JPH0470537A - 光ファイバ部品の反射量の測定法及びそのための装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野１ 本発明は、光ファイバ部品を通過して、遠隔端で反射さ
れた反射光量を精密に且つ改良できた測定限界でもって
測定する測定法及びそのための装置に閃する。

１従来の技術及び発明が解決しようとする問題点］光フ
ァイバ部品を通過して、遠隔の端面で、反射された反射
光量を精密に測定することは、光ファイバ通信、光計測
、光デイスクメモリ等に用いられている光ファイバを用
いるときに、応用技術として、必要なものである。

第３図は、光ファイバ部品の反射量の測定のための従来
の装置を示すものである。（ＪＩＳハンドブック［光学
］日本規格協会編集、森五部発行人）。これは、コネク
ター、アイソレイク、スウィッチ等を備えた光ファイバ
部品に、レーザ光が入射したときの、その光ファイバ部
品の特性、即ち、反射光の有無等の検査、を測定するた
めのものである。

図において、１は測定用光源で、４°は光方向性結合器
で、２は被測定光ファイバで、７は被測定光ファイバ部
品で、１２は光出力メータである。光源１から導入され
た測定光は、方向性結合器４゛、測定用光ファイバ２を
通り、被測定光ファイバ部品７に入射され、その被測定
端７ｃで反射される。この反射光は、その位相を反転し
、その反射により、その偏光角度が回転するので、方向
性結合器４゛のハーフミラ−面で反射され、光出力メー
タ１２に導かれ、その光量を測定することができる。

この被測定端の反射特性は、測定の基準として、光ファ
イバ部品の被測定端に全反射ミラーを施したものとの比
較で表わされる。一般に、方向性結合ｉＳ４°　は光フ
ァイバカプラが用いられている。しかし、この従来方法
では、被測定光ファイバ部品の入射端７ｂでの反射が測
定限界を与えてしまうため、被測定反射端７Ｃからの反
射が入射端７ｂでの反射量より小さいときは、測定不可
能であった。即ち最も反射量の少ない光ファイバコネク
タを使用したときにおいても、４０ｔ３ｂ程度が測定限
界になっていた。

即ち、従来の技術では、被測定光ファイバ部品の入射端
７ｂでの反射光が測定限界を与えてしまうために、被測
定反射端７Ｃからの反射が入射端７ｂの反射量より小さ
いときには、測定不可能であった。

従って、本発明は、以上のような間組を解決しるために
、複屈折性結晶の偏光特性とファイバの偏光特性を併用
することにより、精密で、改良された測定限界の光ファ
イバ部品の反射光量の測定方法を提供することを目的と
する。

［問題点を解決するための手段］ 本発明は、上記の技術的な課題の解決のために、測定用
光源からの光を方向性結合器に、導き、その出力を被測
定ファイバに入射し、光７アイパの遠隔端で反射され戻
る反射光を、前記方向性結合器で、分離抽出して、光フ
ァイバの反射光量を測定する測定法において、前記方向
性結合器として、複屈折性結晶を用いて、偏光分離機能
を持たせ、更に、前記被測定ファイバの一部をループ状
等に変形させ、それにより該ファイバ中に生じた応力が
該光ファイバ自体に、複屈折を起こさせ、光ファイバ型
波長板を構成せしめ、それにより、前記反射光の偏光角
度を調整し、前記被測定光ファイバからの反射光を、入
射端７ｂの反射光に対して、選択的に分離して測定する
ことを特徴とする前記光ファイバの反射光量の測定法を
提供する。またその光ファイバの反射光量の測定法を行
なうため、複屈折性結晶を前記方向性結合器として用い
ることを特徴とする光ファイバの反射光量の測定装置を
提供する。

第２図は、本発明における光ファイバの反射量を測定す
る際の原理を説明するための図である。

ｌは測定用光源であり、４は複屈折性結晶で、７は被測
定光ファイバ部品で、３はコリメータで、１２は光出力
メータである。７ａは被測定光ファイバ部品のファイバ
部分を自ら用い、ファイバ自体に一定の応力を持たせる
ような治具に取付けることにより構成できるファイバ型
波長板である。

即ち、ファイパフ自体をループ状などの形状にすること
により、ファイバ内に応力をかけることにより、その中
を進行するレーザ光ビームの偏光面を回転せしめる。

複屈折性結晶４は、被測定光ファイバ部品に入射する偏
光の消光比を大きくする目的と、被測定反射端７ｃから
の反射光の分離を行なう目的の２つの目的を有する方向
性結合器として、使用するためのものである。ファイバ
型波長板７ａは、被測定反射端７ｃからの反射光９の偏
光面を、入射光８の直線偏光に対して、適当な角度、例
えば９０”回転せしめることができる。

複屈折性結晶４において、被測定光ファイバ部品に入射
する光８は、常光線であり、反射光９は異常光線になる
ように、方解石結晶４の光学軸４ａを設定すれば、入射
端７ｂからの光と被測定反射端７ｃからの光とは、完全
に分離され、被測定反射端７ｃからの光のみを光出力メ
ータで測定することができる。即ち、例えば、光学磁気
をＸ線分析で求め、それに対して、入射面を研摩して行
くと言う方法で設定することができる。

光ファイバの被測定端７ｃの反射特性は、測定の基準と
して光ファイバの被測定端に全反射ミラーを施したもの
との比較値で表わされる。

本発明の測定原理によれば、入射端７ｂの反射を完全に
取り除くことができ、６０ｄＢ以下の微小反射光量を測
定することができる測定装置を提供できた。

本発明による光ファイバ部品からの反射光量測定法は、
屈折率の測定等にも適用できるものである。

以下、実施例により本発明を更に説明するが、本発明は
それにより限定されるものではない。

［実施例〕 第１図は、本発明の光ファイバの反射光量の測定法を示
す代表的な装置の主要部分を示す模式図である。

本発明の装置は、半導体レーザ光源１、偏光波保持ファ
イバ２、コリメータ３、複屈折性結晶による方向性結合
器４を備え、その方解石結晶４の光学軸を４ａとし、入
射光モニター用ハーフミラ−５を備え、被測定光ファイ
バ部品７を精密に設定するための■溝６を、被測定光フ
ァイバの入力端（出力端）に備え、ファイバのループ屈
曲部７ａは、前記のように、ファイバ型波長板と同等の
作用をさせる部分であり、７ｃは被測定反射端であり、
測定用ビーム８は、光源１からビームスプリッタ−１０
、方解石結晶４、ハーフミラ−５を通り、ファイバ部品
７に入射し、ファイバ部品７の他端７ｃで反射され、反
射戻り光ビーム９となり、戻る。

光源を例えば、レーザ光源１°による別波長光源に切り
替えて測定するためのビームスプリッタ１０を備え、測
定すべき反射戻り光９は、方解石結晶４の中で複屈折さ
れ、方解石結晶４の端面に備えるプリズム１１に入射し
、コリメータ３、搬送光ファイバ１３、光コネクタ１４
を通り、光出力メータ１２に入り、その光量が測定され
る。

半導体レーザ１から出射したレーザ光８は、偏光波保持
ファイバ２で導かれ、コリメータ３により、コリメート
（平行光線に）されて、方向性結合器４　（方解石結晶
）に入射する。このとき偏光波面の調整を行ない、方解
石結晶にとって常光線となるように調整する。

方解石結晶４から出射した光８は、ハーフミラ−５で測
定光の一部を分岐して、コリメータ３を通して、ファイ
バ１３に入射して、出力メータ１２°で監視する。

ハーフミラ−５を透過した光８は、コリメータ３により
集光されて、被測定ファイバ部品７に入射する。この際
、精密位置決めＶ溝６は、再現性良く、被測定光ファイ
バ部品７を定位置に設定するために設けられる。

ループ屈曲部７ａは、１／４波長板の特性になるように
光ファイバのループ数とループ径を決定しである。従っ
て、入射した光８は、被測定反射端７ｃとの間を、往復
する間に、光ファイバ型波長板７ａ（ループ屈曲部）を
、２度通過する。そのために、合計で１／２波長板と同
等の効果が生じる。

ファイバ７をループにしたときのループ面を回転させる
ことにより、入射光の偏光方向と波長板の主軸を調整す
ることができ、入射光に対して偏光面を例えば９０°回
転した直線偏光を容易に得ることができる。

ファイバの終端の反射端７ｃからの反射戻り光は、方向
性結合器４（方解石結晶）に再度入射して、異常光線と
しての光路を通過して、コリメータ３により、集光され
、搬送ファイバ１３を介して出力メータ１２に入射する
。

被測定端７ｃの反射特性は、測定の基準として、光ファ
イバ部品の被測定端の全反射ミラーを蒸着したものと、
比較して、表わされる。

以上のような構成の光ファイバの反射戻り光の光量の測
定法により、反射戻り光だけを十分に選択的に測定する
ことができ、測定限界を著しく向上させたものである。

［発明の効果コ 本発明による光ファイバ部品反射光量の測定法により、
以下のような種々の顕著な技術的効果が得られた。

第１に、光ファイバの入射端での反射光を完全に、測定
入射から取り除くことができ、被測定反射戻り光のみを
選択的に分離することが容易にできる測定法及びそのた
めの装置を提供する。

第２に、従来の測定方法では、４０ｄＢ程度の反射戻り
光までしか測定できなかったのに対して、本発明の測定
法によれば、６０ｄＢ以下の微小な反射光量まで測定で
き、測定限界を著しく向上させたものである。

第３に、更に、光ファイバ部品の特性を改善に寄与でき
る測定方法とそのための装置が提供される。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の光ファイバの反射光量の測定法に用
いる装置の概略図である。 第２図は、本発明による光ファイバの反射光量の測定法
の原理を説明するための構成図である。 第３図は、従来の光ファイバ部品反射光量の測定法の概
略図である。 ［主要部分の符号の説明コ １　、、、、、、、、光源 ３　、、、、、、、、コリメータ ４　、、、、、、、、方向性結合器（方解石結晶）４　
ａ、、、、、、方解石結晶の光学軸７　、、、、、、、
、被測定光ファイバ７　ａ、、、、、、光ファイバ型波
長板の機能を持つ部分（屈曲部） ７　ｂ　、、、、、、、、被測定光入射端７　ｃ　、、
、、、、、、被測定反射端８　、、、、、、、、測定用
光ビーム ９　、、、、、、、、反射戻り光ビーム１０　、、、、
、、、、ビームスプリッタ−１２、、、、、、、、光出
力メータ １４　、、、、、、、、光コネクタ 第１図 特許出願人　　住友セメント株式会社（外１名）代理人
　　弁理士　倉　持　　裕 ｌθ−一一ど−ムスアリツタ ｆ４・・−光コネクタ １２−一　大３ピｎメータ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、測定用光源からの光を方向性結合器に、導き、その
   出力を被測定ファイバに入射し、光ファイバの遠隔端で
   反射され戻る反射光を、前記方向性結合器で、分離抽出
   して、光ファイバ部品の反射光量を測定する測定法にお
   いて、前記方向性結合器として、複屈折性結晶を用いて
   、偏光分離機能を持たせ、更に、 前記被測定光ファイバの一部をループ状等に変形させ、
   その変形により該ファイバ中に生じた応力が該光ファイ
   バ自体に、複屈折を起こさせ、光ファイバ型波長板を構
   成せしめ、それにより、前記反射光の偏光角度を調整し
   、前記被測定光ファイバ部品からの反射光を、被測定光
   ファイバ部品の入射端の反射光に対して、十分に選択的
   に分離して測定することを特徴とする前記光ファイバ部
   品の反射光量の測定法。 ２、請求項１に記載の光ファイバ部品の反射光量の測定
   法を行なうため、複屈折性結晶を前記方向性結合器とし
   て用い、被測定の光ファイバの一部を変形せしめ、光フ
   ァイバ型波長板を構成せしめたことを特徴とする光ファ
   イバ部品の反射光量の測定装置。