JPH0468018A - 半導体封止用樹脂組成物 - Google Patents

半導体封止用樹脂組成物

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JPH0468018A
JPH0468018A JP17956590A JP17956590A JPH0468018A JP H0468018 A JPH0468018 A JP H0468018A JP 17956590 A JP17956590 A JP 17956590A JP 17956590 A JP17956590 A JP 17956590A JP H0468018 A JPH0468018 A JP H0468018A
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JP
Japan
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resin
resin composition
astm
epoxy
polymaleimide
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Application number
JP17956590A
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English (en)
Inventor
Motoyuki Torikai
基之 鳥飼
Koichi Machida
町田 貢一
Mikio Kitahara
北原 幹夫
Takayuki Kubo
久保 隆幸
Kotaro Asahina
浩太郎 朝比奈
Junsuke Tanaka
淳介 田中
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Mitsui Toatsu Chemicals Inc
Original Assignee
Mitsui Toatsu Chemicals Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〕 本発明は半導体封止用樹脂組成物に閲ねり、特に耐熱性
、成形性および耐湿性に優れた半導体封止用樹脂組成物
に関する。
3従来の技術] 電気機器、電子部品、とりわけ半導体の分野では、高密
度実装化、多機能化の傾向にあり、これを封止する材料
には、実装工程における高温半田に対して、耐熱性に優
れた樹脂組成物の開発が強く望まれている。従来、半導
体封止用樹脂組成物としては、0−クレゾールノボラッ
ク型エボキン樹脂に代表されるエポキシ樹脂、その硬化
剤およびシリカを主成分とする樹脂組成物が成形性、信
頼性の点で優れているため、主流となっている。
〔発明が解決しようとする課題〕
最近の傾向として樹脂封止型半導体装置については、前
述の高密度実装化の流れにより、表面実装型の半導体装
置に変わりつつある。
このような表面実装型の半導体装置においては、従来の
挿入型半導体装置と違って、基盤への半田付は工程にお
いて半導体装置全体が200°C以上の半田付は温度に
曝される。この際、封止樹脂にクラックが発生し、半導
体装置の信頼性を大幅に低下させるよいう問題が生して
きた。この点から、樹脂強度の向上を目的として耐熱性
に優れたイミド系の樹脂を使用する研究が多くなされて
来たが、イミド系樹脂の硬化物は、可撓性、成形性の点
で問題があり、ユボキン樹脂上併用することにより、成
形性と耐熱性のバランスを取ることが検討されできた。
  しかしながら、イミド系樹脂は、離型性が忘<、脱
型時成形物が金型に付着するという問題がある。これは
従来エポキシ樹脂系に使用されていた内部離型剤が、イ
ミド樹脂系への相溶性に乏しく、樹脂組成物中への均一
分散が困難で、その結果金型への離型剤のブリードが不
均一となり、成形物が部分的に金型へ付着するためであ
る。
この問題を解決するために、内部離型剤を多量に使用す
ると、半導体素子及びリードフレームとの電着性が低下
し、ひいては耐湿性が低下する原因となる。 本発明の
目的は、耐熱性、成形性および耐湿性に優れたイミド樹
脂系封止用樹脂組成物の提供にある。
[課題を解決するための手段] 本発明者らは、エポキシ樹脂とイミド樹脂を併用して樹
脂組成物の耐熱性、成形性及び耐湿性を向上させる目的
で鋭意研究を重ねる中で、良好な離型性を付与するため
には、イミド樹脂に相溶する離型剤の選択が必要である
ことを知り、さらにある種の離型剤を組み合わせて使用
すれば、エポキシ樹脂とイミド樹脂を併用した場合でも
密着性を低下させることなく十分な離型性を付与するこ
とができ、良好な成形性と優れた耐熱性および耐湿性を
両立さセることに成功し、本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明は、 (1)、木質的に、ポリマレイミド(A)、エポキシ樹
脂(B)、エポキシ硬化剤(C)および無機充填剤(D
)からなる樹脂組成物において、内部離型剤として、A
STM−D  1386による酸価が10〜50のエス
テルワックス(E)および、ASTM−D−556によ
る滴点が90〜110℃、ASTM−D−1386によ
る酸価が10〜50、ASTM−D−1387によるケ
ン化価が75〜120の部分ケン化エステルワ。
クス(F)を含もことを特徴とする樹脂組成物、(2)
、エステルワックス(E) と!ワックス(F)の合計
量が、ポリマレイミド(A)、エポキシ樹脂(B)、エ
ポキシ硬化剤(C)の合計量100重量部に対して0.
3〜2.OM置部であり、(F)/ (E)が重量比で
0.1〜0.4であることを特徴とする請求項1記戦の
樹脂組成物、(3)、請求項(1)記載の樹脂組成物を
、半導体の樹脂封止用として使用することを特徴とする
半導体封止用樹脂組成物、 (4)請求項(2)記載の樹脂組成物を、半導体の樹脂
封止用として使用することを’l*e、:する半導体封
止用樹脂組成物、 である。
本発明に使用されるポリマレイミド(A)としては、例
えば、N、N’ −エチレンビスマレイミド、N、N 
 −へキサメチレンビスマレイミド、N、N’  −(
1,3−フェニレン)ビスマレイミド、N、N’  −
(l、4−フェニレン)ビスマレイミド、ビス(4−マ
レイミドフェニル)メタン、ヒ′ス(4−マレイミドフ
ェニル)エーテル、ビス(3クロロ−4−マレイミドフ
ェニル)メタン、ビス(4−マレイミドフェニル)スル
ホン、ビス(4マレイミドンクロへキシル)メタン、1
.4−ヒス(マレイミドメチル)ノクロヘキサン、1.
4ビス(マレイミドフェニル)ノクロヘキサン、14−
ビス(マレイミドメチル)ベンゼン、ポリマレイミドフ
ェニルメチレン等があるが、本発明においては、次の2
種類のポリマレイミドが好ましく用いられる。
第1の種類としては下記の一般式(I):よりなる2価
の基を表し、Xは直接結合、炭素数1〜10の2価の炭
化水素基、六フッ素化されγこイソプロピリデン基、カ
ルボニル基、チオ基、スルフィニル基、スルホニル基ま
たはオキシ基からなる群より選ばれる基を示す。) テ表すれるビスマレイミドである。
このようなビスマレイミドは、通常公知の方法により一
般式(■): (R,は、−C式(1)の場合と同し意味を示す。)で
表されるジアミンと無水マレイン酸を縮合 脱水反応さ
せて容易に製造できる。
上記のビスマレイミドとして具体的には、1,3ビス(
3−マレイミドフェノキシ)ベンゼン、ビス[4−(3
−マレイミドフェノキシ)フェニルコメタン、1.1〜
ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル〕エ
タン、■、2−ビス〔4(3−マレイミドフェノキン)
フェニル〕エタン、1,2−ビスC4−C3−マレイミ
ドフェノキン)フェニル]エタン、2.2−ビス(1〜
(3−マレイミドフェノキノ)フェニル〕プロパン、2
.2ビスC4−(3−マレイミドフェノキノ)フェニル
〕ブタン、2,2−ビスC4(3−マレイミドフェノキ
シ)フェニル〕L1.1.3.3,3.−ヘキシフルオ
ロプロパン、4.4−ビス(3−マレイミドフェノキシ
)ビフェニル、ビス(4−(3−マレイミドフェノキシ
)フェニル〕ケトン、ビス〔4(3−マレイミドフェノ
キシ)フェニル]スルフィド、ビス(4−(3−マレイ
ミドフェノキシ)フェニル]スルホキシド、ビスC4−
C3−マレイミドフェノキシ)フェニル〕スルホン、ビ
スC4−C3−マレイミドフェノキシ)フェニル]エー
テル 等が挙げられる。
第2の種類としては、下記式(■)。
(式中、rは平均値で0〜10である。)で表されるポ
リマレイミドである。このようなポリマレイミドは一般
式(■): (式中、では平均値で0〜10である。)で表されるポ
リアミンと無水マレイン酸を縮合 脱水反応させて容易
に製造でき、これらのポリマレイミドの1種または2種
以上が使用される。
エポキシ樹脂(B)は、1分子中に少なくとも2個のユ
ポキソ基を有するものであれば全て使用可能であり、具
体例としては、フェノール、クレゾール、レヅルシノー
ル等のフェノール類とアルデヒド類との反応生成物であ
るノボラック樹脂から誘導されるノボラック型エポキシ
樹脂、および上記のフェノール類とアラルキルエーテル
頽との反応生成物であるアラルキル樹脂から誘導される
アラルキル型エポキシ樹脂が耐熱性、電気特性の点から
好ましい。
その他、1分子中に2個以上の活性水素を有する化合物
から誘導されるエポキシ樹脂、例えば、ビスフェノール
A1ビスフエノールF、レソルシン、ビスヒドロキンジ
フェニルエーテル、ビスヒドロキシビフェノル、テトラ
ブロムビスフェノルA、トリヒドロキシフェニルメタン
、テトラヒドロキシフェニルエタン、アルカンテトラキ
スフェノール等の多価フェノール類;エチレングリコー
ル、ネオペンチルグリコール、グリセリン、トリメチロ
ールプロパン、ペンタユリスリトール、ジエチレングリ
コール、ポリプロピレングリコール、等の多価アルコー
ル類;エチレンジアミン、アニリン、ビス(4−アミノ
フェニル)メタン等のアミン類;アジピン酸、フタル酸
、イソフタル酸等の多価カルボン酸類とエピクロルヒド
リンまたは2−メチルエピクロルヒドリンを反応させて
得うレるエポキシ樹脂があり、これらのエポキシ樹脂の
1種類または2種類以上が使用される。
また、前記のエポキシ樹脂(B)として、オイル状、ゴ
ム状等のシリコーン化合物で変性したエポキシ樹脂を使
用することもできる。
例えば、特開昭62−270617号、特開昭62−2
73222号に開示さねた方法により製造されるシリコ
ーン変性エポキシ樹脂等がある。
エポキシ硬化剤(C)については公知のものが全て使用
できるが、特に、1分子中に2個以上のフェノール性水
酸基を有する化合物が好ましく使用される。具体的には
、フェノール、クレゾール、レゾルシノール等のフェノ
ール類とアルデヒド類との反応生成物であるノボラック
フェノール樹脂、上記のフェノール類とアラルキルエー
テル類との反応生成物であるアラルキルフェノール樹脂
トリヒドロキシフェニルメタン、テトラヒドロキシフェ
ニルエタン、アルカンテトラキスフェノール等の多価フ
ェノール類等が挙げられ、これらの1種類または2種類
以上が使用される。また、上記化合物にアミン類、酸無
水物を併用することもできる。
ポリマレイミド(A)、エポキシ樹脂(B)およびエポ
キシ硬化剤(C)の配合量はポリマレイミド(A)10
0重量部に対して、エポキシ樹脂(B)とエポキシ硬化
剤(C)の合計量が、10〜500重量部、好ましくは
25〜300重量部である。
また、エポキシ樹脂(B)とエポキシ硬化剤(C)の割
合は、エポキシ樹脂(B)に対してエポキシ硬化剤(C
)が当量比で0.1〜10の範囲、好ましくは0.5〜
2の範囲である。 無機充填剤(D)としてはシリカ、
アルミナ、窒化ケイ素、炭化ケイ素、タルク、ケイ酸力
ルシュウム、炭酸カルシュラム、マイカ、クレー、チタ
ンホワイト等の粉体;ガラス繊維、ガーボン繊維等の繊
維体が例示される。
これらの中で熱膨張率と熱伝導率の点から、結晶性シリ
カおよび/または溶融性シリカが好ましい。さらに、樹
脂組成物の成形時の流動性を考えると、その形状は球形
、または球形と不定形の混合物が好ましい。
無機充填剤(D)の配合量は、ポリマレイミド(A)、
エポキシ樹脂(B)およびエポキシ硬化剤(C)の合計
量100重量部に対して100〜900重量部であるこ
とが必要であり、好ましくは200〜60ON量部であ
る。
また上記の無機充填剤(D)は、機械的強度、耐熱性の
点から、樹脂との接着性向上の目的でカップリング剤を
併用することが好ましく、かかるカップリング剤として
は、シラン系、チタネート系、アルミネート系およびジ
ルコアルミネート系等の力、プリング剤が使用できる。
その中でもシラン系カップリング剤が好ましく、特に、
エポキシ樹脂、ポリマレイミドと反応する官能基を有す
るシラン系カップリング剤が最も好ましい。 がかるシ
ラン系カップリング剤の例としては、ビニルトリメトキ
シシラン、ビニルトリエトキンシラン、N−(2−アミ
ノエチル)3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン
、N−(2−アミノエチル)3−アミノプロピルトリメ
トキンシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン
、3−アニリノプロピルトリメトキシシラン、3−グリ
ンドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリソドキ
シブロピルメチルジメトキシシラン、2−(3,4−エ
ポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3
−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メ
ルカプトプロピルトリメトキシシラン 等を挙げること
ができ、これらの1種類または2種類以上が使用される
本発明において、樹脂組成物を硬化するにあたっては、
硬化促進剤を使用することが望ましい。
かかる硬化促進剤としては、2−メチルイミダゾール、
2−メチル−4−エチルイミダゾール等のイミダゾール
類;トリエタノールアミン、トリエチレンジアミン、N
−メチルモルホリン等のアミン頚;トリブチルホスフィ
ン、トリフェニルホスフィン、トリトリルホスフィン等
の有機ホスフィン類;テトラフェニルホスホニウムテト
ラフェニルポレート、トリエチルアンモニウムテトラフ
ェニルボレート等のテトラフェニルボロン塩類;18−
ジアザ−ビンクロ(5,4,0)ウンデセン−7および
その誘導体がある。 上記硬化促進剤は、単独で用いて
も2種類以上を併用してもよく、また、有機過酸化物や
アブ化合物等のラジカル開始剤を併用することもできる
。これら硬化促進剤の配合量はポリマレイミド(A)、
エポキシ樹脂(B)およびエポキシ硬化剤(C)の合計
量100重量部に対して0.01〜10重量部の範囲で
用いられる。 本発明において最も重要な成分である内
部離型剤としては、2種類のワックス系の内部離型剤を
必須成分とするが、第1の種類としては、ASTM−D
−1386による酸化が10〜50のエステルワックス
(E)である。
これらの離型剤は、ヘキスト社よりヘキストワソクスE
、ヘキストワノクスKPE等として市販されている。
第2の種類としては、ASTM  D〜556による滴
点が90〜110 ’C,ASTM−D−1386によ
る酸化が10〜50、ASTM−D−1387によるケ
ン化価が75〜120の部分ケン化エステルワックス(
F)である。
部分ケン化に使用される金属塩としては、アルカリ類及
びアルカリ土類があり、たとえば、ナトリュウム、マグ
ネシュウム、亜鉛、アルミニュウム、カルシュム等が挙
げられる。これらの離型剤は、ヘキスト社よりヘキスト
ワソクスOP、 ヘキストワンクスOM、ヘキストワソ
クスFL等として市販されている。
本発明における、2種類の離型剤の配合量は、エステル
ワックス(E)と酸ワツクス(F)の合計量がポリマレ
イミド(A)、エポキシ樹脂(B)、エポキシ硬化剤(
C)の合計量100重量部に対して0.3〜2.0重量
部であり使用量が0.3重量部未満のものは、離型性が
悪く、また使用量が2.0重量部を越えると半導体素子
、リードフレームとの密着性が低下し、ひいては耐湿性
低下の原因となる。 また、(F)/ (E)が重量比
で0.1〜0.4でなければならない、重量比が0.1
未満のものは、イミド樹脂との相溶性に乏しく、0.4
を越えるものは、リードフレーム及び半導体素子との密
着性が悪く、特に(F)のみでは離型効果が強すぎ、密
着性とのバランスが困難であり、本発明の目的が十分に
達成されない。該樹脂組成物には、上記各成分の他、必
要に応して、ブロム化合物、アンチモン、リン等の難燃
剤、カーボンフラノク等の着色剤、各種シリコーンオイ
ル等を配合し、混合・混練し、成形材料とすることがで
きる。
〔実施例] 以下、本発明を実施例により具体的に説明する。
合成例1 (ポリマレイミド(1)) 撹拌機、温度計を装着した反応容器に、無水マレイン酸
43.2g  (0,44モル)とアセトン130gを
投入し溶解する。これに4.4′−ビス(3−アミノフ
ェノキシ)ビフェニル73.6g  (0,2モル)を
アセトン515gにl容器したン容液を室温で滴下し、
さらに、23〜27゛Cで3時間撹拌する。 反応絽了
後、乾燥してビスマレアミド酸を黄色結晶として得た。
このビスマレアミド3112gをアセトン300g乙こ
懸濁させ、トリエチルアミン 9.6gを添加し、室温
で30分撹拌する。
酸化マグネシウム(It ) 0.4g、 u化コハル
ト(IT)  ・48200.04gを添加後、無水酢
酸52gを25°Cで30分かけて滴下し、さらに3時
間撹拌する。
反応終了後、生成した結晶を濾過、洗浄後、乾燥してポ
リマレイミド(1)を得た。
収量は84.5g 、理論収量に対する割合は80χ、
融点は195〜200°Cであった。
合成例2 (ポリマレイミド(2)) 撹拌機、温度計を装着した反応容器にアニリン111.
6g(1,2モル)と、α、α −ジクロロ−Pキシレ
ン70.0g  (0,4モル)を装入し、窒素ガスを
通しながら昇温した。 内温30°C位から発熱が認め
られたがそのまま昇温し、85〜100°Cで3時間一
定に保った。 この後、引き続き昇温しで190〜20
0°Cで20時間反応させた。 次いで、冷却して内温
を95°Cに下げ、これに15%苛性ソーダ水溶液23
0gを加え、撹拌中和を行った。 静置後、下層の水層
を分液除去し、飽和食塩水300gを加え、洗浄分液を
行った。 次に、窒素気流下で加熱脱水を行った後、加
圧濾過して無機塩等を除いた。これを2〜3 Torr
の真空濃縮して未反応のアニリンを回収した。
次に、撹拌機、温度計を装着した反応容器に無水マレイ
ンM35.8g  (0,358モル)とアセトン40
gを装入し熔解した。 上記アニリン樹脂50gをアセ
トン50gに溶解した溶液を滴化すると結晶が析出し、
25°Cで3時間撹拌した。 その後、トリエチルアミ
ン8.5gを添加後、25°Cで30分間撹拌する。
酸化マグネシウム(II ) 0.35g 、酢酸コバ
ルト(II)  ・4HzOO,035gを添加後、無
水酢酸45.5gを装入し、50〜55°Cで3時間撹
拌し、25°Cに冷却後、反応液を水1!中に撹拌しな
がら滴下し、生成した結晶を濾過、水洗後、乾燥して褐
色結晶のポリマレイミド(2)を得た。  このポリマ
レイミド(2)を高速液体クロマトグラフィーにより組
成分析した結果、−形式(II[)のp=oは25%、
f=1は23%、!−2は17%、!≧3は35%であ
った。
収量は74.2g、理論収量に対する割合は、98.1
%、融点は115〜130 ’Cであった。
(カップリング剤の無機充填剤表面への固定)平均粒径
18μの溶融シリカ〔ヒューズレンクス1’1D−8、
@舵森製〕5帽1部および平均粒径20μの7容融シリ
カ(ハリミンク 5−Co、 @マイクロン製)541
部に対して、N−(2−アミノエチル)3−アミノメチ
ルトリメトキシシラン1重量部を加え、ヘンシェルミキ
サーにより20分間混合した。
次いで、この混合物をステンレス製のハツトに広げ、1
10°Cで2時間乾燥し、処理シリカを得た。
実施例1〜5および比較例1. 2 合成例で得られたポリマレイミド、エポキシ樹脂(O−
クレゾ−ルノボラック型エポキシ樹脂、 EOCN−1
020日本化藁■製)、エポキシ硬化剤(ノボランクフ
ェノール樹脂;PN−80、日本化薬味製)および各種
離型剤を第1表に示す割合で撹拌機付きフラスコに投入
し、130°Cで5分間溶融混合した後、ステンレス製
のハントに広げ、急冷し混合物を得た。これらの混合物
を130’Cに調節したホットプレート上に置いたスラ
イドガラスの上に少量取り、さらにカバーガラスをがふ
せ、溶融させる。この後、ホットプレート上よりスライ
ドガラスを取り、室温にて徐冷し、溶融状態を観察した
実施例6〜12および比較例3〜6 第2表に示す組成(重量部)の配合物をヘンシェルミキ
サーで混合し、さらに100〜130°Cの熱ロールに
て3分間溶融 混練した。
この混合物を冷却、粉砕し、打錠して成形用樹脂組成物
を得た。 なお、第2表中で使用した原料で、合成例1
,2によるもの以外は、次のものを使用した。
・エポキシ樹脂、0−クレゾールノボラック型エポキシ
樹脂(EOCN−1020、日本化薬味製)・エポキシ
硬化剤;ノボランクフェノール樹脂(PN−80、日本
化薬@製) 硬化促進剤(1);)リフェニルホスフィン(TPP、
北貝化学■製) ・硬化促進剤(2);)リエチルアンモニウム・テトラ
フェニルボレート(TEA−K 、北回化学@製)・離
型剤(1);ヘキストワソクスE、酸化17(ヘキスト
ジャバン■製) ・M型剤<2);ヘキストワックスOP滴点100、酸
化12、ケン化価112(ヘキストジャパン株製) ・離型剤(3);ヘキストワソクスOM滴点95、酸化
23、ケン化価110 (ヘキストジャバン■製) ・離型剤(4);ヘキストワソクスFL滴点100、酸
化40、ケン化価90 (ヘキストジャパン■製) 以上のようにして得られた成形用樹脂組成物を用いて、
トランスファー成形(180°C130kg/cm2.
3分間)により、物性測定用の試験片を成形した。 ま
た、フラットパンケージ型半導体装置用リードフレーム
の素子搭載部に、四隅に100μ×100μ、工み1μ
のアルミニウム製ボンディングパント部とこれらを繋ぐ
、幅10μのアルミニウム配線を施した試験用素子(1
0mm X 10mm角)を搭載し、金線でリードフレ
ームとボンディングバノト部を繋いだ後、トランスファ
ー成形(180°C130kg/cm”、3分間)によ
り、試験用半導体装置を得た。
これらの試験用成形物は、各試験を行う前に、180°
Cで6時間、後硬化を行った。試験結果を第3表に示す
なお、試験方法は次の通りである。
・ガラス転移温度i  TMA法 曲げ強度、  JISに−6911 ・離型性 ; 試験用半導体装置を成形後、金型から試
験用半導体装置を離型する際、ランナーの変形、ゲート
残りおよび金型よりの取り外し易さ等を定性的に判断。
v、p、sテスト; 試験用半導体装置を121’C1
2気圧のプレッシャークツカーテスターに24時間放置
した後、直ちに260°Cの溶融半田浴に投入し、パン
ケージ樹脂にクランクの発生した半導体装置の数を数え
た。試験値を分数で示し、分子はクラックの発生した半
導体装置の数、分母は試験に供した半導体装置の総数で
ある。
・接着力試験 ;  50 X 70 X 0.25m
mの4270イ片2枚に10mmφ厚み2mmに打錠し
た樹脂組成物を挟み、加圧硬化(180’C130kg
/cm2.3分間)を行った。この試験片を引っ張り試
験機で4270イの長手方向に引っ張り、4270イ片
が剥離した時の強度を測定し、接着力とした。
・耐湿性試験 ; 試験用半導体装置を各25個づつ1
21°C12気圧のプレッシャークンカーテスターに放
置し、一定時間毎に導通チエツクを行い、アルミニウム
配線の腐食による不良発生率が50%に達する時間を判
定した。
第1表 溶解状前二〇・・・透明、  ×・・・析出吻有り〔発
明の効果) 実施例および比較例にて説明したごとく、本発明による
半導体樹脂組成物は、イミド樹脂の耐熱性とユポキシ樹
脂の成形性を効率良く付与することのできるものである
。 さらに、この樹脂組成物でリフローおよびフロー半
田付は方法が適用される表面実装型の半導体装置を封止
した場合、優れた半田耐熱性と成形性および耐湿性を示
し、信転性の高い樹脂封止型半導体装置を得ることがで
き、工業的に有用な発明である。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、本質的に、ポリマレイミド(A)、エポキシ樹
    脂(B)、エポキシ硬化剤(C)および無機充填剤(D
    )からなる樹脂組成物において、 内部離型剤として、ASTM−D−1386による酸価
    が10〜50のエステルワックス(E)および、AST
    M−D−556による滴点が90〜110℃、ASTM
    −D−1386による酸価が10〜50、ASTM−D
    −1387によるケン化価が75〜120である部分ケ
    ン化エステルワックス(F)を含むことを特徴とする樹
    脂組成物。
  2. (2)、エステルワックス(E)と酸ワックス(F)の
    合計量が、ポリマレイミド(A)、エポキシ樹脂(B)
    、エポキシ硬化剤(C)の合計量100重量部に対して
    0.3〜2.0重量部であり、(F)/(E)が重量比
    で0.1〜0.4であることを特徴とする請求項(1)
    記載の樹脂組成物。
  3. (3)、請求項(1)記載の樹脂組成物を、半導体の樹
    脂封止用として使用することを特徴とする半導体封止用
    樹脂組成物。
  4. (4)、請求項(2)記載の樹脂組成物を、半導体の樹
    脂封止用として使用することを特徴とする半導体封止用
    樹脂組成物。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015048423A (ja) * 2013-09-02 2015-03-16 信越化学工業株式会社 半導体封止用樹脂組成物及びその硬化物を備えた半導体装置

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JP2015048423A (ja) * 2013-09-02 2015-03-16 信越化学工業株式会社 半導体封止用樹脂組成物及びその硬化物を備えた半導体装置

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