に、第11図は第10図に示す光素子用パツ
ケージの問題点を解消する第3の光素子用パツケ
ージを示すもので、この場合には、上記貫通孔8
が拡径に拡張穿設されて貫通孔8に光フアイバ7
が挿入可能となつており、光フアイバ7の挿入に
基づいてフオトダイオード2の下面と光フアイバ
7の距離を短縮するようにしている。
ケージの問題点を解消する第3の光素子用パツケ
ージを示すもので、この場合には、上記貫通孔8
が拡径に拡張穿設されて貫通孔8に光フアイバ7
が挿入可能となつており、光フアイバ7の挿入に
基づいてフオトダイオード2の下面と光フアイバ
7の距離を短縮するようにしている。
第11図に示す光素子用パツケージは以上のよ
うに構成されてフオトダイオード2を収納する作
用を営むが、この光素子用パツケージの構造に
は、挿入時に光フアイバ7がフオトダイオード2
に接触してフオトダイオード2を破損させる虞れ
があり、しかも、組立てが非常に困難であるとい
う問題点があつた。
うに構成されてフオトダイオード2を収納する作
用を営むが、この光素子用パツケージの構造に
は、挿入時に光フアイバ7がフオトダイオード2
に接触してフオトダイオード2を破損させる虞れ
があり、しかも、組立てが非常に困難であるとい
う問題点があつた。
次に、第12図は従来における第4の光素子用
パツケージを示すもので、この場合には、第10
図に示す光素子用パツケージの貫通孔8の内部
に、コパールガラス9が封着されている。
パツケージを示すもので、この場合には、第10
図に示す光素子用パツケージの貫通孔8の内部
に、コパールガラス9が封着されている。
第12図に示す光素子用パツケージは以上のよ
うに構成されてフオトダイオード2を収納する作
用を営むが、この光素子用パツケージの構造に
も、第10図に示す光素子用パツケージと同様の
問題点があつた。
うに構成されてフオトダイオード2を収納する作
用を営むが、この光素子用パツケージの構造に
も、第10図に示す光素子用パツケージと同様の
問題点があつた。
尚、他の金属やセラミツクスに貫通孔8が穿設
され、以上に述べてきた光素子用パツケージと類
似の構造が採用された場合についても、上記と同
様の問題を解消し得なかつた。
され、以上に述べてきた光素子用パツケージと類
似の構造が採用された場合についても、上記と同
様の問題を解消し得なかつた。
次に、第13図及び第14図に基づき、第10
図乃至第12図に示す光素子用パツケージに共通
する欠点について詳述する。
図乃至第12図に示す光素子用パツケージに共通
する欠点について詳述する。
尚、第13図及び第14図は、従来の光素子用
パツケージにおける光の導入部を示す模式図であ
る。
パツケージにおける光の導入部を示す模式図であ
る。
第13図は金属又はセラミツクスからなるパツ
ケージ1の不透明の基体1aに、受光領域2a
(作用面)を備えたフオトダイオード2がダイボ
ンドされた状態を示すもので、同図によれば、入
射光に対する開口角が狭められており、導入され
る導入光(矢印参照)は基体1aに穿設された貫
通孔8の下面におけるエツジ部8aが障害とな
り、フオトダイオード2と光フアイバ7の光結合
効率が悪くなるという問題点があつた。
ケージ1の不透明の基体1aに、受光領域2a
(作用面)を備えたフオトダイオード2がダイボ
ンドされた状態を示すもので、同図によれば、入
射光に対する開口角が狭められており、導入され
る導入光(矢印参照)は基体1aに穿設された貫
通孔8の下面におけるエツジ部8aが障害とな
り、フオトダイオード2と光フアイバ7の光結合
効率が悪くなるという問題点があつた。
また、第14図は上記基体1aへのダイボンド
時にフオトダイオード2が位置ずれをおこした状
態を示すもので、導入される導入光は開口角が片
側で大きく狭められており、このことからフオト
ダイオード2のダイボンドには、非常に精密なダ
イボンド技術が要求されることを伺い知ることが
できる。
時にフオトダイオード2が位置ずれをおこした状
態を示すもので、導入される導入光は開口角が片
側で大きく狭められており、このことからフオト
ダイオード2のダイボンドには、非常に精密なダ
イボンド技術が要求されることを伺い知ることが
できる。
上記開口角を広くするためには、基体1aの厚
さを薄くし、且つ貫通孔8の断面積を大きくする
必要があるが、基体1aの厚さを薄くすると、パ
ツケージ1自体の強度的な問題が生じ、又、貫通
孔8の断面積を大きくすると、その断面積の拡大
に伴いフオトダイオード2のサイズを大きくせざ
るを得ないという問題が生じる。
さを薄くし、且つ貫通孔8の断面積を大きくする
必要があるが、基体1aの厚さを薄くすると、パ
ツケージ1自体の強度的な問題が生じ、又、貫通
孔8の断面積を大きくすると、その断面積の拡大
に伴いフオトダイオード2のサイズを大きくせざ
るを得ないという問題が生じる。
さらに、従来の光素子用パツケージには、セラ
ミツクスや金属からなる基体1aに貫通孔8を何
等かの方法で穿設する必要があるが、機械加工に
よる精度では、パツケージ1の構造が制限されて
しまうという問題があつた。
ミツクスや金属からなる基体1aに貫通孔8を何
等かの方法で穿設する必要があるが、機械加工に
よる精度では、パツケージ1の構造が制限されて
しまうという問題があつた。
[発明が解決しようとする問題点]
従来の光素子用パツケージは以上のように構成
されているので、フオトダイオード2の光フアイ
バ7の光結合効率が悪くなるという問題点があつ
た。
されているので、フオトダイオード2の光フアイ
バ7の光結合効率が悪くなるという問題点があつ
た。
また、このフオトダイオード2と光フアイバ7
の光結合効率を向上させようとすると、光フアイ
バ7がフオトダイオード2に接触してフオトダイ
オード2を破損させる虞れがあり、しかも、組立
てが非常に困難であるという問題点があつた。
の光結合効率を向上させようとすると、光フアイ
バ7がフオトダイオード2に接触してフオトダイ
オード2を破損させる虞れがあり、しかも、組立
てが非常に困難であるという問題点があつた。
そして、フオトダイオード2と光フアイバ7の
光結合効率を向上させるためには、基体1aの厚
さを薄くし、且つ貫通孔8の断面積を大きくする
必要があるが、基体1aの厚さを薄くすると、パ
ツケージ1自体の強度的な問題が生じ、又、貫通
孔8の断面積を大きくすると、その断面積の拡大
に伴いフオトダイオード2のサイズを大きくせざ
るを得ないという問題点があつた。
光結合効率を向上させるためには、基体1aの厚
さを薄くし、且つ貫通孔8の断面積を大きくする
必要があるが、基体1aの厚さを薄くすると、パ
ツケージ1自体の強度的な問題が生じ、又、貫通
孔8の断面積を大きくすると、その断面積の拡大
に伴いフオトダイオード2のサイズを大きくせざ
るを得ないという問題点があつた。
さらに、従来の光素子用パツケージには、セラ
ミツクスや金属からなる基体1aに貫通孔8を何
等かの方法で穿設する必要があるが、機械加工に
よる精度では、パツケージ1の構造が制限されて
しまうという問題点があつた。
ミツクスや金属からなる基体1aに貫通孔8を何
等かの方法で穿設する必要があるが、機械加工に
よる精度では、パツケージ1の構造が制限されて
しまうという問題点があつた。
本発明は上記に鑑みなされたもので、光フアイ
バとフオトダイオードの接触防止や組立ての容易
化を図りつつフオトダイオードと光フアイバの光
結合効率を向上させ、パツケージ自体の強度的な
問題発生を排除するとともに、フオトダイオード
のサイズ拡大を防止し、しかも、パツケージ設計
の自由度を増大させることのできる光素子用パツ
ケージを提供することを目的としている。
バとフオトダイオードの接触防止や組立ての容易
化を図りつつフオトダイオードと光フアイバの光
結合効率を向上させ、パツケージ自体の強度的な
問題発生を排除するとともに、フオトダイオード
のサイズ拡大を防止し、しかも、パツケージ設計
の自由度を増大させることのできる光素子用パツ
ケージを提供することを目的としている。
[問題点を解決するための手段]
本発明においては上述の目的を達成するため、
サフアイアから構成された底板と、この底板上に
設けられ欠損部を備えたダイボンド用パツドと、
このダイボンド用パツド上にダイボンドされ作用
面を該欠損部に臨ませた光素子と、該底板上に配
設され光素子を囲む周壁と、セラミツクから構成
され該周壁に気密に冠着されたキヤツプとを備え
たことを特徴としている。
サフアイアから構成された底板と、この底板上に
設けられ欠損部を備えたダイボンド用パツドと、
このダイボンド用パツド上にダイボンドされ作用
面を該欠損部に臨ませた光素子と、該底板上に配
設され光素子を囲む周壁と、セラミツクから構成
され該周壁に気密に冠着されたキヤツプとを備え
たことを特徴としている。
[作用]
本発明によれば、サフアイアから構成され光に
対し透明な底板と、この底板上にメタライズされ
欠損部を備えたダイボンド用パツドと、このダイ
ボンド用パツド上にダイボンドされその作用面を
欠損部に対向させた光素子と、底板上に配設され
た光素子を囲繞する周壁とを備え、しかも、欠損
部の形状や大きさを自由に変更して光素子の作用
面における所定の領域、例えば高感度領域のみに
光を入射させることができるので、光結合効率を
大幅に向上させることができる。
対し透明な底板と、この底板上にメタライズされ
欠損部を備えたダイボンド用パツドと、このダイ
ボンド用パツド上にダイボンドされその作用面を
欠損部に対向させた光素子と、底板上に配設され
た光素子を囲繞する周壁とを備え、しかも、欠損
部の形状や大きさを自由に変更して光素子の作用
面における所定の領域、例えば高感度領域のみに
光を入射させることができるので、光結合効率を
大幅に向上させることができる。
また本発明によれば、入射光に対する開口角を
著しく広くすることができるので、光素子と光フ
アイバの結合効率を大幅に向上させることができ
る。
著しく広くすることができるので、光素子と光フ
アイバの結合効率を大幅に向上させることができ
る。
そして本発明によれば、強度的に優れたサフア
イアを基体として用いるので、基体の厚さの制約
が全くなく、パツケージを自由に設計することが
可能になる。
イアを基体として用いるので、基体の厚さの制約
が全くなく、パツケージを自由に設計することが
可能になる。
さらに本発明によれば、従来技術では貫通孔を
穿設せざるを得なかつたが、本発明によれば、ダ
イボンド用パツドのフオトリソグラフイーによる
メタライズ加工だけで良く、任意の微細加工が期
待でき、しかも、光素子の破損防止や組立てを非
常に容易ならしめることができる。さらにまた、
光素子のサイズ拡大を防止することが可能にな
る。
穿設せざるを得なかつたが、本発明によれば、ダ
イボンド用パツドのフオトリソグラフイーによる
メタライズ加工だけで良く、任意の微細加工が期
待でき、しかも、光素子の破損防止や組立てを非
常に容易ならしめることができる。さらにまた、
光素子のサイズ拡大を防止することが可能にな
る。
そしてまた本発明によれば、キヤツプと周壁を
セラミツク材料から構成しているので、セラミツ
ク同士はもとよりセラミツクとサフアイアとの間
でも、熱膨張係数が非常に近い値であり、接着工
程等が加熱を要する場合でも良好な気密性を保つ
ことができる。
セラミツク材料から構成しているので、セラミツ
ク同士はもとよりセラミツクとサフアイアとの間
でも、熱膨張係数が非常に近い値であり、接着工
程等が加熱を要する場合でも良好な気密性を保つ
ことができる。
勿論、サフアイアとセラミツクとは非金属であ
り、静電容量に関しても極めて有利である。
り、静電容量に関しても極めて有利である。
[実施例]
以下、第1図乃至第7図に示す一実施例に基づ
き本発明を詳述する。本発明に係る光素子用パツ
ケージは、基本的には、第1図及び第2図に示す
如く、強度的に優れたサフアイアから構成された
サフアイア基体(底板)10上に、ダイボンド用
パツド11がメタライズされ、このダイボンド用
パツド11の中心部には、平面円形の欠損部11
aが形成されており、ダイボンド用パツド11上
には、その受光領域(作用面)2aを欠損部11
aに対向させるフオトダイオード2がダイボンド
されている。
き本発明を詳述する。本発明に係る光素子用パツ
ケージは、基本的には、第1図及び第2図に示す
如く、強度的に優れたサフアイアから構成された
サフアイア基体(底板)10上に、ダイボンド用
パツド11がメタライズされ、このダイボンド用
パツド11の中心部には、平面円形の欠損部11
aが形成されており、ダイボンド用パツド11上
には、その受光領域(作用面)2aを欠損部11
aに対向させるフオトダイオード2がダイボンド
されている。
尚、本実施例では平面円形の欠損部11aを示
すが、他のいかなる形状であつても良い。
すが、他のいかなる形状であつても良い。
上記サフアイア基体10は第3図及び第4図に
示す如く、光に対し透明で、その上面には、周壁
の一部を構成するアルミナ12がロー付けされる
とともに、該上面の中央には、平面円形の欠損部
11aを備えたダイボンド用パツド11がメタラ
イズされ、アルミナ12上には、周壁の一部を構
成する平面略枠形のアルミナ13が絶縁性の樹脂
を介して載置されており、このアルミナ13の両
側には、電極引き出し用のリード14がそれぞれ
水平に接続されてダイボンド用パツド11の端部
又はアルミナ12上の金属膜15に重合してい
る。
示す如く、光に対し透明で、その上面には、周壁
の一部を構成するアルミナ12がロー付けされる
とともに、該上面の中央には、平面円形の欠損部
11aを備えたダイボンド用パツド11がメタラ
イズされ、アルミナ12上には、周壁の一部を構
成する平面略枠形のアルミナ13が絶縁性の樹脂
を介して載置されており、このアルミナ13の両
側には、電極引き出し用のリード14がそれぞれ
水平に接続されてダイボンド用パツド11の端部
又はアルミナ12上の金属膜15に重合してい
る。
上記ダイボンド用パツド11には第5図a,b
及び第7図に示す如く、その受光領域2aを欠損
部11aに対向させるフオトダイオード2が
AuSn共晶等のリングハンダを介してダイボンド
され、このフオトダイオード2の金属膜15とに
は、湾曲した金線4の如きリード・ワイヤ16が
接続されている。
及び第7図に示す如く、その受光領域2aを欠損
部11aに対向させるフオトダイオード2が
AuSn共晶等のリングハンダを介してダイボンド
され、このフオトダイオード2の金属膜15とに
は、湾曲した金線4の如きリード・ワイヤ16が
接続されている。
そして、フオトダイオード2の受光領域2aに
は、サフアイア基体10の下方に位置する光フア
イバ7から矢印で示す光が入射するようになつて
いる。
は、サフアイア基体10の下方に位置する光フア
イバ7から矢印で示す光が入射するようになつて
いる。
尚、フオトダイオード2は第3図及び第5図
a,bに示す如く、アルミナ12,13からなる
周壁に囲繞されている。
a,bに示す如く、アルミナ12,13からなる
周壁に囲繞されている。
そして、気密封止を行う場合には第5図a,b
に示す如く、アルミナ13にAu−Sn、Au−Ge、
又は樹脂等のシール材18を介してアルミナ製の
キヤツプ17が気密状態に冠着されるが、このキ
ヤツプ17をセラミツク材料から構成しても良
い。
に示す如く、アルミナ13にAu−Sn、Au−Ge、
又は樹脂等のシール材18を介してアルミナ製の
キヤツプ17が気密状態に冠着されるが、このキ
ヤツプ17をセラミツク材料から構成しても良
い。
尚、キヤツプ17は第5図aに示すように板形
でも良いが、同図bに示すように垂下した縁を備
えた形状等であつても良い。
でも良いが、同図bに示すように垂下した縁を備
えた形状等であつても良い。
上記構成によれば、サフアイアから構成された
サフアイア基体10(底板)と、このサフアイア
基体10上にメタライズされ欠損部11aを備え
たダイボンド用パツド11と、このダイボンド用
パツド11上にダイボンドされその受光領域2a
を欠損部11aに対向させたフオトダイオード2
と、サフアイア基体10上に配設されフオトダイ
オード2を囲繞するアルミナ12,13(周壁)
と、セラミツクから構成され周壁に気密に冠着さ
れたキヤツプ17とを備え、しかも、欠損部11
aの形状や大きさを任意に変更してフオトダイオ
ード2の受光領域2aにおける所定の領域、例え
ば高感度領域のみに光(第5図a,b及び第7図
の矢印参照)を入射させることができるので、光
結合効率を大幅に向上させることができる。
サフアイア基体10(底板)と、このサフアイア
基体10上にメタライズされ欠損部11aを備え
たダイボンド用パツド11と、このダイボンド用
パツド11上にダイボンドされその受光領域2a
を欠損部11aに対向させたフオトダイオード2
と、サフアイア基体10上に配設されフオトダイ
オード2を囲繞するアルミナ12,13(周壁)
と、セラミツクから構成され周壁に気密に冠着さ
れたキヤツプ17とを備え、しかも、欠損部11
aの形状や大きさを任意に変更してフオトダイオ
ード2の受光領域2aにおける所定の領域、例え
ば高感度領域のみに光(第5図a,b及び第7図
の矢印参照)を入射させることができるので、光
結合効率を大幅に向上させることができる。
また、光透過の障害とならないサフアイア基体
10を使用するので、第6図と第7図を対比すれ
ば明白なように、受光領域2aの両外端と欠損部
11aの内端とを結んで構成される開口角を著し
く広くでき、光フアイバ7との間で高精度の光軸
合わせを行わなくても、入射光等に対する光結合
効率を極めて向上させることが可能となる。
10を使用するので、第6図と第7図を対比すれ
ば明白なように、受光領域2aの両外端と欠損部
11aの内端とを結んで構成される開口角を著し
く広くでき、光フアイバ7との間で高精度の光軸
合わせを行わなくても、入射光等に対する光結合
効率を極めて向上させることが可能となる。
そして、サフアイア基体10を構成するサフア
イアは、強度的に極めて優れているので、パツケ
ージの主構成部材としてかなり薄くても強度的に
何等問題がなく、その屈折率が高いこと、即ち、
見掛上の距離が短縮されることと相俟つて、フオ
トダイオード2と光フアイバ7との対面距離を短
縮でき、光結合効率の一層の向上が期待できる。
イアは、強度的に極めて優れているので、パツケ
ージの主構成部材としてかなり薄くても強度的に
何等問題がなく、その屈折率が高いこと、即ち、
見掛上の距離が短縮されることと相俟つて、フオ
トダイオード2と光フアイバ7との対面距離を短
縮でき、光結合効率の一層の向上が期待できる。
しかも、極めて薄く形成できるので、パツケー
ジの全体を極めてコンパクトに構成することが可
能となる。
ジの全体を極めてコンパクトに構成することが可
能となる。
さらに、セラミツク材料から周壁とキヤツプ1
7を構成することにより、セラミツク同志はもと
よりセラミツクとサフアイアの間でも熱膨張係数
が非常に低い値であり、接着工程等が加熱を要す
る場合でも、良好な気密性を保つことが期待でき
る。
7を構成することにより、セラミツク同志はもと
よりセラミツクとサフアイアの間でも熱膨張係数
が非常に低い値であり、接着工程等が加熱を要す
る場合でも、良好な気密性を保つことが期待でき
る。
この熱膨張係数について言えば、サフアイアが
5.0×10-6〜6.7×10-6であり、セラミツクが5.0×
10-6〜7.6×10-6である。これに対し、石英ガラ
スは〜0.4×10-6である。
5.0×10-6〜6.7×10-6であり、セラミツクが5.0×
10-6〜7.6×10-6である。これに対し、石英ガラ
スは〜0.4×10-6である。
また、良好な気密性に関しては、温湿度サイク
ル試験に(60℃、90〜98%:−10℃、24時間/サ
イクル:10サイクル)、高温保存試験部(100℃、
1000時間)、低温保存試験(−50℃、1000時間)、
温度サイクル試験(−65℃:30分、室温:5分、
125℃:30分、5サイクル)、熱衝撃試験(100
℃:15秒、0℃:5秒、5サイクル)、気密性試
験(フアインリーク(He)、60±5psig:4時間、
≦5.0×10-8atom cc/sec)、定加速度試験
(2000G、X、Y、Z各方向、1分/各方向)、衝
撃試験(1500G、0.5msec、X、Y、Z:各5
回/各方向)、はんだ耐熱性試験(260℃×
10sec)、端子強度試験(227g、90°×3回)及び
振動試験(20G、100−2000−100Hz/4分、X、
Y、Z:各5回/各方向)において、各試験の資
料数10に対して故障数は全て0であつた。
ル試験に(60℃、90〜98%:−10℃、24時間/サ
イクル:10サイクル)、高温保存試験部(100℃、
1000時間)、低温保存試験(−50℃、1000時間)、
温度サイクル試験(−65℃:30分、室温:5分、
125℃:30分、5サイクル)、熱衝撃試験(100
℃:15秒、0℃:5秒、5サイクル)、気密性試
験(フアインリーク(He)、60±5psig:4時間、
≦5.0×10-8atom cc/sec)、定加速度試験
(2000G、X、Y、Z各方向、1分/各方向)、衝
撃試験(1500G、0.5msec、X、Y、Z:各5
回/各方向)、はんだ耐熱性試験(260℃×
10sec)、端子強度試験(227g、90°×3回)及び
振動試験(20G、100−2000−100Hz/4分、X、
Y、Z:各5回/各方向)において、各試験の資
料数10に対して故障数は全て0であつた。
また、パツケージの主構成部材であるサフアイ
アとセラミツクとは非金属であり、光素子を高速
で動作させるときに重要な要素となる静電容量に
関しても有利である。
アとセラミツクとは非金属であり、光素子を高速
で動作させるときに重要な要素となる静電容量に
関しても有利である。
具体的には、本発明が0.19pFであるのに対し、
メタルを主構成部材に含むものは、0.3pF(TO−
18系)〜0.6pF(TO−46系)である。
メタルを主構成部材に含むものは、0.3pF(TO−
18系)〜0.6pF(TO−46系)である。
尚、上記実施例では、フオトダイオード2を使
用したものを示したが、発光ダイオードにも適用
でき、光の取り込みや取り出しに必要な光素子の
全てに適用することができるのは、言うまでもな
い。
用したものを示したが、発光ダイオードにも適用
でき、光の取り込みや取り出しに必要な光素子の
全てに適用することができるのは、言うまでもな
い。
[発明の効果]
以上のように本発明によれば、サフアイアから
構成され光に対し透明な底板と、この底板状にメ
タライズされ欠損部を備えたダイボンド用パツド
と、このダイボンド用パツド上にダイボンドされ
その作用面を欠損部に対向させた光素子と、底板
上に配設され光素子を囲繞する周壁とを備え、し
かも、欠損部の形状や大きさを自由に変更して光
素子の作用面における所定の領域、例えば高感度
領域のみに光を入射させることができるので、光
結合効率を大幅に向上させることができると言う
顕著な効果がある。
構成され光に対し透明な底板と、この底板状にメ
タライズされ欠損部を備えたダイボンド用パツド
と、このダイボンド用パツド上にダイボンドされ
その作用面を欠損部に対向させた光素子と、底板
上に配設され光素子を囲繞する周壁とを備え、し
かも、欠損部の形状や大きさを自由に変更して光
素子の作用面における所定の領域、例えば高感度
領域のみに光を入射させることができるので、光
結合効率を大幅に向上させることができると言う
顕著な効果がある。
また、本発明によれば、入射光に対する開口角
を著しく広くすることができるので、光素子と光
フアイバの結合効率を大幅に向上させることがで
きるという顕著な効果がある。
を著しく広くすることができるので、光素子と光
フアイバの結合効率を大幅に向上させることがで
きるという顕著な効果がある。
そしてまた、本発明によれば、強度的に優れた
サフアイアを基体として用いるので、基体の厚さ
の制約が全くなく、パツケージを自由に設計する
ことが可能になるという顕著な効果がある。
サフアイアを基体として用いるので、基体の厚さ
の制約が全くなく、パツケージを自由に設計する
ことが可能になるという顕著な効果がある。
さらに、従来技術では貫通孔を穿設せざるを得
なかつたが、本発明によれば、ダイボンド用パツ
ドのフオトリソグラフイーによるメタライズ加工
だけで良く、任意の微細加工が期待でき、しか
も、光素子の破損防止の組み立てを非常に容易な
らしめることができるという顕著な効果がある。
なかつたが、本発明によれば、ダイボンド用パツ
ドのフオトリソグラフイーによるメタライズ加工
だけで良く、任意の微細加工が期待でき、しか
も、光素子の破損防止の組み立てを非常に容易な
らしめることができるという顕著な効果がある。
さらにまた、本発明によれば、光素子のサイズ
拡大を防止することが可能になるという顕著な効
果がある。
拡大を防止することが可能になるという顕著な効
果がある。
また、本発明によれば、キヤツプと周壁をセラ
ミツク材料から構成しているので、セラミツク同
士はもとよりセラミツクとサフアイアとの間で
も、熱膨張係数が非常に近い値であり、接着工程
等が加熱を要する場合でも良好な気密性を保つこ
とができるという顕著な効果がある。
ミツク材料から構成しているので、セラミツク同
士はもとよりセラミツクとサフアイアとの間で
も、熱膨張係数が非常に近い値であり、接着工程
等が加熱を要する場合でも良好な気密性を保つこ
とができるという顕著な効果がある。
勿論、サフアイアとセラミツクとは非金属であ
り、静電容量に関しても極めて有利である。
り、静電容量に関しても極めて有利である。
第1図は本発明に係る光素子用パツケージの一
実施例を示す平面図、第2図は第1図の断面側面
図、第3は本発明に係る光素子用パツケージをフ
オトダイオードに適用した例を示す平面図、第4
図は第3図のIV−IV線断面図、第5図a,bは
本発明に係る光素子用パツケージにキヤツプを気
密状態に冠着した状態を示す断面説明図、第6図
及び第7図は本発明に係る光素子用パツケージと
従来例の相違点を示す説明図、第8図乃至第12
図は従来の光素子用パツケージを示す図、第13
図及び第14図は従来の光素子用パツケージの欠
点を示す説明図である。 2……フオトダイオード(光素子)、2a……
受光領域(作用面)、10……サフアイア基体
(底板)、11……ダイボンド用パツド、12,1
3……アルミナ(周壁)、17……キヤツプ。
実施例を示す平面図、第2図は第1図の断面側面
図、第3は本発明に係る光素子用パツケージをフ
オトダイオードに適用した例を示す平面図、第4
図は第3図のIV−IV線断面図、第5図a,bは
本発明に係る光素子用パツケージにキヤツプを気
密状態に冠着した状態を示す断面説明図、第6図
及び第7図は本発明に係る光素子用パツケージと
従来例の相違点を示す説明図、第8図乃至第12
図は従来の光素子用パツケージを示す図、第13
図及び第14図は従来の光素子用パツケージの欠
点を示す説明図である。 2……フオトダイオード(光素子)、2a……
受光領域(作用面)、10……サフアイア基体
(底板)、11……ダイボンド用パツド、12,1
3……アルミナ(周壁)、17……キヤツプ。
Claims (1)
- 1 サフアイアから構成された底板と、この底板
上に設けられ欠損部を備えたダイボンド用パツド
と、このダイボンド用パツド上にダイボンドされ
作用面を該欠損部に臨ませた光素子と、該底板上
に配設され光素子を囲む周壁と、セラミツクから
構成され該周壁に気密に冠着されたキヤツプとを
備えたことを特徴とする光素子用パツケージ。
Priority Applications (10)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58097628A JPS59220982A (ja) | 1983-05-31 | 1983-05-31 | 光素子用パッケ−ジ |
KR1019840001480A KR890003386B1 (ko) | 1983-05-31 | 1984-03-22 | 광소자용 패키지 |
CA000454174A CA1242520A (en) | 1983-05-31 | 1984-05-11 | Package for optical element |
US06/610,414 US4636647A (en) | 1983-05-31 | 1984-05-15 | Package for optical element |
AU28085/84A AU575322B2 (en) | 1983-05-31 | 1984-05-16 | Package for photodiode or light emitting diode |
EP84303380A EP0127401B1 (en) | 1983-05-31 | 1984-05-17 | Electro-optical element package |
DE8484303380T DE3473536D1 (en) | 1983-05-31 | 1984-05-17 | Electro-optical element package |
FI842039A FI74167C (fi) | 1983-05-31 | 1984-05-22 | Hoelje foer optiskt element. |
DK253184A DK160112C (da) | 1983-05-31 | 1984-05-23 | Beskyttelseshus for et elektro-optisk element |
NO842126A NO165515C (no) | 1983-05-31 | 1984-05-29 | Monteringssokkel for optisk element. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58097628A JPS59220982A (ja) | 1983-05-31 | 1983-05-31 | 光素子用パッケ−ジ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59220982A JPS59220982A (ja) | 1984-12-12 |
JPH0481348B2 true JPH0481348B2 (ja) | 1992-12-22 |
Family
ID=14197440
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58097628A Granted JPS59220982A (ja) | 1983-05-31 | 1983-05-31 | 光素子用パッケ−ジ |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4636647A (ja) |
EP (1) | EP0127401B1 (ja) |
JP (1) | JPS59220982A (ja) |
KR (1) | KR890003386B1 (ja) |
AU (1) | AU575322B2 (ja) |
CA (1) | CA1242520A (ja) |
DE (1) | DE3473536D1 (ja) |
DK (1) | DK160112C (ja) |
FI (1) | FI74167C (ja) |
NO (1) | NO165515C (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA1267468C (en) * | 1983-11-21 | 1990-04-03 | OPTICS MOUNTING | |
AU573645B2 (en) * | 1983-11-21 | 1988-06-16 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Package for opto-electrical device |
JP2580142B2 (ja) * | 1985-10-28 | 1997-02-12 | アメリカン テレフォン アンド テレグラフ カムパニー | 多層セラミックレ−ザパッケ−ジ |
US4865038A (en) * | 1986-10-09 | 1989-09-12 | Novametrix Medical Systems, Inc. | Sensor appliance for non-invasive monitoring |
US5177806A (en) * | 1986-12-05 | 1993-01-05 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Optical fiber feedthrough |
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GB2228618B (en) * | 1989-02-27 | 1993-04-14 | Philips Electronic Associated | Radiation detector |
US4990896A (en) * | 1989-05-09 | 1991-02-05 | Gray William F | Light responsive device for monitoring on-line indicator lights |
US5149958A (en) * | 1990-12-12 | 1992-09-22 | Eastman Kodak Company | Optoelectronic device component package |
DE4214792A1 (de) * | 1992-05-04 | 1993-11-11 | Telefunken Microelectron | Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Koppelelements |
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GB2372633A (en) * | 2001-02-24 | 2002-08-28 | Mitel Semiconductor Ab | Flip-chip mounted optical device |
EP1425618B1 (de) * | 2001-09-14 | 2006-12-13 | Finisar Corporation | Sende- und/oder empfangsanordnung zur optischen signalübertragung |
US6630661B1 (en) * | 2001-12-12 | 2003-10-07 | Amkor Technology, Inc. | Sensor module with integrated discrete components mounted on a window |
EP1464084A1 (de) * | 2002-01-09 | 2004-10-06 | Infineon Technologies AG | Photodiodenanordnung und verfahren zur herstellung einer verbindung zwischen einem ersten halbleiterbauelement und einem zweiten halbleiterbauelement |
JP2004235324A (ja) * | 2003-01-29 | 2004-08-19 | Mitsubishi Electric Corp | 表面実装型光部品 |
EP1496551B1 (en) * | 2003-07-09 | 2013-08-21 | Nichia Corporation | Light emitting diode, method of manufacturing the same and lighting equipment incorporating the same |
JP4670251B2 (ja) * | 2004-04-13 | 2011-04-13 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
JP5049145B2 (ja) * | 2008-01-22 | 2012-10-17 | 日東電工株式会社 | 光導波路デバイスの製法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4965790A (ja) * | 1972-10-27 | 1974-06-26 | ||
JPS5387380A (en) * | 1977-01-12 | 1978-08-01 | Kao Corp | Tris(omega-hydroxy polyether)isocyanurate and its preparation |
JPS5451788A (en) * | 1977-09-30 | 1979-04-23 | Mitsubishi Electric Corp | Photoelectric transducer |
JPS5513963A (en) * | 1978-07-17 | 1980-01-31 | Nec Corp | Photo semiconductor device |
US4227098A (en) * | 1979-02-21 | 1980-10-07 | General Electric Company | Solid state relay |
US4233614A (en) * | 1979-03-06 | 1980-11-11 | Rca Corporation | Light emitting diode |
US4355321A (en) * | 1981-02-02 | 1982-10-19 | Varian Associates, Inc. | Optoelectronic assembly including light transmissive single crystal semiconductor window |
-
1983
- 1983-05-31 JP JP58097628A patent/JPS59220982A/ja active Granted
-
1984
- 1984-03-22 KR KR1019840001480A patent/KR890003386B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1984-05-11 CA CA000454174A patent/CA1242520A/en not_active Expired
- 1984-05-15 US US06/610,414 patent/US4636647A/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-05-16 AU AU28085/84A patent/AU575322B2/en not_active Ceased
- 1984-05-17 EP EP84303380A patent/EP0127401B1/en not_active Expired
- 1984-05-17 DE DE8484303380T patent/DE3473536D1/de not_active Expired
- 1984-05-22 FI FI842039A patent/FI74167C/fi not_active IP Right Cessation
- 1984-05-23 DK DK253184A patent/DK160112C/da not_active IP Right Cessation
- 1984-05-29 NO NO842126A patent/NO165515C/no unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS59220982A (ja) | 1984-12-12 |
EP0127401A1 (en) | 1984-12-05 |
DK253184D0 (da) | 1984-05-23 |
KR890003386B1 (ko) | 1989-09-19 |
DK160112B (da) | 1991-01-28 |
NO165515B (no) | 1990-11-12 |
DK253184A (da) | 1984-12-01 |
KR840009372A (ko) | 1984-12-26 |
AU575322B2 (en) | 1988-07-28 |
EP0127401B1 (en) | 1988-08-17 |
US4636647A (en) | 1987-01-13 |
DK160112C (da) | 1991-07-01 |
FI842039A (fi) | 1984-12-01 |
FI74167C (fi) | 1987-12-10 |
NO842126L (no) | 1984-12-03 |
NO165515C (no) | 1991-02-20 |
FI74167B (fi) | 1987-08-31 |
DE3473536D1 (en) | 1988-09-22 |
AU2808584A (en) | 1984-12-06 |
FI842039A0 (fi) | 1984-05-22 |
CA1242520A (en) | 1988-09-27 |
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