JPH0455527B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0455527B2
JPH0455527B2 JP61230844A JP23084486A JPH0455527B2 JP H0455527 B2 JPH0455527 B2 JP H0455527B2 JP 61230844 A JP61230844 A JP 61230844A JP 23084486 A JP23084486 A JP 23084486A JP H0455527 B2 JPH0455527 B2 JP H0455527B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
bonding
wire
chuck
package
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP61230844A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6384130A (ja
Inventor
Yasuhiko Shimizu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP61230844A priority Critical patent/JPS6384130A/ja
Priority to US07/101,424 priority patent/US4762267A/en
Publication of JPS6384130A publication Critical patent/JPS6384130A/ja
Publication of JPH0455527B2 publication Critical patent/JPH0455527B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K20/00Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating
    • B23K20/002Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating specially adapted for particular articles or work
    • B23K20/004Wire welding
    • B23K20/005Capillary welding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45117Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
    • H01L2224/45124Aluminium (Al) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7825Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/783Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/78301Capillary
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/852Applying energy for connecting
    • H01L2224/85201Compression bonding
    • H01L2224/85205Ultrasonic bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01015Phosphorus [P]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01039Yttrium [Y]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は半導体チツプとパツケージとをワイヤ
ボンデイングするワイヤボンデイング方法に係
り、特に例えば固体撮像素子のような長尺の半導
体チツプをワイヤボンデイングする方法に関す
る。
(従来の技術) 固体撮像素子等に使用される半導体チツプは幅
1mmに対して長さが30〜100mmと長尺となつてい
る。このような長尺の半導体チツプは引き出し電
極となるボンデイングパツドが長手方向に沿つて
形成されている。従つて、通常の半導体チツプに
おけるボンデイング範囲を超えるため、従来から
下記のような特別なボンデイング方法が適用され
ている。
半導体チツプの長手方向における中央部を分
岐点とし、まず分岐点の片側に形成されたボン
デイングパツドをワイヤボンダによつてボンデ
イングする。次に、前記分岐点を中心として半
導体チツプを回転させ、分岐点の反対側のボン
デイングパツドをワイヤボンダによつてボンデ
イングする。この方法はボンデイングの方向性
を必要とする超音波ボンデイングに、特に適用
されている。
半導体チツプをワイヤボンダに反復供給し、
各供給過程で順次、ワイヤボンデイングを行な
う。
半導体チツプの搬送路に沿つてワイヤボンデ
イングを複数基、配設して各ワイヤボンダによ
つてボンデイングを行なう。
しかしながら方法においては、半導体チツプ
の回転半径が大きく、回転の際の精度が必要とな
つている。特に、ボンデイングパツドが半導体チ
ツプの長手方向端部に形成されている場合には、
端点での精度の維持が必要となつている。このた
め、ボンデイング位置の座標計算を行なう必要が
あり、操作が煩雑となつている。又、ワイヤボン
ダが搭載されるX−Yテーブルの移動ストローク
が大きくなり、装置が大型化する。一方、方法
においては、反復供給ごとに半導体チツプの位置
決めが必要となり、ロスタイムが長く、操作も煩
雑となつている。さらに方法においては、ワイ
ヤボンダの数が多くなり、装置全体が複雑化し、
コスト高ともなつている。
(発明が解決しようとする問題点) 以上のように、いずれの従来技術においても操
作の煩雑さが解消されず、ワイヤボンデイングの
際の調整が面倒となつている。
本発明は上記事情を考慮してなされ、長尺の半
導体チツプのワイヤボンデイングに好適に実施で
きるワイヤボンデイング方法を提供することを目
的とする。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するための手段) 上記目的は長尺の半導体チツプに形成されたボ
ンデイングパツドとパツケージに形成された電極
とを、半導体チツプがチヤツク台でチヤツキング
された状態でワイヤボンダによりワイヤボンデイ
ングするワイヤボンデイング方法において、前記
チヤツク台により前記半導体チツプをチヤツキン
グし、前記ワイヤボンダのボンデイング領域内の
ボンデイングパツドと電極とをワイヤボンデイン
グする第1の工程と、前記チヤツク台によるチヤ
ツキングを解除し前記半導体チツプを所定ピツチ
搬送する第2の工程と、前記チヤツク台を所定ピ
ツチ搬送された前記半導体チツプに沿うように旋
回させる第3の工程と、前記チヤツク台により前
記半導体チツプをチヤツキングし、前記ワイヤボ
ンダのボンデイング領域内に達した前記半導体チ
ツプのボンデイングパツドと電極とをワイヤボン
デイングする第4の工程とを有することを特徴と
するワイヤボンデイング方法によつて達成され
る。
(作用) 半導体チツプは搬送路上を直線方向に移動す
る。この直線移動中にチヤツク台が旋回し、半導
体チツプを少なくともその上流側と下流側の2箇
所でチヤツキングする。そして各チヤツキング動
作時に、ワイヤボンダのボンデイング領域内に位
置したボンデイングパツドにワイヤボンデイング
が行なわれる。これにより、半導体チツプの長手
方向に形成されたボンデイングパツドが順次、ボ
ンデイングされる。
(実施例) 以下、本発明をさらに具体的に説明する。
本発明は、搬送路上の半導体チツプをチヤツク
台によりチヤツキングしてワイヤボンダのボンデ
イング領域内をボンデイングする第1工程と、こ
のボンデイング終了後に半導体チツプを所定ピツ
チだけ移動させる第2工程と、移動した半導体チ
ツプをチヤツキングするためチヤツク台を旋回さ
せる第3工程と、旋回したチヤツク台により半導
体チツプを再度、チヤツキングしてワイヤボンデ
イングを行なう第4工程とからなつている。第1
図、第2図および第3図は第1工程における半導
体チツプ、チヤツク台、ワイヤボンダの位置関係
を示す平面図、正面図および側面図を示し、第4
図は第2工程における半導体チツプ、チヤツク
台、ワイヤボンダの位置関係を示す正面図を、第
5図は第3工程における半導体チツプ、チヤツク
台、ワイヤボンダの位置関係を示す正面図を示し
ている。図示の実施例はパツケージ1に長尺の半
導体チツプ2がセツトされた状態でワイヤボンデ
イングを行なう場合を示している。又、この実施
例で半導体チツプ2の長手方向の両端部近傍にボ
ンデイングパツド4が形成される。パツケージ1
はセラミツク板が積層されたり、あるいは合成樹
脂がモールドされることで成形されており、半導
体チツプ2が収納される凹部にはボンデイングパ
ツド4とワイヤボンデイングされる電極(図示せ
ず)が印刷手段等によつて形成されている。8は
電極に接続されたアウターリードであり、外部機
器のソケツト(図示せず)等に挿入され、これに
より信号の授受がなされて半導体装置が機能する
ようになつている。半導体チツプ2はパツケージ
1内に予め、位置決め、セツトされた状態で搬送
路により半導体チツプ2の長手方向に搬送され
る。搬送は半導体チツプ2がセツトされたパツケ
ージ1が搭載されるキヤリヤ9と、キヤリヤ9を
移動させるワークフイーダ(図示せず)とからな
つている。キヤリヤ9は、例えば無端ベルト等の
コンベアが使用されており、後述するチヤツク台
3によるチヤツキングを行なうためパツケージ1
の長手方向に沿つた長穴が適宜、開設されてい
る。ワイヤボンデイングを行なうワイヤボンダ1
0はこのような搬送路の定位置に設けられてお
り、半導体チツプ2のボンデイングパツド4とパ
ツケージ1の電極との間に金線、アルミニウム線
等の導線を掛け渡し、超音波振動等によつて接続
を行なう。又、ワイヤボンダ10の下方にはワイ
ヤボンデイング時にパツケージ1をチヤツキング
するチヤツク台3が設けられている。チヤツク台
3はパツケージ1の下面に沿つたチヤツク板3a
とチヤツク板3aを支持する軸体3bとが一体化
された「L」字形をなしている。このチヤツク台
3はモータ、シリンダ等の回転手段(図示せず)
に接続されており、回転手段の駆動で水平面内を
旋回する構造となつている。又、パツケージ1の
チヤツキングは本実施例では真空吸着によつて行
なわれるようになつており、チヤツク板3aの上
面に吸着溝6が形成されると共に軸体3bに吸着
孔7が形成され、これらが図示しない真空ポンプ
等に接続されている。
第1工程では、まず半導体チツプ2がパツケー
ジ1にセツトされた状態でキヤリヤ9によつて、
第2図矢印A方向に搬送される。パツケージ1が
チヤツク台3上方に達すると、チヤツク台3が矢
印Bのように上昇してパツケージ1の下面に当接
し、真空吸着によつてパツケージ1をチヤツキン
グする。これにより、パツケージ1は移動を停止
し、ワイヤボンダ10の下方で定位置に保持され
る。この場合、パツケージ1のチヤツキングは搬
送方向下流側(図示の例では右側)のボンデイン
グパツド4がワイヤボンダ10の下方に位置する
ように行なわれる。すなわち、一点鎖線5の位置
で停止するように行なわれる。次に、この状態で
ワイヤボンダ10によつて同位置のボンデイング
パツド4とパツケージ1の電極とが超音波により
ワイヤボンデイングがなされる。すなわち、ワイ
ヤボンダ10のボンデイング領域(半導体チツプ
2の右端側)にあるボンデイングパツド4と電極
とがボンデイングされる(第1段のボンデイン
グ) 第1段のボンデイングが終了した後は第2工程
に移行する。第2工程では第4図に示すように、
チヤツク台3が下降してチヤツキングが解除さ
れ、半導体チツプ2はパツケージ1と共にキヤリ
ヤ9によつて矢印A方向に搬送される。この搬送
は、上流側(図示の例では左端側)に形成された
ボンデイングパツド4がワイヤボンダ10下方に
位置するまでの所定ピツチPで行なわれる。これ
により、パツケージは一点鎖線5aの部分がワイ
ヤボンダ10下方に位置する。
次に、第3工程では第5図のように、チヤツク
台3のチヤツク板3aがパツケージ1下面に沿う
ように180°旋回する。従つて、チヤツク板3aは
パツケージ1の真下に位置し、第4工程に移行す
る。第4工程は上記第1工程と同様な手順で行な
われるから、その図示を省略する。第4工程では
まず、旋回したチヤツク台3が上昇してパツケー
ジ1をチヤツキングする。このチヤツキングにあ
つてはチヤツク台3が旋回してパツケージ1下面
に沿う位置となつているから、次に送られくる新
たなパツケージ1と接触したり、干渉することが
なく、確実に行なうことができる。そしてワイヤ
ボンダ10のボンデイング領域(一点鎖線5a近
辺)に位置したボンデイングパツド4とパツケー
ジ1の電極とが超音波によつてワイヤボンデイン
グされる(第2段のボンデイング)。これによつ
て、半導体チツプ2の長手方向の両端部に形成さ
れた全てのボンデイングパツド4のワイヤボンデ
イングが終了するから、チヤツク台3が下降し、
半導体チツプ2はパツケージ1と共にキヤリヤ9
によつて搬出される。この搬出と同時に、次段の
新たな半導体チツプ2がパツケージ1と共に搬送
され、新たなワイヤボンデイングが行なわれる。
このワイヤボンデイングでは上記第1〜4工程を
繰り返すが、チヤツク台3は逆方向に旋回して第
2図の状態に戻り、一点鎖線5の位置で新たなパ
ツケージ1のチヤツキングを行なう。
このような方法によると、長尺の半導体チツプ
を回転させる必要がないから半導体チツプの位置
決めが簡単で、且つ正確に行なうことができる。
又、半導体チツプを1回搬送するだけで全てのワ
イヤボンデイングが終了するから作業も簡略化さ
れる。さらにはワイヤボンダを多数併設する必要
もなく、装置全体も簡略化、小型化することがで
きる。
なお、本発明はボンデイングパツド4が半導体
チツプ2の両端付近に集中している場合だけでは
なく長手方向全域に形成されている場合にも同様
に適用することができる。この場合には、ワイヤ
ボンダのボンデイング領域に合わせたピツチで半
導体チツプを搬送する。又、チヤツク台3による
チヤツキングを機械的に行なつてもよい。
また上記実施例では半導体チツプがパツケージ
に収納されたタイプの素子について説明したが、
リードヘレームに長尺の半導体チツプが搭載され
たタイプの素子についても本発明を適用できるこ
とはいうまでもない。
〔発明の効果〕
以上のとおり本発明によれば、チヤツク台を旋
回させて半導体チツプのチヤツキングを行ない、
半導体チツプを回転させることなくワイヤボンデ
イングを行なうようにしたから、位置決めが容易
且つ正確となり、ボンデイング操作が簡略化され
ると共に、迅速化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図および第3図は本発明によるワ
イヤボンデイング方法の第1工程における半導体
チツプ、チヤツク台、ワイヤボンダの位置関係を
示す平面図、正面図および側面図、第4図は第2
工程における半導体チツプ、チヤツク台、ワイヤ
ボンダの位置関係を示す正面図、第5図は同ワイ
ヤボンデイング方法の第3工程における半導体チ
ツプ、チヤツク台、ワイヤボンダの位置関係を示
す正面図である。 1……パツケージ、2……半導体チツプ、3…
…チヤツク台、4……ボンデイングパツド、9…
…キヤリヤ(搬送路)、10……ワイヤボンダ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 長尺の半導体チツプに形成されたボンデイン
    グパツドとアウターリードに接続された電極と
    を、半導体チツプがチヤツク台でチヤツキングさ
    れた状態でワイヤボンダによりワイヤボンデイン
    グするワイヤボンデイング方法において、 前記チヤツク台により前記半導体チツプをチヤ
    ツキングし、前記ワイヤボンダのボンデイング領
    域内のボンデイングパツドと電極とをワイヤボン
    デイングする第1の工程と、 前記チヤツク台によるチヤツキングを解除し前
    記半導体チツプを所定ピツチ搬送する第2の工程
    と、 前記チヤツク台を所定ピツチ搬送された前記半
    導体チツプに沿うように旋回させる第3の工程
    と、 前記チヤツク台により前記半導体チツプをチヤ
    ツキングし、前記ワイヤボンダのボンデイング領
    域内に達した前記半導体チツプのボンデイングパ
    ツドと電極とをワイヤボンデイングする第4の工
    程と を有することを特徴とするワイヤボンデイング方
    法。 2 特許請求の範囲第1項記載の方法において、 前記半導体チツプがパツケージにセツトされた
    状態で搬送されることを特徴とするワイヤボンデ
    イング方法。 3 特許請求の範囲第1項又は第2項記載の方法
    において、 超音波によつてボンデイングを行なうことを特
    徴とするワイヤボンデイング方法。 4 特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれか
    に記載の方法において、 前記チヤツク台が真空吸着によつて半導体チツ
    プのチヤツキングを行なうことを特徴とするワイ
    ヤボンデイング方法。
JP61230844A 1986-09-29 1986-09-29 ワイヤボンディング方法 Granted JPS6384130A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61230844A JPS6384130A (ja) 1986-09-29 1986-09-29 ワイヤボンディング方法
US07/101,424 US4762267A (en) 1986-09-29 1987-09-28 Wire bonding method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61230844A JPS6384130A (ja) 1986-09-29 1986-09-29 ワイヤボンディング方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6384130A JPS6384130A (ja) 1988-04-14
JPH0455527B2 true JPH0455527B2 (ja) 1992-09-03

Family

ID=16914172

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61230844A Granted JPS6384130A (ja) 1986-09-29 1986-09-29 ワイヤボンディング方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US4762267A (ja)
JP (1) JPS6384130A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5260514A (en) * 1992-02-28 1993-11-09 Lsi Logic Corporation Wire bonder and vacuum pedestal workholder for same
WO2014008937A1 (en) * 2012-07-12 2014-01-16 Assa Abloy Ab Method of manufacturing a functional inlay

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3909933A (en) * 1973-03-30 1975-10-07 Western Electric Co Method for transferring and bonding articles
JPS5366167A (en) * 1976-11-26 1978-06-13 Hitachi Ltd Positioning method
US4583676A (en) * 1982-05-03 1986-04-22 Motorola, Inc. Method of wire bonding a semiconductor die and apparatus therefor
US4597522A (en) * 1983-12-26 1986-07-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Wire bonding method and device

Also Published As

Publication number Publication date
US4762267A (en) 1988-08-09
JPS6384130A (ja) 1988-04-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3724068A (en) Semiconductor chip packaging apparatus and method
US7568606B2 (en) Electronic device handler for a bonding apparatus
KR970018297A (ko) 회전운동을 하는 픽업 툴을 구비하는 다이본딩 장치
US20080093004A1 (en) Electronic device handler for a bonding apparatus
JP2003086758A (ja) 半導体装置の製造方法、製造装置、及び、半導体装置
JPH0455527B2 (ja)
JP3747054B2 (ja) ボンディング装置及びボンディング方法
KR100312743B1 (ko) 반도체 다이본다용 위치 인식과 검사장치 및 그 방법
KR100252317B1 (ko) 리드 프레임의 다이 본딩장치
KR101097062B1 (ko) 다이 본더
KR0167457B1 (ko) 다이 부착과 동시에 와이어 본딩이 이루어지는 와이어 본딩 장치
JP2901412B2 (ja) Loc用ダイボンダ
KR100312744B1 (ko) 씨에스피용 박막필름의 이송 및 클램프 장치
JPH08203962A (ja) チップ位置決め装置、チップステージおよびインナリードボンディング装置ならびに方法
KR100315514B1 (ko) 2-헤드 타입의 씨에스피 본더장치
JP3241649B2 (ja) 半導体デバイスの製造方法およびその製造装置
JP3479391B2 (ja) チップマウンタおよびチップ接続方法
JP2005311013A (ja) ダイボンディング装置
JP2782929B2 (ja) インナーリードのボンディング機構及びtab式半導体装置の製造方法
KR200211723Y1 (ko) 티·시·피 제조시의 폿팅 공정용 테이프 이송장치
KR100275670B1 (ko) 웨이퍼 마운트 설비
KR0119761Y1 (ko) 다이본딩 장비의 에폭시 도포장치
JP2685029B2 (ja) ワイヤボンディング装置
KR100451760B1 (ko) 테이프캐리어패키지제조공정용인너리드본딩장치의구조
JPH0669254A (ja) リードフレーム位置決めストッパ機構およびそれを用いたワイヤボンダ

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees