JPH0436994A - El素子 - Google Patents
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- JPH0436994A JPH0436994A JP2142788A JP14278890A JPH0436994A JP H0436994 A JPH0436994 A JP H0436994A JP 2142788 A JP2142788 A JP 2142788A JP 14278890 A JP14278890 A JP 14278890A JP H0436994 A JPH0436994 A JP H0436994A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、平面型デイスプレィ・デバイスとしてコンピ
ューターシステムの端末機等の表示装置に静止画像や動
画像の表示手段として利用されるE L素子に関する。
ューターシステムの端末機等の表示装置に静止画像や動
画像の表示手段として利用されるE L素子に関する。
EL素子としては、通常、ガラス基板等の透明基板上に
In2O5,5no2からなる透明電極を配列し、次に
第1誘電体層、発光中心として0゜OI〜0.4mo1
%の希土類元素をドープした硫化ストロンチウム(Sr
S)等のアルカリ土類硫化物や硫化亜鉛(ZnS)から
なる発光層及び第2誘電体層を順次積層し、Al、AA
−Ni合金等からなる背面電極を配列したものである。
In2O5,5no2からなる透明電極を配列し、次に
第1誘電体層、発光中心として0゜OI〜0.4mo1
%の希土類元素をドープした硫化ストロンチウム(Sr
S)等のアルカリ土類硫化物や硫化亜鉛(ZnS)から
なる発光層及び第2誘電体層を順次積層し、Al、AA
−Ni合金等からなる背面電極を配列したものである。
しかしながら、誘電体層は透明電極、背面電極どの接着
性が悪いので種々の改良がなされてきた。
性が悪いので種々の改良がなされてきた。
例えば、特開昭62−2495号公報には、発光層を活
性化するだめの熱処理を行っても第1誘電体層と透明電
極との剥離が起こらないように、前記第1誘電体層と前
記透明電極との間に5iC)+Naをもうけることが開
示されている。
性化するだめの熱処理を行っても第1誘電体層と透明電
極との剥離が起こらないように、前記第1誘電体層と前
記透明電極との間に5iC)+Naをもうけることが開
示されている。
また、発光層と誘電体層との間にSiO2層をもうけた
ものとしては、例えば、特開昭62−2496号公報が
あり、この公報には発光層と第2誘電体層との間に81
02層をもうけることにより酸素プラズマに発光層がさ
らされることなく第2誘電体層を形成(ッ、発光層と第
2誘電体層との接着力を高めることができると開示され
ている。
ものとしては、例えば、特開昭62−2496号公報が
あり、この公報には発光層と第2誘電体層との間に81
02層をもうけることにより酸素プラズマに発光層がさ
らされることなく第2誘電体層を形成(ッ、発光層と第
2誘電体層との接着力を高めることができると開示され
ている。
さらに、発光層がアルカリ土類硫化物の場合、アルカリ
−1−類硫化物は誘電体層の酸素と反応して劣化しやす
いため、熱的に酸素を解離しゃすいT a 20s 、
Y20Hなどは発光層に直接液する第1及び第2誘電体
層に用いるのは好ましくない。
−1−類硫化物は誘電体層の酸素と反応して劣化しやす
いため、熱的に酸素を解離しゃすいT a 20s 、
Y20Hなどは発光層に直接液する第1及び第2誘電体
層に用いるのは好ましくない。
したがって、近年、第1及び第2誘電体層は非酸化物で
あり、絶縁耐圧が非常に高く、E L素子の寿命、信頼
性(歩留)の高い5jlN4が好適な第1及び第2誘電
体層として用いられてきている。
あり、絶縁耐圧が非常に高く、E L素子の寿命、信頼
性(歩留)の高い5jlN4が好適な第1及び第2誘電
体層として用いられてきている。
しかしながら、従来、発光層と第1誘電体層との界面は
問題にされなかった。これは、SrS等のアルカリ土類
硫化物を母材とした発光層は、真空蒸着法により高い基
板温度(450℃以上)にて形成するために、特に熱処
理を行わなくても発光層と第1誘電体層との接着力が高
められることもあり、発光層成膜後の熱処理を行わない
場合が多かった。
問題にされなかった。これは、SrS等のアルカリ土類
硫化物を母材とした発光層は、真空蒸着法により高い基
板温度(450℃以上)にて形成するために、特に熱処
理を行わなくても発光層と第1誘電体層との接着力が高
められることもあり、発光層成膜後の熱処理を行わない
場合が多かった。
しかし、前記アルカリ土類硫化物は、化学的に不安定な
物質であるために、高い基板温度で発光層を形成する過
程において熱的に硫黄を解離し、硫黄が欠損し、さらに
、不純物として酸素を取り込んだ化学量論的でなく、結
晶性の悪い膜となり易いという欠点があった。
物質であるために、高い基板温度で発光層を形成する過
程において熱的に硫黄を解離し、硫黄が欠損し、さらに
、不純物として酸素を取り込んだ化学量論的でなく、結
晶性の悪い膜となり易いという欠点があった。
また、発光層の結晶性は、発光輝度等のE L特性に大
きく影響を与えるため、結晶性の良好な化学量論的組成
の膜を形成することが望まれるが、不純物を取り込んだ
膜は、熱処理を行ってもほとんど結晶性の改善効果がな
いものとなる。
きく影響を与えるため、結晶性の良好な化学量論的組成
の膜を形成することが望まれるが、不純物を取り込んだ
膜は、熱処理を行ってもほとんど結晶性の改善効果がな
いものとなる。
この問題を解決する方法として、発光層のRFスバ・ツ
タリング法による形成がある。発光層をスパッタリング
法で形成する場合、真空蒸着法と比べて低い基板温度で
発光層を形成することができるので、不純物の少ない化
学量論的組成の発光層となる。そして、発光層成膜後に
高温熱処理をして発光層の結晶性を大幅に改善すること
で、E L特性は向−トする。
タリング法による形成がある。発光層をスパッタリング
法で形成する場合、真空蒸着法と比べて低い基板温度で
発光層を形成することができるので、不純物の少ない化
学量論的組成の発光層となる。そして、発光層成膜後に
高温熱処理をして発光層の結晶性を大幅に改善すること
で、E L特性は向−トする。
しかし、Ta206 、Y20s等の熱的に解離しやす
い化合物を第1誘電体層に用いると、前記した発光層成
膜後の熱処理過程でTa20bや¥20s等からの酸素
が発光層に拡散するので、熱処理による結晶性の改善が
行えず、結果としてEL特性が向上しないという欠点が
あった。
い化合物を第1誘電体層に用いると、前記した発光層成
膜後の熱処理過程でTa20bや¥20s等からの酸素
が発光層に拡散するので、熱処理による結晶性の改善が
行えず、結果としてEL特性が向上しないという欠点が
あった。
また、5isN4等の非酸化物を第1誘電体層に用いた
場合には前記のような酸素の拡散(Jおこらないが、基
板温度が低いために発光層と第1誘電体層との接着力が
弱いものしか得られず、これを熱処理すると発光層が容
易に剥離してしまうという欠点があった。
場合には前記のような酸素の拡散(Jおこらないが、基
板温度が低いために発光層と第1誘電体層との接着力が
弱いものしか得られず、これを熱処理すると発光層が容
易に剥離してしまうという欠点があった。
したがって、本発明のifの目的は、化学量論的組成を
有する発光層の結晶性を高めE L特性の優れたE L
素子を提供することにある。
有する発光層の結晶性を高めE L特性の優れたE L
素子を提供することにある。
また、本発明の第2の目的は、結晶性が高く、化学量論
的組成を有する発光層と、非酸化物から成る第1誘電体
層との接着力を高め容易に剥離しないようなE L素子
を提供することにある。
的組成を有する発光層と、非酸化物から成る第1誘電体
層との接着力を高め容易に剥離しないようなE L素子
を提供することにある。
本発明は、前記目的を達成するためになされたものであ
り、本発明のEL素子は、透明基板上に透明電極、第1
誘電体層、発光層、第2誘電体層及び背面電極を備え、
前記発光層が発光中心物質を含有するアルカリ土類硫化
物から成るE L素子において、前記第1誘電体層と前
記発光層との間に、第1誘電体層と発光層とに接するよ
うに酸化ケイ素、酸化ジルコニウム及び酸化チタンのう
ち少なくとも一種から成る化合物層をもうけたことを特
徴としている。
り、本発明のEL素子は、透明基板上に透明電極、第1
誘電体層、発光層、第2誘電体層及び背面電極を備え、
前記発光層が発光中心物質を含有するアルカリ土類硫化
物から成るE L素子において、前記第1誘電体層と前
記発光層との間に、第1誘電体層と発光層とに接するよ
うに酸化ケイ素、酸化ジルコニウム及び酸化チタンのう
ち少なくとも一種から成る化合物層をもうけたことを特
徴としている。
さらに、好ましくは、前記誘電体層が非酸化物から成る
ものである。
ものである。
酸化ケイ素、酸化ジルコニウム及び酸化チタンは化学的
、熱的に安定な化合物であり、高温で熱処理しても発光
層への酸素の拡散は起こらない。
、熱的に安定な化合物であり、高温で熱処理しても発光
層への酸素の拡散は起こらない。
また、これらの化合物層は、第1誘電体層と発光層の接
着力を向上させることができるので第1誘電体層の絶縁
耐圧の低下にほとんど影響しない。
着力を向上させることができるので第1誘電体層の絶縁
耐圧の低下にほとんど影響しない。
次に、本発明の実施例を示すが、本発明はこれらの実施
例に限定されるものではない。
例に限定されるものではない。
(実施例1)
第1図は、本発明の−・実施例にがかるE L素子の断
面図である。以下にこの第1図を参照にしながら本発明
を説明する。
面図である。以下にこの第1図を参照にしながら本発明
を説明する。
まず、240X240moのアルミノシリケ・−トガラ
ス(例えば、H,OY A株式会社製の商品名N八40
)からなる透明基板lに、スズ酸化物を混入した酸化イ
ンジウムからなる透明薄膜(膜厚2000人)を真空蒸
着法によって成膜した後、これにフォトリソグラフィー
法を施し、エツチング液どして塩酸と塩化第2鉄との混
合溶液を用いてエツチング処理を施すことにより、複数
の帯状の透明電極2(第1図においてはその一つについ
て長手方向の断面が示されている)を形成する。
ス(例えば、H,OY A株式会社製の商品名N八40
)からなる透明基板lに、スズ酸化物を混入した酸化イ
ンジウムからなる透明薄膜(膜厚2000人)を真空蒸
着法によって成膜した後、これにフォトリソグラフィー
法を施し、エツチング液どして塩酸と塩化第2鉄との混
合溶液を用いてエツチング処理を施すことにより、複数
の帯状の透明電極2(第1図においてはその一つについ
て長手方向の断面が示されている)を形成する。
次に、二酸化ケイ素をスパッタターゲットとして、アル
ゴン雰囲気、圧力0.45Pa、高周波出力3.3W、
、/Ci、の条イ′(の下でスパッタを行い、前記透明
電極2の−1−に膜厚200人程鹿の5jO7膜3を成
膜する。
ゴン雰囲気、圧力0.45Pa、高周波出力3.3W、
、/Ci、の条イ′(の下でスパッタを行い、前記透明
電極2の−1−に膜厚200人程鹿の5jO7膜3を成
膜する。
次に、シリコンをスパッタターゲットとして、窒素ガス
を約3096混入したアルゴン雰囲気、圧力0.45P
a、高周波出力6.6W/alの条件下で反応性スパッ
タを行い、前記SiO2膜3の上に膜厚2000人程度
発光 13 N4からなる第1誘電体層4を成膜する。
を約3096混入したアルゴン雰囲気、圧力0.45P
a、高周波出力6.6W/alの条件下で反応性スパッ
タを行い、前記SiO2膜3の上に膜厚2000人程度
発光 13 N4からなる第1誘電体層4を成膜する。
さらに、二酸化ケイ素をスパッタターゲットとして、ア
ルゴン雰囲気、圧力0.45Pa、高周波出力3. 3
W/alの条件下でスパッタを行い、前記@l誘電体層
4の上に膜厚300人程発光5iO9から成る化合物層
5を成膜する。
ルゴン雰囲気、圧力0.45Pa、高周波出力3. 3
W/alの条件下でスパッタを行い、前記@l誘電体層
4の上に膜厚300人程発光5iO9から成る化合物層
5を成膜する。
その後、硫化ストロンチウム(SrS)に発光中心物質
としてCe Cl sを0.1mo1%ドープして焼結
したSrS:Ceをスパッタターゲットとして、キセノ
ンガスをスパッタガスとし、圧力0.65Pa、高周波
出力3.6W/al、基板温度200℃の条件下でスパ
ッタを行い、前記化合物層5の上に膜厚10000人程
度の発光層6を成膜する。
としてCe Cl sを0.1mo1%ドープして焼結
したSrS:Ceをスパッタターゲットとして、キセノ
ンガスをスパッタガスとし、圧力0.65Pa、高周波
出力3.6W/al、基板温度200℃の条件下でスパ
ッタを行い、前記化合物層5の上に膜厚10000人程
度の発光層6を成膜する。
この後、発光層6は、真空中で300〜700℃の温度
で1〜2時間熱処理が施される。この熱処理によって発
光rfB6のSrSは結晶性が高くなる。そして、この
熱処理によっても発光層6の剥離はおこらなかった。
で1〜2時間熱処理が施される。この熱処理によって発
光rfB6のSrSは結晶性が高くなる。そして、この
熱処理によっても発光層6の剥離はおこらなかった。
しかる後、前記第1誘電体層4の成膜のときと同様に反
応性スパッタリング法により5isNi薄膜層7aを約
1000発光度の厚さに成膜する。
応性スパッタリング法により5isNi薄膜層7aを約
1000発光度の厚さに成膜する。
さらに、金属タンタルをスパッタターゲットとして、酸
素ガスを約3096混入したアルゴン雰囲気、圧力0.
6Pa、高周波出力6.61J/alの条件下で反応性
スパッタを行い、前記5iiN+@ 7 aの上に膜厚
2000人程度発光a20i薄膜i7bを成膜し、5J
3N4薄M7a及びTa2O、薄膜層7bから成る第2
誘電体層7を形成する。
素ガスを約3096混入したアルゴン雰囲気、圧力0.
6Pa、高周波出力6.61J/alの条件下で反応性
スパッタを行い、前記5iiN+@ 7 aの上に膜厚
2000人程度発光a20i薄膜i7bを成膜し、5J
3N4薄M7a及びTa2O、薄膜層7bから成る第2
誘電体層7を形成する。
最後に、Ta20a薄膜層7b上に/l?薄膜を形成し
、これにフォトリソグラフィー法を施した後、エツチン
グ液として硝酸とリン酸との混合溝液を用いてエツチン
グ処理を施して、複数の帯状の背面電極8を前記各透明
電極2とそれぞれ直交するように(第1図において紙面
垂直方向)形成する。
、これにフォトリソグラフィー法を施した後、エツチン
グ液として硝酸とリン酸との混合溝液を用いてエツチン
グ処理を施して、複数の帯状の背面電極8を前記各透明
電極2とそれぞれ直交するように(第1図において紙面
垂直方向)形成する。
このようにして作製したEL素子の発光層6は結晶性が
改善され、EL特性が向上し、発光層6の剥離もおこら
なかった。
改善され、EL特性が向上し、発光層6の剥離もおこら
なかった。
(実施例2)
第1誘電体層4として5isN<を膜厚2000人で成
膜する代わりに、金属タンタルをスパッタターゲットと
して、酸素ガスを約3096混入したアルゴン雰囲気、
圧力0.6Pa、[周波出力6.6W/alの条件下で
反応性スパッタを行い、膜厚4000人程度発光azO
bからなる第1誘電体層4を成膜し、化合物層5として
S]02を膜厚300人で成膜する代わりに、二酸化ジ
ルコニウムをスパッタターゲットとして、アルゴン雰囲
気、圧力0.45Pa、高周波出力3.3W/dとして
膜厚250人程発光Z r O2から成る化合物層5を
成膜した以外は実施例1と同様にしてE L素子を作製
したところ、発光層6の結晶性は改善され、E L特性
は向上した。
膜する代わりに、金属タンタルをスパッタターゲットと
して、酸素ガスを約3096混入したアルゴン雰囲気、
圧力0.6Pa、[周波出力6.6W/alの条件下で
反応性スパッタを行い、膜厚4000人程度発光azO
bからなる第1誘電体層4を成膜し、化合物層5として
S]02を膜厚300人で成膜する代わりに、二酸化ジ
ルコニウムをスパッタターゲットとして、アルゴン雰囲
気、圧力0.45Pa、高周波出力3.3W/dとして
膜厚250人程発光Z r O2から成る化合物層5を
成膜した以外は実施例1と同様にしてE L素子を作製
したところ、発光層6の結晶性は改善され、E L特性
は向上した。
(実施例3)
化合物1iS15どし、て5i02を膜厚300人で成
膜する代わりに、二酸化チタンをスバ・ソタターゲッI
・とじてアルゴン雰囲気、圧力0.45Pa、高周波3
.3W/alとして膜厚200人程発光TlO2から成
る化合物F15を成膜した以外は実施例Iど同様にして
E L素子を作製したところ、発光層6の結晶性は改善
され、E L特性は向上し7、発光層6の剥離はおこら
なかった。
膜する代わりに、二酸化チタンをスバ・ソタターゲッI
・とじてアルゴン雰囲気、圧力0.45Pa、高周波3
.3W/alとして膜厚200人程発光TlO2から成
る化合物F15を成膜した以外は実施例Iど同様にして
E L素子を作製したところ、発光層6の結晶性は改善
され、E L特性は向上し7、発光層6の剥離はおこら
なかった。
(実施例4)
第1誘電体層4として5isN<を膜厚2000人成膜
する代わりに、真空蒸着法によりY2O、からなる膜厚
3000人程度0第1誘電体層4を成膜した以外(A実
施例Iと同様にしてE L素子を作製したところ、発光
層6の結晶性は改善され、E L特性は向I−シた。
する代わりに、真空蒸着法によりY2O、からなる膜厚
3000人程度0第1誘電体層4を成膜した以外(A実
施例Iと同様にしてE L素子を作製したところ、発光
層6の結晶性は改善され、E L特性は向I−シた。
ここで化合物層5は、比誘電率が大きくないため(Si
O7は3〜5)、発光層6に対して交流電界を有効に印
加するために化合物層5の膜厚はなるべく小さい方がよ
く、500Å以下が望よ(7い。また、接着力を高める
効果を十分に発揮するために膜厚は10Å以上あること
が望ましい。
O7は3〜5)、発光層6に対して交流電界を有効に印
加するために化合物層5の膜厚はなるべく小さい方がよ
く、500Å以下が望よ(7い。また、接着力を高める
効果を十分に発揮するために膜厚は10Å以上あること
が望ましい。
以上、化合物H5を形成するときに、S jO2、Zr
O2、TiO7をターゲ・ソトとして用いたが、S i
、Zr、Tiのターゲットを用いた反応性スバ・ツタに
よって形成してもよい。
O2、TiO7をターゲ・ソトとして用いたが、S i
、Zr、Tiのターゲットを用いた反応性スバ・ツタに
よって形成してもよい。
また、このような化合物層5を形成するスパ・ツタリン
グの際の雰囲気どしては、Arガスの他、Kr、Xe、
Heなどの不活性ガスを用いてもよい。
グの際の雰囲気どしては、Arガスの他、Kr、Xe、
Heなどの不活性ガスを用いてもよい。
さらに、上述した実施例では、第1誘電体層どして、単
層を用いたが複層でもよい。また、第2誘電体層として
5jsN< とTa20bの複層を用いたが、Sji
Ns 、Ta、05、八!、03、Y203 、ZrO
7、BaTa20a 、PbTiO3、シリコンオキシ
ナイトライド等単層でもよく、またTa、Obの代わり
に、AI、03、Y201XZrO2、BaTa、Os
、PbTiO03、シリコンオキシナイトライド等の
各種の誘電体を用いてもよい。
層を用いたが複層でもよい。また、第2誘電体層として
5jsN< とTa20bの複層を用いたが、Sji
Ns 、Ta、05、八!、03、Y203 、ZrO
7、BaTa20a 、PbTiO3、シリコンオキシ
ナイトライド等単層でもよく、またTa、Obの代わり
に、AI、03、Y201XZrO2、BaTa、Os
、PbTiO03、シリコンオキシナイトライド等の
各種の誘電体を用いてもよい。
さらに、透明電極2と第1誘電体層4との間のSiO2
膜3がなくてもよい。
膜3がなくてもよい。
また、発光層6は、Ce C]、 g をドープしたS
rSとしたが、ドーパントはEuCIs 、SmC15
、PrC]+ 、TbFg 、DyF+等の希土類化合
物でもよく、SrSの代わりに、CaS、BaSを用い
てもよい。
rSとしたが、ドーパントはEuCIs 、SmC15
、PrC]+ 、TbFg 、DyF+等の希土類化合
物でもよく、SrSの代わりに、CaS、BaSを用い
てもよい。
また、発光層6を形成するスパッタリングの際の雰囲気
としてはXeガスの他、Ar、I−Ieなどの不活性ガ
スを用いてもよい。
としてはXeガスの他、Ar、I−Ieなどの不活性ガ
スを用いてもよい。
以上記述したように、本発明によれば、第1誘電体層と
発光中心物質を含存するアルカリ土類硫化物から成る発
光層との間に酸化ケイ素、酸化ジルコニウム及び酸化チ
タンのうち少なくとも一種の化合物層をはさむことによ
り、化学量論的組成を有する発光層は高温熱処理によっ
ても酸素が拡散されることなく結晶化が進み、E L特
性の優れ1ま たE L素子どなる。
発光中心物質を含存するアルカリ土類硫化物から成る発
光層との間に酸化ケイ素、酸化ジルコニウム及び酸化チ
タンのうち少なくとも一種の化合物層をはさむことによ
り、化学量論的組成を有する発光層は高温熱処理によっ
ても酸素が拡散されることなく結晶化が進み、E L特
性の優れ1ま たE L素子どなる。
また、非酸化物から成る第1誘電体層と発光層との接着
力が高くなるので、高温熱処理によっても発光層の剥離
もおこらないE L素子となる。
力が高くなるので、高温熱処理によっても発光層の剥離
もおこらないE L素子となる。
第1図は本発明の実施例を示す断面図である。
1・・・透明基板、2・・・透明電極、3・・・S]0
2薄膜、4・・・第1誘電体層、5・・・化合物層、6
・・・発光層、7・・・第2誘電体層、7 a−3is
N4薄膜、7b−TazOs薄膜、8・・・背面電極
。
2薄膜、4・・・第1誘電体層、5・・・化合物層、6
・・・発光層、7・・・第2誘電体層、7 a−3is
N4薄膜、7b−TazOs薄膜、8・・・背面電極
。
Claims (2)
- 1.透明基板上に透明電極、第1誘電体層、発光層、第
2誘電体層及び背面電極を備え、前記発光層が発光中心
物質を含有するアルカリ土類硫化物から成るEL素子に
おいて、前記第1誘電体層と前記発光層との間に、第1
誘電体層と発光層とに接するように酸化ケイ素、酸化ジ
ルコニウム及び、酸化チタンのうち少なくとも一種から
成る化合物層をもうけたことを特徴とするEL素子。 - 2.第1誘電体層が非酸化物から成ることを特徴とする
請求項1記載のEL素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2142788A JPH0436994A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | El素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2142788A JPH0436994A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | El素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0436994A true JPH0436994A (ja) | 1992-02-06 |
Family
ID=15323622
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2142788A Pending JPH0436994A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | El素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0436994A (ja) |
-
1990
- 1990-05-31 JP JP2142788A patent/JPH0436994A/ja active Pending
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