JPH0359531A - 液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置

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JPH0359531A
JPH0359531A JP1194134A JP19413489A JPH0359531A JP H0359531 A JPH0359531 A JP H0359531A JP 1194134 A JP1194134 A JP 1194134A JP 19413489 A JP19413489 A JP 19413489A JP H0359531 A JPH0359531 A JP H0359531A
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JP
Japan
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liquid crystal
crystal display
pixel
film
conductive film
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Application number
JP1194134A
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English (en)
Inventor
Hideaki Taniguchi
秀明 谷口
Ryoji Oritsuki
折付 良二
Akira Sasano
笹野 晃
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0359531A publication Critical patent/JPH0359531A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
この発明は液晶表示装置、特に薄膜トランジスタ等を使
用したアクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置に関
する。
【従来の技術】
アクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置は、マトリ
クス状に配列された複数の画素電極の各々に対応して非
線形素子(スイッチング素子)を設けたものである。各
画素における液晶は理論的には常時駆動(デユーティ比
1.0)されているので、時分割駆動方式を採用してい
る、いわゆる単純マトリクス方式と比べてアクティブ方
式はコントラストが良く特にカラーでは欠かせない技術
となりつつある。スイッチング素子として代表的なもの
としては薄膜トランジスタ(TPT)がある。 従来のように、1枚の液晶表示パネルで大画面を構成し
たときには高価となるから、複数の液晶表示パネルを組
み合わせて大画面を構成することが考えられている。こ
の場合、液晶表示パネルの周辺部には画素が形成されな
いから、継ぎ目部分に無効部分が生ずるので、この無効
部分を見えなくする必要がある。 従来の複数の液晶表示パネルを組み合わせた液晶表示装
置においては、特開昭61−241782号公報に示さ
れるように、偏光板上に配置された透明カバーの端部を
傾斜させることにより、継ぎ目部の無効部分が見えない
ようにしている。
【発明が解決しようとする課題1 しかし、このような液晶表示装置においては、少ない画
素が継ぎ目部に拡大して表示されるので、継ぎ目部で画
像がゆがむとともに、光度分布が極めて不均一になる。 この発明は上述の課題を解決するためになされたもので
、継ぎ目部の無効部分が見えず、継ぎ目部で画像がゆが
むことがなく、しかも光度分布がほぼ均一である液晶表
示装置を提供することを目的とする。 【課題を解決するための手段】 この目的を達成するため、この発明においては、複数の
液晶表示パネルを組み合わせた液晶表示装置において、
上記液晶表示パネルの継ぎ目部の近傍の継ぎ回部画素の
ピッチを上記液晶表示パネルの外側から内側に向かって
順次小さくシ、上記継ぎ回部画素を内部画素と同一のピ
ッチで表示する継ぎ日光中装置を設ける。
【作用] この液晶表示装置においては、継ぎ回部画素のピッチを
液晶表示パネルの外側から内側に向かつて順次小さくし
、継ぎ日光中装置により継ぎ回部画素を内部画素と同一
のピッチで表示することができるから、継ぎ目部にも画
素が表示される。 【実施例】 以下、この発明を適用すべきアクティブ・マトリクス方
式のカラー液晶表示装置を説明する。 なお、液晶表示装置を説明するための全図において、同
一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの
説明は省略する。 第2A図はこの発明が適用されるアクティブ・マトリク
ス方式カラー液晶表示装置の一画素とその周辺を示す平
面図、第2B図は第2A図のFIB−IIB切断線にお
ける断面と表示パネルのシール部付近の断面を示す図、
第2C図は第2A図のnc−nc切断線における断面図
である。また、第3図(要部平面図)には第2A図に示
す画素を複数配置したときの平面図を示す。 (画素配置) 第2A図に示すように、各画素は隣接する2本の走査信
号線(ゲート信号線または水平信号線)GLと、隣接す
る2本の映像信号線(ドレイン信号線または垂直信号g
)DLとの交差領域内(4本の信号線で囲まれた領域内
)に配置されている。 各画素は薄膜トランジスタTPT、透明画素電極ITO
Iおよび保持容量素子Caddを含む。走査信号線GL
は列方向に延在し、行方向に複数本配置されている。映
像信号線DLは行方向に延在し、列方向に複数本配置さ
れている。 (表示部断面全体構造) 第2B図に示すように、液晶LCを基準に下部透明ガラ
ス基板5UBI側には薄膜トランジスタTPTおよび透
明画素電極IT○1が形成され、上部透明ガラス基板5
UB2側にはカラーフィルタFIL、遮光用ブラックマ
トリクスパターンを形成する遮光膜BMが形成されてい
る。下部透明ガラス基板5UBIはたとえば1゜1 [
m11+]程度の厚さで構成されでいる。 第2B図の中央部は一画素部分の断面を示しているが、
左側は透明ガラス基板5UBI、5UB2の左側縁部分
で外部引出配線の存在する部分の断面を示しており、右
側は透明ガラス基板5OB1.5UB2の右側縁部分で
外部引出配線の存在しない部分の断面を示している。 第2B図の左側、右側のそれぞれに示すシール材SLは
液晶LCを封止するように構成されており、液晶封入口
(図示していない)を除く透明ガラス基板5UBI、5
UB2の縁周囲全体に沿って形成されている。シール材
SLはたとえばエポキシ樹脂で形成されている。 上部透明ガラス基板5UBZ側の共通透明画素電極IT
○2は、少なくとも一個所において、銀ペースト材SI
Lによって下部透明ガラス基板5UBI側に形成された
外部引出配線に接続されている。この外部引出配線はゲ
ート電極GT、ソース′rr1極SD1.ドレイン電極
SD2のそれぞれと同一製造工程で形成される。 配向膜○RI1.○RI2、透明画素電極ITO上、共
通透明画素電極ITO2、保護膜I” S Vl、PS
V2、絶縁膜G工のそれぞれの層は、シール材SLの内
側に形成される。偏光板POLI、POL2はそれぞれ
下部透明ガラス基板5UBI、上部透明ガラス基板5U
B2の外側の表面に形成されている。 液晶LCは液晶分子の向きを設定する下部配向膜○RI
Iと上部配向膜○RI2との間に封入され、シール部S
Lよってシールされている。 下部配向膜OR工1は下部透明ガラス基板5UBl側の
保護膜PSVIの上部に形成される。 上部透明ガラス基板5UB2の内側(液晶LC側)の表
面には、遮光膜BM、カラーフィルタFIL、保護膜P
SV2、共通透明画素電極IT○2 (COM)および
上部配向膜○P、 I 2が順次積層して設けられてい
る。 この液晶表示装置は下部透明ガラス基板5UBl側、上
部透明ガラス基板5UB2側のそれぞれの層を別々に形
成し、その後上下透明ガラス基板5UBI、5UB2を
重ね合わせ、両者間に液晶LCを封入することによって
組み立てられる。 (薄膜トランジスタTPT> 薄膜トランジスタTPTは、ゲート電極GTに正のバイ
アスを印加すると、ソース−ドレイン間のチャネル抵抗
が小さくなり、バイアスを零にすると、チャネル抵抗は
大きくなるように動作する。 各画素の薄膜1〜ランジスタTFTは、画素内において
3つ(複数)に分割され、薄膜トランジスタ(分割薄膜
トランジスタ)TFTI、TPT2およびTFT3で構
成されている。薄膜トランジスタTPTI〜TFT3の
それぞれは実質的に同一サイズ(チャンネル長と幅が同
じ)で構成されている。この分割された薄膜トランジス
タTPT 1〜TFT3のそれぞれは、主にゲート電極
GT、ゲート絶緯膜G1.i型(真性、1ntr、1n
sic、導電型決定不純物がドープされていない)非晶
質シリコン(Si)からなるi型半導体層As、一対の
ソース電極SDIおよびドレイン電極SD2で構成され
ている。なお、ソース・ドレインは本来その間のバイア
ス極性によって決まり、この液晶表示装置の回路ではそ
の極性は動作中反転するので、ソース・ドレインは動作
中入れ替わると理解されたい。しかし、以下の説明でも
、便宜上一方をソース、他方をドレインと固定して表現
する。 (ゲート電極GT) ゲート電極GTは第4図(第2A図の第1導電膜g1.
第2導電膜g2およびj型半導体層Asのみを描いた平
面図)に詳細に示すように、走査信号線GLから垂直方
向(第2A図および第4図において」二方向)に突出す
る形状で構成されている(丁字形状に分岐されている)
。ゲート電極GTは薄膜トランジスタTPTI〜TFT
3のそれぞれの形成領域まで突出するように構成されて
いる。薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれ
のゲート電極GTは、一体に(共通ゲート電極として)
構成されており、走査信号線GLに連続して形成されて
いる。グー1−電極GTは、薄膜トランジスタTPTの
形成領域において大きい段差を作らないように、単層の
第1導電膜glで構成する。第1導電膜g1はたとえば
スパッタで形成されたクロム(Cr)膜を用い、100
0[人]程度の膜厚で形成する。 このゲート電極GTは第2A図、第2B図および第4図
に示されているように、i型半導体IASを完全に覆う
よう(下方からみて)それより太き目に形成される。し
たがって、下部透明ガラス基板5UBIの下方に蛍光灯
等のバックライトBLを取り付けた場合、この不透明な
りロムからなるゲート電極GTが影となって、j型半導
体層ASにはバックライト光が当たらず、光照射による
導電現象すなわち薄膜トランジスタTPTのオフ特性劣
化は起きにくくなる。なお、ゲート電極GTの本来の大
きさは、ソース電極SDIとドレイン電極SD2との間
をまたがるに最低限必要な(ゲート電極GTとソース電
極SDI、ドレイン電極SD2との位置合わせ余裕分も
含めて)幅を持ち、チャンネル@Wを決めるその奥行き
長さはソース電極SDIとドレイン電極SD2との間の
距離(チャンネル長)Lとの比、すなわち相互コンダク
タンスgn+を決定するファクタW/Lをいくつにする
かによって決められる。 この、液晶表示装置におけるゲート電極GTの大きさは
もちろん、上述した本来の大きさよりも大きくされる。 なお、ゲート電極GTのゲートおよび遮光の機能面から
だけで考えれば、ゲート電極GTおよび走査信号線GL
は単一の層で一体に形成してもよく、この場合不透明導
電材料としてシリコンを含有させたアルミニウム(Al
)、純アルミニウム、パラジウム(P d )を含有さ
せたアルミニウム等を選ぶことができるゆ (走査信号1iG L> 走査信号線GLは第1導電膜g1およびその上部に設け
られた第2導電膜g2からなる複合膜で構成されている
。この走査信号線GLの第1導電膜g1はゲート電極G
Tの第1導電膜d1と同一製造工程で形成され、かつ一
体に構成されている6第2導電膜g2はたとえばスパッ
タで形成されたアルミニウム膜を用い、1000〜55
00[A ]程度の膜厚で形成する。第2導電膜g2は
走査信号線OLの抵抗値を低減し、信号伝達速度の高速
化(画素の情報の書込特性向上)を図ることができるよ
うに構成されている。 また、走査信号線GLは第1導電膜g1の幅寸法に比べ
て第2導電膜g2の幅寸法を小さく構成している。すな
わち、走査信号線GLはその側壁の段差形状がゆるやか
になっている。 (絶縁膜GI> 絶縁膜GIは薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそ
れぞれのゲート絶縁膜として使用される。 絶縁膜GIはゲート電極GTおよび走査信号線GLの上
層に形成されている。絶縁膜GIはたとえばプラズマC
VDで形成された窒化シリコン膜を用い、3000[A
 ]程度の膜厚で形成する。 (i型半導体層AS> i型半導体層ASは、第4図に示すように、複数に分割
された薄膜トランジスタTFTI−TFT3のそれぞれ
のチャネル形成領域として使用される。i型半導体層A
Sは非晶質シリコン膜または多結晶シリコン膜で形成し
、約1800[Al程度の膜厚で形成する。 このi型半導体層ASは、供給ガスの成分を変えてSi
□N4からなるゲート絶縁膜として使用される絶縁膜G
Iの形成に連続して、同じプラズマCVD装置で、しか
もそのプラズマCVD装置から外部に露出することなく
形成される。また、オーミックコンタクト用のPをドー
プしたN+型半導体層do(第2B図)も同様に連続し
て約400[Alの厚さに形成される。しかる後、下部
透明ガラス基板5UBIはCVD装置から外に取り出さ
れ、写真処理技術によりN+型半導体層doおよびi型
半導体J’lASは第2A図、第2B図および第4図に
示すように独立した島状にパターニングされる。 i型半導体層ASは、第2A図および第4図に詳細に示
すように、走査信号線GLと映像信号線DLとの交差部
(グロスオーバ部)の両者間にも設けられている。この
交差部のi型半導体層ASは交差部における走査信号線
GLと映像信号線DLとの短絡を低減するようにfa戒
されている。 (ソース電極SDI、ドレイン電極SD2>複数に分割
された薄膜トランジスタTFTI、〜TFT3のそれぞ
れのソース電極SDIとドレイン電極SD2とは、第2
A図、第2B図および第5図(第2A図の第1〜第3導
電膜d1〜d3のみを描いた平面図)で詳細に示すよう
に、j型半導体層AS上にそれぞれ離隔して設けられて
いる。 ソース電極SDI、ドレイン電極SD2のそれぞれは、
N+型半導体層doに接触する下層側から、第1導電膜
d1、第2導電膜d2、第3導電膜d3を順次重ね合わ
せて構成されている。ソース電極SD1の第1導電膜d
i、第2導電膜d2および第3導電膜d3は、ドレイン
電極SD2の第1導電膜di、第2導電膜d2および第
3導電膜d3と同一製造工程で形成される。 第1導電膜d1はスパッタで形成したクロム膜を用い、
500〜1.0OOC人]の膜厚(この液晶表示装置で
は、600[Al程度の膜厚)で形成する。クロム膜は
膜厚を厚く形成するとストレスが大きくなるので、20
00[Al程度の膜厚を越えない範囲で形成する。クロ
ム膜はN+型半導体層dOとの接触が良好である。クロ
ム膜は後述する第2導電膜d2のアルミニウムがN+型
半導体層doに拡散ずることを防止するいわゆるバリア
暦を構成する。 第I導電膜d1としては、クロム膜の他に高融点食R(
Mo、Ti、Ta、W)膜、高融点金属シリサイド(M
oSi、、T i S i2、TaSi2、WSi2)
膜で形成してもよい。 第121電膜d1を写真処理でパターニングした後、同
じ写真処理用マスクを用いて、あるいは第1導電膜d1
をマスクとして、N+型半導体層dOが除去される。つ
まり、i型半導体JWAS上に残っていたN+型半導体
層doは第1導電膜d1以外の部分がセルファラインで
除去される。このとき、N+型半導体層doはその厚さ
分は全て除去されるようエッチされるので、i型半導体
層ASも若干その表面部分でエッチされるが、その程度
はエッチ時間で制御すればよい。 しかる後、第2導電膜d2がアルミニウムのスパッタリ
ングで3000〜5500[入]の膜厚(この液晶表示
装置では、3500[A ]程度の膜厚)に形成される
。アルミニウム膜はクロム膜に比べてストレスが小さく
、厚い膜厚に形成することが可能で、ソース電極SDI
、ドレイン電極SD2および映像信号線DLの抵抗値を
低減するように構成されている。第2導電111d2と
してはアルミニウム膜の他にシリコンや@(Cu)を添
加物として含有させたアルミニウム膜で形成してもよい
。 第2導電膜d2の写真処理技術によるパターニング後、
第3導電膜d3が形成される。この第3導電膜d3はス
パッタリングで形成された透明導電膜(Induim−
Tin−Oxide  I T O:ネサ膜)からなり
、1000〜2000[入]の膜厚(この液晶表示装置
では、1200[人]程度の膜厚)で形成される。この
第3導電膜d3はソース電極SDI、ドレイン電極SD
2および映像信号線DLを構成するとともに、透明画素
電極IT○1を構成するようになっている。 ソース電極SDIの第1導電膜d1、ドレイン電極SD
2の第1導電膜d1のそれぞれは、上層の第2導電膜d
2および第3導電膜d3に比べて内側に(チャンネル領
域内に)大きく入り込んでいる。つまり、これらの部分
における第1導電膜diは第2導電膜d2、第3導電膜
d3とは無関係に薄膜トランジスタTPTのゲート長り
を規定できるように構成されている。 ソース電極SDIは透明画素電極ITOIに接続されて
いる。ソース電極sD1は、i型半導体層ASの段差形
状(第1導電膜g1の膜厚、N+型半導体層dOの膜厚
およびi型半導体IAsの膜厚を加算した膜厚に相当す
る段差)に沿って構成されている。具体的には、ソース
電極SDIは、i型半導体層ASの段差形状に沿って形
成された第I導電膜d1と、この第1導電膜diの上部
にそれに比べて透明画素電極ITOIと接続される側を
小さいサイズで形成した第2導電膜d2と、この第2導
電膜d2から露出する第1導電膜d1に接続された第3
導電膜d3とで構成されている。 ソース電極SDIの第2導電膜d2は第1導電膜diの
クロム膜がストレスの増大から厚く形成できず、i型半
導体層ASの段差形状を乗り越えられないので、このi
型半導体層ASを乗り越えるために構成されている。つ
まり、第2導電膜d2は厚く形成することでステップカ
バレッジを向上している。第2導電膜d2は厚く形成で
きるので、ソース電極SDIの抵抗値(ドレイン電極S
D2や映像信号線DLについても同様)の低減に大きく
寄与している。第3導電膜d3は第2導電膜d2のi型
半導体層ASに起因する段差形状を乗り越えることがで
きないので、第2導電膜d2のサイズを小さくすること
で、露出する第1導電膜dIに接続するように構成され
ている。第1導電膜diと第3導電膜d3とは接着性が
良好であるばかりか、両者間の接続部の段差形状が小さ
いので、ソース電極SDIと透明画素電極ITO1とを
確実に接続することができる。 (透明画素電極IT○1) 透明画素電極ITOIは各画素毎に設けられており、液
晶表示部の画素電極の一方を構成する。 透明画素電極ITOIは画素の複数に分割された薄膜ト
ランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれに対応して3
つの分割透明画素電極E1.E2、E3は各々薄膜トラ
ンジスタTPTのソース電極SDIに接続されている。 分割透明画素電極El〜E3のそれぞれは実質的に同一
面積となるようにパターニングされている。 このように、1画素の薄膜トランジスタTPTを複数の
薄膜トランジスタTFT工〜TFT3に分割し、この複
数に分割された薄膜トランジスタTFTI−TFT3の
それぞれに分割透明画素電極E1〜E3のそれぞれを接
続することにより、分割された一部分(たとえば、薄膜
トランジスタTFTI)が点欠陥になっても、画素全体
でみれば点欠陥でなくなる(薄膜トランジスタTPT2
および薄膜トランジスタTFT3が欠陥でない)ので、
°点欠陥の確率を低減することができ、また欠陥を見に
くくすることができる。 また、分割透明画素電極E1〜E3のそれぞれを実質的
に同一面積で構成することにより、分割透明画素電極E
1〜E3のそれぞれと共通透明画素電極IT○2とで構
成されるそれぞれの液晶容量Cpixを均一にすること
ができる。 (保護膜PSVI> 薄膜トランジスタTPTおよび透明画素電極ITOI上
には保護膜PSVIが設けられている。 保護膜PSVIは主に薄膜トランジスタTPTを湿気等
から保護するために形成されており、透明性が高くしか
も耐湿性の良いものを使用する。保護膜PSVIはたと
えばプラズマCVD装置で形成した酸化シリコン膜や窒
化シリコン膜で形成されており、8000[λコ程度の
膜厚で形成する。 (遮光膜BM> 上部透明ガラス基板5UBZ側には、外部光(第2B図
では上方からの光)がチャネル形成領域として使用され
るi型半導体層ASに入射されないように、遮蔽膜BM
が設けられ、遮蔽膜BMは第6図のハツチングに示すよ
うなパターンとされている。なお、第6図は第2A図に
おけるIT○膜からなる第3導電膜d3、カラーフィル
タFILおよび遮光膜BMのみを描いた平面図である。 ルミニウム膜やクロム膜等で形成されており、この液晶
表示装置ではクロム膜がスパッタリングで1300[A
]程度の膜厚に形成される。 したがって、薄膜トランジスタTFTI〜TFT3のi
型半導体層ASは上下にある遮光膜BMおよび太き目の
ゲート電極GTによってサンドインチにされ、その部分
は外部の自然光やバックライト光が当たらなくなる。遮
光膜BMは第6図のハツチング部分で示すように、画素
の周囲に形成され、つまり遮光膜BMは格子状に形成さ
れ(ブラックマ1〜リクス)、この格子で王画素の有効
表示領域が仕切られている6したがって、各画素の輪郭
が遮光膜BMによってはっきりとし、コントラストが向
上する。つまり、遮光膜BMはi型半導体層ASに対す
る遮光とブラックマI−リクスとの2つの機能をもつ。 なお、バックライトを上部透明ガラス基板5UB2側に
取り付け、下部透明ガラス基板5UBIを観察側(外部
露出側)とすることもできる。 (共通透明画素′?ri極ITO2> 共通透明画素電極ITO2は、下部透明ガラス基板5U
BI側に画素毎に設けられた透明画素電極IT○1に対
向し、液晶LCの光学的な状態は各画素電極IT○1と
共通透明画素電極ITO2との間の電位差(電界)に応
答して変化する。この共通透明画素電極IT○2にはコ
モン電圧Vcomが印加されるように構成されている。 コモン電圧Vcomは映像信号線DLに印加されるロウ
レベルの恥動電圧V d minとハイレベルの翳動電
圧V d maxとの中間電位である。 (カラーフィルタFIL> カラーフィルタFILはアクリル樹脂等の樹脂材料で形
成される染色基材に染料を着色して構成されている。カ
ラーフィルタFILは画素に対向する位置に各画素毎に
ドツト状に形成され(第7図)、染め分けられている(
第7図は第3図の第3導電膜層d3とカラーフィルタF
ILのみを描いたもので、R,G、Bの各カラーフィル
ターFILはそれぞれ、45°、135’、クロスのハ
ツチを施しである)。カラーフィルタFILは第6図に
示すように透明画素電極ITOI (El〜Eεの全て
を覆うように太き目に形成され、遮光膜fMはカラーフ
ィルタFILおよび透明画素電WAITOIのエツジ部
分と重なるよう透明画素電極ITOIの周縁部より内側
に形成されている。 カラ呻フィルタFILは次のように形成することができ
る。まず、上部透明ガラス基板5UB2の表面に染色基
材を形成し、フォトリングラフィ技術で赤色フィルタ形
成領域以外の染色基材を財去する。この後、染色基材を
赤色染料で染め、固着処理を施し、赤色フィルタRを形
成する。つぎに、同様な工程を施すことによって、緑色
フィルタG、青色フィルタBを順次形成する。 (保護膜PSV2> 保護膜PSV2はカラーフィルタFILを異なる色に染
め分けた染料が液晶LCに漏れることを防止するために
設けられている。保護膜PSV2はたとえばアクリル樹
脂、エポキシ樹脂等の透明樹脂材料で形成されている。 (画素配列) 液晶表示部の各画素は、第3図および第7図に示すよう
に、走査信号線GLが延在する方向と同一列方向に複数
配置され5画素列Xi、X2゜X3.X4.・・・のそ
れぞれを構成している。各画素列Xi、X2.X3.X
4.・・・のそれぞれの画素は、薄膜トランジスタTF
TI〜TFT3および分割透明画素電極E1〜E3の配
置位置を同一に構成している。つまり、奇数画素列XI
、X3゜・・・のそれぞれの画素は、薄膜トランジスタ
TPT1〜TFT3の配置位置を左側、分割透明画素電
極El−E3の配置位置を右側に構成している。 奇数画素列Xi、X3.・・・のそれぞれの行方向の隣
りの偶数画素列X2.X4.・・・のそれぞれの画素は
、奇数画素列Xi、X3.・・・のそれぞれの画素を映
像信号線DLの延在方向を基準にして線対称でひっくり
返した画素で構成されている。すなわち1画素列X2.
X4.・・・のそれぞれの画素は、薄膜トランジスタT
PTI〜TFT3の配置位置を右側、透明画素電極E工
〜E3の配置位置を左側に構成している。そして1画素
列X2.X4゜・・のそれぞれの画素は、画素列Xi、
X3.・・・のそれぞれの画素に対し、列方向に半画素
間隔移動させて(ずらして)配置されている。つまり、
画素列Xの各画素間隔を1.0 (1,0ピツチ)とす
ると、次段の画素列Xは、各画素間隔を1.0とし、前
段の画素列Xに対して列方向に0.5画素間隔(0,5
ピツチ)ずれている。各画素間を行方向に延在する映像
信号線DLは、各画素列X間において、半画素間隔分(
0,5ピツチ分)列方向に延在するように構成されてい
る。 その結果、第7図に示すように、前段の画素列Xの所定
色フィルタが形成された画素(たとえば、画素列X3の
赤色フィルタRが形成された画素)と次段の画素列Xの
同一色フィルタが形成された画素(たとえば、画素列x
4の赤色フィルタRが形成された画素)とが1.5画素
間隔(1,5ピツチ)離隔され、またRGBのカラーフ
ィルタFILは三角形配置となる。カラーフィルタFI
LのRGBの三M配置構造は、各色の混色を良くするこ
とができるので、カラー画像の解像度を向上することが
できる。 また、映像信号線DLは、各画素列X間において、半画
素間隔分しか列方向に延在しないので、隣接する映像信
号線DLと交差しなくなる。したがって、映像信号A!
DLの引き回しをなくしその占有面積を低減することが
でき、また映像信号線DLの迂回をなくし、多層配線構
造を廃止することができる。 (表示装置全体等価回路) この液晶表示装置の等価回路を第8図に示す。 X iG j X i+ I G t・・・は、緑色フ
ィルタGが形成される画素に接続された映像信号線DL
である。 XiB、Xi+lB、・・・は、青色フィルタBが形成
される画素に接続された映像信号線DLである。 Xi+IR,Xi+2R,・・・は、赤色フィルタRが
形成される画素に接続された映像信号線DLである。こ
れらの映像信号線り、Lは、映像信号開動回路で選択さ
れる。Yiは第3図および第7図に示す画素列X1を選
択する走査信号線GLである。 同様に、Yi+1.Yi+2.・・・のそれぞれは、画
素列X2.X3.・・・のそれぞれを選択する走査信号
線GLである。これらの走査信号線GLは垂直走査回路
に接続されている。 (保持容量素子Caddの構造) 分割透明画素電極El−E3のそれぞれは、薄膜トラン
ジスタTPTと接続される端部と反対側の端部において
、隣りの走査信号線GLと重なるよう、L字状に屈折し
て形成されている。この重ね合わせは、第2C図からも
明らかなように、分割透明画素電極E1〜E3のそれぞ
れを一方の電極PL2とし、隣りの走査信号線GLを他
方の電極PLIとする保持容量素子(静電容量素子)C
addを構成する。この保持容量素子Caddの誘電体
膜は、薄膜トランジスタTPTのゲート絶縁膜として使
用される絶縁膜GIと同一層で構成されている。 保持容量素子C,addは、第4図からも明らかなよう
に、ゲート線GLの第1導電膜g1の幅を広げた部分に
形成されている。なお、映像信号線DLと交差する部分
の第1導電膜g1は映像信号線DLとの短絡の確率を小
さくするため細くされている。 保持容量素子Caddを構成するために重ね合わされる
分割透明画素電極El〜E3のそれぞれと電極PLIと
の間の一部には、ソース電極sD1と同様に、段差形状
を乗り越える際に透明画素電極ITOIが断線しないよ
うに、第1導電膜d1および第2導電膜d2で構成され
た島領域が設けられている。この島領域は、透明画素電
極ITOlの面積(開口率)を低下しないように、でき
る限り小さく構成する。 (保持容量素子Caddの等価回路とその動作)第2A
図に示される画素の等価回路を第9図に示す。第9図に
おいて、Cgsは薄膜トランジスタTPTのゲート電極
GTとソース電極SDIとの間に形成される寄生容量で
ある。寄生容量Cgsの誘電体膜は絶縁膜GIである。 Cpixは透明画素電極ITOI (PIX)と共通透
明画素電極IT02 (COM)との間に形成される液
晶容量である。液晶容量Cpjxの誘電体膜は液晶LC
1保護膜PSVIおよび配向膜○RII、○RI2であ
る。■1ごは中点電位である。 保持容量素子Caddは、薄膜トランジスタTPTがス
イッチングするとき、中点電位(画素電極電位)Vie
に対するゲート電位変化ΔVgの影響を低減するように
働く。この様子を式で表すと、次式のようになる。 ΔVlc= (Cgs/(Cgs+Cadd+Cpix
)) XΔVgここで、ΔVieはΔVgによる中点電
位の変化分を表わす。この変化分ΔVlcは液晶LCに
加わる直流成分の原因となるが、保持容量Caddを大
きくすればする程、その値を小さくすることができる。 また、保持容量素子Caddは放電時間を長くする作用
もあり1g膜トランジスタTPTがオフした後の映像情
報を長く蓄積する。液晶LCに印加される直流成分の低
減は、液晶LCの寿命を向上し、液晶表示画面の切り替
え時に前の画像が残るいわゆる焼き付きを低減すること
ができる。 前述したように、ゲート電極GTはi型半導体IASを
完全に覆うよう大きくされている分、ソース電極SDI
、ドレイン電極SD2とのオーバラップ面積が増え、し
たがって寄生容量Cgsが大きくなり、中点電位Vlc
はゲート(走査)信号Vgの影響を受は易くなるという
逆効果が生じる。 しかし、保持容量素子Caddを設けることによりこの
デメリットも解消することができる。 保持容量素子Caddの保持容量は1画素の書込特性か
ら、液晶容量Cpixに対して4〜8倍(4・Cpix
<Cadd< 8 ・Cpix) 、重ね合わせ容fi
tcgsに対して8〜32倍(8・Cgs< Cadd
< 32・Cgs)程度の値に設定する。 (保持容量素子Cadd電極線の結線方法)容量電極線
としてのみ使用される最終段の走査信号線GL(または
初段の走査信号線GL)は、第8図に示すように、共通
透明画素電極ITO2(Vcom)に接続する。共通透
明画素電極IT○2は、第2B図に示すように、液晶表
示装置の周縁部において銀ペースト材SLによって外部
引出配線に接続されている。しかも、この外部引出配線
の一部の導電層(glおよびg2)は走査信号線GLと
同一製造工程で構成されている。この結果、最終段の走
査信号線(容量電極線)GLは、共通透明画素電極IT
O2に簡単に接続することができる。 または、第8図の点線で示すように、最終段(初段)の
走査信号線(容量電極線)GLを初段(最終段)の走査
信号線OLに接続してもよい。 なお、この接続は液晶表示部内の内部配線あるいは外部
引出配線によって行なうことができる。 (保持容量素子Caddの走査信号による直流分相殺) この液晶表示装置は、先に本願出願人によって出願され
た特願昭62−95125号に記載される直流相殺方式
(DCキャンセル方式)に基づき、第10図(タイムチ
ャート)に示すように、走査信号@GLの駆動電圧をi
nすることによってさらに液晶LCに加わる直流成分を
低減することができる。第10図において、Viは任意
の走査信号線OLの駆動電圧、Vi+1はその次段の走
査信号線GLの駆動電圧である。Veeは映像信号線D
Lに印加されるロウレベルの駆動電圧V d min、
Vddは映像信号線DLに印加されるハイレベルの駆動
電圧V d maxである。各時刻t=t 1〜t4に
おける中点電位Vlc(第9図参照)の電圧変化分Δv
1〜Δv4は、画素の合計の容量C=Cgs+Cpix
 + Caddとすると、次式で表される。 ΔV1=  (Cgs/C)・V2 ΔV、=+(Cgs/C)(Vl+V2)−(Cadd
/ C)・V 2 △V3=  (Cgs/C)・V1 +(Cadd/C)・(V1+V2) ΔV4=  (Cadd/C)・Vl ここで、走査信号線GLに印加される駆動電圧が充分で
あれば(下記
【注]参照)、液晶LCに加わる直流電圧
は、次式で表される。 ΔV、+△V4=(CadcJ−V2−Cgs−V 1
)/Cしたがって、Cadd−v2=Cgs−■王とす
ると、液晶LCに加わる直流電圧はOになる。 【注】時刻t1、t2で駆動電圧Viの変化分が中点電
位v1cに影響を及ぼすが、t2〜t3の期間に中点電
位V1cは信号線Xiを通じて映像信号電位と同じ電位
にされる(映像信号の十分な書き込み)。液晶LCにか
かる電位は薄膜トランジスタTPTがオフした直後の電
位でほぼ決定される(薄膜トランジスタTPTのオフ期
間がオン期間より圧倒的に長い)。したがって、液晶L
Cにかかる直流分の計算は、期間t1〜t3はほぼ無視
でき、薄膜トランジスタTPTがオフ直後の電位、すな
わち時刻t3、t4における過渡時の影響を考えればよ
い。なお、映像信号はフレーム毎、あるいはライン毎に
極性が反転し、映像信号そのものによる直流分は零とさ
れている。 つまり、直流相殺方式は、寄生容量Cgsによる中点電
位Vlcの引き込みによる低下分を、保持容量素子Ca
ddおよび次段の走査信号線(容量電極線)GLに印加
される駆動電圧によって押し上げ、液晶LCに加わる直
流成分を極めて小さくすることができる。この結果、液
晶表示装置は液晶LCの寿命を向上することができる。 もちろん、遮光効果を上げるためにゲート電極GTを大
きくした場合、それに伴って保持容量素子Caddの保
持容量を大きくすればよい。 第1A図はこの発明に係るアクティブ・マトリックス方
式のカラー液晶表示装置の液晶表示部を示す概略図、第
1B図は第1A図のA−A拡大断面図である。図におい
て、LDPI〜LDP4は液晶表示パネル、PCBは液
晶表示パネルLDP1〜LDP4の下部透明ガラス基板
5UBIに設けられた端子(図示せず)を接続する可撓
性の接続基板、PXaは液晶表示パネルLDPI〜LD
P4の通常の内部画素、PXbl〜PXb 8は液晶表
示パネルLDPI〜LDP4の継ぎ口部の近傍に設けら
れた継ぎ目部画素で、継ぎ目部画素PXbl〜pxbs
のピッチは液晶表示パネルLDP1〜LDP4の外側か
ら内側に向かって順次小さくなっている。LNSlは継
ぎ目部画素PXb1−PXb8からの光を液晶表示パネ
ルLDP 1〜LDP4の外側に屈折させるレンズ装置
、LNS2はレンズ装置LNS 1によって屈折された
光を平行光とするレンズ装置で、レンズ装置LNS1、
レンズ装置LNS2で継ぎ回部画素PXb 1〜PXb
8を内部画素PXaと同一のピッチで表示する継ぎ日光
中装置JRLを構成している。LRBは内部画素PXa
の上部に設けられた光度調整板である。 この液晶表示装置においては、継ぎ回部画素PXbl−
PXb8のピッチを液晶表示パネルLDP1〜LDP4
の外側から内側に向がって順次小さくし、継ぎ日光中装
置JRLにより継ぎ回部画素PXbl〜PXb8を内部
画素PXaと同一のピッチで表示するから、継ぎ目部に
も画素が表示されるので、継ぎ目部の無効部分が見えず
、また継ぎ回部画素PXb 1〜PXb8のピッチが内
部画素PXaのピッチと同一に見えるので、継ぎ目部で
画像がゆがむことがなく、しかも光度分布がほぼ均一で
ある。さらに、光度調整板LRBを内部画素PXaの上
部に設けているから、継ぎ日光中装置JRLにより継ぎ
回部画素PXbl−PXb8の光度が低下したとしても
、画面全体の光度分布を極めて均一にすることができる
。 以上、本発明者によってなされた発明を、前記実施例に
基づき具体的に説明したが、この発明は、前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々変更可能であることは勿論である。 たとえば、上述実施例においては、ゲート電極形成→ゲ
ート絶縁膜形成→半導体層形成→ソース・ドレイン電極
形成の逆スタガ構造を示したが、上下関係または作る順
番がそれと逆のスタガ構造でもこの発明は有効である。 また、上述実施例においては、4枚の液晶表示パネルL
DPI−LDP4を組み合わせたが、複数の液晶表示パ
ネルを組み合わせる場合にこの発明を適用することがで
きる。さらに、上述実施例においては、継ぎ日光中装置
としてレンズ装置LNS1. レンズ装置LNS2から
なる継ぎ日光中装置JRLを用いたが、これらは一体の
ものである必要はなく、隣りの画素のリーク光に干渉さ
れないように、画素毎に独立したものであってもよい。 したがって、たとえばグラスファイバ等からなる継ぎ日
光中装置を用いてもよい。また、上述実施例においては
、可撓性の接続基板PCBにより端子を接続したが、ワ
イヤボンディング等により端子を接続してもよい。 さらに、液晶表示パネルLDPI−LDP4に共通の開
動回路を設けてもよく、また各液晶表示パネルLDP1
〜LDP4それぞれに開動回路を設けてもよい。そして
、各液晶表示パネルLDP 1〜LDP4それぞれに關
動回路を設けるときには、継ぎ目部の端子に可撓性の接
続配線基板を介して開動回路を接続すればよい。また、
継ぎ日光中装置JRLと光度調整板LRBとを一一体と
してもよい。
【発明の効果】
以上説明したように、この発明に係る液晶表示装置にお
いては、継ぎ日光中装置により継ぎ回部画素を内部画素
と同一のピッチで表示するから、継ぎ目部にも画素が表
示されるので、継ぎ目部の無効部分が見えず、また継ぎ
回部画素のピッチが内部画素のピッチと同一に見えるの
で、継ぎ目部で画像がゆがむことがなく、しかも光度分
布がほぼ均一である。このように、この発明の効果は顕
著である。
【図面の簡単な説明】
第1A図はこの発明に係るアクティブ・マトリックス方
式のカラー液晶表示装置の液晶表示部を示す概略図、第
1B図は第1A図のA−A拡大断面図、第2A図はこの
発明が適用されるアクティブ・マトリックス方式のカラ
ー液晶表示装置の液晶表示部の一画素を示す要部平面図
、第2B図は第2A図のIIB−IIB切断線で切った
部分とシール部周辺部の断面図、第2C図は第2A図の
nc−■C切断線における断面図、第3図は第2A図に
示す画素を複数配置した液晶表示部の要部平面図、第4
図〜第6図は第2A図に示す画素の所定の層のみを描い
た平面図、第7図は第3図に示す画素電極層とカラーフ
ィルタ層のみを描いた要部平面図、第8図はアクティブ
・マトリックス方式のカラー液晶表示装置の液晶表示部
を示す等価回路図、第9図は第2A図に記載される画素
の等価回路図、第10図は直流相殺方式による走査信号
線の郭動電圧を示すタイムチャートである。 SUB・・・透明ガラス基板 OL・・・走査信号線 DL・・・映像信号線 GI・・・絶縁膜 GT・・・ゲート電極 AS・・・i型半導体層 SD・・・ソース電極またはドレイン電極psv・・・
保護膜 BM・・・遮光膜 LC・・・液晶 TPT・・・薄膜トランジスタ ITO・・・透明画素電極 g、d・・・導電膜 Cadd・・・保持容量素子 Cgs・・・寄生容量 Cpix・・・液晶容量 LDP・・・液晶表示パネル px・・・画素 JRL・・・継ぎ目光学装置 (コ 第6図 第9図 第10図 l t2 t、5 t4

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、複数の液晶表示パネルを組み合わせた液晶表示装置
    において、上記液晶表示パネルの継ぎ目部の近傍の継ぎ
    目部画素のピッチを上記液晶表示パネルの外側から内側
    に向かって順次小さくし、上記継ぎ目部画素を内部画素
    と同一のピッチで表示する継ぎ目光学装置を設けたこと
    を特徴とする液晶表示装置。
JP1194134A 1989-07-28 1989-07-28 液晶表示装置 Pending JPH0359531A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0843838A (ja) * 1994-08-01 1996-02-16 Rohm Co Ltd 液晶表示装置
US6639169B2 (en) 2001-09-12 2003-10-28 Kabushiki Kaisha Meidensha Contact for vacuum interrupter and vacuum interrupter using the contact
US6649855B2 (en) 2001-09-12 2003-11-18 Kabushiki Kaisha Meidensha Contact arrangement for vacuum interrupter and vacuum interrupter using the contact arrangement
US6686552B2 (en) 2001-09-12 2004-02-03 Kabushiki Kaisha Meidensha Contact for vacuum interrupter, and vacuum interrupter using same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0843838A (ja) * 1994-08-01 1996-02-16 Rohm Co Ltd 液晶表示装置
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