JPH0478929B2 - - Google Patents

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JPH0478929B2
JPH0478929B2 JP61109244A JP10924486A JPH0478929B2 JP H0478929 B2 JPH0478929 B2 JP H0478929B2 JP 61109244 A JP61109244 A JP 61109244A JP 10924486 A JP10924486 A JP 10924486A JP H0478929 B2 JPH0478929 B2 JP H0478929B2
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measurement
axis direction
measured
detector
detectors
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JP61109244A
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Matsushiro Fujitani
Ichiro Kumagai
Ichiro Mizuno
Eiichi Tsunoda
Koji Yoda
Tomoji Nakayama
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Mitutoyo Corp
Original Assignee
Mitutoyo Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、テーブル上の測定対象物と支柱に変
位可能に支持された検出子とを三次元方向に相対
移動させつつ形状、寸法等を測る三次元測定機の
改良に関する。
〔背景技術とその問題点〕
テーブルに載置された測定対象物と、基台に固
定されまたは移動可能とされた支柱にX軸および
Z軸方向に変位可能に支持された検出子とを三次
元方向に相対移動させつつその測定対象物の形状
や寸法を測るいわゆる三次元測定機が知られ、高
精度測定可能なことから多くの産業分野で利用さ
れている。
かかる三次元測定機の一般的構造は、検出子を
支持しかつそれを三次元方向(X、YおよびZ軸
方向)に移動させるための移動機構とテーブルと
から形成される機械部と、検出子からの信号を所
定処理し形状等を求めるデータ処理装置を含む電
子部とから構成されている。
ここに、従来三次元測定機の上記機械部につい
て第6図を参照しながら説明すると、この支柱固
定型は、基台1上にテーブル7と支柱2,2が設
けられ、支柱2,2上をY軸方向に移動可能とさ
れたYスライダ19,19、このYスライダ1
9,19に渡架された横桁部材3上をX軸方向に
移動可能とされたXスライダ4およびこのXスラ
イダ4に支持されたZ案内ボツクス5内をZ軸方
向に移動可能なスピンドル6とから移動機構を形
成し、そのスピンドル6の先端側に検出子10を
取り付けて機械部を構成していた。したがつて、
テーブル7に載置した測定対象物(図示省略)に
対しスピンドル6を把持して検出子10を接触等
させつつそのスピンドル6の三次元的座標値を順
次検出し図示省略の電子部で所定処理することに
よつて測定対象物の形状、寸法等を測ることがで
きた。
しかしながら、上記従来の三次元測定機には次
のような問題点があつた。
三次元測定機の普及に伴いその測定対象物も
拡大され、検出子10をタツチ信号プローブ等
に限定していたのではその接触子が妥当関与で
きず(たとえば、プリント配線基盤の電子部品
取付穴等の穴径、穴間ピツチを測る場合、その
穴に接触子が入らない)測定不能ということが
生じた。そこで、従来、タツチ信号プローブ等
の検出子10に代えて工具顕微鏡をスピンドル
6に取り付けて測る方法が採られる場合があつ
た。しかし、この場合には検出子10を代える
ごとにいわゆる零合わせ作業を行わなければな
らず極めて作業能率の悪いものであつた。
また、測定対象物の適応性拡大は、上記の場
合でいうタツチ信号プローブと工具顕微鏡との
いずれか一方では全点測定を行うことができな
い場合が多く生じたが、スピンドル6へそれら
検出子10を交換取付すること自体が接触子等
の位置ずれを起こさせてしまうため、結果とし
て測定精度が低くなり、測定作業の限定がされ
てしまうという問題があつた。しかも、作業者
ごとのねじ締付け等の差異も精度に大きな影響
を残し統一的管理、生産ができないという欠点
もあつた。
また、上記両検出子10の交換は、その作業
の煩雑化、位置づれ誤差の発生等のみならず、
測定工程中に手作業が入るためのコンピユータ
制御いわゆるCNC三次元測定機の達成が困難
であるという致命的欠陥を有するという問題も
あつた。
〔発明の目的〕
本発明は、上記従来問題点を除去し、検出子交
換作業をすることなく迅速かつ高精度で測定対象
の広い2つの検出子を備えた三次元測定機の提供
を目的とする。
〔問題点を解決するための手段および作用〕
本発明は、相互に一定の関連を持たせた2つの
検出子を備えることによつて煩雑作業をすること
なく高速で高精度の測定をできるようにするので
ある。これがため、テーブル上の測定対象物と、
検出手段を有する変位部材とを互いに直交するX
軸、Y軸、Z軸方向に相対移動させつつ測定対象
物の寸法、形状等を測る三次元測定機において、
前記検出手段を、前記測定対象物への接触によつ
てタツチ信号を出力する接触式検出子と、前記測
定対象物の表面寸法等を非接触で測定する非接触
式検出子とから構成するとともに、これらの両検
出子を前記変位部材にZ軸方向へ変位可能かつX
軸及びY軸方向に変位不能に設け、前記両検出子
を前記Z軸方向へ一体的に変位させる第1駆動手
段を設けるとともに、一方の検出子に対して他方
の検出子をZ軸方向に相対変位させる第2駆動手
段を設けたことを特徴とし前記目的を達成するの
である。
本発明は上記構成とされているから、一方検出
子を用いた測定と他方検出子を用いた測定並びに
両検出子のX軸方向およびY軸方向の相対変位が
不能とされているから原点合わせ等を都度しなく
とも、両検出子を両用した測定が検出子を交換す
ることなく迅速かつ精度よく行うことができる。
また、検出手段を接触式検出子と非接触式検出子
とから構成しているので、接触式検出子による立
体物の形状測定とともに、非接触式検出子による
立体物中の小穴やプリント基板の小穴等について
も一括して測定することができ、測定機としての
用途を飛躍的に拡大できる。
〔実施例〕
本発明に係る2つの検出子を備えた三次元測定
機の一実施例を図面を参照しながら詳細に説明す
る。
まず、第1図〜第3図をもつて三次元測定機の
概略全体構成を説明すると、基台1のX軸方向の
両側に一対の支柱2,2が立設され、この支柱
2,2の上側にXスライダ4をX軸方向に摺動自
在に案内する横桁部材3が渡架されている。Xス
ライダ4に一体的に設けられたZ案内ボツクス5
には、Z軸方向に変位可能な変位部材たるスピン
ドル6及び角柱体25が支持され、スピンドル6
には検出手段10の一方検出子たるタツチ信号プ
ローブ11が、角柱体25にはその他方検出子た
るビデオカメラ21にZ軸を合わせる鏡筒22が
それぞれ設けられている。この鏡筒22には拡大
レンズ(図示省略)が倍率切替可能に内蔵されて
いる。そして、測定対象物(図示省略)を取り付
けるためのテーブル7は基台1に対しY軸方向に
移動可能とされている。したがつて、測定対象物
に対して検出手段10をY軸方向に相対移動させ
る場合には、測定対象物が載置されているテーブ
ル7をY軸方向に移動すればよいことになる。こ
のため、検出手段10をY軸方向に変位不能なZ
案内ボツクス5、つまりY軸方向への移動機構を
有しないZ案内ボツクス5に取付けても何ら不都
合はない。これにより、Z案内ボツクス5の構造
が簡素化され、Z案内ボツクス5の小型、軽量化
を図ることが可能となる。
なお、基台1にはY軸方向に沿つて断面コ字状
の凹所14が設けられ、ここに図示省略したテー
ブル7の基台1に対するX軸位置規制手段、Z軸
位置規制手段、Y軸方向変位検出手段等が収容で
きるようされており、蛇腹8,8等による防塵装
置によりそれら手段に塵埃等が侵入しないよう構
成されている。
次に、第4図を参照して両検出子の相互関係を
示す構造を説明する。これはZ案内ボツクス5に
収容されており、第2図の−矢視線に基づく
側断面図である。第4図に見られるように先端側
に接触子12を有するタツチ信号プローブ11が
設けられたスピンドル6は、Xスライダ4に支持
されたエアベアリング9にZ軸方向に摺動自在に
支持されるとともに、同じくXスライダ4に支柱
部材84で支持された保持部材83に回動可能と
されたローラ82,82に渡架された吊ひも80
でバランスウエイト81とウエイトバランスされ
ている。したがつて、スピンドル6は微力でZ軸
方向に移動させることができる。
そして、このスピンドル6は、第1駆動手段3
0によつて自動運転あるいはCNC運転できるよ
う構成されている。第1駆動手段30は、Xスラ
イダ4に一体的に設けられた支持台36に上端面
側に固着されたモータ31、このモータ31で駆
動されるギヤ32,33、このギヤ33で回動駆
動されるねじ軸34およびこのねじ軸34に螺合
されスピンドル6に一体化形成されたナツト部材
35とから形成されている。これにより、スピン
ドル6は、モータ31を駆動制御することによつ
てZ軸方向に定量的に移動制御できるようになつ
ている。
一方、他方の検出子たるビデオカメラ21に主
軸を一致させる鏡筒22を支持する角柱体25は
スピンドル6に一体化形成された下支持板17に
設けられたエアベアリング29にZ軸方向に摺動
自在に支持されるとともに、第2駆動手段40で
さらにZ軸方向に相対移動可能とされている。こ
の第2駆動手段40は、スピンドル6と一体的な
上支持板16と下支持板17とに回動可能に支持
されたねじ軸42と、このねじ軸42に螺合され
たナツト部材23およびねじ軸42を駆動するた
めのモータ41とから構成されている。なお、4
3はロータリーエンコーダであつて、スピンドル
6に対する角柱体25のZ軸方向移動変位量を検
出するためのものである。ここに、角柱体25す
なわち他方の検出子たるビデオカメラ21、鏡筒
22は第2駆動手段40によつてスピンドル6す
なわち一方の検出子たるタツチ信号プローブ11
に対し相対変位可能とされかつ、第2駆動手段4
0を駆動させないときはスピンドル6と一体的
に、すなわち同期的にZ軸方向に変位可能と構成
されている。
また、この実施例における電子部は、第5図に
見られるようにビデオ測定回路50、タツチ測定
回路60、データ処理装置70等から構成されて
いる。
タツチ測定回路60は、検出手段10の一方の
検出子であるタツチ信号プローブ11の接触子1
2が測定対象物(図示省略)に当接されたときに
タツチ信号プローブ11から発せられるタツチ信
号に基づいて測定対象物の当該測定面の座標
(X、YおよびZ軸方向の基準点に対する当該位
置)データを特定するデータ特定回路61とこの
データ特定回路61で特定せた座標データを測定
プログラムに基づいて所定処理し、寸法形状を求
める測定部62とからなつている。したがつて、
データ特定回路61には、X軸方向変位検出器6
5、Y軸方向変位検出器66およびZ軸方向変位
検出器67の各出力が入力され、また、後記ビデ
オ測定回路50のためのロータリーエンコーダ4
3も接続されている。
また、ビデオ測定回路50は、鏡筒22から入
射された測定対象物の測定面からの反射光を受け
てその測定面を観察するビデオカメラ21からの
出力信号を白、黒の二値化信号に変換する信号変
換回路51と、この二値化信号を画像蓄積する記
憶回路52と、その二値化信号された画像を写す
モニタ72と、このモニタ72に写された画像の
計測すべきポイント、線あるいは面積を特定する
ためにエツジ検出するためのエツジ検出手段53
およびこのエツジ検出手段53で検出した、例え
ば、ポイント−ポイント間の長さをビデオカメラ
21で決定されているピクセルの数との関係から
求める測定部54とから形成されている。測定部
54には、上記のポイント−ポイントの両ポイン
トがモニタ72に同時的に写し出せない場合には
その間の比較的大きい距離をも勘案して全長を測
らなければならないことからデータ特定回路61
からX軸方向およびY軸方向の座標データが入力
され、また装置形成便宜上Z軸方向の座標データ
も入力されている。
データ処理装置70は、CPU73、キーボー
ド71、モニタ72およびプリンタ、CRT等の
出力手段74とから形成されており、CPU73
は、ビデオ測定回路50、タツチ測定回路60の
双方またはいずれか一方を利用して測定するため
の測定プログラム、駆動プログラムさらに出力手
段74をコントロールすべき出力プログラム等に
基づきそれら回路、手段等を制御、監視等するも
のとされている。また、キーボード71は、両測
定回路50,60を制御するための指令信号を出
力、特定するほか前記エツジ検出手段53のすべ
てまたはその一部と兼用し、モニタ72も各メツ
セージを表示するほか、上記の画像を表示するも
のとされている。
なお、この実施例では、選択によつてCPU7
3からの測定プログラム、駆動プログラムに基づ
いて、第1および第2駆動手段30,40を駆動
制御し全自動測定を行うことができるようされて
おり、このためのビデオカメラ21はZ軸方向に
ついてオートフオーカス回路(図示省略)が内蔵
されている。なお、38,48はモータ31,4
1を駆動するためのドライバーである。
このように構成された本実施例では次のような
運転、測定をすることができる。
〔準備〕
テーブル7上に測定対象物(図示省略)を取り
付け、検出手段10とこの測定対象物との相対位
置関係すなわち基準位置合わせを公知の方法で完
了しておく。
そして、タツチ測定回路60による測定、ビデ
オ測定回路50による測定、両回路50,60の
併用測定か否かをキーボード71で選択してお
く。
〔タツチ測定回路による測定〕
データ処理装置70のCPU73の指令に基づ
いて、図示省略したX軸方向駆動手段、基台1の
凹所14に内蔵されたY軸方向駆動手段並びに第
1駆動手段30が自動運転され、検出手段10と
測定対象物とは、X、YおよびZ軸方向すなわち
三次元方向に自動的に連続的または/および間歇
的に移動運転される。ここで、第1駆動手段30
は、CPU73からの指令に基づいてドライバー
38を介しモータ31を駆動する。するとギヤ3
2,33の回動によりねじ軸34、ナツト部材3
5とを介することによつて、スピンドル6をZ軸
方向に移動させることができる。この場合、第2
駆動手段40は駆動されないが予め手動により角
柱体25を第4図で最上端に位置づけすることが
でき、鏡筒22は、タツチ信号プローブ11によ
る測定を防げないものとされている。
したがつて、タツチ信号プローブ11の接触子
12が順次測定対象物の測定面に当接され、当接
されるごとに出力されるタツチ信号に基づいてデ
ータ特定回路61で各座標データを検出し、測定
部62によつてその形状、寸法等が自動測定され
る。この測定値は、出力手段74たるプリンタ等
に表示記録される。このようにして、タツチ測定
回路60、データ処理装置70により自動測定を
行うことができる。
〔ビデオ測定回路による測定〕
このビデオ測定回路50による測定の場合にも
検出手段10の他方検出子たるビデオカメラ21
(鏡筒22)と測定対象物とは前記タツチ測定回
路60の場合と同様に自動的に相対移動される。
なお、この場合は前記場合と逆に一方検出子たる
タツチ信号プローブ11側をZ軸方向の最上位と
しておくのがよい。また、ビデオカメラ21のZ
軸方向はその鏡筒22が測定面と一定の距離とな
るよう、つまり鮮明画像を検出できるようドライ
バー48、モータ41を介し第2駆動手段40
(または/および第1駆動手段30)によつてオ
ートフオーカスされる。
したがつて、測定対象物の測定面とビデオカメ
ラ21とが所定の関係に位置づけされたときに捉
えた画像を二値化信号に変換された信号変換回路
51からの出力に基づいて所定位置でのエツジ検
出とその寸法等測定をエツジ検出手段53、測定
部54の作用によつて行うことができる。なお、
測定面の画像が例えば、拡大倍率によつて一度に
モニタ72の有効映像域に表示されない比較的大
きな寸法等を測るときは、先の画像が記憶回路5
2に記憶されかつ先のエツジ検出値が測定部54
に記憶されるよう形成されているから、データ特
定回路61を介し入力されたX軸、Y軸、Z軸方
向座標データを利用して測定することができる。
ここに、ビデオ測定回路50による測定は測定対
象物に非接触であつて、また、ビデオカメラ21
の最小画素であるピクセルの数によつて分解能が
決定されるから1μm以下の高精度で測定できる。
なお、この精度をより高くする便法として、特
定の場合に、モータ72に写し出された測定面の
拡大画像にエツジ検出手段53で、たとえば、モ
ニタ72上の電子表示型カーソルの位置と方向を
合わせることにより正確なエツジ検出ができるよ
う部分的、一時的マニユアル操作もできるよう形
成されている。これは、キーボード71の操作に
よつて行うことができる。
〔併用測定〕
タツチ測定回路60とビデオ測定回路50との
併用によつて測定する場合である。
この併用測定の場合にも、検出手段10と測定
対象物とは前記二態様の場合と同様に三次元的に
自動的に相対移動が行なえる。但し、Z軸方向に
付いては、一方検出子たるタツチ信号プローブ1
1と他方検出子たるビデオカメラ21(鏡筒2
2)との相対位置が測定対象物の形状、位置等に
よつて測定に最適となるようCPU73の指令に
よつて自動制御される。
すなわち、第1駆動手段30と第2駆動手段4
0との駆動と停止およびこれらの組合せによつて
Z軸方向の位置制御が行われ、各検出子を支持す
るスピンドル6と角柱体25との相対移動がなさ
れる。この相対移動変位量はロータリエンコーダ
43によつて検出されている。
したがつて、測定対象物の測定面の姿勢や形態
に応じ両測定態様を併用し広範囲に亘る自動測定
が実行される。特に、ある長さを測る場合その全
長的精度は結局その両側(両エツジ)の検出精度
によるから相当長い測定範囲でもビデオ測定回路
50とタツチ測定回路60と組み合わせ、併用に
よつて高精度で測定することができる。なお、両
検出子の軸線間寸法は予め設定され、その値は測
定部54,62で自動補正されるものとなつてい
る。
一方、タツチ信号プローブ11とビデオカメラ
21とは、Z軸方向に一定の相対位置を保持した
まま、第1駆動手段30によつて一体的に移動す
ることができる。従つて、例えば被測定物にZ軸
方向に一定の段差をもつて複数の測定面が形成さ
れ、且つこの各測定面にタツチ信号プローブ11
によつて測定される形状と、ビデオカメラ21に
よつて測定される小穴とがZ軸方向に一定の間隔
で存在する場合には、以下のように測定する。
先ず、タツチ信号プローブ11とビデオカメラ
21とのZ軸方向の相対位置を第2駆動手段40
によつて各々形状と小穴に対応する位置関係に保
持し、この状態で一つの測定面の形状及び小穴を
測定する。そして、次の測定面の測定の際に、タ
ツチ信号プローブ11とビデオカメラ21とのZ
軸方向の相対位置を保持したまま、これらの検出
子を第1駆動手段30によつてZ軸方向に一体的
に移動して同様な測定を行う。つまり、このよう
なZ軸方向に一定の段差で形成された複数の測定
面を各々の検出子によつて測定する場合に、タツ
チ信号プローブ11とビデオカメラ21とのZ軸
方向の相対位置をその都度、設定する必要がない
ため、迅速な測定が可能となる。
この実施例によれば、検出手段10としての一
方の検出子たるタツチ信号プローブ11と他方の
ビデオカメラ21(鏡筒22)とをZ案内ボツク
ス5内に一体的に収納させてあるからタツチ信号
プローブ11によるタツチ測定とビデオカメラ2
1による非接触のビデオ測定とを各独立し又は両
者併用の測定ができるので立体物のみならず立体
物中の小穴やプリント基板の小穴をも一括的に自
動測定できるので測定対象物の著しい適用拡大を
図ることができる。このことは、従来、その小穴
等を測定できないがゆえに全体的なCNC達成を
できないとしていた欠点を除去しCNC三次元測
定機の普及を拡大できるという効果もある。
また、そのタツチ信号プローブ11とビデオカ
メラ21とはX軸方向およびY軸方向に一定位置
関係をもつて設けられ、両者を交換使用する必要
がないから、煩雑な交換作業を行わなくてすみ、
長時間作業の際の作業能率を飛躍的に向上させる
ことができるばかりか、着脱によるガタ等の誤差
がないので高精度測定が保障される。また、ビデ
オカメラ21の分解能が1μm以下と高いので長
寸にあつてもその両エツジの超高精度検出ができ
るので全体として測定精度を向上させることがで
きる。
さらに、ビデオカメラ21を支持する角柱体2
5とタツチ信号プローブ11を支持するスピンド
ル6とは、第1駆動手段30で一体的に移動され
るほか、第2駆動手段40によつてZ軸方向に相
対変位可能とされているから、両検出子6,21
の各測定時に他方側の検出子が邪魔とならないの
で測定対象物に対する移動が容易となり、迅速、
確実な測定をすることができる。
また、検出手段10が各分解能の異なる2つの
検出子すなわちタツチ信号プローブ11とビデオ
カメラ21とから形成されているから、徒らな必
要以上の超高精度測定を画一的に実行する必要が
なく、反面全体として精度の高い測定をすること
ができる。また、一方が接触型、他方が非接触型
とされているからプラスチツク等軟弱物にも検出
手段10を交換することなく一連的測定ができ拡
大性を高めることができる。
さらにまた、三次元方向の一方向すなわちY軸
方向の相対移動は測定対象物を取り付けるテーブ
ル7を移動できるようしているから、2つの検出
子を設けてもその移動機構を簡素化できるので小
型、軽量化が達成されるほか、これにより構造の
撓み等を軽減でき、この点からも高精度測定が保
障される。
なお、以上の実施例では、非接触型はビデオカ
メラ利用の画像処理方式としたが光源とその反射
光を利用するいわゆる三角測量方式等の検出子と
してもよい。要は、2つの検出子を備えればよい
から検出手段の型種、方式は限定されないもので
ある。但し、一方を接触型、他方を非接触型とし
ておけば適用拡大性等が著しく向上できる。
また、一方検出子を取り付けるスピンドル6と
他方検出子を取り付ける角柱体25とをZ軸方向
に相対移動可能としたが、必ずしも相対移動させ
る必要はなく、検出子の形態や各軸線相互間の寸
法等により選択すべきである。但し、相対移動可
能としておけば、円滑な移動、有効測定範囲の拡
大、さらには、上記オートフオーカス等機能面を
より向上させることができる。
また、可動テーブル型の三次元測定機としたが
本発明が適用できる三次元測定機の、たとえば、
移動機構の構成、型種等は問われず、駆動方向も
全自動、半自動、手動あるいはこれらの組み合わ
せも任意に選択できるものである。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかの通り、本発明は、検出
手段を交換することなく2つの検出子によつて測
定対象物、測定態様を著しく拡大しつつ迅速かつ
高精度で測定できるという優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る2つの検出子を備えた三
次元測定機の全体構成図、第2図、第3図は同じ
く第1図に対応させた正面図、側面図、第4図は
同じく第2図の−矢視線に基づく要部側断
面、第5図は同じく電子部の回路図および第6図
は従来の三次元測定機の全体構成図である。 7……テーブル、10……検出手段、11……
一方検出子であるタツチ信号プローブ、21……
他方検出子であるビデオカメラ、30……第1駆
動手段、40……第2駆動手段、50……ビデオ
測定回路、60……タツチ測定回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 テーブル上の測定対象物と、検出手段を有す
    る変位部材とを互いに直交するX軸、Y軸、Z軸
    方向に相対移動させつつ測定対象物の寸法、形状
    等を測る三次元測定機において、 前記検出手段を、前記測定対象物への接触によ
    つてタツチ信号を出力する接触式検出子と、前記
    測定対象物の表面寸法等を非接触で測定する非接
    触式検出子とから構成するとともに、 これらの両検出子を前記変位部材にZ軸方向へ
    変位可能かつX軸及びY軸方向に変位不能に設
    け、 前記両検出子を前記Z軸方向へ一体的に変位さ
    せる第1駆動手段を設けるとともに、 一方の検出子に対して他方の検出子をZ軸方向
    に相対変位させる第2駆動手段を設けた、 ことを特徴とする2つの検出子を備えた三次元測
    定機。 2 前記特許請求の範囲第1項の2つの検出子を
    備えた三次元測定機において、前記非接触式検出
    子は画像処理方式で前記測定対象物の拡大された
    表面状態を測定するためのビデオカメラを含み形
    成されていることを特徴とする2つの検出子を備
    えた三次元測定機。
JP10924486A 1986-05-12 1986-05-12 2つの検出子を備えた三次元測定機 Granted JPS62265520A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8654351B2 (en) 2009-10-13 2014-02-18 Mitutoyo Corporation Offset amount calibrating method and surface profile measuring machine
US8650939B2 (en) 2009-10-13 2014-02-18 Mitutoyo Corporation Surface texture measuring machine and a surface texture measuring method

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004535580A (ja) * 2001-07-16 2004-11-25 ベルス・メステヒニーク・ゲーエムベーハー 表面特性の測定方法及び座標測定装置
US7921575B2 (en) * 2007-12-27 2011-04-12 General Electric Company Method and system for integrating ultrasound inspection (UT) with a coordinate measuring machine (CMM)
JP5740084B2 (ja) * 2008-12-09 2015-06-24 株式会社東芝 タービン発電機におけるステータコイルの接続組立の3次元形状測定方法及び3次元形状測定装置用冶具
JP5378940B2 (ja) * 2009-10-13 2013-12-25 株式会社ミツトヨ 表面性状測定機および表面性状測定方法
JP5260703B2 (ja) * 2011-06-10 2013-08-14 パナソニック株式会社 3次元測定方法
JP6767843B2 (ja) * 2016-11-02 2020-10-14 株式会社キーエンス 画像測定装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53146656A (en) * 1977-05-26 1978-12-20 Nec Corp Outside shape measuring apparatus
JPS5634042A (en) * 1979-08-23 1981-04-06 Toshiba Corp Filter for use in ventilator
JPS5773604A (en) * 1980-10-27 1982-05-08 Sumitomo Metal Ind Ltd Measuring device for height of reinforcement of weld
JPS5866004A (ja) * 1981-10-14 1983-04-20 Nissan Motor Co Ltd 三次元形状の測定方法
JPS5887408A (ja) * 1981-11-07 1983-05-25 カ−ル・ツアイス−スチフツング 多座標測定機械の自己定心作用を有する係合する測定機構に固定された検出ピンを校正する方法並びにこの方法を実施する標準器
JPS60107186A (ja) * 1983-11-15 1985-06-12 Hitachi Ltd 物体認識装置
JPS60161523A (ja) * 1984-02-02 1985-08-23 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 三次元測定機
JPS60171409A (ja) * 1984-02-16 1985-09-04 Sumitomo Metal Ind Ltd 管ネジ部肉厚測定装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53146656A (en) * 1977-05-26 1978-12-20 Nec Corp Outside shape measuring apparatus
JPS5634042A (en) * 1979-08-23 1981-04-06 Toshiba Corp Filter for use in ventilator
JPS5773604A (en) * 1980-10-27 1982-05-08 Sumitomo Metal Ind Ltd Measuring device for height of reinforcement of weld
JPS5866004A (ja) * 1981-10-14 1983-04-20 Nissan Motor Co Ltd 三次元形状の測定方法
JPS5887408A (ja) * 1981-11-07 1983-05-25 カ−ル・ツアイス−スチフツング 多座標測定機械の自己定心作用を有する係合する測定機構に固定された検出ピンを校正する方法並びにこの方法を実施する標準器
JPS60107186A (ja) * 1983-11-15 1985-06-12 Hitachi Ltd 物体認識装置
JPS60161523A (ja) * 1984-02-02 1985-08-23 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 三次元測定機
JPS60171409A (ja) * 1984-02-16 1985-09-04 Sumitomo Metal Ind Ltd 管ネジ部肉厚測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8654351B2 (en) 2009-10-13 2014-02-18 Mitutoyo Corporation Offset amount calibrating method and surface profile measuring machine
US8650939B2 (en) 2009-10-13 2014-02-18 Mitutoyo Corporation Surface texture measuring machine and a surface texture measuring method

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