JPH0469623A - 液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置

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JPH0469623A
JPH0469623A JP2182912A JP18291290A JPH0469623A JP H0469623 A JPH0469623 A JP H0469623A JP 2182912 A JP2182912 A JP 2182912A JP 18291290 A JP18291290 A JP 18291290A JP H0469623 A JPH0469623 A JP H0469623A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野1 本発明は、表示装置、特に、薄膜トランジスタ等を使用
したアクティブ・71−リクス方式の液晶表示装置に関
する。 【従来の技術1 アクティブ・71へりクス方式の液晶表示装置は、マト
リックス状に配列された複数の画素電極の各々に対応し
て非線形素子(スイッチング素子)を設けたものである
。各画素における液晶は理論的には常時駆動(デユーテ
ィ比1.0)されているので、時分割駆動方式を採用し
ている、いわゆる単純マI・リクス方式と比べてアクテ
ィブ方式はコントラス1〜が良く特にカラーでは欠かせ
ない技術となりつつある。スイッチング素子として代表
的なものとしては薄膜トランジスタ(TPT)がある。 そして、この薄膜1〜ランジスタは、前記画素電極をも
含んで、透明性が高くしかも耐湿性の良好な保護膜、た
とえば、酸化珪素膜あるいは窒化珪素膜で覆われて形成
されたものとなっている。 このような保護膜で覆う構成としているのは、前記薄膜
トランジスタを湿気等から保護するためにある。 なお、T FTを使用したアクティブ・マトリクス液晶
表示装置は、例えば「冗長構成を採用した12.5型ア
クテイブ・7トリクス方式カラー液晶デイスプレィ」、
日経エレクトロニクス、頁193〜210.1986年
12月15日、日経マグロウヒル社発行、で知られてい
る。 【発明が解決しようとする課題] しかしながら、このような構成からなる液晶表示装置は
、前記透明電極と、他方の透明基板の液晶側の面に形成
された共通透明電極との間で電界を生じさせるものであ
るが、この間には前記液晶、配向膜のほかに前記透明保
護膜が介在されていることになる。 そして、この透明保護膜は高抵抗材料で形成され、この
高抵抗材料を介しているため、チャージの出入りに時間
を要し、僅かなチャージの出入りで所謂焼き付は現象、
すなわち、液晶表示画面の切り替え時に前の画像が残る
現象が生じてしまっていた。 本発明の一つの目的は所謂焼き付は現象の防止を図った
液晶表示装置を提供することである。 本発明の他の目的は画面上に生じる所謂白むらの発生の
防止を図った液晶表示装置を提供することである。 本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。 [課題を解決するための手段] このような目的を達成するために、本発明は、まづ、請
求項第1の記載のように、液晶を挾んで対向配置される
2枚の透明基板のうち、一方の透明基板の前記液晶側の
面に、各画素に対応した形成された透明電極と、この透
明電極に外部信号の供給による電圧を印加させるための
薄膜スイッチング素子と、この薄膜スイッチング素子お
よび前記透明電極を覆って前記透明基板上に形成される
透明保護膜と、を備える液晶表示装置において、前記透
明保護膜は、前記薄膜スイッチング素子および透明電極
の周辺部な覆って形成されるものとし、前記透明電極の
前記周辺部を除く領域を露呈させていることを特徴とす
るものである。 また、請求項第2の記載のように、請求項第1記載の液
晶表示装置において、透明電極の前記周辺部を除く領域
を露呈させている前記透明保護膜の孔は、その側壁にお
いて斜面が形成されていることを特徴とするものである
。 また、請求項第3の記載のように、請求項第2記載の液
晶表示装置において、透明保護膜は少なくとも2層以上
の多層構造となっており、これら各層の透明保護膜のエ
ツチングレートは、前記透明電極側から順次大きく構成
され、エツチングレート差により前記孔側壁の斜面を形
成することを特徴とするものである。 さらに、請求項第4の記載のように、請求項第1記載あ
るいは第2記載の液晶表示装置において、透明保護膜は
少なくとも2層以上の多層構造となっており、このうち
前記透明電極に隣接していない他の透明保護膜のうち少
なくとも一層を導電性材料から構成するとともに、この
導電性材料に一定の電位をもたせていることを特徴とす
るものである。 【作用】 このように、請求項第1の記載の発明によれば、透明保
護膜は、薄膜スイッチング素子および透明電極の周辺部
を覆って形成されるものとし、前記透明電極の前記周辺
部を除く領域を露呈させている。このため、透明電極は
、他方の透明基板の液晶側の面に形成された共通透明電
極との間において、高抵抗材料である透明保護膜を介さ
せない構成となる。したがって、チャージの出入りに時
間を要することがなく、所謂焼き付は現象が生じること
はなくなる。 また、請求項第2の記載の発明によれば、透明電極の前
記周辺部を除く領域を露呈させている前記透明保護膜の
孔を、その側壁において斜面が形成されているようにし
たものである。このようにすれば、平面方向から見た前
記透明保護膜の孔の周囲にはいわゆる液晶ドメイン構造
が生じることがなく点灯不良の部分が発生しないという
効果を奏することになる。すなわち、前記透明保護膜の
孔を、その側壁が垂直になるように形成した場合、平面
方向から見た前記透明保護膜の孔の周囲には液晶分子の
配向がドメイン状に逆方向になって点灯不良が生じてし
まう問題点を解消することができるようになる。 また、請求項第3の記載の発明によれば、透明保護膜は
少なくとも2層以上の多層構造となっており、これら各
層の透明保護膜のエツチングレートは、前記透明電極側
から順次大きく構成されたものとなっている。このよう
にすれば、同一のレジストパターンのエツチングによっ
て、側面に斜面を有する孔を容易に形成することができ
るようになる。 さらに、請求項第4の記載の発明によれば、透明保護膜
はその表面がほぼ均一な電位に保持されるようになる。 このことは、表示画面上の白むら発生を防止できるよう
になる。従来では、走査信号線の順次電圧印加が原因し
ていると思われるが、表示画面の下部に白むらが生じて
いた。しかし、本発明のように、透明保護膜の表面をそ
の全域にわたって一定の電位に保持させるようにしてお
けば、永年駆動後においても前記白むらが生じないこと
が判明した。 [実施例1 以下、本発明の構成について、アクティブ・マトリクス
方式のカラー液晶表示装置に本発明を適用した実施例と
ともに説明する。 なお、実施例を説明するための全回において、同一機能
を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は
省略する。 第1A図は本発明が適用されるアクティブ・71ヘリク
ス方式カラー液晶表示装置の一画素とその周辺を示す平
面図であり、第1B図は第1A図のnB−nB切断線に
おける断面と表示パネルのシール部付近の断面を示す図
であり、第1C図は第1A図のnc−nc切断線におけ
る断面図である。 また、第2図(要部平面図)には、第1A図に示す画素
を複数配置したときの平面図を示す。 (画素配置) 第1A図に示すように、各画素は、隣接する2本の走査
信号線(ゲート信号線又は水平信号線)GLと、隣接す
る2本の映像信号線(ドレイン信号線又は垂直信号線)
DLとの交差領域内(4本の信号線で囲まれた領域内)
に配置されている。各画素は薄膜トランジスタTPT、
画素電極ITO1及び付加容量Caddを含む。走査信
号線GLは。 列方向に延在し、行方向に複数本配置されている。 映像信号線DLは、行方向に延在し、列方向に複数本配
置されている。 (パネル断面全体構造) 第1B図に示すように、液晶層LCを基準に下部透明ガ
ラス基板5UBI側には薄膜トランジスタTPT及び透
明画素電極ITOIが形成され。 上部透明ガラス基板5UBZ側には、カラーフィルタF
IL、遮光用ブラックマトリクスパターンBMが形成さ
れている。下部透明ガラス基板5UBl側は、例えば、
1.1 [mm1程度の厚さで構成されている。 第1B図の中央部は一画素部分の断面を示しているが、
左側は透明ガラス基板5UBI及び5UB2の左側縁部
分で外部引出配線の存在する部分の断面を示している。 右側は、透明ガラス基板5UBI及び5UB2の右側縁
部分で外部引出配線の存在しない部分の断面を示してい
る。 第1B図の左側、右側の人々に示ずシール材SL、は、
液晶丁、Cを封+1−するように構成されており、液晶
封入n(図示していない)を除く透明ガラス基板S U
 l(1及びS U B 2の縁周間全体にiaって形
成されている。シール材SLは、例えば、エポキシ樹脂
で形成されている。 1yir記上部透明カラス基板S U B Z側の共通
透明画素電極T l’ 021J:、少なくとも一個所
において、銀ペー スト旧SHL、1よって、下部透明
カラスノ、(板s u B 、1側に形成さAした外部
引出配線に接続されでいる。この外部引出配線は、前述
したゲート電極G’I’、ソース電1かSDI、1・1
ツイン電極SD2の大々と同一製造−16程で形成され
、る。 配向膜ORI 1及びCIRI2、透明画素電極丁To
、共通透明画素?1!極I T O1保護喚T)SVI
及びTI S V 21.絶縁膜G Tの久々の層は、
シール(・J’ S 1.、の内側に形成される。偏光
板1.’ OIl、 1.才、下部透明ガラス基板S 
U L(]、、 、 lxx部透明ガラス基板S t−
i T’32の大セの外側の表面に形成されている。 液晶17Cは、液晶分子の向きを設定する下部配向膜O
R,Il及び1一部配向膜0RI2の間に封入され、シ
ール部S Lよってシールさ第1.ている。 下部配向膜Oi<、 I 1は、下部透明ガラス」λ板
StJ B F側の保護膜PSV1の1一部に形成され
る。 ここで、本実施例では、前記保護膜PSVIば、透明画
素電極TTO,d3の部分において孔1−I 1.。 が形成さ才している。ずなわち、前記透明画素電極I 
1.” (、) 、 d 3の周辺部においては、前記
保護膜■)SVlが覆っており、該周辺部な除く前記透
明画素電極T i’○、第3の領域は、前記孔I−T 
Lによって前記保護膜PSVIから露呈されている。 そして、前記保護11桑P S V Jから露呈されて
いる透明画素電極ITO,d3の領域上には、前記保護
[PSVlの上面の下部配向膜01<I 1と同時に形
成されるF部配向膜○R41が形成されている。 このようにすることにより、透明画素電極T TO・第
3は、下部ガラス基板5UB2の液晶側の而に形成さt
t、た共通透明画素電極I −r O2との間1、−1
すtい7−1高抵抗月利−Cある保護膜P S V l
を介さゼない構成とな?)3、l、たかっr、−+ヤー
ンの出入り(5、−tl’;5間イ?要−・+” ;:
);= 、+・がなく、所謂焼きイ\1(づ現象か生じ
ることi:l、なくなる4、 また、前記保ii’+Jl摸1’ S V ] +:i
、 2 JQ)構造となっで第9す、1・部カー)ス(
j、(ルSL、l B]側から順次積層されノー、窒化
珪素11・V費:1N−PAS、およびアモルファスシ
リコン8−=Sjとて構成されている。 このように、窒化1−IJIミ11ダi S i、 N
  P A S !;よびj′モルファスシリT+ンa
 −S iからなる2、Jrl構造の保1べ(,11桑
P S V iと”4る、ことにより、同一エッグン’
)’ m i、3文・1する】′シルノアスシリコシa
−8−1のT、 y−3ングレーl−1,1、窒化珪素
膜5−iN−P A SのエッJン・グレート、上りも
人、さいこ゛とから、iiG H己孔IT1.、、  
     ・  ゛  ′ することし6二よ−)で該
孔F■1...のイ((11壁L;−おいてなたI:)
かな傾斜を形成することかC・きイ)。 このよう番Jすること番こより、1ト而方向から見た前
記保護膜Wi P S V−Iの孔1−1 i−、の周
囲にはいわゆるトメ・rンがノド〔′、ることかなく点
灯不良の部分か発イ11.ない、yいう効宋を奏するこ
としJなる。刈−な十)も、前記保護膜P S V 、
]の孔HI、を、その側壁が垂的になるように形成した
場合、1v面lf向かr、見た前記保護IIψP S 
V 1の孔HI、の周囲には液晶分子の111!向かド
メイン状に逆方向になっC点灯不43が生じ・−(−シ
・ゴう問題点を解消Vることがてきるよつになる・・ さらに、子連のように窒化珪素膜5jN−■〕ASおよ
びアモルファスシリコンロ  S :!からなる521
層構造の保護膜P S V 1において、導電性イ」料
ひある前記アモルファスシリコンa−8−i、 l、−
は、一定の電イ◇をもたせている。たとえばこの電位は
、コモン電f(―V c o mと同電位に設定されて
いる。 このように1−れば、保護膜p s v tはその表面
がほぼ均一な電位に保持されるようになる。このご^′
1:I、表示画面1−の白むら発牛髪防止できるように
なる。従来では、走査信号線の順次電圧印加が原因して
いると思われるが、表示画面の上部に白むr)が生(,
1Cいた4、しかし、本実施例のように、保護膜p s
 V ]の表面をその全域にわたって一定の電位に保持
させるようにしておけば、永年駆動後においても前記白
むらが生じないことが判明した。 上部透明ガラス基板5UB2の内側(液晶側)の表面に
は、遮光膜BM、カラーフィルタF I L、保護膜P
 S ’V 2、共通透明画素電極(COM)IrO2
及び上部配向膜0RI2が順次積層して設けられている
。 この液晶表示装置は、下部透明ガラス基板5UBl側、
」二部透明ガラス基板5UB2側の夫々の層を別々に形
成し、その後、上下透明ガラス基板5UBI及びS U
 B 2を重ね合せ、両者間に液晶L Cを封入するこ
とによって組み立てられる。 (薄膜1ヘランジスタTPT) 薄膜トランジスタTFTは、グー1−電極GTに正のバ
イアスを印加すると、ソース−ドレイン間のチャネル抵
抗が小さくなり、バイアスを零にすると、チャネル抵抗
は大きくなるように動作する。 各画素の薄膜1〜ランジスタTFTは、画素内において
2つ(複数)に分割され、薄膜トランジスタ(分割薄膜
トランジスタ)TFTl及びTPT2で構成されている
。薄膜トランジスタTFTI、TPT2の夫々は、実質
的に同一サイズ(チャンネル長と幅が同じ)で構成され
ている。この分割された薄膜トランジスタTFTI、T
PT2の夫々は、主に、ゲート電極GT、ゲート絶縁膜
GI、i型(真性、j、ntrinsic、導電型決定
不純物がドープされていない)非晶質Si半半体体層S
、対のソース電極SDI及びドレイン電極SD2で構成
されている。なお、ソース・トレインは本来その間のバ
イアス極性によって決まり、本表示装置の回路ではその
極性は動作中反転するので、ソース・ドレインは動作中
入れ替わると理解されたい。しかし以下の説明でも、便
宜上一方をソース、他方をドレインと固定して表現する
。 (ゲート電極GT) ゲート電極GTは、第3図(第1A図の層g1、g2及
びAsのみを描いた平面図)に詳細に示すように、走査
信号線GLから垂直方向(第1A図及び第3図において
上方向)に突出する形状で構成されている(丁字形状に
分岐されている)。ゲート電極GTは、薄膜トランジス
タTF T 1、T i”T2の夫々の形成領域まで突
出するように構成されている。薄膜I・ランジスタT 
F T 1、T P T 2の夫々のゲーi・電極GT
は、一体に(共通ゲート電極として)構成されており、
走査信号線OLに連続して形成されている。ゲーI・電
極GTは、薄膜トランジスタTPTの形成領域において
大きい段差を作らないように、単層の第1導電膜g1で
構成する。第1導電膜g1−は、例えばスパッタで形成
されたクロム(Cr)膜を用い、1.OOO[人コ程度
の膜厚で形成する。 このゲート電極GTは、第1A図、第1B図及び第3図
に示されているように、半導体層ASを完全に覆うよう
(下方からみて)それより太き目に形成される。従って
、基板5UBIの下方に蛍光灯等のバッグライトB L
を取付けた場合、この不透明のCrゲート電極GTが影
となって、半導体層ASにはバックライト光が当たらず
、光照射による感電現象すなわちTPTのオフ特性劣化
は起きにくくなる。なお、グー1〜電極GTの本来の大
きさは、ソース・ドレイン電極S D ]、とSD2間
をまたがるに最低限必要な(グー1〜電極とソース・ト
レイン電極の位置合わせ余裕分も含めて)幅を持ち、チ
ャンネル幅Wを決めるその奥行き長さはソース・ドレイ
ン電極間の距離(チャンネル長)Lとの比、即ち相互コ
ンダクタンスgmを決定するファクタW/Lをいくつに
するかによって決められる。 本実施例にお番づるゲート電極の大きさは勿論、」二連
した本来の大きさよりも大きくされる。 ゲート電極GTのゲーI−及び遮光の機能面からだけで
考えれば、グー1〜電極及びその配線G Lは単一の層
で一体に形成しても良く、この場合不透明導電材料とし
てSjを含有させたA]、純AI。 及びPdを含有させたA1等を選ぶことができる。 (走査信号線G L ) 前記走査信号線GLは、第1感電膜g]及びその上部に
設けられた第2尋電膜g2からなる複合膜で構成されて
いる。この走査信号線GLの第J導電膜g1は、前記ゲ
ーI・電極GTの第1感電膜g]と同一製造工程で形成
され、かつ一体に構成されている。第2導電IFJg2
は、例えば、スパッタで形成されたアルミニウム(A、
Q)膜を用い、2000〜4000[人]程度の膜厚で
形成する。第2導電膜g2は、走査信号線G Lの抵抗
値を低減し、信号伝達速度の高速化(画素の情報の書込
特性向に)を図ることができるように構成されている。 また、走査信号線G Lは、第1導電膜g」の幅寸法に
比べて第2導電IFJg2の幅寸法を小さく構成してい
る。すなわち、走査信号線Gi−は、その側壁の段差形
状がゆるやかになっている。 (ゲート絶縁膜G I ) !l@縁膜GIは、薄膜トランジスタTFT1、TFT
2の夫々のグー1−絶縁膜として使用される。 絶縁膜GIは、グー1〜電極GT及び走査信号線GLの
−に層に形成されている。絶縁膜6丁は、例えば、プラ
ズマCVDで形成された窒化珪素膜を用い、3000[
A 1程度の膜厚で形成する。 (半導体層ΔS) j型半導体WASは、第3図に示すように、複数に分割
された薄膜トランジスタTFT]、TFT2の夫々のチ
ャネル形成領域として使用される。 i型半導体層ASは、アモーファスシリコン膜又は多結
晶シリコン股で形成し、約1800 [人]程度の膜厚
で形成する。 このj型半導体!A、Sは、供給ガスの成分を変えてS
j、N4ゲー1−絶縁膜GIの形成に連続して、同じプ
ラズマCVD装置で、しかもその装置がら外部に露出す
ることなく形成される。また、オーミックコンタクト用
のPをドープしたNa層d。 (第1B図)も同様に連続して約400[人]の厚さに
形成される。しかる後下側基板S TJ B ]はCV
D装置から外に取り出され、写真処理技術により、Na
層d○及び」層ASは第]A図、第1B図及び第3図に
示すように独立した島にパターニングされる。 j型半導体層A、 Sは、第1A図及び第3図に詳細に
示すように、走査信号線OLと映像信号線DLとの交差
部(グロスオーバ部)の両昔間にも設けられている。こ
の交差部j型半導体層ASは、交差部における走査信号
線G Lと映像信号線D Lとの短絡を低減するように
構成されている。 (ソース・ドレイン電極SDI、5D2)複数に分割さ
れた薄膜1−ランジスタT F T 1、TFT2の夫
々のソース電極SDIとトレイン電極SD2とは、第1
A図、第1−B図及び第4図(第1 A図の層dユ〜d
3のみを描いた平面図)で詳細に示すように、半導体層
A、 S lに夫々離隔して設けられている。 ソース電極SDI、ドレイン電極SD2の夫々は、Na
型半導体層dOに接触する下層側から、第1導電膜d]
、第2導電膜d2、第3導電膜d3登順次重ね合わせて
構成されている。ソース電極S I) ]の第1導電膜
d」、第2導電膜d2及び第3導電膜d3は、ドレイン
電極SD2の夫々と同一製造工程で形成される。 第1−導電膜d1−は、スパッタで形成したクロム膜を
用い、500〜1000[人コの膜厚(本実施例では、
600[人]程度の膜厚)で形成する。クロム膜は、膜
厚を厚く形成するとスI・レスが大きくなるので、20
00[人]程度の膜厚を越えない範囲で形成する。 クロム膜は、Na型半導体層doとの接触が良好である
。クロム膜は、後述する第2導電膜d2のアルミニウム
がNa型半導体層doに拡散することを防止する、所謂
バリア層を構成する。第1導電膜d1としては、クロム
膜の他に、高融点金属(Mo、Tj、Ta、W)膜、高
融点金属シリサイド(M。 Si2.TiSi□、Ta5j2.WSi□)膜で形成
してもよし)。 第1導電膜d1を写真処理でパターニングした後、同し
写真処理用マスクで或は第1導電膜d1をマスクとして
Na層doが除去される。つまり、j層AS上に残って
いたNa層doは第1導電膜d1以外の部分がセルファ
ラインで除去される。 このとき、NaMd0はその厚さ分は全て除去されるよ
うエッチされるのでi層ASも若干その表面部分でエッ
チされるが、その程度はエッチ時間で制御すれば良い。 しかる後第2導電膜d2が、アルミニウムのスバッタリ
ングで3000〜4000[人]の膜厚(本実施例では
、3000 [人]程度の膜厚)に形成される。アルミ
ニウム膜は、クロム膜に比べてストレスが小さく、厚い
膜厚に形成することが可能で、ソース電極SD1、ドレ
イン電極SD2及び映像信号線DLの抵抗値を低減する
ように構成されている。第2導電膜d2としては、アル
ミニウム膜の他に、シリコン(Sl)や銅(Cu)を添
加物として含有させたアルミニウム膜で形成してもよい
。 第2導電膜d2の写真処理技術によるパターニング後第
3導電膜d3が形成される。この第3導電膜d3はスパ
ッタリングで形成された透明導電膜(Induim−T
in−Oxide I T O:ネサ膜)から成り、1
000〜2000[人]の膜厚(本実施例では、120
0[人]程度の膜厚)で形成される。この第3導電膜d
3は、ソース電極SDI、ドレイン電極SD2及び映像
信号線DLを構成すると共に、透明画素電極ITOIを
構成するようになっている。 ソース電極SDIの第1導電膜d1、ドレイン電極SD
2の第1導電膜d1の夫々は、上層の第2導電膜d2及
び第3導電膜d3に比べて内側に(チャンネル領域内に
)大きく入り込んでいる。 つまり、これらの部分における第1導電膜d1は、71
fd2、d3とは無関係に薄膜トランジスタTPTのグ
ー1〜長りを規定できるように構成されている。 ソース電極SDIは、前記のように、透明画素電極IT
○1に接続されている。ソース電極SDIは、i型半導
体層ASの段差形状(第1導電膜g1の膜厚、NaMd
0の膜厚及びi型半導体層ASの膜厚とを加算した膜厚
に相当する段差)に沿って構成されている。具体的には
、ソース電極SDIは、i型半導体層ASの段差形状に
沿って形成された第1導電膜d1と、この第1導電膜d
1の上部にそれに比べて透明画素電極ITOIと接続さ
れる側を小さいサイズで形成した第2導電膜d2と、こ
の第2導電膜から露出する第1導電膜d1に接続された
第3導電膜d3とで構成されている。ソース電極SDI
の第2導電膜d2は、第1導電膜d1のクロム膜がスト
レスの増大から厚く形成できず、i型半導体層ASの段
差形状を乗り越えられないので、このi型半導体層AS
を乗り越えるために構成されている。つまり、第2導電
膜d2は、厚く形成することでステップカバレッジを向
上している。第2導電膜d2は、厚く形成できるので、
ソース電極SDIの抵抗値(ドレイン電極SD2や映像
信号線DLについても同様)の低減に大きく寄与してい
る。第3導電膜d3は、第2導電膜d2のi型半導体層
ASに起因する段差形状を乗り越えることができないの
で、第2導電膜d2のサイズを小さくすることで露出す
る第1導電膜d1に接続するように構成されている。第
1導電膜d1と第3導電膜d3とは、接着性が良好であ
るばかりか、両者間の接続部の段差形状が小さいので、
確実に接続することができる。 (画素電極ITOI) 前記透明画素電極ITOIは、各画素毎に設けられてお
り、液晶表示部の画素電極の一方を構成する。透明画素
電極ITOIは、画素の複数に分割された薄膜トランジ
スタTFTI、TFT2の夫々に対応して3つの透明画
素電極(分割透明画素電極)El、E2に分割されてい
る。透明画素電極E1、E2は、各々、薄膜トランジス
タTPTのソース電極SDIに接続されている。 透明画素電極E1、E2の夫々は、実質的に同′−面積
となるようにパターニングされている。 このように、1画素の薄膜トランジスタTPTを複数の
薄膜トランジスタTFTI、TPT2に分割し、この複
数に分割された薄膜トランジスタTFT1、TFT2の
夫々に複数に分割した透明画素電極E1、E2の夫々を
接続することにより、分割された一部分(例えば、TF
TI)が点欠陥になっても、画素全体でみれば点欠陥で
なくなる(TFT2が欠陥でない)ので、点欠陥の確率
を低減することができ、また欠陥を見にくくすることが
できる。。 また、前記画素の分割された透明画素電極E1、E2の
夫々を実質的に同一面積で構成することにより、透明画
素電極E1、E2の夫々と共通透明画素電極ITO2と
で構成される人々の液晶容置(Cpj−x )を均一に
することができる。 (保護膜P S V F、 ) 薄膜トランジスタ’r FT及び透明画素電極丁’I”
011−には、保護膜PSVIが設けられている。 保護膜)) S V 1は、主に、薄膜1−ランジスタ
i’ 1−”′]′を湿気等から保護するために形成さ
れており、透明性が高くしかも耐湿性の杓いものを使用
する。 保護膜P S V ]−は、例えば、プラズマCvl’
)で形成した酸化珪素膜や窒化珪素膜て形成されており
、8000[人]稈度の膜厚で形成する。 この保護膜1) S V 1は、」ユ述したように前記
薄膜1〜ランジスタ゛r F Tおよび透明画素電極1
1゛01の周辺部を覆って形成されるものとし、前記透
明画素電極ITOIの前記周辺部を除く領域を露呈させ
ているものである。 そして、この露呈部を含んで前記保護膜psv11−に
は、ド部配向膜OR丁Fが被覆されて形成されている。 (遮ソロ膜BM) F部基板5UR2側には、外部光(第1B図では上方か
らの光)がチャネル形成領域として使用される」型半導
体層A、 Sに入射されないように、遮蔽膜B Mが設
けられ、第5図のハツチングに示すようなパターンとさ
れている。なお、第4図は第1A図に才寸ける■1゛○
膜Md3、フィルタ層F丁F、及び遮光膜BMのみを描
いた・ド面図である。 遮光膜B Mは、光に対する遮蔽性が高い、例えば、ア
ルミニウム膜やクロム膜等で形成されており、本実施例
では、クロム膜がスパッタリングで1300[人コ程度
の膜厚に形成される。 従って、’I’ F T 1.2の共通半導体層Asは
上ドにある遮光膜BM及び大き1」のゲート電極GTに
よってサンドインチにされ、その部分は外部の自然光や
バックライト光が当たらなくなる。遮光膜BMは第5図
のハツチング部分て示すように、画素の周囲に形成され
、つまり遮光膜BMは格子状に形成され(ブラックマト
リクス)、この格子で1画素の有効表示領域が仕切られ
ている。従って、各画素の輪郭が遮光膜BMによっては
つきりとしコン1〜ラストが向1−する。つまり遮光膜
1−3 Mは、半導体層A、 Sに対する遮光とブラッ
クマトリクスとの2つの機能をもつ。 なお、バックライトを5UB2側に取り付け、S LJ
 B 1を観察側(外部露出側)とすることもてきる。 (共通電極I ’I”02) 共通透明画素電極T i” (”) 2は、下部透明ガ
ラス基板5UR1−側に画素毎に設けられた透明画素電
極NTO]に対向し、液晶の光学的な状態は各画素電嘆
I’l″O]と共通電極T T 02間の電位差(電界
)に応答して変化する。この共通透明画素電4f: I
 T O2には、コモン電圧vcomが印加されるよう
に構成されている。コモン電圧■cOI11は、映像信
号線1〕■、に印加されるロウIノベルの暉動電圧Vd
o+inとハイ1.ノベルの叶動電圧’J d max
との中間電位である。 (力)−フィルタFIL) 力乃−ノイルタト”1丁、は、アクリル樹脂等の樹脂k
j科で形成される染色基+41染料を着色して構成され
ている。カラーフィルタF I 丁、、は、画素に対向
する位置に各画素毎にドツト状に形成され(第6図)、
染め分けられている(第6図は第2図の第3導電膜層d
3、ブラックマトリクス層BM及びとカラーフィルタ層
F I Lのみを描いたもので、R,G、Bの各フィル
ターはそれぞれ、45°、135°、クロスのハツチを
施しである)、。 カラーフィルタI? T T、は第5図に示すように画
素電極ITOI (El、E2)の全てを覆うように太
き目に形成され、遮光膜BMはカラーフィルタFI L
及び画素電極TTO1のエツジ部分と重なるよう画素電
極ITOIの周縁部より内側に形成されている。 カラーフィルタF ’I Lは、次のように形成するこ
とができる。まず、上部透明ガラス基板S U B2の
表向に染色基材を形成し、フォトリソクラフィ技術で赤
色フィルタ形成領域以外の染色JX; 4・Jを除去す
る。この後、染色基材に赤色染料で染め、固着処理を施
し7、赤色フィルタRを形成ずろ。次に、同様な上程を
施ずことによ−)で、緑色フィルタG、青色フィルタB
を順次形成する。 保護膜PSV2は、前記カラーフィルタFJLを異なる
色に染め分けた染料が液晶LCに漏れることを防止する
ために設けられている。保護膜PSV2は、例えば、ア
クリル樹脂、エポキシ樹脂等の透明樹脂材料で形成され
ている。 (表示パネル全体等価回路) 表示71−リクス部の等価回路とその周辺回路の結線図
を第7図に示す。同図は回路図ではあるが、実際の幾何
学的配置に対応して描かれている。ARは複数の画素を
二次元状に配列したマトリクス・アレイである。 図中、Xは映像信号線DLを意味し、添字G、B及びR
がそれぞれ緑、青及び赤画素に対応して付加されている
。Yは走査信号線GLを意味し、添字」、2.3・・・
endは走査タイミングの順序に従って付加されている
。 映像信号線X(添字省略)は交互に」二側(又は奇数)
映像信号坊区動回路He及び下側(又は偶数)映像信号
駆動回路HOに接続されている。 SUPは1つの電圧源から複数の分圧した安定化された
電圧源を得るための電源回路やホスト(上位演算処理装
置)からのCRT (陰極線管)用の情報をT P T
液晶表示パネル用の情報に交換する回路を含む回路であ
る。 (付加容量Caddの構造) 透明画素電極E1、E2の夫々は、薄膜トランジスタT
 P Tと接続される端部と反対側の端部において、隣
りの走査信号線G Lと重なるように形成されている。 この重ね合せは、第1C図からも明らかなように、透明
画素電極E1、E2の夫々を一方の電極PLIとし、隣
りの走査信号線G Lを他方の電極P L 2とする保
持容量素子(静電容量素子)Caddを構成する。この
保持容量素子Caddの誘電体膜は、薄膜トランジスタ
TPTのゲート絶縁膜として使用される絶縁膜GIと同
一層で構成されている。 保持容量Caddは、第3図からも明らかなように、ゲ
ート線GLのIM目g1の幅を広げた部分に形成されて
いる。なお、ドレイン線DLと交差する部分の層g1は
ドレイン線との短絡の確率を小さくするため細くされて
いる。 保持容量素子Caddを構成するために重ね合わされる
透明画素電極E ]−1E2の夫々と容量電極線(gl
)との間の一部には、前記ソース電極SD1と同様に、
段差形状を乗り越える際に透明画素電極IT○1が断線
しないように、第14電膜d1及び第2導電膜d2で構
成された島領域が設けられている。この島領域は、透明
画素電極IT○1の面積(開口率)を低下しないように
、できる限り小さく構成する。 (付加容量Caddの等価回路とその動作)第1A図に
示される画素の等価回路を第8図に示す。第8図におい
て、Cgsは薄膜1−ランジスタTFTのゲート電極G
T及びソース電極SDI間に形成される寄生容量である
。寄生容量Cgsの誘電体膜は絶縁膜GIである。Cp
jxは透明画素電極子TOI(PJX)及び共通透明画
素電極ITO2(COM)間で形J戊される液晶容量で
ある。液晶容量Cpjxの誘電体膜は液晶LC1保護膜
PS■1及び配向膜0RII、○RI2である。Vlc
は中点電位である。 前記保持容量素子Caddは、TPTがスイッチングす
るとき、中点電位(画素電極電位) V ]、 cに対
するゲート電位変化ΔVgの影響を低減するように働く
。この様子を式で表すと △V ]c= ((Cgs/(Cgs+Cadd+C:
pjx)) xΔVgとなる。ここでΔV]、cはΔV
gによる中点電位の変化分を表わす。この変化分ΔVi
eは液晶に加わる直流成分の原因となるが、保持容量C
addを大きくずればする程その値を小さくすることが
できる。 また、保持容量Caddは放電時間を長くする作用もあ
り、TPTがオフした後の映像情報を長く蓄積する。液
晶LCに印加される直流成分の低減は、液晶LCの寿命
を向」ニし、液晶表示画面の切り替え時に前の画像が残
る所謂焼き付きを低減することができる。 前述したように、ゲート電極GTは半導体HASを完全
に覆うよう大きくされている分、ソース・トレイン電極
S D 1−1SD2とのオーバラップ而積が増え、従
って寄生容量Cgsが大きくなり中点電位Vlcはゲー
1− (走査)信号Vgの影響に受は易くなるという逆
効果が生じる。しかし、保持容量Caddを設けること
によりこのデメリッI・も解消することができる。 前記保持容量素子Caddの保持容量は、画素の書込特
性から、液晶容量Cpjxに対して4〜8倍(4・cp
jx<Cadd<LCpjx)、重ね合せ容量c(<S
に対して8〜32倍(8・Cgs<Cadd<3:l”
(、gs)程度の値に設定する。 (付加容量Cadd電極線の結線方法)容量電極線とし
てのみ使用される初段の走査信号線OL (Yo)は、
第9図に示すように、共通透明画素電極(Vcom )
 I T O2に接続する1、共通透明画素型4iIT
○2は、第1B図に示すように。 液晶表示装置の周縁部において銀ペース848丁。 によって外部引出配線に接続されている。しかも、この
外部引出配線の一部の導電!(gl及びg2)は走査信
号線G T、と同一製造工程で構成されている。この結
果、最終段の容量電極線G Lは、共通透明画素電極I
TO2に簡単に接続することができる。 初段の容量電極線Y。は最終段の走査信号線Yendに
接続、V com以外の直流電位点(交流接地点)に接
続するか又は垂直走路回路Vから1つ余分に走査パルス
Y。を受けるように接続しても良い。 以上、本発明者によってなされた発明を、前記実施例に
基づき具体的に説明したが、本発明は、前記実施例に限
定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲にお
いて種々変更可能であることは勿論である。 例えば、本実施例ではグー1〜電極形成→ゲート絶縁膜
形成→半導体層形成→ソース・ドレイン電極形成の逆ス
タガ構造を示したが、」1下関係又は作る順番がそれと
逆のスタガ構造でも本発明は有効である。 また、保護膜PSVIは、2層構造としたものであるが
、それ以上の多層構造としてもよい。この場合、積層方
向に向かって順次エツチングレートを大きくすることに
よって、選択エツチングにより孔を形成する場合、この
孔の側壁に傾斜を設けることができるようになる。 さらに、前記保護膜PSVIを多層構造とした場合、透
明画素電極IT○]に隣接していない他の保護膜のうち
少なくとも一層を導電材料から構成するとともに、この
導電性材料に一定の電位をもたせるようにしてもよい。 さらに、本実施例では、一画素につき透明画素電極が2
個備えられたものであるが、第9図に示すように、透明
画素電極が1個の場合であっても適用できることはいう
までもない。この場合であっても、透明画素電極ITO
Iの周辺部を残して孔が設けられており、対向する共通
透明画素電極ITO2との間に高抵抗の保護膜PSVI
が存在しないようになっている。 【発明の効果] 以」二説明したことから明らかなように、本発明による
液晶表示装置によれば、焼き付は現象の発生を防止する
ことができるようになる。 また、表示画面」二に生じていた白むらの発生を防止す
ることができるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1A図は、本発明の実施例■であるアクティブ・マト
リックス方式のカラー液晶表示装置の液晶表示部の一画
素を示す要部平面図、 第1B図は、前記第1A図のJIB−IrB切断線で切
った部分とシール部周辺部の断面図、第1C図は、第1
A図のnc−nc切断線における断面図、 第2図は、前記第1A図に示す画素を複数配置した液晶
表示部の要部平面図、 第3図乃至第5図は、前記第1A図に示す画素の所定の
層のみを描いた平面図。 第6図は、前記第2図に示す画素電極層とカラーフィル
タ層のみを描いたとを重ね合せた状態における要部平面
図、 第7図はアクティブ・マトリックス方式のカラー液晶表
示装置の液晶表示部を示す等価回路図、第8図は、第1
A図に記載される画素の等価回路図、 第9図は、本発明による液晶表示装置の他の実施例を示
す前記第1A図に対応する平面図である。 図中、SUB・・透明ガラス基板、GL・・・走査信号
線、DL・・・映像信号線、GI・・・絶縁膜、GTア
ゲート極、AS・・・i型半導体層、SD・・・ソース
電極又はドレイン電極、PSv・・・保護膜、LS・・
遮光膜、LC・・・液晶、TPT・・・薄膜トランジス
タ、ITO・・透明電極、god・・・導電膜、Cad
d・・・保持容量素子、Cgs・・・重ね合せ容量、C
pix・・・液晶。 容量、5iN−PAS・・・窒化珪素膜、a−5i・・
・アモルファスシリコン、PSv・・・保護膜、HL・
・・孔である(英文字の後の数字の添字は省略)。 代理人  弁理士  秋 1)収 喜 LI

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、液晶を挾んで対向配置される2枚の透明基板のうち
    、一方の透明基板の前記液晶側の面に、各画素に対応し
    た形成された透明電極と、この透明電極に外部信号の供
    給による電圧を印加させるための薄膜スイッチング素子
    と、この薄膜スイッチング素子および前記透明電極を覆
    って前記透明基板上に形成される透明保護膜と、を備え
    る液晶表示装置において、前記透明保護膜は、前記薄膜
    スイッチング素子および透明電極の周辺部を覆って形成
    されるものとし、前記透明電極の前記周辺部を除く領域
    を露呈させていることを特徴とする液晶表示装置。 2、透明電極の前記周辺部を除く領域を露呈させている
    前記透明保護膜の孔は、その側壁において斜面が形成さ
    れていることを特徴とする請求項第1記載の液晶表示装
    置。 3、透明保護膜は少なくとも2層以上の多層構造となっ
    ており、これら各層の透明保護膜のエッチングレートは
    、前記透明電極側から順次大きく構成され、エッチング
    レート差により前記孔側壁の斜面を形成することを特徴
    とする請求項第2記載の液晶表示装置の製造方法。 4、透明保護膜は少なくとも2層以上の多層構造となっ
    ており、このうち前記透明電極に隣接していない他の透
    明保護膜のうち少なくとも一層を導電性材料から構成す
    るとともに、この導電性材料に一定の電位をもたせてい
    ることを特徴とする請求項第1記載あるいは第2記載の
    液晶表示装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH05289104A (ja) * 1992-04-10 1993-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示パネル
US5477355A (en) * 1992-01-28 1995-12-19 Hitachi, Ltd. Process for producing the passivation layer of an active matrix substrate by back exposure
US6900853B2 (en) * 2001-10-22 2005-05-31 Hitachi, Ltd. Liquid crystal display device and manufacturing method thereof

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JPH05289104A (ja) * 1992-04-10 1993-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示パネル
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