JPH0471003A - プロセス制御装置 - Google Patents
プロセス制御装置Info
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- JPH0471003A JPH0471003A JP18460790A JP18460790A JPH0471003A JP H0471003 A JPH0471003 A JP H0471003A JP 18460790 A JP18460790 A JP 18460790A JP 18460790 A JP18460790 A JP 18460790A JP H0471003 A JPH0471003 A JP H0471003A
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- Japan
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- loop gain
- linear
- function
- polygonal line
- compensating
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- 238000004886 process control Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 16
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 14
- 238000012886 linear function Methods 0.000 abstract 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 33
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000009329 sexual behaviour Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、種々の計装制御システムに利用されるプロセ
ス制御装置に係わり、特にフィードバックループのルー
プゲインを自動的に線形化するプロセス制御装置に関す
る。
ス制御装置に係わり、特にフィードバックループのルー
プゲインを自動的に線形化するプロセス制御装置に関す
る。
（従来の技術）
この種の制御装置は、第４図に示すようにプロセス変数
を検出する検出器１と、目標値ＳＶから検出器１で検出
したプロセス変数値Ｐ■を減算して偏差を求める偏差演
算手段２と、この偏差演算手段２で求めた偏差を受けて
予め定められたＰ（比例）Ｉ（積分）またはＰＩＤ（Ｄ
は微分）制御パラメータを用いてＰＩＤ調節演算を行っ
て操作出力値ＭＶを求めるＰＩＤ調節演算手段３とを備
え、この演算手段３で求めた操作出力値ＭＶを与えて制
御対象４を制御する構成である。
を検出する検出器１と、目標値ＳＶから検出器１で検出
したプロセス変数値Ｐ■を減算して偏差を求める偏差演
算手段２と、この偏差演算手段２で求めた偏差を受けて
予め定められたＰ（比例）Ｉ（積分）またはＰＩＤ（Ｄ
は微分）制御パラメータを用いてＰＩＤ調節演算を行っ
て操作出力値ＭＶを求めるＰＩＤ調節演算手段３とを備
え、この演算手段３で求めた操作出力値ＭＶを与えて制
御対象４を制御する構成である。
ところで、−船釣には、外乱信号を与えて制御対象のプ
ロセス特性値から制御パラメータを決定し、その制御パ
ラメータに基づいてＰｌまたはＰＩＤ調節演算を実行す
るが、閉ループ全体から見たとき制御応答性が非常に悪
くなる場合がある。
ロセス特性値から制御パラメータを決定し、その制御パ
ラメータに基づいてＰｌまたはＰＩＤ調節演算を実行す
るが、閉ループ全体から見たとき制御応答性が非常に悪
くなる場合がある。
これは操作出力値のある領域において発散状態を呈し結
果的に整定か遅れるためであり、これは閉ループルのト
ータルループゲインが非線形性を有していることにある
。
果的に整定か遅れるためであり、これは閉ループルのト
ータルループゲインが非線形性を有していることにある
。
そこで、従来、ＰＩまたはＰＩＤ調節演算手段３内また
はＰＩＤ調節演算手段３の出力側にループゲイン設定部
を設け、この調節演算手段３で種々の操作出力値を可変
しながらプロセス変数値をサンプリングし、人為的に複
雑な計算を行いながら逆関数を求めた後、これをトータ
ルループゲインとＩ、て手動にて設定することが行われ
ている。
はＰＩＤ調節演算手段３の出力側にループゲイン設定部
を設け、この調節演算手段３で種々の操作出力値を可変
しながらプロセス変数値をサンプリングし、人為的に複
雑な計算を行いながら逆関数を求めた後、これをトータ
ルループゲインとＩ、て手動にて設定することが行われ
ている。
（発明が解決しようとする課題）
しかし、種々の操作出力値を可変しながらプロセス変数
値をサンプリングすることは非常に煩雑であり、また逆
関数を求めるのに長時間を要する問題がある。
値をサンプリングすることは非常に煩雑であり、また逆
関数を求めるのに長時間を要する問題がある。
本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、必要な時に
連続的または間欠的に非線形性関数に対する逆関数を自
動的に求めてトータルループゲインを線形化でき、操作
量全域に亘って制御ループの応答性を高めうるプロセス
制御装置を提供することを目的とする。
連続的または間欠的に非線形性関数に対する逆関数を自
動的に求めてトータルループゲインを線形化でき、操作
量全域に亘って制御ループの応答性を高めうるプロセス
制御装置を提供することを目的とする。
［発明の構成コ
（課題を解決するための手段）
本発明のプロセス制御装置は上記課題を解決するために
、目標値とプロセス変数値との偏差に基づいてＰ（Ｐ：
比例）Ｉ（ｌ積分）またはＰＩＤ（Ｄ：微分）調節演算
を行って操作出力値を得た後、この操作出力値を用いて
制御対象を制御するプロセス制御装置において、予め定
めた複数点のテスト用操作出力値およびその近傍のテス
ト用操作出力値または現在運転中の前記操作出力値およ
びその近傍の操作出力値に対するプロセス変数値をサン
プリングし、これらサンプリングデータから非線形連続
関数を求めるとともに当該非線形連続関数の逆関数を得
る補償折線演算手段と、前記ＰＩまたはＰＩＤ調節演算
結果の前記操作出力値に前記補償折線演算手段で得られ
た逆関数を与えてトータループゲインをほぼ線形化する
ループゲイン補償折線発生手段とを備えた構成である。
、目標値とプロセス変数値との偏差に基づいてＰ（Ｐ：
比例）Ｉ（ｌ積分）またはＰＩＤ（Ｄ：微分）調節演算
を行って操作出力値を得た後、この操作出力値を用いて
制御対象を制御するプロセス制御装置において、予め定
めた複数点のテスト用操作出力値およびその近傍のテス
ト用操作出力値または現在運転中の前記操作出力値およ
びその近傍の操作出力値に対するプロセス変数値をサン
プリングし、これらサンプリングデータから非線形連続
関数を求めるとともに当該非線形連続関数の逆関数を得
る補償折線演算手段と、前記ＰＩまたはＰＩＤ調節演算
結果の前記操作出力値に前記補償折線演算手段で得られ
た逆関数を与えてトータループゲインをほぼ線形化する
ループゲイン補償折線発生手段とを備えた構成である。
（作用）
従って、本発明は以上のような手段を講じたことにより
、先ず、補償折線演算手段では予めメモリに記憶された
複数点のテスト用操作出力値およびその近傍のテスト用
操作出力値を予め定めた時間間隔で出力し、または現在
運転中の前記操作出力値およびその近傍の操作出力値を
予め定めた時間間隔で出力し、これら操作出力値に対す
るプロセス変数値をサンプリングする。しかる後、これ
ら複数点のサンプリングデータを取得したならば、各操
作出力値の傾斜を求めて直線化した後、これら複数の直
線を結んで得られる非線形連続関数の逆関数を求める。
、先ず、補償折線演算手段では予めメモリに記憶された
複数点のテスト用操作出力値およびその近傍のテスト用
操作出力値を予め定めた時間間隔で出力し、または現在
運転中の前記操作出力値およびその近傍の操作出力値を
予め定めた時間間隔で出力し、これら操作出力値に対す
るプロセス変数値をサンプリングする。しかる後、これ
ら複数点のサンプリングデータを取得したならば、各操
作出力値の傾斜を求めて直線化した後、これら複数の直
線を結んで得られる非線形連続関数の逆関数を求める。
そして、この補償折線演算手段で求めた逆関数をループ
ゲイン補償折線発生手段に設定する。その結果、ＰＩま
たはＰＩＤ調節演算結果である操作出力値に対して前記
補償折線演算手段で得られた逆関数が与えられてプロセ
ス制御系のトータループゲインはほぼ線形化し、操作量
全域に亘って制御ループの応答性を高めることかできる
。
ゲイン補償折線発生手段に設定する。その結果、ＰＩま
たはＰＩＤ調節演算結果である操作出力値に対して前記
補償折線演算手段で得られた逆関数が与えられてプロセ
ス制御系のトータループゲインはほぼ線形化し、操作量
全域に亘って制御ループの応答性を高めることかできる
。
（実施例）
以下、本発明の一実施例について第１図を参照して説明
する。同図において１１は目標値Ｓ■から検出器１２で
検出したプロセス変数値ＰＶを減算して偏差を得る偏差
演算手段、１３は予め定めたＰＩまたはＰＩＤ制御パラ
メータを用いて前記偏差を零とするような操作出力値Ｍ
Ｖを得、また外部からテストモード指令が入ったとき後
続のスイッチ１４を図示位置からテストモード側に切換
えるＰＩＤ調節演算手段、１５はメモリ、時計機能等を
もった折線生成用テスト信号発生手段であって、このメ
モリにはテスト用操作出力値データＭＶ、、ＭＶ２ 、
その近傍のデータ△ＭＶおよび時間データＳＴ、、、・
・・、Ｓｒ１．、・・・等が記憶され、テストモード指
令が入力されたときメモリからＭＶ、を読み出して出力
し、また所定時間後にメモリからΔＭＶを読み出してＭ
Ｖ、＋ΔＭＶなるデータを出力し、テスト用操作出力値
データＭｖ２についても同様に行うとともに必要な時に
サンプリング信号を出力する。なお、ＳＴ、、、・・・
はテスト用データ例えばＭＶ、の送出後間ループを一巡
するに相当する時間であって、制御対象１６の時定数を
Ｔ１無駄時間をＬとすると、ＳＴ、、、・・・＞Ｌ＋３
Ｔを目安として設定する。これはＭＶ、の送出後動的影
響を排除して安定域に到達するであろう時間である。Ｓ
Ｔ２．、・・・は出力データ読取り時間である。１７は
メモリおよび演算手段を有し、メモリにはテスト用デー
タＭＶ、。
する。同図において１１は目標値Ｓ■から検出器１２で
検出したプロセス変数値ＰＶを減算して偏差を得る偏差
演算手段、１３は予め定めたＰＩまたはＰＩＤ制御パラ
メータを用いて前記偏差を零とするような操作出力値Ｍ
Ｖを得、また外部からテストモード指令が入ったとき後
続のスイッチ１４を図示位置からテストモード側に切換
えるＰＩＤ調節演算手段、１５はメモリ、時計機能等を
もった折線生成用テスト信号発生手段であって、このメ
モリにはテスト用操作出力値データＭＶ、、ＭＶ２ 、
その近傍のデータ△ＭＶおよび時間データＳＴ、、、・
・・、Ｓｒ１．、・・・等が記憶され、テストモード指
令が入力されたときメモリからＭＶ、を読み出して出力
し、また所定時間後にメモリからΔＭＶを読み出してＭ
Ｖ、＋ΔＭＶなるデータを出力し、テスト用操作出力値
データＭｖ２についても同様に行うとともに必要な時に
サンプリング信号を出力する。なお、ＳＴ、、、・・・
はテスト用データ例えばＭＶ、の送出後間ループを一巡
するに相当する時間であって、制御対象１６の時定数を
Ｔ１無駄時間をＬとすると、ＳＴ、、、・・・＞Ｌ＋３
Ｔを目安として設定する。これはＭＶ、の送出後動的影
響を排除して安定域に到達するであろう時間である。Ｓ
Ｔ２．、・・・は出力データ読取り時間である。１７は
メモリおよび演算手段を有し、メモリにはテスト用デー
タＭＶ、。
ＭＶ２が記憶され、前記テスト用データＭＶ、。
ＭＶ２の出力に対応するプロセス変数値ｐｖ、。
ｐｖ２を取り込んで非線形連続関数を生成し、かつ、こ
の非線形連続関数から逆関数を生成して補償折線を得る
補償折線演算手段、１８は補償折線演算手段１７で求め
た補償折線を発生して操作出力値に対して補償を行うル
ープゲイン補償折線発生手段である。
の非線形連続関数から逆関数を生成して補償折線を得る
補償折線演算手段、１８は補償折線演算手段１７で求め
た補償折線を発生して操作出力値に対して補償を行うル
ープゲイン補償折線発生手段である。
次に、以上のように構成された装置の動作について説明
する。先ず、外部からテストモード指令を与えると、調
節演算手段１３でテストモードであると判断し、スイッ
チ１４を図示位置からテストモード側に切換える。一方
、折線生成用テスト用信号発生手段１５ではテストモー
ド指令を受けると、メモリからテスト用データＭＶ、を
読み出して出力した後、時計装置により第２図のＳ Ｔ
ｚ時間経過後サンプリング信号を補償折線演算手段１
７に送出する。ここで、補償折線演算手段１７はサンプ
リング信号を受けると制御対象１６の入力側から前記テ
スト用データＭＶ、とこのＭＶ。
する。先ず、外部からテストモード指令を与えると、調
節演算手段１３でテストモードであると判断し、スイッ
チ１４を図示位置からテストモード側に切換える。一方
、折線生成用テスト用信号発生手段１５ではテストモー
ド指令を受けると、メモリからテスト用データＭＶ、を
読み出して出力した後、時計装置により第２図のＳ Ｔ
ｚ時間経過後サンプリング信号を補償折線演算手段１
７に送出する。ここで、補償折線演算手段１７はサンプ
リング信号を受けると制御対象１６の入力側から前記テ
スト用データＭＶ、とこのＭＶ。
に対応する検出器１２で検出したプロセス変数値Ｐｖ１
を取り込んで記憶する。なお、ＭＶ、は既に記憶されて
いるのでそれを用いてもよい。
を取り込んで記憶する。なお、ＭＶ、は既に記憶されて
いるのでそれを用いてもよい。
また、テスト信号発生手段１５は第２図に示すごと＜Ｓ
Ｔ＋＋経過後ＳＴ２．秒後にメモリからテスト用データ
△ＭＶを読み出して、 ＭＶ−ＭＶ １ ＋△ＭＶ を出力する。しかる後、さらに時間ＳＴ、。経過後にサ
ンプリング信号を送出すると、補償折線演算手段１７で
は同様１．：ＭＶ （−ＭＶＩ ＋ΔＭＶ）ｉ：対応す
るプロセス変数値ＰＶ−ＰＶＩ＋△Ｐｖ１を検出器１２
からサンプリングして記憶する。づき続き、ＳＴ２□秒
後、テスト信号発生手段１５はメモリからテスト用デー
タＭ■２を読み出して出力し、５Ｔ１３経過後に同様に
サンプリング信号を送出する。従って、補償折線演算手
段１７は同様にＭＶ２に始応するｐｖ２をサンプリング
する。
Ｔ＋＋経過後ＳＴ２．秒後にメモリからテスト用データ
△ＭＶを読み出して、 ＭＶ−ＭＶ １ ＋△ＭＶ を出力する。しかる後、さらに時間ＳＴ、。経過後にサ
ンプリング信号を送出すると、補償折線演算手段１７で
は同様１．：ＭＶ （−ＭＶＩ ＋ΔＭＶ）ｉ：対応す
るプロセス変数値ＰＶ−ＰＶＩ＋△Ｐｖ１を検出器１２
からサンプリングして記憶する。づき続き、ＳＴ２□秒
後、テスト信号発生手段１５はメモリからテスト用デー
タＭ■２を読み出して出力し、５Ｔ１３経過後に同様に
サンプリング信号を送出する。従って、補償折線演算手
段１７は同様にＭＶ２に始応するｐｖ２をサンプリング
する。
さらに、５Ｔ２３経過後、Ｍ■２＋△ＭＶに対応するｐ
ｖ−ｐｖ２＋ΔＰｖ２をサンプリングして記憶する。
ｖ−ｐｖ２＋ΔＰｖ２をサンプリングして記憶する。
以上のようにしてデータをサンプリングした後、補償折
線演算手段１７では第３図の如＜２＋ポイントと２２ポ
イントとに関連する部分の傾斜に１（−△ＰＶ１ ／Δ
ＭＶ） ｋ２ （−ΔＰＶ２ ／ΔＭＶ）を求め
る。しかる後、非線形連続関数を生成するために、２１
，２．ポイントの座標を求める。すなわち、 Ｚ１直線は、 ｙ−１（ｘ−Ｘｌ ）＋ｙ１ −（Ｉ）で表せる。但
し、Ｘｉ−ＭＶ、１．Ｙ ＋ −Ｐ Ｖ ｌ。
線演算手段１７では第３図の如＜２＋ポイントと２２ポ
イントとに関連する部分の傾斜に１（−△ＰＶ１ ／Δ
ＭＶ） ｋ２ （−ΔＰＶ２ ／ΔＭＶ）を求め
る。しかる後、非線形連続関数を生成するために、２１
，２．ポイントの座標を求める。すなわち、 Ｚ１直線は、 ｙ−１（ｘ−Ｘｌ ）＋ｙ１ −（Ｉ）で表せる。但
し、Ｘｉ−ＭＶ、１．Ｙ ＋ −Ｐ Ｖ ｌ。
ｋｌ −（ΔＰＶ、／ΔＭＶ） である。一方、Ｚ２直
線は、 ’／−に２ （ｘ Ｘ２ ）＋Ｙ２ − （２）
で表せる。但し、Ｘ２−ＭＶ２．ｙ２−ｐｖ２ 。
線は、 ’／−に２ （ｘ Ｘ２ ）＋Ｙ２ − （２）
で表せる。但し、Ｘ２−ＭＶ２．ｙ２−ｐｖ２ 。
ｋ２−（△ＰＶ２／△ＭＶ）である。このようにして２
．．２２直線を求めた後、（Ｉ）式および（２）式から
なる連立方程式を用いて２．．２２の交点Ｚ１□、すな
わち Ｘｌ、２− ｆＹ＋ ｋｌ Ｘｌ （３／２ ｋ２Ｘ２ ）／ （ｋｔ ｋ２））３／
１．２− ｔ （ＫＩ ”１１Ｘ＋ ）（Ｋ２ Ｖ２
Ｘ２）／ （ＫＩ Ｋ２））を求める。但し、Ｋ
１−１ ／ ｋ ＋ Ｋ ２−１ ／に２である。
．．２２直線を求めた後、（Ｉ）式および（２）式から
なる連立方程式を用いて２．．２２の交点Ｚ１□、すな
わち Ｘｌ、２− ｆＹ＋ ｋｌ Ｘｌ （３／２ ｋ２Ｘ２ ）／ （ｋｔ ｋ２））３／
１．２− ｔ （ＫＩ ”１１Ｘ＋ ）（Ｋ２ Ｖ２
Ｘ２）／ （ＫＩ Ｋ２））を求める。但し、Ｋ
１−１ ／ ｋ ＋ Ｋ ２−１ ／に２である。
このようにして求めた折線をｙ−ｆ（ＭＶ）とすると、
第３図に示す如く折線ｆに対する逆関数Ｂ。
第３図に示す如く折線ｆに対する逆関数Ｂ。
つまり、
ＭＶ−ｆ−’（ｙ）
が得られるので、この逆関数をループゲイン補償折１と
して前記ループゲイン補償折線発生手段１８に登録する
。
して前記ループゲイン補償折線発生手段１８に登録する
。
従って、以上のような実施例によれば、予め定めたテス
ト用データＭＶ、、ＭＶ２およびその近傍ノデータニ対
応するＰＶ、、ＰＶ、＋△ＰＶ、。
ト用データＭＶ、、ＭＶ２およびその近傍ノデータニ対
応するＰＶ、、ＰＶ、＋△ＰＶ、。
ＰＶ２．、ＰＶ２＋ΔＰＶ２をサンプリンクするととも
にそれぞれの線形の傾斜から直線を得た後、これら複数
の直線を結合して非線形連続関数を得、しかる後、この
非線形連続関数の逆関数を求めてループゲイン補償折線
発生手段１８に登録したので、制御対象１６および検出
器１２を含むゲインが非線形性であっても、ループゲイ
ン補償折線発生手段１８にてその非線形関数に対する逆
関数を与えることにより、操作量全域に対してトータル
ループゲインをほぼ線形とすることができる。
にそれぞれの線形の傾斜から直線を得た後、これら複数
の直線を結合して非線形連続関数を得、しかる後、この
非線形連続関数の逆関数を求めてループゲイン補償折線
発生手段１８に登録したので、制御対象１６および検出
器１２を含むゲインが非線形性であっても、ループゲイ
ン補償折線発生手段１８にてその非線形関数に対する逆
関数を与えることにより、操作量全域に対してトータル
ループゲインをほぼ線形とすることができる。
なお、上記実施例では２つの基準点、つまりテスト用デ
ータＭ Ｖ ＋ 、 Ｍ Ｖ ２に対する連続関数を求
める例について説明したが、基準点が３点以上であって
も同様に基準点間の交点を結んで同様の方法で逆関数を
求めることができる。
ータＭ Ｖ ＋ 、 Ｍ Ｖ ２に対する連続関数を求
める例について説明したが、基準点が３点以上であって
も同様に基準点間の交点を結んで同様の方法で逆関数を
求めることができる。
また、上記実施例では、２．．２２．、、、の座標決定
を自動的、かつ、連続的に行うようにしたが、プラント
操業上連続で行なうことが困難な場合があるが、このよ
うなときには手動操作にて１点ずつ指令を与え、テスト
信号発生手段１５にて図示点線に示す如くループゲイン
補償折線発生手段１８の出力側より現在運転中のＭＶを
取り込んで、前記ＳＴ、、ＳＴ２の時間を生かしつつ当
該ＭＶに対応するプロセス変数値ＰＶをサンプリングし
、さらに△ＭＶだけ変化させたときのＰｖｏをサンプリ
ングすることによりそれらの傾斜ｋ。を求めていく。そ
して、何点かについてＰＶ６値と傾斜ｋｎを得たならば
、それらの直線を結んで逆関数を生成するようにしても
よい。その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種
々変形して実施できる。
を自動的、かつ、連続的に行うようにしたが、プラント
操業上連続で行なうことが困難な場合があるが、このよ
うなときには手動操作にて１点ずつ指令を与え、テスト
信号発生手段１５にて図示点線に示す如くループゲイン
補償折線発生手段１８の出力側より現在運転中のＭＶを
取り込んで、前記ＳＴ、、ＳＴ２の時間を生かしつつ当
該ＭＶに対応するプロセス変数値ＰＶをサンプリングし
、さらに△ＭＶだけ変化させたときのＰｖｏをサンプリ
ングすることによりそれらの傾斜ｋ。を求めていく。そ
して、何点かについてＰＶ６値と傾斜ｋｎを得たならば
、それらの直線を結んで逆関数を生成するようにしても
よい。その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種
々変形して実施できる。
［発明の効果］
以上説明したように本発明によれば、連続的または間欠
的に非線形性関数に対する逆関数を自動的に求めて登録
することができ、よってこの逆関数を用いてトータルル
ープゲインを線形化することにより、操作量全域に亘っ
て制御ループの応答性を高めることができるプロセス制
御装置を提供できる。
的に非線形性関数に対する逆関数を自動的に求めて登録
することができ、よってこの逆関数を用いてトータルル
ープゲインを線形化することにより、操作量全域に亘っ
て制御ループの応答性を高めることができるプロセス制
御装置を提供できる。
第１図ないし第３図は本発明装置の一実施例を説明する
ために示したもので、第１図は装置の構成図、第２図は
テスト用データの出力状態およびテスト用データに対す
るプロセス変数値のサンプリング時間を説明する図、第
３図は非線形連続関数から逆関数を求める説明図、第４
図は従来装置の構成図である。 １１・・・偏差演算手段、１２・・・検出器、１３・・
・ＰＩＤ調節演算手段、１４・・・スイッチ手段、１５
・・・テスト信号発生手段、１６・・・制御対象、１７
・・・補償折線演算手段、１８・・・ループゲイン補償
折線発生手段。 ＰＶ ＭＶ１ ＭＶ２ 第３図 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第４図
ために示したもので、第１図は装置の構成図、第２図は
テスト用データの出力状態およびテスト用データに対す
るプロセス変数値のサンプリング時間を説明する図、第
３図は非線形連続関数から逆関数を求める説明図、第４
図は従来装置の構成図である。 １１・・・偏差演算手段、１２・・・検出器、１３・・
・ＰＩＤ調節演算手段、１４・・・スイッチ手段、１５
・・・テスト信号発生手段、１６・・・制御対象、１７
・・・補償折線演算手段、１８・・・ループゲイン補償
折線発生手段。 ＰＶ ＭＶ１ ＭＶ２ 第３図 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 目標値とプロセス変数値との偏差に基づいてＰ（Ｐ：比
例）Ｉ（Ｉ：積分）またはＰＩＤ（Ｄ：微分）調節演算
を行って操作出力値を得た後、この操作出力値を用いて
制御対象を制御するプロセス制御装置において、 予め定めた複数点のテスト用操作出力値およびその近傍
のテスト用操作出力値または現在運転中の前記操作出力
値およびその近傍の操作出力値に対するプロセス変数値
をサンプリングし、これらサンプリングデータから非線
形連続関数を求めるとともに当該非線形連続関数の逆関
数を得る補償折線演算手段と、前記ＰＩまたはＰＩＤ調
節演算結果の前記操作出力値に前記補償折線演算手段で
得られた逆関数を与えてトータループゲインをほぼ線形
化するループゲイン補償折線発生手段とを備えたことを
特徴とするプロセス制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18460790A JPH0471003A (ja) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | プロセス制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18460790A JPH0471003A (ja) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | プロセス制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0471003A true JPH0471003A (ja) | 1992-03-05 |
Family
ID=16156181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18460790A Pending JPH0471003A (ja) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | プロセス制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0471003A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100548924B1 (ko) * | 1999-05-06 | 2006-02-02 | 에스케이 텔레콤주식회사 | 입/출력 회로의 이득 구간 인식 선형 보상 장치 및 방법 |
| JP2007094395A (ja) * | 2005-08-31 | 2007-04-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 可変光減衰器 |
-
1990
- 1990-07-12 JP JP18460790A patent/JPH0471003A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100548924B1 (ko) * | 1999-05-06 | 2006-02-02 | 에스케이 텔레콤주식회사 | 입/출력 회로의 이득 구간 인식 선형 보상 장치 및 방법 |
| JP2007094395A (ja) * | 2005-08-31 | 2007-04-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 可変光減衰器 |
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