JPH0476056A - 電子部品封止用ポリアリーレンスルフィド樹脂組成物及び電子部品 - Google Patents
電子部品封止用ポリアリーレンスルフィド樹脂組成物及び電子部品Info
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
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- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Details Of Resistors (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はポリアリーレンスルフィドと0.17tm以下
の粒子径を有する炭酸亜鉛からなる電子部品封止用樹脂
組成物に関するものであり、又該組成物で被覆又は封止
された電子部品に関する。
の粒子径を有する炭酸亜鉛からなる電子部品封止用樹脂
組成物に関するものであり、又該組成物で被覆又は封止
された電子部品に関する。
(従来の技術)
ポリアリーレンスルフィドは耐熱性、耐薬品性、難燃性
、電気的性質並びに機械的性質などが優れるエンジニア
リングプラスチックであり、成形材料として各種の用途
に用いられるが、特に近年、電子部品の被覆又は封止用
途が検討されている。
、電気的性質並びに機械的性質などが優れるエンジニア
リングプラスチックであり、成形材料として各種の用途
に用いられるが、特に近年、電子部品の被覆又は封止用
途が検討されている。
従来、電子部品の被覆又は封止にはエポキシ樹脂が用い
られているが、・熱硬化性であるために生産性が悪く、
生産性が良いポリアリ−゛レンスルフィドなどの熱可塑
性樹脂が望まれている。しかしながら、ポリアリーレン
スルフィドは高温下あるいは溶融時において金属腐食性
ガスを発生しやすく、特に電子部品の封止用途に使用す
る場合は組成物の溶融粘度を下げるために該ポリアリー
レンスルフィドの分子量を従来用途に比較して低くする
為、より多くの金属腐食性ガスが発生し電子部品の素子
やリードの腐食や変色が起こるだけでなく、電子部品の
信頼性の低下が引き起こされる。この問題点を解決する
ためにポリアリーレンスルフィドに対し酸化亜鉛を添加
することが提案されているが(米国特許4,659,7
61.)、樹脂の成形温度がやや高くなったり、滞留時
間が長くなると上記問題を生じてくるのが現状である。
られているが、・熱硬化性であるために生産性が悪く、
生産性が良いポリアリ−゛レンスルフィドなどの熱可塑
性樹脂が望まれている。しかしながら、ポリアリーレン
スルフィドは高温下あるいは溶融時において金属腐食性
ガスを発生しやすく、特に電子部品の封止用途に使用す
る場合は組成物の溶融粘度を下げるために該ポリアリー
レンスルフィドの分子量を従来用途に比較して低くする
為、より多くの金属腐食性ガスが発生し電子部品の素子
やリードの腐食や変色が起こるだけでなく、電子部品の
信頼性の低下が引き起こされる。この問題点を解決する
ためにポリアリーレンスルフィドに対し酸化亜鉛を添加
することが提案されているが(米国特許4,659,7
61.)、樹脂の成形温度がやや高くなったり、滞留時
間が長くなると上記問題を生じてくるのが現状である。
(発明が解決しようとする課題)
本発明は、金属腐食性発生ガスがより低減された電子部
品封止用ボリア1ノーレンスルフイド樹脂組成物を提供
することにある。
品封止用ボリア1ノーレンスルフイド樹脂組成物を提供
することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明者らは上記のごとき状況に鑑み、鋭意検討シた結
果、特定のポリアリーレンスルフィドに対し0. 1μ
m以下の粒子径を有する炭酸亜鉛を添加することにより
、電子部品の素子やリードを腐食あるいは変色させず、
且つ、高められた信頼性を与える電子部品封止用樹脂組
成物が得られることを見出し本発明に至ったものである
。
果、特定のポリアリーレンスルフィドに対し0. 1μ
m以下の粒子径を有する炭酸亜鉛を添加することにより
、電子部品の素子やリードを腐食あるいは変色させず、
且つ、高められた信頼性を与える電子部品封止用樹脂組
成物が得られることを見出し本発明に至ったものである
。
即ち、本発明は、1000g以上/10分のメルトフロ
ーレイトラ有するポリアリーレンスルフィドと0. 1
μ以下の粒子径を有する炭酸亜鉛からなる電子部品封止
用樹脂組成物及びその樹脂組成物で被覆又は封止された
電子部品に関する。
ーレイトラ有するポリアリーレンスルフィドと0. 1
μ以下の粒子径を有する炭酸亜鉛からなる電子部品封止
用樹脂組成物及びその樹脂組成物で被覆又は封止された
電子部品に関する。
本発明におけるポリアリーレンスルフィドはあり、例え
ば、特公昭41−3368号に開示されている方法で得
ることが出来る。該重合体の分子量はメルトフローレー
) (ASTM法D−1238−74に準じ315.5
°C,5Kg荷重で測定)で1000g/10分以上が
好ましく、1000 g/l 0分未満では組成物の溶
融粘度が高くなり好ましくない。なお該重合体は実質的
に線状の重合体であることが機械的強度の点て好ましい
が、部分的に架橋された重合体であっても、さらにはそ
れらの混合物であってもよく、更には、本発明の目的を
損なわぬ範囲において、メタ結合ル基、ニトロ基、フェ
ニル基、カルボキシル基、カルボン酸の金属塩基、アル
コシ基またはアミ7基を表すものとする。)、三官能結
合 C1,。
ば、特公昭41−3368号に開示されている方法で得
ることが出来る。該重合体の分子量はメルトフローレー
) (ASTM法D−1238−74に準じ315.5
°C,5Kg荷重で測定)で1000g/10分以上が
好ましく、1000 g/l 0分未満では組成物の溶
融粘度が高くなり好ましくない。なお該重合体は実質的
に線状の重合体であることが機械的強度の点て好ましい
が、部分的に架橋された重合体であっても、さらにはそ
れらの混合物であってもよく、更には、本発明の目的を
損なわぬ範囲において、メタ結合ル基、ニトロ基、フェ
ニル基、カルボキシル基、カルボン酸の金属塩基、アル
コシ基またはアミ7基を表すものとする。)、三官能結
合 C1,。
などの結合を含むことが出来る。
本発明に用いる炭酸亜鉛は、試薬として市販されている
ものを使用することが出来るが、通常、透明亜鉛華とか
透明性亜鉛華と呼ばれている炭酸亜鉛もしくは炭酸亜鉛
含有組成物を使用する事も出来る。該炭酸亜鉛は、本発
明に於いては0. 1μm以下の粒子径を有することが
好ましく、0゜1μmを越えると本発明の目的を満足し
ない。炭酸亜鉛の添加量はポリアリーレンスルフィド1
00重量部に対して0゜01〜10重量部が適当である
。
ものを使用することが出来るが、通常、透明亜鉛華とか
透明性亜鉛華と呼ばれている炭酸亜鉛もしくは炭酸亜鉛
含有組成物を使用する事も出来る。該炭酸亜鉛は、本発
明に於いては0. 1μm以下の粒子径を有することが
好ましく、0゜1μmを越えると本発明の目的を満足し
ない。炭酸亜鉛の添加量はポリアリーレンスルフィド1
00重量部に対して0゜01〜10重量部が適当である
。
本発明に於いては、目的に応じて各種の無機及びの有機
の充填材を1種又は2種以上組合わせて加えることがで
きる。具体的にはシリカ、ケイ藻土、ドロマイト、γ−
アルミナ、γ以外のアルミナ、酸化チタン、酸化鉄、酸
化亜鉛、酸化マグネシウム、アンチモン酸、酸化アンチ
モン、バリウムフェライト、ストロンチウムフェライト
、酸化べIJ リウム、軽石、軽石バルーン、酸化鉛、
酸化ビスマス、酸化ジルコニウムなどの酸化物;水酸化
亜鉛、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、塩基
性炭酸マグネシウムなどの水酸化物;炭酸リチウム、炭
酸カルシウム、炭酸マグネシウム、ドーソナイトなどの
炭酸塩;硫酸カルシウム、硫酸バリウム、硫酸アンモニ
ウム、亜硫酸カルシラムなどの硫酸又は亜硫酸塩;タル
ク、クレー マイカ、アスベスト、ガラス繊維、ガラス
バルーン、ガラスピーズ、ケイ酸カルシウム、モンモリ
ロナイト、ベントナイトなどのケイ酸塩、ハイドロタル
サイト類;その他力−ボンブラック、グラファイト、硫
化モリブデン、ボロン繊維、炭化ケイ素繊維、チタン酸
カリウム、チタン酸、ジルコン酸鉛、ホウ酸亜鉛、メタ
ホウ酸バリウム、ホウ酸カルシウム、ホウ酸ナトリウム
などの無機充填材の粒子状、繊維状、ウィスカー状、球
状、中空状物、更に芳香族ポリアミド繊維、ポリテトラ
フルオロエチレン、シリコンゴムなどの有機充填材など
が挙げられる。該充填材の好ましい添加量は本発明組成
物中、0.1〜80重量%である。本発明においては、
本発明の目的を損わぬ範囲において、他の樹脂を添加す
ることができる。該樹脂としては、例えばポリフェニレ
ンエーテル、ポリエチレン、ポリアミド、ポリブチレン
テレフタレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリ
1.4−シクロヘキサンジメチレンテレフタレート、ポ
リカーボネート、各種液晶ポリマー類、ポリサルホン、
ポリエーテルサルホン、ポリアリルサルホン、ポリエー
テルケトン、ポリエーテルエーテルケトン、ポリアリー
レンスルフィドケトン、ポリエチレン、ポリプロピレン
、ポリメチルペンテン、ポリスチレン、水添スチレンブ
タジェンゴム、エチレンプロピレンゴム、ポリイソプレ
ン、ポリイソブチレン、ポリブテン、フェノキシ樹脂、
エポキシ樹脂、ポリイミド、ポリアミドイミド、ユリア
樹脂、フェノール樹脂、DAP樹脂、などの熱可塑性あ
るいは熱硬化性樹脂が挙げられる。又、本発明組成物に
は他の公知の添加剤、例えば有機シラン、チタネート、
ジルコネート、ジルコアルミネート、アルミニウムキレ
ート化合物系カップリング剤すどの表面処理剤、酸化防
止剤、熱安定剤、アルカリ金属又はアルカリ土類金属の
酸化物、水酸化物又は炭酸塩などの腐食防止剤、滑剤、
着色剤、結晶核剤及びシリコンオイルなどを組成物に対
し0゜01〜10重量%加えることができる。
の充填材を1種又は2種以上組合わせて加えることがで
きる。具体的にはシリカ、ケイ藻土、ドロマイト、γ−
アルミナ、γ以外のアルミナ、酸化チタン、酸化鉄、酸
化亜鉛、酸化マグネシウム、アンチモン酸、酸化アンチ
モン、バリウムフェライト、ストロンチウムフェライト
、酸化べIJ リウム、軽石、軽石バルーン、酸化鉛、
酸化ビスマス、酸化ジルコニウムなどの酸化物;水酸化
亜鉛、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、塩基
性炭酸マグネシウムなどの水酸化物;炭酸リチウム、炭
酸カルシウム、炭酸マグネシウム、ドーソナイトなどの
炭酸塩;硫酸カルシウム、硫酸バリウム、硫酸アンモニ
ウム、亜硫酸カルシラムなどの硫酸又は亜硫酸塩;タル
ク、クレー マイカ、アスベスト、ガラス繊維、ガラス
バルーン、ガラスピーズ、ケイ酸カルシウム、モンモリ
ロナイト、ベントナイトなどのケイ酸塩、ハイドロタル
サイト類;その他力−ボンブラック、グラファイト、硫
化モリブデン、ボロン繊維、炭化ケイ素繊維、チタン酸
カリウム、チタン酸、ジルコン酸鉛、ホウ酸亜鉛、メタ
ホウ酸バリウム、ホウ酸カルシウム、ホウ酸ナトリウム
などの無機充填材の粒子状、繊維状、ウィスカー状、球
状、中空状物、更に芳香族ポリアミド繊維、ポリテトラ
フルオロエチレン、シリコンゴムなどの有機充填材など
が挙げられる。該充填材の好ましい添加量は本発明組成
物中、0.1〜80重量%である。本発明においては、
本発明の目的を損わぬ範囲において、他の樹脂を添加す
ることができる。該樹脂としては、例えばポリフェニレ
ンエーテル、ポリエチレン、ポリアミド、ポリブチレン
テレフタレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリ
1.4−シクロヘキサンジメチレンテレフタレート、ポ
リカーボネート、各種液晶ポリマー類、ポリサルホン、
ポリエーテルサルホン、ポリアリルサルホン、ポリエー
テルケトン、ポリエーテルエーテルケトン、ポリアリー
レンスルフィドケトン、ポリエチレン、ポリプロピレン
、ポリメチルペンテン、ポリスチレン、水添スチレンブ
タジェンゴム、エチレンプロピレンゴム、ポリイソプレ
ン、ポリイソブチレン、ポリブテン、フェノキシ樹脂、
エポキシ樹脂、ポリイミド、ポリアミドイミド、ユリア
樹脂、フェノール樹脂、DAP樹脂、などの熱可塑性あ
るいは熱硬化性樹脂が挙げられる。又、本発明組成物に
は他の公知の添加剤、例えば有機シラン、チタネート、
ジルコネート、ジルコアルミネート、アルミニウムキレ
ート化合物系カップリング剤すどの表面処理剤、酸化防
止剤、熱安定剤、アルカリ金属又はアルカリ土類金属の
酸化物、水酸化物又は炭酸塩などの腐食防止剤、滑剤、
着色剤、結晶核剤及びシリコンオイルなどを組成物に対
し0゜01〜10重量%加えることができる。
本発明組成物は320°C1せん断速度10”sec−
+の条件下で溶融粘度は100〜5000ボイズ、好ま
しくは100〜3000ポイズであり、射出成形、圧縮
成形、又はトランスファー成形などの種々の成形法によ
り各種の電子部品を被覆または封止することができる。
+の条件下で溶融粘度は100〜5000ボイズ、好ま
しくは100〜3000ポイズであり、射出成形、圧縮
成形、又はトランスファー成形などの種々の成形法によ
り各種の電子部品を被覆または封止することができる。
なお、本発明組成物は押出機、射出成形機、各種ミキサ
ーなどの公知方法で配合、混練することができる。
ーなどの公知方法で配合、混練することができる。
本発明の組成物で被覆又は封止された電子部品としては
、例えばトランジスター ダイオード、トリオード、パ
ワーモジュール、集積回路、ICレギュレータ、ハイブ
リッドIC,発光ダイオード、フォトカプラー フォト
インクラブター、サーミスタ、バリスター、サイリスタ
ー ホール素子、各種フィルター類、固定又は可変抵抗
器、抵抗ネットワークなどの抵抗器類、フィルムコンデ
ンサー セラミックコンデンサー アルミニウム電解コ
ンデンサー タンタル電解コンデンサポリピロールなど
の導電性高分子系コンデンサーマイカコンデンサ−など
のコンデンサー類、各種トランスおよびコイル類、リレ
ー スイッチ、各種センサー、サーモスタット、磁気ヘ
ッド、モーター チューナー トランスデユーサ−1水
晶振動子、ヒユーズ、整流器、電源、サージアブソーバ
−コネクター プリント基板などの各種電子部品及びこ
れらの複合部品があり、更に各種の自動車電装品などが
あるが、必ずしもこれらに限定されるものでない。
、例えばトランジスター ダイオード、トリオード、パ
ワーモジュール、集積回路、ICレギュレータ、ハイブ
リッドIC,発光ダイオード、フォトカプラー フォト
インクラブター、サーミスタ、バリスター、サイリスタ
ー ホール素子、各種フィルター類、固定又は可変抵抗
器、抵抗ネットワークなどの抵抗器類、フィルムコンデ
ンサー セラミックコンデンサー アルミニウム電解コ
ンデンサー タンタル電解コンデンサポリピロールなど
の導電性高分子系コンデンサーマイカコンデンサ−など
のコンデンサー類、各種トランスおよびコイル類、リレ
ー スイッチ、各種センサー、サーモスタット、磁気ヘ
ッド、モーター チューナー トランスデユーサ−1水
晶振動子、ヒユーズ、整流器、電源、サージアブソーバ
−コネクター プリント基板などの各種電子部品及びこ
れらの複合部品があり、更に各種の自動車電装品などが
あるが、必ずしもこれらに限定されるものでない。
(実施例)
次に本発明を実施例により具体的に説明するが本発明は
これらに限定されるものではない。
これらに限定されるものではない。
実施例1〜3、比較例1〜3
メルトフローレートが8000g/10分くASTM法
D−1238−74in準じ315.5°015Kg荷
重で測定)であるポリフェニレンスルフィド(PPS)
を用いて、表1の組成でヘンシェルミキサーで均一混合
後、65mm押出iにて320°Cで溶融混練しペレッ
トを得た。該ベレットを用いて1オンス射出成形機で、
樹脂温度3500C1成形サイクル40秒でミニモール
ドタイプトランジスター素子を封止した。使用したリー
ドフレ ムは銀メツキされた調合金製である。
D−1238−74in準じ315.5°015Kg荷
重で測定)であるポリフェニレンスルフィド(PPS)
を用いて、表1の組成でヘンシェルミキサーで均一混合
後、65mm押出iにて320°Cで溶融混練しペレッ
トを得た。該ベレットを用いて1オンス射出成形機で、
樹脂温度3500C1成形サイクル40秒でミニモール
ドタイプトランジスター素子を封止した。使用したリー
ドフレ ムは銀メツキされた調合金製である。
実施例4
実施例1で得られたトランジスター封止品のリーク電流
(Icbo)は0.3nAであったが、121°C,2
気圧下で、プレッシャクツカー試験を200時間行った
ところ、該リーク電流は35nAとなった。
(Icbo)は0.3nAであったが、121°C,2
気圧下で、プレッシャクツカー試験を200時間行った
ところ、該リーク電流は35nAとなった。
比較例4
比較例1で得られたトランジスター封止品のリク電流値
は2nAであり、実施例4と同様にプレッシャクツカー
試験を200時間行ったところ、該リーク電流は950
nAとなり実施例4の方が信頼性が高い。
は2nAであり、実施例4と同様にプレッシャクツカー
試験を200時間行ったところ、該リーク電流は950
nAとなり実施例4の方が信頼性が高い。
比較例5
比較例2で得られたトランジスター封止品のリク電流値
は0.7nAであり、実施例4と同様にプレッシャクツ
カー試験を200時間行ったところ、該リーク電流は1
20nAとなり実施例4の方が信頼性が高い。
は0.7nAであり、実施例4と同様にプレッシャクツ
カー試験を200時間行ったところ、該リーク電流は1
20nAとなり実施例4の方が信頼性が高い。
(発明の効果)
本発明の電子部品封止用樹脂組成物は金属腐食性発生ガ
スがより低減されるため、電子部品の素子やリードを腐
食あるいは変色させず、且つ、高められた信頼性を有す
る電子部品をもたらすことができる。
スがより低減されるため、電子部品の素子やリードを腐
食あるいは変色させず、且つ、高められた信頼性を有す
る電子部品をもたらすことができる。
Claims (1)
- 1.1000g以上/10分のメルトフローレイトを有
するポリアリーレンスルフィドと0.1μm以下の粒子
径を有する炭酸亜鉛からなる電子部品封止用樹脂組成物
。 2、請求項1記載の樹脂組成物で被覆又は封止された電
子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18931390A JP2952980B2 (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | 電子部品封止用ポリアリーレンスルフィド樹脂組成物及び電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18931390A JP2952980B2 (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | 電子部品封止用ポリアリーレンスルフィド樹脂組成物及び電子部品 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0476056A true JPH0476056A (ja) | 1992-03-10 |
JP2952980B2 JP2952980B2 (ja) | 1999-09-27 |
Family
ID=16239265
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18931390A Expired - Lifetime JP2952980B2 (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | 電子部品封止用ポリアリーレンスルフィド樹脂組成物及び電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2952980B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6369445B1 (en) | 2000-06-19 | 2002-04-09 | Advantest Corporation | Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit |
US6440775B2 (en) | 2000-06-19 | 2002-08-27 | Advantest Corporation | Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit |
WO2018034222A1 (en) * | 2016-08-19 | 2018-02-22 | Dow Corning Toray Co., Ltd. | Room temperature curable organopolysiloxane composition for protecting electric/electronic parts |
-
1990
- 1990-07-19 JP JP18931390A patent/JP2952980B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6369445B1 (en) | 2000-06-19 | 2002-04-09 | Advantest Corporation | Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit |
US6440775B2 (en) | 2000-06-19 | 2002-08-27 | Advantest Corporation | Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit |
WO2018034222A1 (en) * | 2016-08-19 | 2018-02-22 | Dow Corning Toray Co., Ltd. | Room temperature curable organopolysiloxane composition for protecting electric/electronic parts |
JP2019526655A (ja) * | 2016-08-19 | 2019-09-19 | ダウ・東レ株式会社 | 電気・電子部品保護用室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物 |
US10851243B2 (en) | 2016-08-19 | 2020-12-01 | Dow Toray Co., Ltd. | Room temperature curable organopolysiloxane composition for protecting electric/electronic parts |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2952980B2 (ja) | 1999-09-27 |
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