JPH044398B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH044398B2 JPH044398B2 JP62163465A JP16346587A JPH044398B2 JP H044398 B2 JPH044398 B2 JP H044398B2 JP 62163465 A JP62163465 A JP 62163465A JP 16346587 A JP16346587 A JP 16346587A JP H044398 B2 JPH044398 B2 JP H044398B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- samarium
- chloride
- cobalt
- plating
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 31
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 17
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 17
- GVPFVAHMJGGAJG-UHFFFAOYSA-L cobalt dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Co+2] GVPFVAHMJGGAJG-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 14
- BHXBZLPMVFUQBQ-UHFFFAOYSA-K samarium(iii) chloride Chemical compound Cl[Sm](Cl)Cl BHXBZLPMVFUQBQ-UHFFFAOYSA-K 0.000 claims description 14
- KPLQYGBQNPPQGA-UHFFFAOYSA-N cobalt samarium Chemical compound [Co].[Sm] KPLQYGBQNPPQGA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 229910000938 samarium–cobalt magnet Inorganic materials 0.000 claims description 11
- ZHNUHDYFZUAESO-UHFFFAOYSA-N Formamide Chemical group NC=O ZHNUHDYFZUAESO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 description 24
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 7
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 7
- KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N samarium atom Chemical compound [Sm] KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N Ethylenediamine Chemical compound NCCN PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 4
- 239000003125 aqueous solvent Substances 0.000 description 4
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 4
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 3
- 239000002932 luster Substances 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- DLFVBJFMPXGRIB-UHFFFAOYSA-N Acetamide Chemical compound CC(N)=O DLFVBJFMPXGRIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229940097267 cobaltous chloride Drugs 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 150000004687 hexahydrates Chemical class 0.000 description 2
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hydrogen chloride Substances Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 150000004682 monohydrates Chemical class 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002651 NO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N Nitrate Chemical compound [O-][N+]([O-])=O NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000008064 anhydrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001805 chlorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- UFMZWBIQTDUYBN-UHFFFAOYSA-N cobalt dinitrate Chemical compound [Co+2].[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O UFMZWBIQTDUYBN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001981 cobalt nitrate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000008139 complexing agent Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 150000004683 dihydrates Chemical class 0.000 description 1
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 1
- 239000002659 electrodeposit Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- RUOJZAUFBMNUDX-UHFFFAOYSA-N propylene carbonate Chemical compound CC1COC(=O)O1 RUOJZAUFBMNUDX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 1
- YZDZYSPAJSPJQJ-UHFFFAOYSA-N samarium(3+);trinitrate Chemical compound [Sm+3].[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O YZDZYSPAJSPJQJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 150000004685 tetrahydrates Chemical class 0.000 description 1
- TXVNDKHBDRURNU-UHFFFAOYSA-K trichlorosamarium;hexahydrate Chemical compound O.O.O.O.O.O.[Cl-].[Cl-].[Cl-].[Sm+3] TXVNDKHBDRURNU-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005292 vacuum distillation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/64—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent
- G11B5/65—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent characterised by its composition
- G11B5/656—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent characterised by its composition containing Co
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D3/00—Electroplating: Baths therefor
- C25D3/02—Electroplating: Baths therefor from solutions
- C25D3/56—Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys
- C25D3/562—Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys containing more than 50% by weight of iron or nickel or cobalt
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/84—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
- G11B5/858—Producing a magnetic layer by electro-plating or electroless plating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
- H01F41/14—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates
- H01F41/24—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates from liquids
- H01F41/26—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates from liquids using electric currents, e.g. electroplating
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、磁性材料として有用なサマリウム
−コバルト合金を得ることのできるめつき法に関
し、サマリウム塩化物とコバルト塩化物とこれら
を溶解する非水溶媒とからなるめつき浴を用いる
ことにより、容易かつ簡便に高品質のサマリウム
−コバルト合金膜等が得られるようにしたもので
ある。
−コバルト合金を得ることのできるめつき法に関
し、サマリウム塩化物とコバルト塩化物とこれら
を溶解する非水溶媒とからなるめつき浴を用いる
ことにより、容易かつ簡便に高品質のサマリウム
−コバルト合金膜等が得られるようにしたもので
ある。
サマリウム−コバルト合金は高性能磁石として
有用であり、またその薄膜は磁気記録媒体などへ
の応用が考えられている。
有用であり、またその薄膜は磁気記録媒体などへ
の応用が考えられている。
従来、サマリウム−コバルト合金薄膜を得る方
法としてはスパツタ法や真空蒸着法によるものが
知られている。しかし、このスパツタ法などによ
るものでは、装置が高価であり、生産性も低く、
さらには複雑な形状や大型の基材への薄膜形成が
困難である問題がある。
法としてはスパツタ法や真空蒸着法によるものが
知られている。しかし、このスパツタ法などによ
るものでは、装置が高価であり、生産性も低く、
さらには複雑な形状や大型の基材への薄膜形成が
困難である問題がある。
このような問題を解決するものとして、最近プ
ロピレンカーボネートに硝酸サマリウムと硝酸コ
バルトを溶解した非水溶媒系のめつき浴を用いる
湿式めつき法が提案されている（社団法人 金属
表面技術協会 第72回学術講演大会 要旨集第30
〜31頁参照）。
ロピレンカーボネートに硝酸サマリウムと硝酸コ
バルトを溶解した非水溶媒系のめつき浴を用いる
湿式めつき法が提案されている（社団法人 金属
表面技術協会 第72回学術講演大会 要旨集第30
〜31頁参照）。
しかしながら、この方法は結晶水を含む硝酸塩
を用いているので、めつき浴中に水分が含まれる
ことになり、一般に卑な金属を非水溶媒系のめつ
き浴から電析される場合には、水分の混入は好ま
しくないとされていることから、良質のめつき膜
を得ることができない不満があつた。
を用いているので、めつき浴中に水分が含まれる
ことになり、一般に卑な金属を非水溶媒系のめつ
き浴から電析される場合には、水分の混入は好ま
しくないとされていることから、良質のめつき膜
を得ることができない不満があつた。
この発明では、無水物を得やすいサマリウム塩
化物とコバルト塩化物を用い、これらをホルムア
ミドなどの非水溶媒に溶解したものをめつき浴と
することを解決手段とした。
化物とコバルト塩化物を用い、これらをホルムア
ミドなどの非水溶媒に溶解したものをめつき浴と
することを解決手段とした。
以下、この発明を詳しく説明する。
この発明で用いられるめつき浴は、サマリウム
塩化物とコバルト塩化物とをこれらを溶解する非
水溶媒に溶解したものである。ここで使用される
サマリウム塩化物としては、塩化第一サマリウム
（SmCl2）や塩化第二サマリウム（SmCl3）の無
水塩が用いられる。塩化第二サマリウムの一水
塩、六水塩等の含水塩は、乾燥塩化水素（HCl）
気流中で加熱し、脱水して無水塩として使用する
ことができる。また、コバルト塩化物としては、
塩化第一コバルト（CoCl2）の無水塩が用いら
れ、一水塩、二水塩、四水塩、六水塩等の含水塩
を乾燥塩化水素気流中で加熱脱水して無水塩とし
て使用することもできる。また、これらの塩化物
を溶解する非水溶媒としては、ホルムアミドが主
に用いられるが、ホルムアミド以外にアセトアミ
ドが用いられる。また、めつき浴には、エチレン
ジアミンやピリジンなどのアミン類を錯化剤とし
て添加することもできる。これらの各成分には高
純度のものを用いることは当然であり、蒸留、再
結晶などの精製手段を用いて精製することが好ま
しい。
塩化物とコバルト塩化物とをこれらを溶解する非
水溶媒に溶解したものである。ここで使用される
サマリウム塩化物としては、塩化第一サマリウム
（SmCl2）や塩化第二サマリウム（SmCl3）の無
水塩が用いられる。塩化第二サマリウムの一水
塩、六水塩等の含水塩は、乾燥塩化水素（HCl）
気流中で加熱し、脱水して無水塩として使用する
ことができる。また、コバルト塩化物としては、
塩化第一コバルト（CoCl2）の無水塩が用いら
れ、一水塩、二水塩、四水塩、六水塩等の含水塩
を乾燥塩化水素気流中で加熱脱水して無水塩とし
て使用することもできる。また、これらの塩化物
を溶解する非水溶媒としては、ホルムアミドが主
に用いられるが、ホルムアミド以外にアセトアミ
ドが用いられる。また、めつき浴には、エチレン
ジアミンやピリジンなどのアミン類を錯化剤とし
て添加することもできる。これらの各成分には高
純度のものを用いることは当然であり、蒸留、再
結晶などの精製手段を用いて精製することが好ま
しい。
また、めつき浴中のサマリウム塩化物濃度は、
非水溶媒１リツトルに対して0.001〜２モル、好
ましくは0.005〜0.5モルとされ、コバルト塩化物
濃度は非水溶媒１リツトルに対して0.001〜２モ
ル、好ましくは0.005〜0.5モルとされる。また、
サマリウム塩化物とコバルト塩化物との比率はモ
ル比で１：１〜１：20、好ましくは１：２〜１：
15とされる。また、アミン類の濃度は0.01〜１モ
ル／リツトル、好ましくは0.02〜0.2モル／リツ
トルとされる。
非水溶媒１リツトルに対して0.001〜２モル、好
ましくは0.005〜0.5モルとされ、コバルト塩化物
濃度は非水溶媒１リツトルに対して0.001〜２モ
ル、好ましくは0.005〜0.5モルとされる。また、
サマリウム塩化物とコバルト塩化物との比率はモ
ル比で１：１〜１：20、好ましくは１：２〜１：
15とされる。また、アミン類の濃度は0.01〜１モ
ル／リツトル、好ましくは0.02〜0.2モル／リツ
トルとされる。
めつき浴の調整は、非水溶媒にサマリウム塩化
物、コバルト塩化物、アミン類を適宜常温にて溶
解すればよく、空気中の水分、酸素等が浴に混入
しないように脱酸素した乾燥窒素雰囲気のグロー
ブボツクス等を利用することが望ましい。
物、コバルト塩化物、アミン類を適宜常温にて溶
解すればよく、空気中の水分、酸素等が浴に混入
しないように脱酸素した乾燥窒素雰囲気のグロー
ブボツクス等を利用することが望ましい。
このようなめつき浴を使用し、陽極に白金、カ
ーボン等の不溶出性電極を、陰極に銅、ニツケ
ル、白金、導電処理ガラス等を用いて電解すれ
ば、陰極上にサマリウム−コバルト合金膜が電析
する。めつき浴浴温は室温〜120℃の範囲とされ、
攪拌は特に必要としないが、通常の攪拌機や超音
波装置等の攪拌手段によつて攪拌してもよい。電
解電流としては、直流の他に交直畳電流やパルス
電流などが使用でき、電流密度としては10〜200
ｍＡ／cm2の範囲が主に使われるが、電流密度を高
くすると、得られるめつき膜中のサマリウムの比
率が高くなり、これによつてめつき膜の組成を制
御できる。めつき時間は、めつき膜厚、めつき条
件等によつて左右されるが、通常１〜30分程度と
される。
ーボン等の不溶出性電極を、陰極に銅、ニツケ
ル、白金、導電処理ガラス等を用いて電解すれ
ば、陰極上にサマリウム−コバルト合金膜が電析
する。めつき浴浴温は室温〜120℃の範囲とされ、
攪拌は特に必要としないが、通常の攪拌機や超音
波装置等の攪拌手段によつて攪拌してもよい。電
解電流としては、直流の他に交直畳電流やパルス
電流などが使用でき、電流密度としては10〜200
ｍＡ／cm2の範囲が主に使われるが、電流密度を高
くすると、得られるめつき膜中のサマリウムの比
率が高くなり、これによつてめつき膜の組成を制
御できる。めつき時間は、めつき膜厚、めつき条
件等によつて左右されるが、通常１〜30分程度と
される。
このようなめつきにより、陰極上に金属光沢を
有し平滑なサマリウム−コバルト合金膜が電析す
る。この合金膜はこれを熱処理することにより磁
性を示すようになる。
有し平滑なサマリウム−コバルト合金膜が電析す
る。この合金膜はこれを熱処理することにより磁
性を示すようになる。
このようなめつき法によれば、湿式めつき法と
言う簡便な方法で良質なサマリウム−コバルト合
金膜が得られる。また、めつき浴中に水分がほと
んど存在しない状態でめつきを行うことができる
ので、得られるめつき膜の純度がよく、高品質の
合金膜を得ることができる。さらに、めつき時の
電流密度を高くすると、得られる合金膜中のサマ
リウム含有率が高くなるので、電流密度の調節に
より合金膜の組成を変化させることができる。
言う簡便な方法で良質なサマリウム−コバルト合
金膜が得られる。また、めつき浴中に水分がほと
んど存在しない状態でめつきを行うことができる
ので、得られるめつき膜の純度がよく、高品質の
合金膜を得ることができる。さらに、めつき時の
電流密度を高くすると、得られる合金膜中のサマ
リウム含有率が高くなるので、電流密度の調節に
より合金膜の組成を変化させることができる。
実施例 １
サマリウム塩化物として、塩化第二サマリウ
ム・六水塩を乾燥塩化水素気流中で約300℃に加
熱し、脱水した無水塩を、コバルト塩化物として
塩化第一コバルト無水塩を、非水溶媒として市販
特級ホルムアミドを窒素下減圧蒸留して精製した
ものを、アミン類としてエチレンジアミン（特級
品）を用意した。
ム・六水塩を乾燥塩化水素気流中で約300℃に加
熱し、脱水した無水塩を、コバルト塩化物として
塩化第一コバルト無水塩を、非水溶媒として市販
特級ホルムアミドを窒素下減圧蒸留して精製した
ものを、アミン類としてエチレンジアミン（特級
品）を用意した。
これらの材料を、
塩化コバルト 0.09モル／リツトル
塩化サマリウム 0.01モル／リツトル
エチレンジアミン 0.1モル／リツトル
となるように調合し、めつき浴とした。電解容器
には密閉式のものを用い、浴中および容器空間を
脱酸素乾燥窒素で置換した。
には密閉式のものを用い、浴中および容器空間を
脱酸素乾燥窒素で置換した。
陽極には白金板を、陰極には導電処理ガラス板
（インジウムスズ酸化物薄膜コートガラス板）を
用い、マグネチツクスターラで攪拌しながら、浴
温20℃、電流密度10ｍＡ／cm2、電流量10クーロ
ン／cm2で直流電流にて電解した。
（インジウムスズ酸化物薄膜コートガラス板）を
用い、マグネチツクスターラで攪拌しながら、浴
温20℃、電流密度10ｍＡ／cm2、電流量10クーロ
ン／cm2で直流電流にて電解した。
陰極上に得られためつき膜は、金属光沢のある
平滑なもので、その厚さは約1μｍであり、サマ
リウム16wt％、コバルト84wt％であつた。
平滑なもので、その厚さは約1μｍであり、サマ
リウム16wt％、コバルト84wt％であつた。
このめつき膜を真空中600℃で１時間熱処理し
たものの磁気特性を第１図に示す。第１図から明
らかなように、このめつき膜は404エルステツド
の保磁力を示した。
たものの磁気特性を第１図に示す。第１図から明
らかなように、このめつき膜は404エルステツド
の保磁力を示した。
実施例 ２
実施例１で用意した材料を、
塩化コバルト 0.09モル／リツトル
エチレンジアミン 0.09モル／リツトル
となるように調合し、その後に塩化サマリウムを
0.01モル／リツトルとなるように調合し、めつき
浴とした。電解容器は密閉式とし、浴中および容
器空間を脱酸素乾燥窒素で置換した。
0.01モル／リツトルとなるように調合し、めつき
浴とした。電解容器は密閉式とし、浴中および容
器空間を脱酸素乾燥窒素で置換した。
陽極には白金板を、陰極には導電処理ガラス板
を用い、周波数47kHzの超音波を照射しながら、
浴温20℃、電流密度20ｍＡ／cm2、電流量10クーロ
ン／cm2で直流電流にて電解した。
を用い、周波数47kHzの超音波を照射しながら、
浴温20℃、電流密度20ｍＡ／cm2、電流量10クーロ
ン／cm2で直流電流にて電解した。
陰極上に得られためつき膜は、金属光沢を有す
る平滑なもので、厚さは約1μｍであり、サマリ
ウム22wt％、コバルト78wt％であつた。これを
アルゴン中600℃で１時間熱処理したものの磁気
特性を第２図に示す。第２図より明らかなよう
に、このめつき膜は447エルステツドの保磁力を
示した。
る平滑なもので、厚さは約1μｍであり、サマリ
ウム22wt％、コバルト78wt％であつた。これを
アルゴン中600℃で１時間熱処理したものの磁気
特性を第２図に示す。第２図より明らかなよう
に、このめつき膜は447エルステツドの保磁力を
示した。
実施例 ３
電流密度を40ｍＡ／cm2とした以外は実施例２と
同様にしてめつきを行つた。得られためつき膜の
組成はサマリウム27wt％、コバルト73wt％であ
つた。
同様にしてめつきを行つた。得られためつき膜の
組成はサマリウム27wt％、コバルト73wt％であ
つた。
実施例 ４
電流密度を50ｍＡ／cm2とした以外は実施例２と
同様にしてめつきを行つた。得られためつき膜の
組成はサマリウム31wt％、コバルト69wt％であ
つた。
同様にしてめつきを行つた。得られためつき膜の
組成はサマリウム31wt％、コバルト69wt％であ
つた。
以上説明したように、この発明のサマリウム−
コバルト合金のめつき法は、サマリウム塩化物と
コバルト塩化物とこれらを可溶化する非水溶媒か
らなるめつき浴を用いるものであるので、簡便に
サマリウム−コバルト合金膜を得ることができ
る。また、塩化物を用いているのでめつき浴を完
全に非水系とすることができ、これによつて良質
の合金膜を得ることができる。さらに、電流密度
を変化させるだけで合金膜の組成を変化させるこ
とができるなどの効果を得ることができる。
コバルト合金のめつき法は、サマリウム塩化物と
コバルト塩化物とこれらを可溶化する非水溶媒か
らなるめつき浴を用いるものであるので、簡便に
サマリウム−コバルト合金膜を得ることができ
る。また、塩化物を用いているのでめつき浴を完
全に非水系とすることができ、これによつて良質
の合金膜を得ることができる。さらに、電流密度
を変化させるだけで合金膜の組成を変化させるこ
とができるなどの効果を得ることができる。
第１図および第２図は、それぞれ実施例１およ
び実施例２で得られたサマリウム−コバルト合金
膜の磁気特性を示すグラフである。
び実施例２で得られたサマリウム−コバルト合金
膜の磁気特性を示すグラフである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ サマリウム塩化物とコバルト塩化物とこれら
を可溶化する非水溶媒からなるめつき浴を用いる
ことを特徴とするサマリウム−コバルト合金のめ
つき法。 ２ 非水溶媒がホルムアミドである特許請求の範
囲第１項記載のサマリウム−コバルト合金のめつ
き法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62163465A JPS648291A (en) | 1987-06-30 | 1987-06-30 | Plating method with samarium-cobalt alloy |
| US07/198,170 US4846942A (en) | 1987-06-30 | 1988-05-24 | Process for producing a film of Sm-Co alloy |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62163465A JPS648291A (en) | 1987-06-30 | 1987-06-30 | Plating method with samarium-cobalt alloy |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS648291A JPS648291A (en) | 1989-01-12 |
| JPH044398B2 true JPH044398B2 (ja) | 1992-01-28 |
Family
ID=15774391
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62163465A Granted JPS648291A (en) | 1987-06-30 | 1987-06-30 | Plating method with samarium-cobalt alloy |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4846942A (ja) |
| JP (1) | JPS648291A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02234017A (ja) * | 1989-03-08 | 1990-09-17 | Yamaha Corp | エンコーダ用磁気記録媒体 |
| WO1999018265A2 (en) * | 1997-10-08 | 1999-04-15 | The Regents Of The University Of California | Aqueous electrodeposition of rare earth and transition metals |
| CN103205787B (zh) * | 2013-04-22 | 2015-04-08 | 南通万宝实业有限公司 | 一种多层薄膜结构的金属永磁薄膜的制备方法 |
| CN116791158A (zh) * | 2023-06-28 | 2023-09-22 | 江苏兴达钢帘线股份有限公司 | 一种电沉积稀土金属镀液及其制备方法和应用 |
| CN118280716B (zh) * | 2024-04-24 | 2025-03-25 | 深圳市普乐华科技有限公司 | 一种高温高抗弯强度钐钴磁及其制备工艺 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4003804A (en) * | 1975-12-31 | 1977-01-18 | Scientific Mining & Manufacturing Company | Method of electroplating of aluminum and plating baths therefor |
-
1987
- 1987-06-30 JP JP62163465A patent/JPS648291A/ja active Granted
-
1988
- 1988-05-24 US US07/198,170 patent/US4846942A/en not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| SURFACE TECHNOLOGY=1981 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4846942A (en) | 1989-07-11 |
| JPS648291A (en) | 1989-01-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6855240B2 (en) | CoFe alloy film and process of making same | |
| EP0471946A2 (en) | High magnetic moment materials and process for fabrication of thin film heads | |
| JPH044398B2 (ja) | ||
| JP2003510465A (ja) | 金属多層の電着方法 | |
| JPH0766034A (ja) | 軟磁性材料膜及びその製造方法 | |
| EP0322420A1 (en) | MAGNETIC RECORDING MATERIAL. | |
| Fischer et al. | Morphology of the growth of isolated crystals in cathodic metal deposits | |
| JP3201763B2 (ja) | 軟磁性薄膜 | |
| JP2750902B2 (ja) | 希土類金属―遷移金属系合金めっき方法 | |
| Stillwell et al. | Glacial Acetic Acid as a Solvent for the Electrodeposition of METALS. 1, 2 AN X-Ray Diffraction Study of the Structure of Deposits of Arsenic, Antimony and Bismuth | |
| JPH0230790A (ja) | 合金電着方法 | |
| JPS62218595A (ja) | コバルト−ガドリニウム合金めつき浴 | |
| JPH01272787A (ja) | 鉄−ジスプロシウム合金めっき液 | |
| JPH0729734A (ja) | 磁性薄膜およびその製造方法 | |
| JP2623485B2 (ja) | めっき皮膜の面方位をそろえる電気アルミニウムめっき方法 | |
| JP3101715B2 (ja) | Ｍ▲下０▼ｏ▲下３▼薄膜の製造方法 | |
| JPH02213489A (ja) | 磁気特性に優れた金属コバルト微粒子の製造方法 | |
| KR20200007784A (ko) | 알루미늄 도금막 및 알루미늄 도금막의 제조 방법 | |
| JPH0931681A (ja) | 金めっき用非水性浴 | |
| El Din et al. | Dendrite formation and electrocrystallization of silver from molten salts | |
| JPS6043565B2 (ja) | 耐摩耗性の表面を有する磁気記録担体の製法 | |
| JPS5841346B2 (ja) | メツキ方法 | |
| JPH03260084A (ja) | コバルト―サマリウム二元合金めっき液 | |
| JPS63105962A (ja) | 固体電解質薄膜の製造法 | |
| JPH0322473B2 (ja) |