JPS6332339A - 光フアイバ分散測定装置 - Google Patents
光フアイバ分散測定装置Info
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- JPS6332339A JPS6332339A JP17390286A JP17390286A JPS6332339A JP S6332339 A JPS6332339 A JP S6332339A JP 17390286 A JP17390286 A JP 17390286A JP 17390286 A JP17390286 A JP 17390286A JP S6332339 A JPS6332339 A JP S6332339A
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 title claims abstract description 57
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 title claims abstract description 36
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 87
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims abstract description 27
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 18
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 18
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 24
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 abstract description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 3
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/336—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face by measuring polarization mode dispersion [PMD]
-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、偏波保持ファイバの両偏彼の遅延時間差およ
び分散を高精度に測定する分散測定装置に関するもので
ある。
び分散を高精度に測定する分散測定装置に関するもので
ある。
［従来の技術］
従来の分散測定装置は、無偏光の光を光源として用いて
いたために、偏波保持ファイバの各偏波の遅延時間差や
分散を測定することはてぎないという欠点があった。
いたために、偏波保持ファイバの各偏波の遅延時間差や
分散を測定することはてぎないという欠点があった。
［発明が解決しようとする問題点］
そこで、本発明の目的は、従来のかかる欠点を解決して
、偏波保持ファイバの両偏波の遅延時間差および分散を
高精度に測定することのできる分散測定装置を提供する
ことにある。
、偏波保持ファイバの両偏波の遅延時間差および分散を
高精度に測定することのできる分散測定装置を提供する
ことにある。
［問題点を解決するための手段１
このような目的を達成するために、本発明の第１の形態
は、光源と、光源からの光を分岐して第１および第２の
光を得る光分岐手段と、光分岐手段からの第１および第
２の光がそれぞれ導かれる第１および第２の光路および
第１および第２の光路からの光を光結合する光結合手段
とを有し、第１および第２光路のうちの少なくとも一方
の光路長を可変となし、第２光路中に被測定偏波保持光
ファイバを挿入可能となし、第２光路に光ファイバを挿
入したときに光結合手段から、第１および第２光路の出
力光の光干渉出力が得られるようになした光干渉計とを
有し、光干渉計より得られる干渉縞が最も鮮明になるよ
うに、第１および第２光路間の光路長を相対的に調整し
、その可変光路長の移動量から、光ファイバの分散を測
定する先ファイバ分散測定装置においで、光源と光分岐
手段との間に配置した第１の偏光子と、光ファイバの入
射側および出射側の各端部を、それぞれ、光の伝搬軸線
を中心として回転可能に支持する光ファイバ支持手段と
、光ファイバの出射側端部と光結合手段との間に配置し
た第２の偏光子とを具えたことを特徴とする。
は、光源と、光源からの光を分岐して第１および第２の
光を得る光分岐手段と、光分岐手段からの第１および第
２の光がそれぞれ導かれる第１および第２の光路および
第１および第２の光路からの光を光結合する光結合手段
とを有し、第１および第２光路のうちの少なくとも一方
の光路長を可変となし、第２光路中に被測定偏波保持光
ファイバを挿入可能となし、第２光路に光ファイバを挿
入したときに光結合手段から、第１および第２光路の出
力光の光干渉出力が得られるようになした光干渉計とを
有し、光干渉計より得られる干渉縞が最も鮮明になるよ
うに、第１および第２光路間の光路長を相対的に調整し
、その可変光路長の移動量から、光ファイバの分散を測
定する先ファイバ分散測定装置においで、光源と光分岐
手段との間に配置した第１の偏光子と、光ファイバの入
射側および出射側の各端部を、それぞれ、光の伝搬軸線
を中心として回転可能に支持する光ファイバ支持手段と
、光ファイバの出射側端部と光結合手段との間に配置し
た第２の偏光子とを具えたことを特徴とする。
本発明の第２の形、態は、光源と、光源からの光を分岐
して第１および第２の光を得る光分岐手段と、光分岐手
段からの第１および第２の光がそれぞれ導かれる第１お
よび第２の光路および第１および第２の光路からの光を
光結合する光結合手段とを有し、第１および第２光路の
うちの少なくとも一方の光路長を可変となし、第２光路
中に被測定偏波保持光ファイバを挿入可能となし、第２
光路に光ファイバを挿入したときに光結合手段から、第
１および第２光路の出力光の光干渉出力が得られるよう
になした光干渉計とを有し、光干渉計より得られる干渉
縞が最も鮮明になるように、第１および第２光路間の光
路長を相対的に調整し、その可変光路長の穆動量から、
光ファイバの分散を測定する光ファイバ分散測定装置に
おいて、光源と光分岐手段との間に配置した第１の偏光
子と、光ファイバの入射側および出射側の各端部を、そ
れぞれ、光の伝搬軸線を中心として回転可能に支持する
光ファイバ支持手段と、光ファイバの出射側端部と光結
合手段との間に配置した第２の偏光子と、光ファイバの
入射側端部の端面の近傍において、第２光路中に挿入可
能に配置した反射鏡と、反射鏡により反射された光ファ
イバの端面の像を観察可能に配置した顕微鏡とを具えた
ことを特徴とする。
して第１および第２の光を得る光分岐手段と、光分岐手
段からの第１および第２の光がそれぞれ導かれる第１お
よび第２の光路および第１および第２の光路からの光を
光結合する光結合手段とを有し、第１および第２光路の
うちの少なくとも一方の光路長を可変となし、第２光路
中に被測定偏波保持光ファイバを挿入可能となし、第２
光路に光ファイバを挿入したときに光結合手段から、第
１および第２光路の出力光の光干渉出力が得られるよう
になした光干渉計とを有し、光干渉計より得られる干渉
縞が最も鮮明になるように、第１および第２光路間の光
路長を相対的に調整し、その可変光路長の穆動量から、
光ファイバの分散を測定する光ファイバ分散測定装置に
おいて、光源と光分岐手段との間に配置した第１の偏光
子と、光ファイバの入射側および出射側の各端部を、そ
れぞれ、光の伝搬軸線を中心として回転可能に支持する
光ファイバ支持手段と、光ファイバの出射側端部と光結
合手段との間に配置した第２の偏光子と、光ファイバの
入射側端部の端面の近傍において、第２光路中に挿入可
能に配置した反射鏡と、反射鏡により反射された光ファ
イバの端面の像を観察可能に配置した顕微鏡とを具えた
ことを特徴とする。
［作用］
本発明では、無偏光の光を直線偏光に変換する偏光子と
、偏波保持ファイバの複屈折主軸を直線偏光の光の方向
に対して平行あるいは垂直に定めるための回転機構付支
持治具を設けたので、偏波保持ファイバの偏波分散およ
び各偏波の分散を高精度に測定することができる。
、偏波保持ファイバの複屈折主軸を直線偏光の光の方向
に対して平行あるいは垂直に定めるための回転機構付支
持治具を設けたので、偏波保持ファイバの偏波分散およ
び各偏波の分散を高精度に測定することができる。
［実施例］
以下、図面を参照して、本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明の一実施例を示し、ここで、１は光（原
、たとえばハロゲンランプ、２ａ〜２ｃはコリメートレ
ンズ、３は光波長フィルタ、４ａおよび４ｂは偏光子、
５ａおよび５ｂはハーフミラ−２６ａ〜６ｇはミラー、
７ａおよび７ｂは回転機構付ファイバ支持治具、８は被
測定偏波保持光ファイバ、９はコーナキューブ、ｌＯは
ピンホール、１１はビジコン等の光検出器、１２はデー
タ処理端末、１３は必要に応じて挿入する遮光板である
。
、たとえばハロゲンランプ、２ａ〜２ｃはコリメートレ
ンズ、３は光波長フィルタ、４ａおよび４ｂは偏光子、
５ａおよび５ｂはハーフミラ−２６ａ〜６ｇはミラー、
７ａおよび７ｂは回転機構付ファイバ支持治具、８は被
測定偏波保持光ファイバ、９はコーナキューブ、ｌＯは
ピンホール、１１はビジコン等の光検出器、１２はデー
タ処理端末、１３は必要に応じて挿入する遮光板である
。
ここで、光源１からの光をコリメートレンズ２ａにより
平行光にしてから、測定波長に対応する通Ａｆ域をもつ
光波長フィルタ３を通して、入射側偏光子４ａにより直
線偏光を得る。
平行光にしてから、測定波長に対応する通Ａｆ域をもつ
光波長フィルタ３を通して、入射側偏光子４ａにより直
線偏光を得る。
この直線偏光を、光分岐手段としてのハーフミラ−５ａ
により分岐し、その一方、すなわち第１の光を遮光板１
３から複数のミラー６ａ〜６ｆにより構成した第１の光
路を経て、さらに、コーナキューブ９により光の進行方
向を変更して、光結合用ハーフミラ−５ｂに導く。
により分岐し、その一方、すなわち第１の光を遮光板１
３から複数のミラー６ａ〜６ｆにより構成した第１の光
路を経て、さらに、コーナキューブ９により光の進行方
向を変更して、光結合用ハーフミラ−５ｂに導く。
ハーフミラ−５ａにより分岐された他方の直線偏光、す
なわち第２の光をミラー６ｇおよびコリメートレンズ２
ｂを介して光ファイバ８に導く。
なわち第２の光をミラー６ｇおよびコリメートレンズ２
ｂを介して光ファイバ８に導く。
この光ファイバ８の入射側および出射側の各端部を、光
の伝搬軸を中心にして回転可能なファイバ支持治具７ａ
および７ｂにそれぞれ装着しておく。光ファイバ８の出
射光をコリメートレンズ２ｃおよび出射側の偏光子４ｂ
を経て光結合手段としてのハーフミラ−５ｂに導く。
の伝搬軸を中心にして回転可能なファイバ支持治具７ａ
および７ｂにそれぞれ装着しておく。光ファイバ８の出
射光をコリメートレンズ２ｃおよび出射側の偏光子４ｂ
を経て光結合手段としてのハーフミラ−５ｂに導く。
したがって、ハーフミラ−５ｂに導かれた第１の光路か
らの出力光、すなわちコーナキューブ９からの出力光と
、第２の光路からの出力光、すなわち偏光子４ｂからの
出力光とは互いに干渉し、その光干渉出力をピンホール
１０を通して、光検出器１１に入射させ、ここで干渉縞
を検出する。その検出結果をデータ処理端末１２へ導き
、ここで偏波保持光ファイバの各偏波の遅延時間および
分散を算出する。
らの出力光、すなわちコーナキューブ９からの出力光と
、第２の光路からの出力光、すなわち偏光子４ｂからの
出力光とは互いに干渉し、その光干渉出力をピンホール
１０を通して、光検出器１１に入射させ、ここで干渉縞
を検出する。その検出結果をデータ処理端末１２へ導き
、ここで偏波保持光ファイバの各偏波の遅延時間および
分散を算出する。
さらに、第２図に示すように、傾斜ミラー１４を、偏波
保持光ファイバ８の入射端近傍の第２光路に、挿入自在
に配置し、このミラー１４からの反射光を顕微鏡１５に
より観察可能とする。それにより、光ファイバ８のコア
１６および応力付与部１７の配列を、顕微鏡１５て観察
しなから、光ファイバ８を治具７ａにより光の伝ｉｌ軸
のまわりに回転させることができるようにする。なお、
第２図において、通常、応力付与部１７を結ぶ方向をＸ
軸、その方向と直交する方向をｙ軸と呼んでいる。
保持光ファイバ８の入射端近傍の第２光路に、挿入自在
に配置し、このミラー１４からの反射光を顕微鏡１５に
より観察可能とする。それにより、光ファイバ８のコア
１６および応力付与部１７の配列を、顕微鏡１５て観察
しなから、光ファイバ８を治具７ａにより光の伝ｉｌ軸
のまわりに回転させることができるようにする。なお、
第２図において、通常、応力付与部１７を結ぶ方向をＸ
軸、その方向と直交する方向をｙ軸と呼んでいる。
なお、本例では、光源として所定波長域の光を発生する
ハロゲンランプを用い、その光を光波長フィルタ３に通
して測定波長を定めるようにしており、したがって、各
測定波長毎にフィルタ３を交換する必要がある。そこで
、このようにする代わりに、光源１として、波長可変の
光源を用いて、光源１からの出力光自体の波長を測定波
長に調整することで、フィルタ３を除去することもでき
る。
ハロゲンランプを用い、その光を光波長フィルタ３に通
して測定波長を定めるようにしており、したがって、各
測定波長毎にフィルタ３を交換する必要がある。そこで
、このようにする代わりに、光源１として、波長可変の
光源を用いて、光源１からの出力光自体の波長を測定波
長に調整することで、フィルタ３を除去することもでき
る。
以上の構成の光ファイバ分散測定装置による偏波保持フ
ァイバの分散測定方法を以下に述べる。
ァイバの分散測定方法を以下に述べる。
１） まず、遮光板１３を第１の光路中に挿入して干渉
計の一方の光を遮断する。
計の一方の光を遮断する。
２） 偏波保持光ファイバ８（たとえば長さ１〜２ｍ）
をファイバ支持治具７ａおよび７ｂにセットする。
をファイバ支持治具７ａおよび７ｂにセットする。
３） 第１図において偏波保持光ファイバ８の入射端近
傍に、第２図に示すような傾斜ミラー１４を挿入し、顕
微鏡１５て偏波保持光ファイバ８の応力付与部１７の配
列を観察する。まず最初に、直Ａ！？ 偏光の方向（こ
こでは、第１図の紙面に垂直な方向に光は偏光している
とする）に光ファイバ８の入射側端部のＸ軸が合うよう
に、ファイバ支持治具７ａを回転して、光ファイバ８を
その先軸のまわりに回転させる。
傍に、第２図に示すような傾斜ミラー１４を挿入し、顕
微鏡１５て偏波保持光ファイバ８の応力付与部１７の配
列を観察する。まず最初に、直Ａ！？ 偏光の方向（こ
こでは、第１図の紙面に垂直な方向に光は偏光している
とする）に光ファイバ８の入射側端部のＸ軸が合うよう
に、ファイバ支持治具７ａを回転して、光ファイバ８を
その先軸のまわりに回転させる。
４） 次に、傾斜ミラー１４を光路から抜き、この状態
において、出射側のファイバ支持治具７ｂを回転させて
、光ファイバ８の出射側端部をその先軸のまわりに回転
させることにより、紙面に垂直な直線偏光を通過させる
ように配置されている出射側の偏光子４ｂを通過する光
が最大となるようにする。
において、出射側のファイバ支持治具７ｂを回転させて
、光ファイバ８の出射側端部をその先軸のまわりに回転
させることにより、紙面に垂直な直線偏光を通過させる
ように配置されている出射側の偏光子４ｂを通過する光
が最大となるようにする。
５） 遮光板１３を光路から抜き、この状態で、ビジコ
ン等の光検出器ｌｌ上での干渉縞の鮮明度が最大になる
ようにコーナキューブ９を穆動させて、その穆勅量から
特定の波長の光に対するＸ偏波の遅延時間が測定される
。
ン等の光検出器ｌｌ上での干渉縞の鮮明度が最大になる
ようにコーナキューブ９を穆動させて、その穆勅量から
特定の波長の光に対するＸ偏波の遅延時間が測定される
。
このような干渉縞の鮮明度を利用して分散を測定する方
法についてはＮ、 ５ｈｉｂａｔａ等による”Ｐｏ１ａ
ｒｉｚａｔｉｏｎ ｍｏｄｅ ｄｉｓｐｅｒｓｉｏ
ｎ ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｉｎ ｅｌｌｉｐｔｉ
ｃａｌ ｃｏｒｅ ｓｉｎｇｌｅ−ｍｏｄｅ ｆ
ｉｂｅｒｓｂｙ ａ ５ｐａｔｉａｌ ｔｅｃｈ
ｎｉｑｕｅ”、 ＴＥＥＥ Ｊｏｕｒ、 ｏｆＱｕａ
ｎｔｕｍ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ、、 ｖｏｌ、 ＱＥ−
１８，ｎｏ、１． ｐｐ、５３−５８（Ｊａｎ、 １９
８２）に詳しく述べられている。その測定原理の概略は
、以下の通りである。
法についてはＮ、 ５ｈｉｂａｔａ等による”Ｐｏ１ａ
ｒｉｚａｔｉｏｎ ｍｏｄｅ ｄｉｓｐｅｒｓｉｏ
ｎ ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｉｎ ｅｌｌｉｐｔｉ
ｃａｌ ｃｏｒｅ ｓｉｎｇｌｅ−ｍｏｄｅ ｆ
ｉｂｅｒｓｂｙ ａ ５ｐａｔｉａｌ ｔｅｃｈ
ｎｉｑｕｅ”、 ＴＥＥＥ Ｊｏｕｒ、 ｏｆＱｕａ
ｎｔｕｍ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ、、 ｖｏｌ、 ＱＥ−
１８，ｎｏ、１． ｐｐ、５３−５８（Ｊａｎ、 １９
８２）に詳しく述べられている。その測定原理の概略は
、以下の通りである。
まず、光ファイバ８が干渉計に挿入されていない状態で
、干渉計の２つの光路長が等しくなるように調整してお
診、次に光ファイバ８を挿入する。この光ファイバの遅
延時間（単位長当り）をτ、光ファイバの長さをＬとす
ると、光ファイバの挿入による遅延時間τＬが生ずるた
めに、τＬに応じて鮮明度が劣化する。そこで、コーナ
キューブ９側の光路長をＣτしたけ長くすれば、鮮明度
は再び最大となる。すなわち、光路長の変化をｌとする
と、 Ｌ により、遅延時間でか求められる。
、干渉計の２つの光路長が等しくなるように調整してお
診、次に光ファイバ８を挿入する。この光ファイバの遅
延時間（単位長当り）をτ、光ファイバの長さをＬとす
ると、光ファイバの挿入による遅延時間τＬが生ずるた
めに、τＬに応じて鮮明度が劣化する。そこで、コーナ
キューブ９側の光路長をＣτしたけ長くすれば、鮮明度
は再び最大となる。すなわち、光路長の変化をｌとする
と、 Ｌ により、遅延時間でか求められる。
６）次に、入射側および出射側のファイバ支持冶具７ａ
および７ｂを各々光軸のまわりに９０度回転して、ｙ軸
方向に直線偏波を入射する。
および７ｂを各々光軸のまわりに９０度回転して、ｙ軸
方向に直線偏波を入射する。
７） この状態で、５）と同様にしてＸ偏波に対する遅
延時間を測定することができる。
延時間を測定することができる。
以上のようにしてｘ （７４波およびＸ偏波に対する遅
延時間を測定でき、これらの測定を光波長フィルタ３を
交換して繰り返すことにより、遅延時間の波長依存性が
求められる。
延時間を測定でき、これらの測定を光波長フィルタ３を
交換して繰り返すことにより、遅延時間の波長依存性が
求められる。
ここで、第３図に、カットオフ波長λ。＝１．０４μｍ
、比屈折率差△＝ ０．７４％、およびモード複屈折率 Ｂ−（β。−βｙ）／に−３Ｘ １０−４の偏波保持フ
ァイバの規格化遅延時間（波長λ１．１４μｍにおける
遅延時間に対する差）τ＝シ（λ）−シ（λリ １４） の測定結果を示す。ただし、ここでβつおよびβｙは、
それぞれ、ＸおよびＸ偏波の伝搬定数であり、ｋ＝２π
／λである。
、比屈折率差△＝ ０．７４％、およびモード複屈折率 Ｂ−（β。−βｙ）／に−３Ｘ １０−４の偏波保持フ
ァイバの規格化遅延時間（波長λ１．１４μｍにおける
遅延時間に対する差）τ＝シ（λ）−シ（λリ １４） の測定結果を示す。ただし、ここでβつおよびβｙは、
それぞれ、ＸおよびＸ偏波の伝搬定数であり、ｋ＝２π
／λである。
偏波分散ｐは
ｐ＝で８−でｙ、
（１）で表わされる３（偏波分散ｐは、偏波保持フ
ァイバをコヒーレント通信に使用する場合の重要なパラ
メータである。
（１）で表わされる３（偏波分散ｐは、偏波保持フ
ァイバをコヒーレント通信に使用する場合の重要なパラ
メータである。
第４図に第３図から求めた偏波分散の例を示す。各々の
偏波に対する分散Ｓは によって求められる。
偏波に対する分散Ｓは によって求められる。
第３図および式（２）より求めたｘ、ｙ両偏波の分散を
第５図に示す。第５図から、Ｘおよびｙ偏波の；分散波
長は、応力の効果によって、若干具なることが分かる。
第５図に示す。第５図から、Ｘおよびｙ偏波の；分散波
長は、応力の効果によって、若干具なることが分かる。
本発明装置では光の干渉を用いているので、その測定精
度は非常に高＜ 、 ０．１ｐｓ／ｋｍ／ｎｍであり、
実用上充分な精度である。
度は非常に高＜ 、 ０．１ｐｓ／ｋｍ／ｎｍであり、
実用上充分な精度である。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明では、無偏光の光を直線偏
光に変換する偏光子と、偏波保持ファイバの複屈折主軸
を直！９Ａ（ｊｊ６光の光の方向に対して平行あるいは
垂直に定めるための回転機構付支持冶具を設けたので、
本発明によれば、偏波保持ファイバの偏波分散および各
偏波の分散を高精度に測定することができ、コヒーレン
ト光通信やファイバセンサに用いる偏波保持ファイバの
研究開発や特性測定において極めて重要である。
光に変換する偏光子と、偏波保持ファイバの複屈折主軸
を直！９Ａ（ｊｊ６光の光の方向に対して平行あるいは
垂直に定めるための回転機構付支持冶具を設けたので、
本発明によれば、偏波保持ファイバの偏波分散および各
偏波の分散を高精度に測定することができ、コヒーレン
ト光通信やファイバセンサに用いる偏波保持ファイバの
研究開発や特性測定において極めて重要である。
第１図は本発明の一実施例の構成を示す構成図、
第２図はファイバ入射端面をモニターする機構を具えた
本発明の実施例の一部分を示す斜視図、第３図は偏波保
持ファイバの各偏波の規格化遅延時間の各波長に対する
測定例を示す特性図、第４図は第３図より求めた偏波分
散の波長特性を示す特性図、 第５図は偏波保持ファイバ各偏波の分散の各波長に対す
る測定結果を示す特性図である。 １・・・光源（ハロゲンランプ）、 ２８〜２Ｃ・・・コリメートレンズ、 ３・・・光波長フィルタ、 ４ａ、４ｂ・・・偏光子、 ５ａ、５ｂ・・・ハーフミラ−１ ６ａ〜６ｇ・・・ミラー、 ７ａ、７ｂ・・・回転機構付光ファイバ支持治具、８・
・・被測定偏波保持光ファイバ、 ９・・・コーナーキューブ、 １０・・・ピンホール、 １１・・・光検出器、 １２・・・データ処理端末、 １３・・・遮光板、 Ｌ４−・・・傾斜ミラー、 １５・・・顕微鏡、 １６・・・コア、 １７・・・応力付与部。
本発明の実施例の一部分を示す斜視図、第３図は偏波保
持ファイバの各偏波の規格化遅延時間の各波長に対する
測定例を示す特性図、第４図は第３図より求めた偏波分
散の波長特性を示す特性図、 第５図は偏波保持ファイバ各偏波の分散の各波長に対す
る測定結果を示す特性図である。 １・・・光源（ハロゲンランプ）、 ２８〜２Ｃ・・・コリメートレンズ、 ３・・・光波長フィルタ、 ４ａ、４ｂ・・・偏光子、 ５ａ、５ｂ・・・ハーフミラ−１ ６ａ〜６ｇ・・・ミラー、 ７ａ、７ｂ・・・回転機構付光ファイバ支持治具、８・
・・被測定偏波保持光ファイバ、 ９・・・コーナーキューブ、 １０・・・ピンホール、 １１・・・光検出器、 １２・・・データ処理端末、 １３・・・遮光板、 Ｌ４−・・・傾斜ミラー、 １５・・・顕微鏡、 １６・・・コア、 １７・・・応力付与部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）光源と、 該光源からの光を分岐して第１および第２の光を得る光
分岐手段と、該光分岐手段からの前記第１および第２の
光がそれぞれ導かれる第１および第２の光路と、該第１
および第２の光路からの光を光結合する光結合手段とを
有し、前記第１および第２光路のうちの少なくとも一方
の光路長を可変となし、前記第２光路中に被測定偏波保
持光ファイバを挿入可能となし、前記第２光路に前記光
ファイバを挿入したときに、前記光結合手段から前記第
１および第２光路の出力光の光干渉出力が得られるよう
になした光干渉計と を有し、該光干渉計より得られる干渉縞が最も鮮明にな
るように、前記第１および第２光路間の光路長を相対的
に調整し、その可変光路長の移動量から、前記光ファイ
バの分散を測定する光ファイバ分散測定装置において、 前記光源と前記光分岐手段との間に配置した第１の偏光
子と、 前記光ファイバの入射側および出射側の各端部を、それ
ぞれ、光の伝搬軸線を中心として回転可能に支持する光
ファイバ支持手段と、 前記光ファイバの出射側端部と前記光結合手段との間に
配置した第２の偏光子と を具えたことを特徴とする光ファイバ分散測定装置。 ２）光源と、 該光源からの光を分岐して第１および第２の光を得る光
分岐手段と、該光分岐手段からの前記第１および第２の
光がそれぞれ導かれる第１および第２の光路と、該第１
および第２の光路からの光を光結合する光結合手段とを
有し、前記第１および第２光路のうちの少なくとも一方
の光路長を可変となし、前記第２光路中に被測定偏波保
持光ファイバを挿入可能となし、前記第２光路に前記光
ファイバを挿入したときに、前記光結合手段から前記第
１および第２光路の出力光の光干渉出力が得られるよう
になした光干渉計と を有し、該光干渉計より得られる干渉縞が最も鮮明にな
るように、前記第１および第２光路間の光路長を相対的
に調整し、その可変光路長の移動量から、前記光ファイ
バの分散を測定する光ファイバ分散測定装置において、 前記光源と前記光分岐手段との間に配置した第１の偏光
子と、 前記光ファイバの入射側および出射側の、各端部を、そ
れぞれ、光の伝搬軸線を中心として回転可能に支持する
光ファイバ支持手段と、 前記光ファイバの出射側端部と前記光結合手段との間に
配置した第２の偏光子と、 前記光ファイバの入射側端部の端面の近傍において、前
記第２光路中に挿入可能に配置した反射鏡と、 該反射鏡により反射された前記光ファイバの端面の像を
観察可能に配置した顕微鏡と を具えたことを特徴とする光ファイバ分散測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17390286A JPS6332339A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 光フアイバ分散測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17390286A JPS6332339A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 光フアイバ分散測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6332339A true JPS6332339A (ja) | 1988-02-12 |
Family
ID=15969200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17390286A Pending JPS6332339A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 光フアイバ分散測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6332339A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100612826B1 (ko) * | 2000-03-11 | 2006-08-14 | 삼성전자주식회사 | 광전송 링크의 편광모드분산값 측정 장치 및 방법 |
-
1986
- 1986-07-25 JP JP17390286A patent/JPS6332339A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100612826B1 (ko) * | 2000-03-11 | 2006-08-14 | 삼성전자주식회사 | 광전송 링크의 편광모드분산값 측정 장치 및 방법 |
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