JP3000030B2 - 光ファイバ部品の反射量の測定法及びそのための装置 - Google Patents
光ファイバ部品の反射量の測定法及びそのための装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、光ファイバ部品を通過して、遠隔端で反射
された反射光量を精密に且つ改良できた測定限界でもっ
て測定する測定法及びそのための装置に関する。
された反射光量を精密に且つ改良できた測定限界でもっ
て測定する測定法及びそのための装置に関する。
［従来の技術及び発明が解決しようとする問題点］ 光ファイバ部品を通過して、遠隔の端面で、反射され
た反射光量を精密に測定することは、光ファイバ通信、
光計測、光デイスクメモリ等に用いられている光ファイ
バを用いるときに、応用技術として、必要なものであ
る。
た反射光量を精密に測定することは、光ファイバ通信、
光計測、光デイスクメモリ等に用いられている光ファイ
バを用いるときに、応用技術として、必要なものであ
る。
第３図は、光ファイバ部品の反射量の測定のための従
来の装置を示すものである。（JISハンドブック［光
学］日本規格協会編集、森五郎発行人）。これは、コネ
クター、アイソレイタ、スウィッチ等を備えた光ファイ
バ部品に、レーザ光が入射したときの、その光ファイバ
部品の特性、即ち、反射光の有無等の検査、を測定する
ためのものである。
来の装置を示すものである。（JISハンドブック［光
学］日本規格協会編集、森五郎発行人）。これは、コネ
クター、アイソレイタ、スウィッチ等を備えた光ファイ
バ部品に、レーザ光が入射したときの、その光ファイバ
部品の特性、即ち、反射光の有無等の検査、を測定する
ためのものである。
図において、１は測定用光源で、４′は光方向性結合
器で、２は被測定光ファイバで、７は被測定光ファイバ
部品で、12は光出力メータである。光源１から導入され
た測定光は、方向性結合器４′、測定用光ファイバ２を
通り、被測定光ファイバ部品７に入射され、その被測定
端7cで反射される。この反射光は、その位相を反転し、
その反射により、その偏光角度が回転するので、方向性
結合器４′のハーフミラー面で反射され、光出力メータ
12に導かれ、その光量を測定することができる。
器で、２は被測定光ファイバで、７は被測定光ファイバ
部品で、12は光出力メータである。光源１から導入され
た測定光は、方向性結合器４′、測定用光ファイバ２を
通り、被測定光ファイバ部品７に入射され、その被測定
端7cで反射される。この反射光は、その位相を反転し、
その反射により、その偏光角度が回転するので、方向性
結合器４′のハーフミラー面で反射され、光出力メータ
12に導かれ、その光量を測定することができる。
この被測定端の反射特性は、測定の基準として、光フ
ァイバ部品の被測定端に全反射ミラーを施したものとの
比較で表わされる。一般に、方向性結合器４′は光ファ
イバカプラが用いられている。しかし、この従来方法で
は、被測定光ファイバ部品の入射端7bでの反射が測定限
界を与えてしまうため、被測定反射端7cからの反射が入
射端7bでの反射量より小さいときは、測定不可能であっ
た。即ち最も反射量の少ない光ファイバコネクタを使用
したときにおいても、40db程度が測定限界になってい
た。
ァイバ部品の被測定端に全反射ミラーを施したものとの
比較で表わされる。一般に、方向性結合器４′は光ファ
イバカプラが用いられている。しかし、この従来方法で
は、被測定光ファイバ部品の入射端7bでの反射が測定限
界を与えてしまうため、被測定反射端7cからの反射が入
射端7bでの反射量より小さいときは、測定不可能であっ
た。即ち最も反射量の少ない光ファイバコネクタを使用
したときにおいても、40db程度が測定限界になってい
た。
即ち、従来の技術では、被測定光ファイバ部品の入射
端7bでの反射光が測定限界を与えてしまうために、被測
定反射端7cからの反射が入射端7bの反射量より小さいと
きには、測定不可能であった。
端7bでの反射光が測定限界を与えてしまうために、被測
定反射端7cからの反射が入射端7bの反射量より小さいと
きには、測定不可能であった。
従って、本発明は、以上のような問題を解決しるため
に、複屈折性結晶の偏光特性とファイバの偏光特性を併
用することにより、精密で、改良された測定限界の光フ
ァイバ部品の反射光量の測定方法を提供することを目的
とする。
に、複屈折性結晶の偏光特性とファイバの偏光特性を併
用することにより、精密で、改良された測定限界の光フ
ァイバ部品の反射光量の測定方法を提供することを目的
とする。
［問題点を解決するための手段］ 本発明は、上記の技術的な課題の解決のために、測定
用光源からの光を方向性結合器に、導き、その出力を被
測定ファイバに入射し、光ファイバの遠隔端で反射され
戻る反射光を、前記方向性結合器で、分離抽出して、光
ファイバの反射光量を測定する測定法において、前記方
向性結合器として、複屈折性結晶を用いて、偏光分離機
能を持たせ、更に、前記被測定ファイバの一部をループ
状等に変形させ、それにより該ファイバ中に生じた応力
が該光ファイバ自体に、複屈折を起こさせ、光ファイバ
型波長板を構成せしめ、それにより、前記反射光の偏光
角度を調整し、前記被測定光ファイバからの反射光を、
入射端7bの反射光に対して、選択的に分離して測定する
ことを特徴とする前記光ファイバの反射光量の測定法を
提供する。またその光ファイバの反射光量の測定法を行
なうため、複屈折性結晶を前記方向性結合器として用い
ることを特徴とする光ファイバの反射光量の測定装置を
提供する。
用光源からの光を方向性結合器に、導き、その出力を被
測定ファイバに入射し、光ファイバの遠隔端で反射され
戻る反射光を、前記方向性結合器で、分離抽出して、光
ファイバの反射光量を測定する測定法において、前記方
向性結合器として、複屈折性結晶を用いて、偏光分離機
能を持たせ、更に、前記被測定ファイバの一部をループ
状等に変形させ、それにより該ファイバ中に生じた応力
が該光ファイバ自体に、複屈折を起こさせ、光ファイバ
型波長板を構成せしめ、それにより、前記反射光の偏光
角度を調整し、前記被測定光ファイバからの反射光を、
入射端7bの反射光に対して、選択的に分離して測定する
ことを特徴とする前記光ファイバの反射光量の測定法を
提供する。またその光ファイバの反射光量の測定法を行
なうため、複屈折性結晶を前記方向性結合器として用い
ることを特徴とする光ファイバの反射光量の測定装置を
提供する。
第２図は、本発明における光ファイバの反射量を測定
する際の原理を説明するための図である。１は測定用光
源であり、４は複屈折性結晶で、７は被測定光ファイバ
部品で、３はコリメータで、12は光出力メータである。
7aは被測定光ファイバ部品のファイバ部品を自ら用い、
ファイバ自体に一定の応力を持たせるような治具に取付
けることにより構成できるファイバ型波長板である。
する際の原理を説明するための図である。１は測定用光
源であり、４は複屈折性結晶で、７は被測定光ファイバ
部品で、３はコリメータで、12は光出力メータである。
7aは被測定光ファイバ部品のファイバ部品を自ら用い、
ファイバ自体に一定の応力を持たせるような治具に取付
けることにより構成できるファイバ型波長板である。
即ち、ファイバ７自体をループ状などの形状にするこ
とにより、ファイバ内に応力をかけることにより、その
中を進行するレーザ光ビームの偏光面を回転せしめる。
とにより、ファイバ内に応力をかけることにより、その
中を進行するレーザ光ビームの偏光面を回転せしめる。
複屈折性結晶４は、被測定光ファイバ部品に入射する
偏光の消光比を大きくする目的と、被測定反射端7cから
の反射光の分離を行なう目的の２つの目的を有する方向
性結合器として、使用するためのものである。ファイバ
型波長板7aは、被測定反射端7cからの反射光９の偏光面
を、入射光８の直線偏光に対して、適当な角度、例えば
90゜回転せしめることができる。
偏光の消光比を大きくする目的と、被測定反射端7cから
の反射光の分離を行なう目的の２つの目的を有する方向
性結合器として、使用するためのものである。ファイバ
型波長板7aは、被測定反射端7cからの反射光９の偏光面
を、入射光８の直線偏光に対して、適当な角度、例えば
90゜回転せしめることができる。
複屈折性結晶４において、被測定光ファイバ部品に入
射する光８は、常光線であり、反射光９は異常光線にな
るように、方解石結晶４の光学軸4aを設定すれば、入射
端7bからの光と被測定反射端7cからの光とは、完全に分
離され、被測定反射端7cからの光のみを光出力メータで
測定することができる。即ち、例えば、光学磁気をＸ線
分析で求め、それに対して、入射面を研摩して行くと言
う方法で設定することができる。
射する光８は、常光線であり、反射光９は異常光線にな
るように、方解石結晶４の光学軸4aを設定すれば、入射
端7bからの光と被測定反射端7cからの光とは、完全に分
離され、被測定反射端7cからの光のみを光出力メータで
測定することができる。即ち、例えば、光学磁気をＸ線
分析で求め、それに対して、入射面を研摩して行くと言
う方法で設定することができる。
光ファイバの被測定端7cの反射特性は、測定の基準と
して光ファイバの被測定端に全反射ミラーを施したもの
との比較値で表わされる。
して光ファイバの被測定端に全反射ミラーを施したもの
との比較値で表わされる。
本発明の測定原理によれば、入射端7bの反射を完全に
取り除くことができ、60dB以下の微小反射光量を測定す
ることができる測定装置を提供できた。
取り除くことができ、60dB以下の微小反射光量を測定す
ることができる測定装置を提供できた。
本発明による光ファイバ部品からの反射光量測定法
は、屈折率の測定等にも適用できるものである。
は、屈折率の測定等にも適用できるものである。
以下、実施例により本発明を更に説明するが、本発明
はそれにより限定されるものではない。
はそれにより限定されるものではない。
［実施例］ 第１図は、本発明の光ファイバの反射光量の測定法を
示す代表的な装置の主要部分を示す模式図である。
示す代表的な装置の主要部分を示す模式図である。
本発明の装置は、半導体レーザ光源１、偏光波保持フ
ァイバ２、コリメータ３、複屈折性結晶による方向性結
合器４を備え、その方解石結晶４の光学軸を4aとし、入
射光モニター用ハーフミラー５を備え、被測定光ファイ
バ部品７を精密に設定するためのＶ溝６を、被測定光フ
ァイバの入力端（出力端）に備え、ファイバのループ屈
曲部7aは、前記のように、ファイバ型波長板と同等の作
用をさせる部分であり、7cは被測定反射端であり、測定
用ビーム８は、光源１からビームスプリッター10、方解
石結晶４、ハーフミラー５を通り、ファイバ部品７に入
射し、ファイバ部品７の他端7cで反射され、反射戻り光
ビーム９となり、戻る。
ァイバ２、コリメータ３、複屈折性結晶による方向性結
合器４を備え、その方解石結晶４の光学軸を4aとし、入
射光モニター用ハーフミラー５を備え、被測定光ファイ
バ部品７を精密に設定するためのＶ溝６を、被測定光フ
ァイバの入力端（出力端）に備え、ファイバのループ屈
曲部7aは、前記のように、ファイバ型波長板と同等の作
用をさせる部分であり、7cは被測定反射端であり、測定
用ビーム８は、光源１からビームスプリッター10、方解
石結晶４、ハーフミラー５を通り、ファイバ部品７に入
射し、ファイバ部品７の他端7cで反射され、反射戻り光
ビーム９となり、戻る。
光源を例えば、レーザ光源１′による別波長光源に切
り替えて測定するためのビームスプリッター10を備え、
測定すべき反射戻り光９は、方解石結晶４の中で複屈折
され、方解石結晶４の端面に備えるプリズム11に入射
し、コリメータ３、搬送光ファイバ13、光コネクタ14を
通り、光出力メータ12に入り、その光量が測定される。
り替えて測定するためのビームスプリッター10を備え、
測定すべき反射戻り光９は、方解石結晶４の中で複屈折
され、方解石結晶４の端面に備えるプリズム11に入射
し、コリメータ３、搬送光ファイバ13、光コネクタ14を
通り、光出力メータ12に入り、その光量が測定される。
半導体レーザ１から出射したレーザ光８は、偏光波保
持ファイバ２で導かれ、コリメータ３により、コリメー
ト（平行光線に）されて、方向性結合器４（方解石結
晶）に入射する。このとき偏光波面の調整を行ない、方
解石結晶にとって常光線となるように調整する。
持ファイバ２で導かれ、コリメータ３により、コリメー
ト（平行光線に）されて、方向性結合器４（方解石結
晶）に入射する。このとき偏光波面の調整を行ない、方
解石結晶にとって常光線となるように調整する。
方解石結晶４から出射した光８は、ハーフミラー５で
測定光の一部を分岐して、コリメータ３を通して、ファ
イバ13に入射して、出力メータ12′で監視する。
測定光の一部を分岐して、コリメータ３を通して、ファ
イバ13に入射して、出力メータ12′で監視する。
ハーフミラー５を透過した光８は、コリメータ３によ
り集光されて、被測定ファイバ部品７に入射する。この
際、精密位置決めＶ溝６は、再現性良く、被測定光ファ
イバ部品７を定位置に設定するために設けられる。
り集光されて、被測定ファイバ部品７に入射する。この
際、精密位置決めＶ溝６は、再現性良く、被測定光ファ
イバ部品７を定位置に設定するために設けられる。
ループ屈曲部7aは、1/4波長板の特性になるように光
ファイバのループ数とループ径を決定してある。従っ
て、入射した光８は、被測定反射端7cとの間を、往復す
る間に、光ファイバ型波長板7a（ループ屈曲部）を、２
度通過する。そのために、合計で1/2波長板と同等の効
果が生じる。
ファイバのループ数とループ径を決定してある。従っ
て、入射した光８は、被測定反射端7cとの間を、往復す
る間に、光ファイバ型波長板7a（ループ屈曲部）を、２
度通過する。そのために、合計で1/2波長板と同等の効
果が生じる。
ファイバ７をループにしたときのループ面を回転させ
ることにより、入射光の偏光方向と波長板の主軸を調整
することができ、入射光に対して偏光面を例えば90゜回
転した直線偏光を容易に得ることができる。
ることにより、入射光の偏光方向と波長板の主軸を調整
することができ、入射光に対して偏光面を例えば90゜回
転した直線偏光を容易に得ることができる。
ファイバの終端の反射端7cからの反射戻り光は、方向
性結合器４（方解石結晶）に再度入射して、異常光線と
しての光路を通過して、コリメータ３により、集光さ
れ、搬送ファイバ13を介して出力メータ12に入射する。
性結合器４（方解石結晶）に再度入射して、異常光線と
しての光路を通過して、コリメータ３により、集光さ
れ、搬送ファイバ13を介して出力メータ12に入射する。
被測定端7cの反射特性は、測定の基準として、光ファ
イバ部品の被測定端の全反射ミラーを蒸着したものと、
比較して、表わされる。
イバ部品の被測定端の全反射ミラーを蒸着したものと、
比較して、表わされる。
以上のような構成の光ファイバの反射戻り光の光量の
測定法により、反射戻り光だけを十分に選択的に測定す
ることができ、測定限界を著しく向上させたものであ
る。
測定法により、反射戻り光だけを十分に選択的に測定す
ることができ、測定限界を著しく向上させたものであ
る。
［発明の効果］ 本発明による光ファイバ部品反射光量の測定法によ
り、以下のような種々の顕著な技術的効果が得られた。
り、以下のような種々の顕著な技術的効果が得られた。
第１に、光ファイバの入射端での反射光を完全に、測
定入射から取り除くことができ、被測定反射戻り光のみ
を選択的に分離することが容易にできる測定法及びその
ための装置を提供する。
定入射から取り除くことができ、被測定反射戻り光のみ
を選択的に分離することが容易にできる測定法及びその
ための装置を提供する。
第２に、従来の測定方法では、40dB程度の反射戻り光
までしか測定できなかったのに対して、本発明の測定法
によれば、60dB以下の微小な反射光量まで測定でき、測
定限界を著しく向上させたものである。
までしか測定できなかったのに対して、本発明の測定法
によれば、60dB以下の微小な反射光量まで測定でき、測
定限界を著しく向上させたものである。
第３に、更に、光ファイバ部品の特性を改善に寄与で
きる測定方法とそのための装置が提供される。
きる測定方法とそのための装置が提供される。
第１図は、本発明の光ファイバの反射光量の測定法に用
いる装置の概略図である。 第２図は、本発明による光ファイバの反射光量の測定法
の原理を説明するための構成図である。 第３図は、従来の光ファイバ部品反射光量の測定法の概
略図である。 ［主要部分の符号の説明］ １……光源 ３……コリメータ ４……方向性結合器（方解石結晶） 4a……方解石結晶の光学軸 ７……被測定光ファイバ 7a……光ファイバ型波長板の機能を持つ部分（屈曲部） 7b……被測定光入射端 7c……被測定反射端 ８……測定用光ビーム ９……反射戻り光ビーム 10……ビームスプリッター 12……光出力メータ 14……光コネクタ
いる装置の概略図である。 第２図は、本発明による光ファイバの反射光量の測定法
の原理を説明するための構成図である。 第３図は、従来の光ファイバ部品反射光量の測定法の概
略図である。 ［主要部分の符号の説明］ １……光源 ３……コリメータ ４……方向性結合器（方解石結晶） 4a……方解石結晶の光学軸 ７……被測定光ファイバ 7a……光ファイバ型波長板の機能を持つ部分（屈曲部） 7b……被測定光入射端 7c……被測定反射端 ８……測定用光ビーム ９……反射戻り光ビーム 10……ビームスプリッター 12……光出力メータ 14……光コネクタ
Claims (2)
- 【請求項１】測定用光源からの光を方向性結合器に、導
き、その出力を被測定ファイバに入射し、光ファイバの
遠隔端で反射され戻る反射光を、前記方向性結合器で、
分離抽出して、光ファイバ部品の反射光量を測定する測
定法において、 前記方向性結合器として、複屈折性結晶を用いて、偏光
分離機能を持たせ、更に、 前記被測定光ファイバの一部をループ状等に変形させ、
その変形により該ファイバ中に生じた応力が該光ファイ
バ自体に、複屈折を起こさせ、光ファイバ型波長板を構
成せしめ、それにより、前記反射光の偏光角度を調整
し、前記被測定光ファイバ部品からの反射光を、被測定
光ファイバ部品の入射端の反射光に対して、十分に選択
的に分離して測定することを特徴とする前記光ファイバ
部品の反射光量の測定法。 - 【請求項２】請求項１に記載の光ファイバ部品の反射光
量の測定法を行なうため、複屈折性結晶を前記方向性結
合器として用い、被測定の光ファイバの一部を変形せし
め、光ファイバ型波長板を構成せしめたことを特徴とす
る光ファイバ部品の反射光量の測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18268490A JP3000030B2 (ja) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | 光ファイバ部品の反射量の測定法及びそのための装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18268490A JP3000030B2 (ja) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | 光ファイバ部品の反射量の測定法及びそのための装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0470537A JPH0470537A (ja) | 1992-03-05 |
| JP3000030B2 true JP3000030B2 (ja) | 2000-01-17 |
Family
ID=16122630
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18268490A Expired - Fee Related JP3000030B2 (ja) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | 光ファイバ部品の反射量の測定法及びそのための装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3000030B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108955857B (zh) * | 2018-06-29 | 2024-03-26 | 余姚舜宇智能光学技术有限公司 | 一种基于光纤的外差干涉光路结构和激光测振仪 |
-
1990
- 1990-07-12 JP JP18268490A patent/JP3000030B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0470537A (ja) | 1992-03-05 |
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