JPH0450386B2 - - Google Patents

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JPH0450386B2
JPH0450386B2 JP58180392A JP18039283A JPH0450386B2 JP H0450386 B2 JPH0450386 B2 JP H0450386B2 JP 58180392 A JP58180392 A JP 58180392A JP 18039283 A JP18039283 A JP 18039283A JP H0450386 B2 JPH0450386 B2 JP H0450386B2
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JP
Japan
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thin film
black
reaction gas
sic
color
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JP58180392A
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JPS6075577A (ja
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Yasuhisa Shiraishi
Takashi Fujita
Yoshiharu Ochi
Masahiko Hirose
Katsutaro Ichihara
Takashi Ishigami
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B44DECORATIVE ARTS
    • B44FSPECIAL DESIGNS OR PICTURES
    • B44F1/00Designs or pictures characterised by special or unusual light effects
    • B44F1/08Designs or pictures characterised by special or unusual light effects characterised by colour effects
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
    • C23C16/30Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
    • C23C16/32Carbides
    • C23C16/325Silicon carbide

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Description

【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕 本発明は黒色装飾品に関し、更に詳しくは炭化
ケイ素(SiC)で被覆され、黒色光沢を有する装
飾品に関する。 〔発明の技術的背景とその問題点〕 黒色の表面光沢を有する部材は格調の高い装飾
品として賞用される。とくに、時計の側、メガネ
の枠には好適である。 しかしながら、このような黒色装飾品が工業的
に製造されたという例は未だない。例えば、窒化
ケイ素などの焼結体セラミツクスは黒色を呈して
いるが、それはくすぶつた黒色であり光沢の鮮や
かな黒色ではなく、到底装飾品としての価値を有
するものではない。また、ステンレス鋼や超硬合
金などの基体の表面に物理蒸着法(PVD法)で
薄膜コーテイングを施して黒色装飾品を製造する
ことが試みられているが光沢のある黒色コーテイ
ングを得ることができていない。 それゆえ、黒色光沢を有する装飾品の工業的な
開発は強く望まれていることである。 〔発明の目的〕 本発明は、工業的規模で製造することが可能
で、光沢に優れた黒色表面を有する装飾品の提供
を目的とする。 〔発明の概要〕 本発明の黒色装飾品は、その表面がSiC薄膜で
被覆されていることを特徴とする。 本発明の装飾品において、表面を被覆するSiC
薄膜は、半透明でかつ厚さ1μm以上を有してお
り、JISZ8105−2068で規定する(CIE1976)L*
a*,b*色空間において、L*,a*,b*はそれぞれ、
30%≦L*≦50%,(a*2+(b*2≦25の関係を満
足するような色調を有しているものである。 この色調のとき、SiC薄膜は格調高い黒色光沢
をもつて輝いている。L*が小さすぎると、薄膜
表面の明度が低くなり光沢が不満足であり、また
大きすぎると、明度が高くなりすぎて金属色(金
属光沢)となり黒色ではなくなる。したがつて
L*は30%から50%の範囲が好ましく、更には35
%〜45%が好ましい。また、(a*2+(b*2が大き
すぎると、薄膜表面が黒色から、赤.(若しくは
その補色の縁)又は黄(若しくはその補色の補色
の青)の色相の採度が強くなり良好な黒色とはい
いがたくなるので、(a*2+(b*2は25以下が好ま
しく、更には16以下が好ましい。 本発明にかかるSiC薄膜は、半透明でかつ厚さ
1μm以上の薄膜を形成し、意図する色空間が得ら
れる形成方法であれば何ら特定されているもので
はないが、例えば模式図として例示した以下の処
理装置を用いたプラズマ化学蒸着法(PCVD法)
によつて形成することができる。 図で、1は反応室で、室内にはヒータ用電源2
に接続したヒータ3、その上には放電用直流電源
4に接続した負電極5と負電極5と対向して正電
極6が配置されている。負電極5は表面処理すべ
き基体7の支持台の機能も兼ねている。 反応室1には、原料である反応ガスの供給系
(図示した右側の系)が連結されていて、ここか
ら、所定の流量で各原料が導入される。反応ガス
は水素(H2)と四塩化ケイ素(SiC4)と炭化水
素の3種類の混合ガスである。図で、8は炭化水
素の供給ボンベである。用いる炭化水素として
は、メタン、エタン、プロパン、エチレン、アセ
チレン、プロピレンなどが好適で、あまり炭素数
の多い炭化水素は取り扱い上好ましくない。 9はSiCl4のバブラー恒温槽で、ここに収納さ
れているSiCl4は水素ボンベ10から送入される
水素でバブリングされ、該恒温槽9の温度に相当
する蒸気圧のSiCl4がH2とともに反応室1内に導
入される。このとき、槽9の温度はSiCl4の供給
量から決められるが、通常は−70〜10℃の範囲に
ある。 またアルゴンボンベ11は基体7の表面をSiC
薄膜で被覆するに先立ち、該基体表面を清浄化す
るためのアルゴン(Ar)スパツク用である。さ
らに12は反応室1内を所定のガス圧にするため
の真空ポンプ、13は真空ポンプの油逆流防止,
SiC薄膜形成時に副生する塩化物を捕捉するため
のトラツプであり、これら全体で排気系が構成さ
れている。 図の装置を用いて、まず、供給系からArガス
を適当量導入しながら真空ポンプ12で排気し反
応室1内を約0.05TorrのAr雰囲気に圧力調節し
基体7の表面を電流密度約0.5mA/cm2でスパツタ
して清浄化する。 その後、反応ガス供給系を切替え反応ガス
(H2+SiCl4+CH4)を反応室1内に導入しなが
ら排気し反応ガスの全体圧力を所定の値に調節し
ながら、ヒータ3で基体7を加熱して両電極5,
6間に電圧印加し反応室1内にグロー放電を発生
させる。 室内のガス圧が0.05Torr未満の場合にはグロ
ー放電が発生せず、また5Torrを超えるとグロー
放電が安定しないばかりでなくアーク放電が発生
し始める。好ましくは0.5〜2Torrである。 基体の加熱温度は100〜1000℃、好ましくは300
〜700℃、最も好ましくは500℃である。 また、放電時、基体の単位面積当りに流す電流
の電流密度は0.01〜1mA/cm2,好ましくは0.05〜
0.5mA/cm2である。 装置を運転するに当り必要な他のパラメータ,
例えば放電維持電圧,反応ガスの流量などは、反
応量の大きさや基体の表面積が変動すると上記し
た3つの条件の変動に対応して変化させなければ
ならないので一義的には決められない。 本発明にかかるSiC薄膜を形成する場合に重要
な問題は、上記した反応ガス中で、炭素の原子数
とケイ素の原子数を所定の割合で制御することで
ある。 すなわち、反応ガス中の炭素の原子数をnと
し、反応ガス中のSiの原子数をn′としたとき、反
応ガス中にあつてはn/n+nが75%以上となるよ うに各反応ガスの供給量が制御されるべきであ
る。 この比(モル%)が小さすぎると、形成された
SiC薄膜はその明度が大きくなりすぎて望ましい
色調が得られなくなる。好ましくは80〜90%であ
る。 また、本発明にかかるSiC薄膜の形成に当つて
は、形成される薄膜が半透明膜なのでその膜厚が
1μmより薄いときには千渉縞を伴つた千渉色とな
るので、格調高い黒色光沢を得るには膜厚は1μm
以上形成しなければならない。好ましくは1.5〜
2.5μm程度である。 なお、表面処理する基材としては、時計の側、
メガネの枠など装飾品の基材となり得るもので、
かつ、上記した薄膜形成時に適用される温度に耐
え得るものであればいかなるものであつてもよ
い。例えば、金属、セラミツク(含ガラス)等が
あるが、基材が金属であれば導電性があり、SiC
が付着しやすく、一方、セラミツクであると基体
が硬い為、圧痕ができにくい装飾品を提供でき
る。 〔発明の実施例〕 実施例 1〜3 図に示した装置を用い、かつ表示した条件で
Ni基硬質合金ブロツクおよび時計側の鏡面仕上
げした表面をSiC薄膜で被覆した。この薄膜につ
き、その硬度をマイクロウ″イツカース計で測定
し、また膜厚は薄膜をシヤドウイングしそのとき
形成された段差を表面粗さ計で測定した。更に、
この色調はJISZ8105−2014で規定する標準の光
Cを用いてJISZ8105−1013で規定する分光反射
率を求め、その値を(CIE1976)L*,a*,b*
空間に変換して定量化した。また、色調を肉眼観
察した。 以上の結果を一括して表に示した。
【表】
〔発明の効果〕
以上の説明で明らかなように、本発明にかかる
SiC薄膜の表面は格調の高い黒色光沢を示し、か
つ硬度も高い。したがつて、本発明の装飾品は時
計,メガネなどの高級な黒色装飾品としての価値
が大きく極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
図は、本発明の装飾品を製造する際に用いる装
置例の摸式図である。 1…反応室、2…ヒータ用電源、3…ヒータ、
4…グロー放電用直流電源、5…負電極兼支持
台、6…正電極、7…基材、8…炭化水素ボン
ベ、9…四塩化ケイ素バブラー恒温槽、10…水
素ボンベ、11…アルゴンボンベ、12…真空ポ
ンプ、13…トラツプ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 基材の表面がプラズマ化学蒸着法で形成され
    た半透明でかつ厚さ1μm以上の炭化ケイ素薄膜で
    被覆されており、該炭化ケイ素薄膜はJIS Z
    8105−2068で規定する(ClE1976)L*,a*,b*
    空間において、L*,a*,b*はそれぞれ、30%≦
    L*≦≦50%,(a*2+(b*2≦25の関係を満足す
    るような色調を有していることを特徴とする黒色
    装飾品。 2 該プラズマ化学蒸着法において、反応ガス中
    の炭素の原子数をn、反応ガス中のケイ素の原子
    数をn′としたとき、n、n′が75%≦n/(n+
    n′)の関係を満足する数である特許請求の範囲第
    1項記載の黒色装飾品。
JP58180392A 1983-09-30 1983-09-30 黒色装飾品 Granted JPS6075577A (ja)

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JP58180392A JPS6075577A (ja) 1983-09-30 1983-09-30 黒色装飾品
US06/655,223 US4634635A (en) 1983-09-30 1984-09-27 Black ornament
CH4673/84A CH662131A5 (de) 1983-09-30 1984-09-28 Schwarzes ornament.

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JPS6075577A JPS6075577A (ja) 1985-04-27
JPH0450386B2 true JPH0450386B2 (ja) 1992-08-14

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