JPH04363603A - プローブ - Google Patents
プローブInfo
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- JPH04363603A JPH04363603A JP3184823A JP18482391A JPH04363603A JP H04363603 A JPH04363603 A JP H04363603A JP 3184823 A JP3184823 A JP 3184823A JP 18482391 A JP18482391 A JP 18482391A JP H04363603 A JPH04363603 A JP H04363603A
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- stylus
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- workpiece
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Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/002—Constructional details of contacts for gauges actuating one or more contacts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/004—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
- G01B7/008—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
- G01B7/012—Contact-making feeler heads therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ワークピースの寸法を
測定するためのプローブに関するものである。
測定するためのプローブに関するものである。
【0002】
【従来の技術】座標測定機械あるいは工作機械において
、ワークピースに関連してプローブの座標位置を決定す
ることによりワークピースの寸法を測定する測定用プロ
ーブを含む測定装置が知られている。その測定装置は、
座標位置が測定されるワークピースの表面に向けてプロ
ーブを移動させるべく操作されるものである。そして、
プローブ部分にはワークピース表面と係合し得るスタイ
ラスが形成されており、プローブは当該係合に応じて検
出信号を出力するように構成されている。
、ワークピースに関連してプローブの座標位置を決定す
ることによりワークピースの寸法を測定する測定用プロ
ーブを含む測定装置が知られている。その測定装置は、
座標位置が測定されるワークピースの表面に向けてプロ
ーブを移動させるべく操作されるものである。そして、
プローブ部分にはワークピース表面と係合し得るスタイ
ラスが形成されており、プローブは当該係合に応じて検
出信号を出力するように構成されている。
【0003】所謂「トリガ・プローブ」においては、プ
ローブの検出信号はスタイラスとワークピース表面との
係合に応じて生成されるステップ信号であり、表面の位
置は係合の直後に機械の測定デバイスの読みに換算して
測定される。ステップ信号は、プローブの電気回路の一
部をなすスタイラスが休止位置から変位して回路状態に
変化を生じさせることによって生成される。
ローブの検出信号はスタイラスとワークピース表面との
係合に応じて生成されるステップ信号であり、表面の位
置は係合の直後に機械の測定デバイスの読みに換算して
測定される。ステップ信号は、プローブの電気回路の一
部をなすスタイラスが休止位置から変位して回路状態に
変化を生じさせることによって生成される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のトリガプローブ
においては、スタイラスがワークピースに係合する時点
と、スタイラスの変位により誘起されるステップ信号が
機械に受容される時点とを精確に関連づけることは困難
なことである。何故なら、上記2つの事柄間での避け難
いスタイラスの変位(スタイラスの“先行変位”)は装
置操作における全ての状況において常に一様であるとは
限らないからである。特に、ベースに対するスタイラス
の変位の方向によって、先行変位は異り得るものであり
、また、上述機械の測定装置による測定はプローブの動
作する間に行われ、それ故、動作の速度により先行変位
が異り、測定結果の変動を招くものである。
においては、スタイラスがワークピースに係合する時点
と、スタイラスの変位により誘起されるステップ信号が
機械に受容される時点とを精確に関連づけることは困難
なことである。何故なら、上記2つの事柄間での避け難
いスタイラスの変位(スタイラスの“先行変位”)は装
置操作における全ての状況において常に一様であるとは
限らないからである。特に、ベースに対するスタイラス
の変位の方向によって、先行変位は異り得るものであり
、また、上述機械の測定装置による測定はプローブの動
作する間に行われ、それ故、動作の速度により先行変位
が異り、測定結果の変動を招くものである。
【0005】欧州特許明細書第 0068899号にお
いて、スタイラスの変位について、分離して取扱う試み
がなされた。すなわち、プローブの検出信号を生成する
ためのスタイラスの変位および、検出信号が生成された
後、機械が停止するまでにプローブあるいは機械への損
傷を防止するうえで要請されるスタイラスの変位(ある
いはスタイラスの過変位)である。この特許明細書には
、プローブ本体と中間部材との間にあって、スタイラス
の軸まわりの3ケ所に配設された歪検出要素によって構
成される検出システムが開示されている。この歪検出要
素は、同様に中間部材に装着されたスタイラスがその休
止位置から変位する以前に、中間部材のベースに対する
変位を予め指示するのに用いられる。
いて、スタイラスの変位について、分離して取扱う試み
がなされた。すなわち、プローブの検出信号を生成する
ためのスタイラスの変位および、検出信号が生成された
後、機械が停止するまでにプローブあるいは機械への損
傷を防止するうえで要請されるスタイラスの変位(ある
いはスタイラスの過変位)である。この特許明細書には
、プローブ本体と中間部材との間にあって、スタイラス
の軸まわりの3ケ所に配設された歪検出要素によって構
成される検出システムが開示されている。この歪検出要
素は、同様に中間部材に装着されたスタイラスがその休
止位置から変位する以前に、中間部材のベースに対する
変位を予め指示するのに用いられる。
【0006】上述した構成はスタイラスの先行変位の量
を減ずるけれども、ワークピースによってスタイラスの
変位の方向が異る場合、特にプローブの軸からオフセッ
トされた位置でワークピースと接触するスタイラスを用
いる場合に生ずる先行変位のばらつきは解消されないま
まである。
を減ずるけれども、ワークピースによってスタイラスの
変位の方向が異る場合、特にプローブの軸からオフセッ
トされた位置でワークピースと接触するスタイラスを用
いる場合に生ずる先行変位のばらつきは解消されないま
まである。
【0007】国際特許明細書第 WO 85/0470
6 号にはプローブを用いたより精確な測定のための試
みが開示されている。この明細書においては、スタイラ
スの変位に関した複数のセンサを用い、複数センサの合
成した信号がスタイラスの予め定められた変位を指示す
る所定の閾値に達したときにのみ、機械との情報伝達の
ための1つの検出信号を生成するという概念が記述され
ている。従って、機械のコンピュータを適切にプログラ
ムすることにより既知のスタイラスの変位を演算すると
共に、機械はそのような変位に先だつ位置、換言すれば
スタイラスのワークピースとの最初の接触における位置
を指示するよう構成される。
6 号にはプローブを用いたより精確な測定のための試
みが開示されている。この明細書においては、スタイラ
スの変位に関した複数のセンサを用い、複数センサの合
成した信号がスタイラスの予め定められた変位を指示す
る所定の閾値に達したときにのみ、機械との情報伝達の
ための1つの検出信号を生成するという概念が記述され
ている。従って、機械のコンピュータを適切にプログラ
ムすることにより既知のスタイラスの変位を演算すると
共に、機械はそのような変位に先だつ位置、換言すれば
スタイラスのワークピースとの最初の接触における位置
を指示するよう構成される。
【0008】しかしながら、上記システムは以下で示す
ような意味である限界を有する。すなわち、プローブの
軸と同軸にあるスタイラスの場合にのみ上記システムは
実現可能なものである。また、上記明細書に示される変
換器を具えたプローブは比較的高価なものとなり、さら
に異った長さのスタイラスに応じた新たな調整を必要と
する。また上記のプローブにおいては、過変位による装
置の保護が限られたものとなってしまう。
ような意味である限界を有する。すなわち、プローブの
軸と同軸にあるスタイラスの場合にのみ上記システムは
実現可能なものである。また、上記明細書に示される変
換器を具えたプローブは比較的高価なものとなり、さら
に異った長さのスタイラスに応じた新たな調整を必要と
する。また上記のプローブにおいては、過変位による装
置の保護が限られたものとなってしまう。
【0009】本発明の目的は、従来のプローブシステム
において生ずる検出信号をスタイラスとワークピースと
の接触に応じた正確なものとすることが可能なプローブ
を提供することにある。
において生ずる検出信号をスタイラスとワークピースと
の接触に応じた正確なものとすることが可能なプローブ
を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】そのために本発明では、
ワークピースを測定するためのプローブにおいて、軸を
有した本体と、該本体に含まれ、かつ該本体とは別個の
第1固定構造部材と、該第1固定構造部材を前記本体に
接続する第2固定構造部材と、前記本体に少なくとも当
該一部分が含まれ、かつ、1つ以上のプローブ接触スタ
イラスを接続可能なスタイラスホルダを有した可動構造
部材と、該可動構造部材を前記第2固定構造部材の休止
位置で支持するための支持手段と、前記可動構造部材を
前記休止位置へ付勢するための偏倚手段であって、スタ
イラスがワークピースと接触し、当該接触によって当該
スタイラスに変位力が作用したとき前記可動構造部材は
前記偏倚手段に対抗して前記休止位置から変位でき、前
記変位力が作用しなくなったとき、前記可動構造部材を
前記休止位置へ復帰させるように作用する偏倚手段と、
前記スタイラスとワークピースとの接触を検出し、当該
接触を示す電気信号を供給するための検出手段と、を具
え、前記第1固定構造部材は、前記軸を横断して延在し
前記可動構造部材から前記軸に沿って前記スタイラスホ
ルダから離れる方向に間隔がおかれた面を有し、前記偏
倚手段は、前記可動構造部材と前記第1固定構造部材の
横断して延在する前記面との間で作用し、前記第2固定
構造部材は前記検出手段を有し、前記偏倚手段は前記検
出手段を介して当該力の反作用を及ぼされないよう構成
したことを特徴とする。
ワークピースを測定するためのプローブにおいて、軸を
有した本体と、該本体に含まれ、かつ該本体とは別個の
第1固定構造部材と、該第1固定構造部材を前記本体に
接続する第2固定構造部材と、前記本体に少なくとも当
該一部分が含まれ、かつ、1つ以上のプローブ接触スタ
イラスを接続可能なスタイラスホルダを有した可動構造
部材と、該可動構造部材を前記第2固定構造部材の休止
位置で支持するための支持手段と、前記可動構造部材を
前記休止位置へ付勢するための偏倚手段であって、スタ
イラスがワークピースと接触し、当該接触によって当該
スタイラスに変位力が作用したとき前記可動構造部材は
前記偏倚手段に対抗して前記休止位置から変位でき、前
記変位力が作用しなくなったとき、前記可動構造部材を
前記休止位置へ復帰させるように作用する偏倚手段と、
前記スタイラスとワークピースとの接触を検出し、当該
接触を示す電気信号を供給するための検出手段と、を具
え、前記第1固定構造部材は、前記軸を横断して延在し
前記可動構造部材から前記軸に沿って前記スタイラスホ
ルダから離れる方向に間隔がおかれた面を有し、前記偏
倚手段は、前記可動構造部材と前記第1固定構造部材の
横断して延在する前記面との間で作用し、前記第2固定
構造部材は前記検出手段を有し、前記偏倚手段は前記検
出手段を介して当該力の反作用を及ぼされないよう構成
したことを特徴とする。
【0011】
【作用】以上の構成によれば、ばね等の偏倚手段によっ
てプローブの各部において生じる反作用は、ストレイン
ゲージ等の検出手段を介さずに上記偏倚手段に作用する
ので、スタイラスの接触に応じて正確な検出信号を供給
することが可能となる。
てプローブの各部において生じる反作用は、ストレイン
ゲージ等の検出手段を介さずに上記偏倚手段に作用する
ので、スタイラスの接触に応じて正確な検出信号を供給
することが可能となる。
【0012】
【実施例】以下に示す図面を参照して本発明の一実施例
を詳細に説明する。
を詳細に説明する。
【0013】第1図〜第3図には測定用プローブ10が
示されている。プローブ10は測定機械あるいは工作機
械(不図示)の可動滑動部によって支持されるようにし
、これによりプローブ10は機械のベース14上に位置
したワークピース12に関して移動可能となる。この機
械の滑動によりプローブはワークピース12の表面と係
合し、もってワークピース12の位置を検出する。また
、当該表面との係合によりプローブは機械に信号を供給
する。この信号により空間におけるプローブの位置座標
が決定される。この座標の決定は、機械に装着された位
置カウンタを用いて機械滑動部の位置を記録することに
よって行われるものである。
示されている。プローブ10は測定機械あるいは工作機
械(不図示)の可動滑動部によって支持されるようにし
、これによりプローブ10は機械のベース14上に位置
したワークピース12に関して移動可能となる。この機
械の滑動によりプローブはワークピース12の表面と係
合し、もってワークピース12の位置を検出する。また
、当該表面との係合によりプローブは機械に信号を供給
する。この信号により空間におけるプローブの位置座標
が決定される。この座標の決定は、機械に装着された位
置カウンタを用いて機械滑動部の位置を記録することに
よって行われるものである。
【0014】プローブはプローブ本体16を有し、本体
16は機械との接続のためのシャンク18を有する。こ
れからわかるように、本体16はプローブの固定部構造
を成し得るものであり、また、軸16A を有する。
本体16の内部で支持される可動構造は概略参照番号
19で示されるものであり、その中にはスタイラスホル
ダ20が含まれ、ホルダ20にはスタイラスクラスタ2
1が接続されている。本例におけるスタイラスクラスタ
は5個のスタイラス22を有し、スタイラス22の各々
はクラスタの中央から互いに直交する方向へ展開してい
る。これら5個のスタイラスの各々は、プローブと多様
なワークピースの表面との係合を可能にするものであり
、これら係合は互いに直交する6つの方向における任意
の方向への機械の移動によって行われるものである。
スタイラスホルダ20は、軸16A を中心軸とする
三角中央板24(図2)と合体しており、三角中央板2
4は3個の座部26を有し、これら座部26は三角中央
板24の頂点の各々において、ころの形態で軸16A
に対して放射状に延在されている。板24は休止位置に
おいては中間部材28に支持されており、かかる支持は
中間部材28により支持される一対の座部要素30によ
ってなされるものである。すなわち、座部要素30はこ
ろ26と係合し、これらが伴って中間部材28への板2
4の動的な支持を形成する。ばね32の引張り力は板2
4を座部要素30との休止位置へ付勢するものであり、
さらに、スタイラスホルダの明確な位置づけを確実にす
るものである。しかしながら、スタイラスホルダは傾い
て、あるいは軸方向下方にばねの付勢力に抗して、その
休止位置から変位可能であり、これら変位はスタイラス
22のいずれかがワークピース12と係合している場合
に生ずる。
16は機械との接続のためのシャンク18を有する。こ
れからわかるように、本体16はプローブの固定部構造
を成し得るものであり、また、軸16A を有する。
本体16の内部で支持される可動構造は概略参照番号
19で示されるものであり、その中にはスタイラスホル
ダ20が含まれ、ホルダ20にはスタイラスクラスタ2
1が接続されている。本例におけるスタイラスクラスタ
は5個のスタイラス22を有し、スタイラス22の各々
はクラスタの中央から互いに直交する方向へ展開してい
る。これら5個のスタイラスの各々は、プローブと多様
なワークピースの表面との係合を可能にするものであり
、これら係合は互いに直交する6つの方向における任意
の方向への機械の移動によって行われるものである。
スタイラスホルダ20は、軸16A を中心軸とする
三角中央板24(図2)と合体しており、三角中央板2
4は3個の座部26を有し、これら座部26は三角中央
板24の頂点の各々において、ころの形態で軸16A
に対して放射状に延在されている。板24は休止位置に
おいては中間部材28に支持されており、かかる支持は
中間部材28により支持される一対の座部要素30によ
ってなされるものである。すなわち、座部要素30はこ
ろ26と係合し、これらが伴って中間部材28への板2
4の動的な支持を形成する。ばね32の引張り力は板2
4を座部要素30との休止位置へ付勢するものであり、
さらに、スタイラスホルダの明確な位置づけを確実にす
るものである。しかしながら、スタイラスホルダは傾い
て、あるいは軸方向下方にばねの付勢力に抗して、その
休止位置から変位可能であり、これら変位はスタイラス
22のいずれかがワークピース12と係合している場合
に生ずる。
【0015】中間部材28は、また可動構造19の一部
を成し、三角板を有してプローブ本体16に動的に支持
される。かかる動的支持は、中間部材に配設された球状
の座部要素30と、環状板36A 上に放射状に展開し
たころの形態で配設された3対の座部要素34とによっ
てなされる。 座部要素30は下方に付勢されて、ころ34と係合する
。この付勢はばね38によってなされるものであり、こ
れにより中間部材は板36A 上に明確に位置づけられ
る。しかし、中間部材はばねの付勢力に抗して傾いて、
あるいは軸方向に板36A から変位可能であり、これ
ら変位はスタイラス22のいずれかがワークピースに係
合する場合に生ずる。本例において、ばね38は円錐形
のばね支持部材42によって位置づけられ、ひるがえっ
て、支持部材42は環状板36A に接続した三角固定
構造40に反作用を及ぼす。 上記構成においてばね38は通常、圧縮状態にある。環
状板36A は中間部材28を支持するための底板を成
す。
を成し、三角板を有してプローブ本体16に動的に支持
される。かかる動的支持は、中間部材に配設された球状
の座部要素30と、環状板36A 上に放射状に展開し
たころの形態で配設された3対の座部要素34とによっ
てなされる。 座部要素30は下方に付勢されて、ころ34と係合する
。この付勢はばね38によってなされるものであり、こ
れにより中間部材は板36A 上に明確に位置づけられ
る。しかし、中間部材はばねの付勢力に抗して傾いて、
あるいは軸方向に板36A から変位可能であり、これ
ら変位はスタイラス22のいずれかがワークピースに係
合する場合に生ずる。本例において、ばね38は円錐形
のばね支持部材42によって位置づけられ、ひるがえっ
て、支持部材42は環状板36A に接続した三角固定
構造40に反作用を及ぼす。 上記構成においてばね38は通常、圧縮状態にある。環
状板36A は中間部材28を支持するための底板を成
す。
【0016】環状板36A は環状固定構造36の一部
を成すものであり、環状固定構造36のもう一方の部分
である36B はその外周面でプローブ本体16と接続
している。
を成すものであり、環状固定構造36のもう一方の部分
である36B はその外周面でプローブ本体16と接続
している。
【0017】構造36の2つの部分36A および36
B は、円周方向に間隔をおいた少なくとも3つの柱4
4によって互いに接続する。柱44はスタイラスホルダ
とプローブ本体との間の負荷経路において相対的に弱い
領域を形成する。従って、スタイラスに力が加わったと
きの負荷経路において最大歪の領域を形成することにな
る。柱は軸44A を有し、これらはプローブ本体の軸
16A に平行となっている。
B は、円周方向に間隔をおいた少なくとも3つの柱4
4によって互いに接続する。柱44はスタイラスホルダ
とプローブ本体との間の負荷経路において相対的に弱い
領域を形成する。従って、スタイラスに力が加わったと
きの負荷経路において最大歪の領域を形成することにな
る。柱は軸44A を有し、これらはプローブ本体の軸
16A に平行となっている。
【0018】検出装置46は細長い半導体歪ゲージの形
態で、柱の各々に装着され、各々の歪ゲージは、その軸
46A を柱の軸44A に対してθだけ傾けて位置づ
けられる。 これら構成によって、歪が引張り,圧縮あるいは捩り、
またはこれらの合成されたもののいずれであっても、柱
に歪が生じたとき歪ゲージのいずれも検出信号を供給し
得るものとなる。
態で、柱の各々に装着され、各々の歪ゲージは、その軸
46A を柱の軸44A に対してθだけ傾けて位置づ
けられる。 これら構成によって、歪が引張り,圧縮あるいは捩り、
またはこれらの合成されたもののいずれであっても、柱
に歪が生じたとき歪ゲージのいずれも検出信号を供給し
得るものとなる。
【0019】柱の寸法d,b,およびl、柱の数および
構造36の外周における柱の位置を適切なものとするこ
とにより、歪ゲージ軸が傾いていることと相俟って最大
にその効果を発揮するものであり、極めて高い感度を得
ることができ、かつ機械の振動や加速による誤ったトリ
ガを回避するという相反する要請をも満足できる。また
、これら構成はスタイラス22の任意の1つにおける力
の作用の全ての方向で先行変位のばらつきを最小にもす
る。
構造36の外周における柱の位置を適切なものとするこ
とにより、歪ゲージ軸が傾いていることと相俟って最大
にその効果を発揮するものであり、極めて高い感度を得
ることができ、かつ機械の振動や加速による誤ったトリ
ガを回避するという相反する要請をも満足できる。また
、これら構成はスタイラス22の任意の1つにおける力
の作用の全ての方向で先行変位のばらつきを最小にもす
る。
【0020】実際的なプローブ構造の一例としては、各
々0.5mm の長さの3つの柱が構造36の周上に等
間隔で配設され、各々の柱には半導体歪ゲージが装着さ
れているものである。これらゲージの縦軸はゲージの装
着された各々の柱の軸に対して25度傾けられている。 このプローブでもって、スタイラス22の先端に作用す
る力の方向にかかわらず、スタイラスのプラスあるいは
マイナス 0.5ミクロンの動きでトリガ信号を生成す
ることが可能である。センタが図の0で示す位置にあり
、51で示される半球状のエンベロープに格納されたス
タイラスが水平,垂直あるいは他の任意の位置のいずれ
であっても上述したことは可能である。プローブ本体1
6の下部はスリーブ48によって被覆され、またゴムシ
ール149 によって密閉される。これにより装置の損
傷や塵埃の侵入を防止する。
々0.5mm の長さの3つの柱が構造36の周上に等
間隔で配設され、各々の柱には半導体歪ゲージが装着さ
れているものである。これらゲージの縦軸はゲージの装
着された各々の柱の軸に対して25度傾けられている。 このプローブでもって、スタイラス22の先端に作用す
る力の方向にかかわらず、スタイラスのプラスあるいは
マイナス 0.5ミクロンの動きでトリガ信号を生成す
ることが可能である。センタが図の0で示す位置にあり
、51で示される半球状のエンベロープに格納されたス
タイラスが水平,垂直あるいは他の任意の位置のいずれ
であっても上述したことは可能である。プローブ本体1
6の下部はスリーブ48によって被覆され、またゴムシ
ール149 によって密閉される。これにより装置の損
傷や塵埃の侵入を防止する。
【0021】感度のよい歪ゲージおよび短い柱を採用す
ることにより、構造36の相対的な剛性は高いものとな
り、さらに誤ったトリガをほぼ回避し、システムにおけ
る機械的ヒステリシスを無視し得るものとなる。
ることにより、構造36の相対的な剛性は高いものとな
り、さらに誤ったトリガをほぼ回避し、システムにおけ
る機械的ヒステリシスを無視し得るものとなる。
【0022】装置の操作において、プローブは自身の装
着された機械によって駆動され、ワークピース12の表
面へ移動する。5つの直交するスタイラス22を有する
スタイラスクラスタを採用することにより、6つの直交
する方向の任意の方向において測定が可能となる。中間
部材へのスタイラスホルダの支持および構造36への中
間部材の支持は動的なものであるので、従って全ての可
動構造および構造40は、ばねの付勢力がスタイラスが
ワークピースの表面と接触することによるスタイラスに
作用する変位力に勝っているうちは、単一の固定構造と
みなされるからである。
着された機械によって駆動され、ワークピース12の表
面へ移動する。5つの直交するスタイラス22を有する
スタイラスクラスタを採用することにより、6つの直交
する方向の任意の方向において測定が可能となる。中間
部材へのスタイラスホルダの支持および構造36への中
間部材の支持は動的なものであるので、従って全ての可
動構造および構造40は、ばねの付勢力がスタイラスが
ワークピースの表面と接触することによるスタイラスに
作用する変位力に勝っているうちは、単一の固定構造と
みなされるからである。
【0023】このように、ワークピースとの最初の接触
ではどのようなスタイラスの変位も単一の固定構造に生
ずるような歪をもたらし、これら歪は柱の部分で最大と
なるものであり、歪ゲージ46によって検出される。歪
ゲージからの信号はワイヤ47を介してプローブ本体内
部の電気回路50に供給される。上記検出では歪ゲージ
における抵抗の変化が検出されるものである。電気回路
50はトリガ信号を生成し、このトリガ信号はプローブ
の外部装置である第2の電気回路(本例においては第5
図のインタフェースユニットIF)に供給される。機械
の測定装置に供給される前に、信号はこの回路で処理さ
れて、プローブの瞬間的な位置を読取るためや機械を停
止するために供される。機械は瞬時に停止することがで
きないから、機械が停止するまではスタイラスはさらに
変位し、この変位は2つのばねのどちらかの付勢力が抗
しきれなくなるか、あるいはスタイラスホルダや中間部
材がそれぞれの動的支持部から浮き上がってしまうまで
続けられる。この作用によって、プローブに損傷を与え
ることを防止するための機械の6方向全てにおける付加
的な制動動作ももたらされる。
ではどのようなスタイラスの変位も単一の固定構造に生
ずるような歪をもたらし、これら歪は柱の部分で最大と
なるものであり、歪ゲージ46によって検出される。歪
ゲージからの信号はワイヤ47を介してプローブ本体内
部の電気回路50に供給される。上記検出では歪ゲージ
における抵抗の変化が検出されるものである。電気回路
50はトリガ信号を生成し、このトリガ信号はプローブ
の外部装置である第2の電気回路(本例においては第5
図のインタフェースユニットIF)に供給される。機械
の測定装置に供給される前に、信号はこの回路で処理さ
れて、プローブの瞬間的な位置を読取るためや機械を停
止するために供される。機械は瞬時に停止することがで
きないから、機械が停止するまではスタイラスはさらに
変位し、この変位は2つのばねのどちらかの付勢力が抗
しきれなくなるか、あるいはスタイラスホルダや中間部
材がそれぞれの動的支持部から浮き上がってしまうまで
続けられる。この作用によって、プローブに損傷を与え
ることを防止するための機械の6方向全てにおける付加
的な制動動作ももたらされる。
【0024】付加的なフェイルセーフ構成として、休止
位置からのスタイラスの変位は電気回路49によっても
検出されるものであり、この回路49は全ての半球要素
30を直列に接続してスイッチ接点を構成する。これら
スイッチは休止位置にある座部要素26,34 によっ
て構成される。かくの如くして、スタイラスの変位は座
部要素の浮上をもたらし、この浮上によって各々の接点
は回路49を開放する。この回路49は電気回路50に
接続されており、回路50は回路49の状態変化を検出
する。
位置からのスタイラスの変位は電気回路49によっても
検出されるものであり、この回路49は全ての半球要素
30を直列に接続してスイッチ接点を構成する。これら
スイッチは休止位置にある座部要素26,34 によっ
て構成される。かくの如くして、スタイラスの変位は座
部要素の浮上をもたらし、この浮上によって各々の接点
は回路49を開放する。この回路49は電気回路50に
接続されており、回路50は回路49の状態変化を検出
する。
【0025】上述されたプローブは直交する軸±X,±
Yおよび±Zの6つの方向に動作可能なスタイラスを有
するものであるが、本発明は5つの方向にのみ動作可能
なスタイラスを有するプローブにも適用可能であること
は明らかであろう。すなわち、スタイラスが垂直下方(
−Z方向)に動作不可能なものである。
Yおよび±Zの6つの方向に動作可能なスタイラスを有
するものであるが、本発明は5つの方向にのみ動作可能
なスタイラスを有するプローブにも適用可能であること
は明らかであろう。すなわち、スタイラスが垂直下方(
−Z方向)に動作不可能なものである。
【0026】また、固定および可動構造における座部要
素の位置あるいは相対的変位は種々のものとすることが
でき、本発明の基本原理を離脱しない範囲で動的支持機
構の構成を選択できる。
素の位置あるいは相対的変位は種々のものとすることが
でき、本発明の基本原理を離脱しない範囲で動的支持機
構の構成を選択できる。
【0027】電気回路50の詳細を第4図を参照して説
明する。3つの歪ゲージSG1,SG2 およびSG3
は供給電圧Vsと基準電圧V0との間で抵抗R1,R
2 およびR3とそれぞれ接続される。供給電圧Vsは
直流電源VDC から供給され、この供給電圧Vsおよ
び基準電圧V0はインタフェースユニットIFとそれぞ
れ接点T1およびT5でそれぞれ接続する。供給電圧は
電圧レギュレータVRで一定値に調整される。上記各々
の抵抗の値は各々の歪ゲージに付加される公称抵抗と等
しいものとされ、これにより抵抗と歪ゲージとの間の分
岐点J1,J2 およびJ3における公称電圧は0.5
Vs となる。歪ゲージで抵抗値が変化すれば、これら
3ケ所の分岐点での電圧が変化し、これら変化は増幅器
A1,A2 およびA3で増幅される。これらの増幅器
は出力A01,A02 およびA03を出力し、この出
力はウィンドウコンパレータW1,W2 およびW3に
それぞれ供給され、ウィンドウコンパレータはプローブ
からのトリガ信号を機械に供給する。 歪ゲージの公称抵抗値から抵抗値の変動や製造仕様また
はドリフトにおける誤差あるいは環境条件に起因した誤
ったトリガ信号を回避するために、自動ゼロ調整回路(
auto−zeroing circuit)が組込ま
れており、この回路は増幅器の各々からの出力を0.5
Vs とする。ここではただ1つの増幅器、例えばA1
について自動ゼロ調整回路の説明をする。この説明では
0.5Vs はゼロとされる。
明する。3つの歪ゲージSG1,SG2 およびSG3
は供給電圧Vsと基準電圧V0との間で抵抗R1,R
2 およびR3とそれぞれ接続される。供給電圧Vsは
直流電源VDC から供給され、この供給電圧Vsおよ
び基準電圧V0はインタフェースユニットIFとそれぞ
れ接点T1およびT5でそれぞれ接続する。供給電圧は
電圧レギュレータVRで一定値に調整される。上記各々
の抵抗の値は各々の歪ゲージに付加される公称抵抗と等
しいものとされ、これにより抵抗と歪ゲージとの間の分
岐点J1,J2 およびJ3における公称電圧は0.5
Vs となる。歪ゲージで抵抗値が変化すれば、これら
3ケ所の分岐点での電圧が変化し、これら変化は増幅器
A1,A2 およびA3で増幅される。これらの増幅器
は出力A01,A02 およびA03を出力し、この出
力はウィンドウコンパレータW1,W2 およびW3に
それぞれ供給され、ウィンドウコンパレータはプローブ
からのトリガ信号を機械に供給する。 歪ゲージの公称抵抗値から抵抗値の変動や製造仕様また
はドリフトにおける誤差あるいは環境条件に起因した誤
ったトリガ信号を回避するために、自動ゼロ調整回路(
auto−zeroing circuit)が組込ま
れており、この回路は増幅器の各々からの出力を0.5
Vs とする。ここではただ1つの増幅器、例えばA1
について自動ゼロ調整回路の説明をする。この説明では
0.5Vs はゼロとされる。
【0028】増幅器A1の電圧出力A01 は相互コン
ダクタンス増幅器TC1 の電圧入力の1つに接続して
おり、TC1 への他の電圧入力は0.5Vs である
。
ダクタンス増幅器TC1 の電圧入力の1つに接続して
おり、TC1 への他の電圧入力は0.5Vs である
。
【0029】電流入力Iaもまた増幅器TC1 に供給
され、TC1の出力TC01、これは電流出力であるが
、電圧入力A01 と0.5Vs との差および電流入
力Iaに従う。相互コンダクタンス増幅器TC1 の作
用は以下のようなものである。 すなわち、上記入力電圧の差あるいは電流Iaがゼロの
場合、出力TC01はゼロとなる。出力TC01はコン
デンサC1を介して電位0.5Vs および増幅器A1
の入力の両方と接続している。
され、TC1の出力TC01、これは電流出力であるが
、電圧入力A01 と0.5Vs との差および電流入
力Iaに従う。相互コンダクタンス増幅器TC1 の作
用は以下のようなものである。 すなわち、上記入力電圧の差あるいは電流Iaがゼロの
場合、出力TC01はゼロとなる。出力TC01はコン
デンサC1を介して電位0.5Vs および増幅器A1
の入力の両方と接続している。
【0030】増幅器A1の入力はハイインピーダンスと
なり、これによって電流出力TC01はコンデンサC1
へ流れ込み、その電位を変化させて増幅器A1に電圧入
力を供給する。これらのことから、増幅器A1からの出
力がゼロに維持される間は増幅器TC1 からの出力T
C01がゼロであるが、歪ゲージの抵抗が変化すれば分
岐点J1の電圧が変化し、増幅器A1からの出力A01
を生成するということが理解される。このことは、ひ
るがえって、増幅器TC1 からの出力が生成されるこ
とであり、この出力はコンデンサC1からの増幅器A1
に対する補正電圧入力を生成し、さらにこの補正電圧入
力は増幅器A1の出力をゼロにしようとするものである
。
なり、これによって電流出力TC01はコンデンサC1
へ流れ込み、その電位を変化させて増幅器A1に電圧入
力を供給する。これらのことから、増幅器A1からの出
力がゼロに維持される間は増幅器TC1 からの出力T
C01がゼロであるが、歪ゲージの抵抗が変化すれば分
岐点J1の電圧が変化し、増幅器A1からの出力A01
を生成するということが理解される。このことは、ひ
るがえって、増幅器TC1 からの出力が生成されるこ
とであり、この出力はコンデンサC1からの増幅器A1
に対する補正電圧入力を生成し、さらにこの補正電圧入
力は増幅器A1の出力をゼロにしようとするものである
。
【0031】サフィックス2および3を有する同一文字
を付した同様の部分は、それぞれ、歪ゲージSG2 お
よびSG3 の自動ゼロ調整回路を構成するが、これら
回路については詳述を行わない。ひとたび増幅器A1,
A2 およびA3の出力が安定すると、どの歪ゲージ出
力に、どの方向にいかなる変化が生じても、各増幅器出
力に変化を生じさせるものとなる。この変化は、公称で
+100mV および−100mV に設定されている
ウィンドウコンパレータW1,W2 およびW3のしき
い値より大であれば、増幅器出力が正であったか負であ
ったかに拘らず、ウィンドウコンパレータの論理をハイ
からローにスイッチングするであろう。 どのコンパレータが「ロー」となっても、それはすべて
のコンパレータを接続した接続点JCを「ロー」にする
。 「ロー」信号はインバータIを介し、端子T2に結合し
た電子回路から「プローブトリガ」信号として通常の論
理「ハイ」の出力がなされる。
を付した同様の部分は、それぞれ、歪ゲージSG2 お
よびSG3 の自動ゼロ調整回路を構成するが、これら
回路については詳述を行わない。ひとたび増幅器A1,
A2 およびA3の出力が安定すると、どの歪ゲージ出
力に、どの方向にいかなる変化が生じても、各増幅器出
力に変化を生じさせるものとなる。この変化は、公称で
+100mV および−100mV に設定されている
ウィンドウコンパレータW1,W2 およびW3のしき
い値より大であれば、増幅器出力が正であったか負であ
ったかに拘らず、ウィンドウコンパレータの論理をハイ
からローにスイッチングするであろう。 どのコンパレータが「ロー」となっても、それはすべて
のコンパレータを接続した接続点JCを「ロー」にする
。 「ロー」信号はインバータIを介し、端子T2に結合し
た電子回路から「プローブトリガ」信号として通常の論
理「ハイ」の出力がなされる。
【0032】プローブがスイッチオンされたときには、
自動ゼロ調整回路が比較的速やかに動作して増幅器A1
,A2 およびA3の出力を安定させるのが望ましい。 しかし、プローブの動作中には、増幅器からの信号は、
それらがウィンドウコンパレータをトリガするのに必要
なしきい値レベルに達するまでは自動ゼロ調整回路によ
ってゼロにされることはない。自動ゼロ調整回路の動作
速度はそれゆえ可変でなければならず、そしてこれは電
流Iaをハイレベルからローレベルに変更することによ
って実現できる。
自動ゼロ調整回路が比較的速やかに動作して増幅器A1
,A2 およびA3の出力を安定させるのが望ましい。 しかし、プローブの動作中には、増幅器からの信号は、
それらがウィンドウコンパレータをトリガするのに必要
なしきい値レベルに達するまでは自動ゼロ調整回路によ
ってゼロにされることはない。自動ゼロ調整回路の動作
速度はそれゆえ可変でなければならず、そしてこれは電
流Iaをハイレベルからローレベルに変更することによ
って実現できる。
【0033】高速モードで動作させるためには、起動回
路Sに約3秒にわたって定常的にハイレベルの直流電流
を発生させ、高電流入力Iaを相互コンダクタンス増幅
器の各々に供給する。従って、増幅器A1, A2また
はA3のいずれからでも出力がある間は、各増幅器TC
1,TC2 またはTC3 の出力がハイとなり、コン
デンサC1,C2 またはC3を速やかに充電させ、こ
れによって増幅器A1,A2 またはA3に電圧入力が
与えられて接続点J1,J2 およびJ3からのいかな
る入力も無効とされる。
路Sに約3秒にわたって定常的にハイレベルの直流電流
を発生させ、高電流入力Iaを相互コンダクタンス増幅
器の各々に供給する。従って、増幅器A1, A2また
はA3のいずれからでも出力がある間は、各増幅器TC
1,TC2 またはTC3 の出力がハイとなり、コン
デンサC1,C2 またはC3を速やかに充電させ、こ
れによって増幅器A1,A2 またはA3に電圧入力が
与えられて接続点J1,J2 およびJ3からのいかな
る入力も無効とされる。
【0034】低速で動作させるためには、発振回路OC
から電流Iaを供給させる。この回路としては、高いマ
ーク・スペース比(high mark space
ratio) で直流電流パルスを発生する能力、例え
ば約550:1 で電流レベルIaを低減化するような
能力があれば、公知のいかなるものも用いることが可能
である。発振器出力は加算点J4に供給される。従って
、自動ゼロ調整電流入力は、相互コンダクタンス増幅器
の出力がゼロとなる間の短いパルス期間においてのみ有
効となる。これによりコンデンサは、増幅器A1,A2
およびA3からの出力があるときには短くバーストす
る電流の供給を受け、コンデンサの充電速度は著しく減
少する。この減少によって、自動ゼロ調整を低速化し、
プローブ動作中に歪ゲージ出力が変化するときに、1/
10の速度とすることができる。
から電流Iaを供給させる。この回路としては、高いマ
ーク・スペース比(high mark space
ratio) で直流電流パルスを発生する能力、例え
ば約550:1 で電流レベルIaを低減化するような
能力があれば、公知のいかなるものも用いることが可能
である。発振器出力は加算点J4に供給される。従って
、自動ゼロ調整電流入力は、相互コンダクタンス増幅器
の出力がゼロとなる間の短いパルス期間においてのみ有
効となる。これによりコンデンサは、増幅器A1,A2
およびA3からの出力があるときには短くバーストす
る電流の供給を受け、コンデンサの充電速度は著しく減
少する。この減少によって、自動ゼロ調整を低速化し、
プローブ動作中に歪ゲージ出力が変化するときに、1/
10の速度とすることができる。
【0035】このように電流Iaを減少させる方法の利
点は、直流電圧Vsから低電流Iaを生成するときに必
要とされる高抵抗を要しないことである。発振器により
作り出される平均値の低い電流によって、低平均の電流
を供給する限りは小型で低い容量のコンデンサの使用が
可能となる。
点は、直流電圧Vsから低電流Iaを生成するときに必
要とされる高抵抗を要しないことである。発振器により
作り出される平均値の低い電流によって、低平均の電流
を供給する限りは小型で低い容量のコンデンサの使用が
可能となる。
【0036】プローブがトリガされた後に、自動ゼロ調
整回路は、スタイラスがたわんでいる間に増幅器A1,
A2およびA3の出力が減少してウィンドウコンパレ
ータのしきい値以下の値となるのを妨げることは禁止さ
れる。これは、可動構造がその休止位置に復帰したかの
ような誤った指示を機械に与え、そしてワークピースか
らスタイラスが係合解除されて可動部材がその休止位置
に復帰するときに誤ったトリガ信号を発生させることに
なるであろうからである。ゼロ調整回路を抑制するため
に、接続点JCとの連結INを施し、発振回路OCに対
してウィンドウコンパレータがトリガ信号を発生してい
るときにはその動作を禁ずる信号を供給する。プローブ
の可動構造がその休止位置に復帰し、ウィンドウコンパ
レータ出力がローからハイに戻った状態になったときに
、出力信号の変化は自動的に禁止信号を解除する。
整回路は、スタイラスがたわんでいる間に増幅器A1,
A2およびA3の出力が減少してウィンドウコンパレ
ータのしきい値以下の値となるのを妨げることは禁止さ
れる。これは、可動構造がその休止位置に復帰したかの
ような誤った指示を機械に与え、そしてワークピースか
らスタイラスが係合解除されて可動部材がその休止位置
に復帰するときに誤ったトリガ信号を発生させることに
なるであろうからである。ゼロ調整回路を抑制するため
に、接続点JCとの連結INを施し、発振回路OCに対
してウィンドウコンパレータがトリガ信号を発生してい
るときにはその動作を禁ずる信号を供給する。プローブ
の可動構造がその休止位置に復帰し、ウィンドウコンパ
レータ出力がローからハイに戻った状態になったときに
、出力信号の変化は自動的に禁止信号を解除する。
【0037】ひとたび禁止信号が生じると、プローブは
スタイラスを伴ってそのたわみが生じた位置から遠く移
動していってしまうので、外部リセット能力が必要であ
る。このような状況では、コンデンサC1,C2 また
はC3から放電が生じ、それぞれの増幅器A1,A2
およびA3への電圧入力が変化してしまい、そしてプロ
ーブがワークピースから引戻されてスタイラスがその休
止位置に復帰するときに、回路はトリガされた状態を指
示し続けることになるであろうからである。それゆえ、
リセット回路RSを設け、プローブが10秒以上たわん
だままになったときには必ず、リセット回路が信号RS
1 により賦活されるようにして、速やかに自動ゼロ調
整状態を得るべくハイレベルの直流電流Iaを再供給す
るようにする。
スタイラスを伴ってそのたわみが生じた位置から遠く移
動していってしまうので、外部リセット能力が必要であ
る。このような状況では、コンデンサC1,C2 また
はC3から放電が生じ、それぞれの増幅器A1,A2
およびA3への電圧入力が変化してしまい、そしてプロ
ーブがワークピースから引戻されてスタイラスがその休
止位置に復帰するときに、回路はトリガされた状態を指
示し続けることになるであろうからである。それゆえ、
リセット回路RSを設け、プローブが10秒以上たわん
だままになったときには必ず、リセット回路が信号RS
1 により賦活されるようにして、速やかに自動ゼロ調
整状態を得るべくハイレベルの直流電流Iaを再供給す
るようにする。
【0038】回路50にはさらに、ウィンドウコンパレ
ータのしきい値制御回路TCを付加する。これは、プロ
ーブが操作間に急激に移動させられたときに、プローブ
の衝撃的負荷のために生じる回路のサージを防止すべく
、コンパレータをスイッチングしてハイゲインからロー
ゲインとすることが可能である。この回路は、回路Sと
同様に、インタフェースユニットからの信号TCS に
よって作動する。
ータのしきい値制御回路TCを付加する。これは、プロ
ーブが操作間に急激に移動させられたときに、プローブ
の衝撃的負荷のために生じる回路のサージを防止すべく
、コンパレータをスイッチングしてハイゲインからロー
ゲインとすることが可能である。この回路は、回路Sと
同様に、インタフェースユニットからの信号TCS に
よって作動する。
【0039】付加回路49を設けて、付加的なスタイラ
ス変位信号を端子T2に供給するようにしてもよい。回
路49は一端を基準電圧V0に接続し、他端を抵抗器R
Dを介しインバータIに接続してある。抵抗器RDと供
給電圧Vsとの間にはプルアップ抵抗器RPを設けてあ
る。回路49を設けるときには、インバータに対し(1
/2)Vの新たな基準電圧が供給されるように抵抗器R
Dの値を定める。スタイラスが変位して回路49が開放
されると、プルアップ抵抗器RPはインバータ基準電圧
を引き上げてVsとし、機械に信号を送出させる。
ス変位信号を端子T2に供給するようにしてもよい。回
路49は一端を基準電圧V0に接続し、他端を抵抗器R
Dを介しインバータIに接続してある。抵抗器RDと供
給電圧Vsとの間にはプルアップ抵抗器RPを設けてあ
る。回路49を設けるときには、インバータに対し(1
/2)Vの新たな基準電圧が供給されるように抵抗器R
Dの値を定める。スタイラスが変位して回路49が開放
されると、プルアップ抵抗器RPはインバータ基準電圧
を引き上げてVsとし、機械に信号を送出させる。
【0040】本発明の一実施例においては、リセット回
路RSおよびしきい値制御回路TCの操作は機械もしく
はインタフェースユニット(図示はしないが、それ自体
公知である。)の諸制御回路から行う。これら制御回路
は通常供給電圧より小さい電圧で動作し、端子T3およ
びT4でプローブに各別の外部接続を要する。プローブ
と機械またはインタフェースとの間のすべての伝送はプ
ローブにただ2つの外部接続を施すことによってなされ
る。これによってプローブは従来のプローブと交換可能
なものに作成できる。
路RSおよびしきい値制御回路TCの操作は機械もしく
はインタフェースユニット(図示はしないが、それ自体
公知である。)の諸制御回路から行う。これら制御回路
は通常供給電圧より小さい電圧で動作し、端子T3およ
びT4でプローブに各別の外部接続を要する。プローブ
と機械またはインタフェースとの間のすべての伝送はプ
ローブにただ2つの外部接続を施すことによってなされ
る。これによってプローブは従来のプローブと交換可能
なものに作成できる。
【0041】このためには、プローブとインタフェース
ユニットとの間でこのような接続を第5図に示すように
変形してもよい。ここでは、図に示すように、端子T1
を端子ET1 に直接接続するとともに、端子T5を端
子ET2 に接続してある。ET1 およびET2 は
プローブ上ただ2つの外部端子として形成され、ここで
インタフェースに対する送受信が行われる。端子T2か
らのプローブトリガ信号は電子スイッチユニットESお
よび負荷抵抗器RLを介して端子ET1 に接続する。 端子T3は端子ET2 で基準電圧ラインV0に接続さ
れ、従ってリセット回路は有効にインキャパシテイト(
incapacitating)される。端子T4は端
子T1の上流、すなわち電圧レギュレータVRの上流の
供給源に接続する。
ユニットとの間でこのような接続を第5図に示すように
変形してもよい。ここでは、図に示すように、端子T1
を端子ET1 に直接接続するとともに、端子T5を端
子ET2 に接続してある。ET1 およびET2 は
プローブ上ただ2つの外部端子として形成され、ここで
インタフェースに対する送受信が行われる。端子T2か
らのプローブトリガ信号は電子スイッチユニットESお
よび負荷抵抗器RLを介して端子ET1 に接続する。 端子T3は端子ET2 で基準電圧ラインV0に接続さ
れ、従ってリセット回路は有効にインキャパシテイト(
incapacitating)される。端子T4は端
子T1の上流、すなわち電圧レギュレータVRの上流の
供給源に接続する。
【0042】これにより、プローブとインタフェースユ
ニットとの間のすべての2方向伝送は、以下の如く達成
される。
ニットとの間のすべての2方向伝送は、以下の如く達成
される。
【0043】その通常レベルがVsである供給電圧によ
って、プローブはハイゲインモードに設定され、「休止
」(“quiescent ”)電流Iqはプローブを
巡り、インタフェースユニットに至る。プローブがトリ
ガされると、信号は電子スイッチESを動作させ、電流
が一層負荷抵抗器RLに流れる。この増加した電流は、
インタフェースユニットによって供給源に直列接続した
低抵抗値の抵抗器Rの反対側の電圧の増加分として検出
される。抵抗器Rと並列に設けたコンパレータCはこの
増加を検知し、出力COを発生する。この出力COをイ
ンタフェース内で適切に条件づけし、機械に受容させて
、機械を停止して測定値読取りが行われるようにする。 プローブのスタイラスが休止位置に復帰すると、スイッ
チESは消勢され、電流はIqに戻る。
って、プローブはハイゲインモードに設定され、「休止
」(“quiescent ”)電流Iqはプローブを
巡り、インタフェースユニットに至る。プローブがトリ
ガされると、信号は電子スイッチESを動作させ、電流
が一層負荷抵抗器RLに流れる。この増加した電流は、
インタフェースユニットによって供給源に直列接続した
低抵抗値の抵抗器Rの反対側の電圧の増加分として検出
される。抵抗器Rと並列に設けたコンパレータCはこの
増加を検知し、出力COを発生する。この出力COをイ
ンタフェース内で適切に条件づけし、機械に受容させて
、機械を停止して測定値読取りが行われるようにする。 プローブのスタイラスが休止位置に復帰すると、スイッ
チESは消勢され、電流はIqに戻る。
【0044】ウィンドウコンパレータにおいてゲインの
変更が要求されるときには、供給源からの電圧を公称3
ボルト増加してVS1 とし、端子T4に信号TCS
を供給してしきい値制御回路TCを起動する。端子T4
は電圧レギュレータVRの上流で供給源に接続されてい
るので、VRの下流の回路は影響を受けない。レギュレ
ータVRがプローブ回路に一定電圧VS与え、休止電流
Iqが影響を受けないからである。
変更が要求されるときには、供給源からの電圧を公称3
ボルト増加してVS1 とし、端子T4に信号TCS
を供給してしきい値制御回路TCを起動する。端子T4
は電圧レギュレータVRの上流で供給源に接続されてい
るので、VRの下流の回路は影響を受けない。レギュレ
ータVRがプローブ回路に一定電圧VS与え、休止電流
Iqが影響を受けないからである。
【0045】リセット動作を得るには、供給電圧を短期
間ほぼゼロにまで減少させ、続いてVSのレベルまたは
より高いVS1 に戻す。これが起動回路Sを動作させ
、リセット動作を行わせる。
間ほぼゼロにまで減少させ、続いてVSのレベルまたは
より高いVS1 に戻す。これが起動回路Sを動作させ
、リセット動作を行わせる。
【0046】第5図中右側部分は電圧変化を得るための
電気回路の一例を示す。ここでは、まず入力部I/P
と出力部O/P とを有する電圧レギュレータVR2
を抵抗器Rと電源VDC との間にさらに設けてある。 このレギュレータは、例えばLM317 という名称で
市販されているもののような公知の構成であり、3つの
電圧レベル、すなわちレギュレータの検出入力S2に適
用される電圧を変更するスイッチS1およびS2の状態
の変化に基づいて要求される3つの電圧レベルを与える
べく、予めプログラムされている。スイッチは機械制御
用のコンピュータMCの制御の下に開放または閉成され
る。コンピュータMCは、機械が操作される環境に応じ
て電圧の変更に必要な値を決定するものである。参照符
号R10,R11 およびR12 で示す構成要素は抵
抗器であり、回路を形成するためのものである。
電気回路の一例を示す。ここでは、まず入力部I/P
と出力部O/P とを有する電圧レギュレータVR2
を抵抗器Rと電源VDC との間にさらに設けてある。 このレギュレータは、例えばLM317 という名称で
市販されているもののような公知の構成であり、3つの
電圧レベル、すなわちレギュレータの検出入力S2に適
用される電圧を変更するスイッチS1およびS2の状態
の変化に基づいて要求される3つの電圧レベルを与える
べく、予めプログラムされている。スイッチは機械制御
用のコンピュータMCの制御の下に開放または閉成され
る。コンピュータMCは、機械が操作される環境に応じ
て電圧の変更に必要な値を決定するものである。参照符
号R10,R11 およびR12 で示す構成要素は抵
抗器であり、回路を形成するためのものである。
【0047】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、ばね等
の偏倚手段によってプローブの各部において生じる反作
用は、ストレインゲージ等の検出手段を介さずに上記偏
倚手段に作用するので、スタイラスの接触に応じて正確
な検出信号を供給することが可能となる。
の偏倚手段によってプローブの各部において生じる反作
用は、ストレインゲージ等の検出手段を介さずに上記偏
倚手段に作用するので、スタイラスの接触に応じて正確
な検出信号を供給することが可能となる。
【図1】本発明に係るプローブの正断面図である。
【図2】プローブにおける可動部の支持の態様を示す第
1図のII−II断面の平面図である。
1図のII−II断面の平面図である。
【図3】柱に組み合された本発明の歪検出要素を拡大し
て詳細に示す外観図である。
て詳細に示す外観図である。
【図4】プローブにおける信号発生システムの電子要素
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図5】プローブと、機械のインタフェースユニットと
の接続を示す回路図である。
の接続を示す回路図である。
10 プローブ
12 ワークピース
14 ベース
16 本体
16A 軸
19 可動構造
20 ホルダ
22 スタイラス
24 三角中央板
26 座部
28 中間部材
36 環状固定構造
38 ばね
40 三角固定構造
44 柱
46 検出装置
49,50 電気回路
SG1,SG2,SG3 歪ゲージR1,R2,R
3 抵抗器 C1,C2,C3 コンデンサ A1,A2,A3 増幅器 W1,W2,W3 ウィンドウコンパレータTC1,
TC2,TC3 相互コンダクタンス増幅器VR
電圧レギュレータ OC 発振回路 I インバータ S 起動回路 RS リセット回路 TC しきい値制御回路 T1〜T5, ET1,ET2 端子IF イン
タフェースユニット
3 抵抗器 C1,C2,C3 コンデンサ A1,A2,A3 増幅器 W1,W2,W3 ウィンドウコンパレータTC1,
TC2,TC3 相互コンダクタンス増幅器VR
電圧レギュレータ OC 発振回路 I インバータ S 起動回路 RS リセット回路 TC しきい値制御回路 T1〜T5, ET1,ET2 端子IF イン
タフェースユニット
Claims (3)
- 【請求項1】 ワークピースを測定するためのプロー
ブにおいて、軸を有した本体と、該本体に含まれ、かつ
該本体とは別個の第1固定構造部材と、該第1固定構造
部材を前記本体に接続する第2固定構造部材と、前記本
体に少なくとも当該一部分が含まれ、かつ、1つ以上の
プローブ接触スタイラスを接続可能なスタイラスホルダ
を有した可動構造部材と、該可動構造部材を前記第2固
定構造部材の休止位置で支持するための支持手段と、前
記可動構造部材を前記休止位置へ付勢するための偏倚手
段であって、スタイラスがワークピースと接触し、当該
接触によって当該スタイラスに変位力が作用したとき前
記可動構造部材は前記偏倚手段に対抗して前記休止位置
から変位でき、前記変位力が作用しなくなったとき、前
記可動構造部材を前記休止位置へ復帰させるように作用
する偏倚手段と、前記スタイラスとワークピースとの接
触を検出し、当該接触を示す電気信号を供給するための
検出手段と、を具え、前記第1固定構造部材は、前記軸
を横断して延在し前記可動構造部材から前記軸に沿って
前記スタイラスホルダから離れる方向に間隔がおかれた
面を有し、前記偏倚手段は、前記可動構造部材と前記第
1固定構造部材の横断して延在する前記面との間で作用
し、前記第2固定構造部材は前記検出手段を有し、前記
偏倚手段は前記検出手段を介して当該力の反作用を及ぼ
されないよう構成したことを特徴とするプローブ。 - 【請求項2】 前記第1固定構造部材は、前記軸の方
向に延在し当該両端部が前記第1固定構造部材の横断し
て延在する前記面と前記第2固定構造部材とに接続され
た少なくとも1つの支持部材を具え、これにより前記横
断して延在する面を支持することを特徴とする特許請求
の範囲第1項に記載のプローブ。 - 【請求項3】 前記第1固定構造部材は三角形をなし
、前記支持部材の各々は当該三角形の頂点にそれぞれ設
けられることを特徴とする特許請求の範囲第2項に記載
のプローブ。
Applications Claiming Priority (2)
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GB8610087 | 1986-04-24 | ||
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Family
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JP3184823A Pending JPH04363603A (ja) | 1986-04-24 | 1991-07-24 | プローブ |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62100253A Expired - Lifetime JP2545082B2 (ja) | 1986-04-24 | 1987-04-24 | 接触検出プロ−ブ |
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GB8610087D0 (en) * | 1986-04-24 | 1986-05-29 | Renishaw Plc | Probe |
WO1989008817A1 (en) * | 1988-03-10 | 1989-09-21 | Nawsir Inc. | Contact sensing system |
CH674485A5 (ja) * | 1988-03-11 | 1990-06-15 | Saphirwerk Ind Prod | |
GB8816358D0 (en) * | 1988-07-08 | 1988-08-10 | Renishaw Plc | Probe for use with measuring apparatus |
GB8909357D0 (en) * | 1989-04-25 | 1989-06-14 | Renishaw Plc | Position determining apparatus |
DE3934056A1 (de) * | 1989-10-12 | 1991-05-08 | Zeiss Carl Fa | Tastkopf fuer koordinatenmessgeraete |
US5505005A (en) * | 1990-02-23 | 1996-04-09 | Renishaw Plc | Touch probe |
US5339535A (en) * | 1990-02-23 | 1994-08-23 | Renishaw Metrology Limited | Touch probe |
US5345690A (en) * | 1990-02-23 | 1994-09-13 | Renishaw Metrology Limited | Contact probes |
GB9004117D0 (en) * | 1990-02-23 | 1990-04-18 | Renishaw Plc | Touch probe |
DE4028076A1 (de) * | 1990-09-05 | 1992-03-12 | Hoefler Messgeraetebau Gmbh Dr | Messeinrichtung fuer rotationssymmetrische werkstuecke |
GB9021447D0 (en) | 1990-10-03 | 1990-11-14 | Renishaw Plc | Capacitance probes |
FR2673468A1 (fr) * | 1991-02-28 | 1992-09-04 | Renishaw Plc | Circuit de conditionnement de signaux pour sonde a declenchement. |
GB9106731D0 (en) * | 1991-03-28 | 1991-05-15 | Renishaw Metrology Ltd | Touch probe |
GB9114945D0 (en) * | 1991-07-11 | 1991-08-28 | Renishaw Metrology Ltd | Touch probe |
US5327657A (en) * | 1991-07-11 | 1994-07-12 | Renishaw Metrology Ltd. | Touch probe |
US5322007A (en) * | 1991-08-15 | 1994-06-21 | Heat And Control, Inc. | Compact, high-capacity oven |
EP0566719B1 (en) * | 1991-11-09 | 1997-02-19 | Renishaw Metrology Limited | Touch probe |
DE69323289T3 (de) * | 1992-12-24 | 2003-04-24 | Renishaw Plc, Wotton-Under-Edge | Tastsonde und Signalverarbeitungsschaltung dafür |
DE4330873A1 (de) * | 1993-09-13 | 1995-03-16 | Zeiss Carl Fa | Koordinatenmeßgerät mit einem Tastkopf und einer Elektronik zur Verarbeitung des Tastsignals |
US5575078A (en) * | 1995-03-01 | 1996-11-19 | Hollingsworth & Vose Company | Zero load thickness caliper |
US5657549A (en) * | 1995-10-04 | 1997-08-19 | Shen; Yin-Lin | Method of improving accuracy of touch trigger probe |
JP3130289B2 (ja) * | 1998-08-04 | 2001-01-31 | 株式会社ミツトヨ | タッチ信号プローブ |
US6553682B1 (en) * | 1999-03-15 | 2003-04-29 | Paradyne | Touch probe |
DE19929557B4 (de) * | 1999-06-18 | 2006-01-19 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Verfahren und Schaltkreis zur Einstellung einer Schaltschwelle eines Tastschalters |
JP3628938B2 (ja) * | 2000-06-23 | 2005-03-16 | 株式会社ミツトヨ | タッチ信号プローブ |
US7010991B2 (en) | 2000-09-13 | 2006-03-14 | Pentagon Technologies Group, Inc. | Surface particle detector |
US6640459B1 (en) * | 2001-02-15 | 2003-11-04 | Fast Forward Devices, Llc | Multidimensional contact mechanics measurement system |
US20050111011A1 (en) * | 2001-04-20 | 2005-05-26 | Dickinson Laurence P. | Probe for non-destructive testing |
US6888453B2 (en) | 2001-06-22 | 2005-05-03 | Pentagon Technologies Group, Inc. | Environmental monitoring system |
US20030075936A1 (en) * | 2001-10-19 | 2003-04-24 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Wafer blade equipped with piezoelectric sensors |
EP1316778B1 (fr) * | 2001-11-30 | 2007-07-25 | Tesa Sa | Palpeur à déclenchement et procédé d'assemblage d'un palpeur à déclenchement |
GB0201845D0 (en) * | 2002-01-26 | 2002-03-13 | Renishaw Plc | Analogue probe |
GB0508388D0 (en) | 2005-04-26 | 2005-06-01 | Renishaw Plc | Surface sensing device with optical sensor |
GB0509394D0 (en) * | 2005-05-10 | 2005-06-15 | Renishaw Plc | Dimensional measurement probe |
GB0512138D0 (en) * | 2005-06-15 | 2005-07-20 | Renishaw Plc | Method of determining measurement probe orientation |
DE102005054593B4 (de) * | 2005-11-14 | 2018-04-26 | Immobiliengesellschaft Helmut Fischer Gmbh & Co. Kg | Messonde zur Messung der Dicke dünner Schichten |
GB0804467D0 (en) * | 2008-03-11 | 2008-04-16 | Renishaw Plc | Touch trigger measurement probe |
CN103234440B (zh) * | 2013-04-18 | 2015-08-19 | 赵飚 | 三维测量头 |
GB201806830D0 (en) * | 2018-04-26 | 2018-06-13 | Renishaw Plc | Surface finish stylus |
GB201806828D0 (en) | 2018-04-26 | 2018-06-13 | Renishaw Plc | Surface finish stylus |
RU182539U1 (ru) * | 2018-05-04 | 2018-08-22 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Волгоградский государственный технический университет" (ВолгГТУ) | Виброконтактное измерительное устройство |
CN110207639B (zh) * | 2019-05-22 | 2024-07-16 | 南京泰普森自动化设备有限公司 | 弹性测量连接件、弹性测量单元和弹性测量装置 |
US11709045B1 (en) * | 2022-02-19 | 2023-07-25 | National Institute Of Metrology, China | Surface texture probe and measurement apparatus with a vibrational membrane |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2535249A1 (de) * | 1975-08-07 | 1977-02-24 | Ver Flugtechnische Werke | Messkopf fuer eine messmaschine |
US4136458A (en) * | 1976-10-01 | 1979-01-30 | The Bendix Corporation | Bi-axial probe |
GB1589297A (en) * | 1976-12-24 | 1981-05-13 | Rolls Royce | Probe for use in measuring apparatus |
DE2712181C3 (de) * | 1977-03-19 | 1981-01-22 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Tastsystem |
US4339714A (en) * | 1978-07-07 | 1982-07-13 | Rolls Royce Limited | Probe having passive means transmitting an output signal by reactive coupling |
US4443946A (en) * | 1980-07-01 | 1984-04-24 | Renishaw Electrical Limited | Probe for measuring workpieces |
EP0068899B1 (en) * | 1981-06-30 | 1988-11-30 | Renishaw plc | Probe for measuring workpieces |
DE3210711C2 (de) * | 1982-03-24 | 1986-11-13 | Dr.-Ing. Höfler Meßgerätebau GmbH, 7505 Ettlingen | Mehrkoordinatentaster mit einstellbarer Meßkraft zum Abtasten von mehrdimensionalen, stillstehenden Gegenständen |
JPS6048681A (ja) * | 1983-08-26 | 1985-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | テレビジョン受像機の映像中間周波回路 |
JPS6064206A (ja) * | 1983-09-19 | 1985-04-12 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 二次元および三次元変位検出装置 |
GB8409091D0 (en) * | 1984-04-09 | 1984-05-16 | Renishaw Plc | Probe for measuring workpieces |
DE3417991A1 (de) * | 1984-05-15 | 1985-11-21 | Mauser-Werke Oberndorf Gmbh, 7238 Oberndorf | Tastkopf einer messmaschine |
FR2573865B1 (fr) * | 1984-11-23 | 1989-04-28 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de retour automatique d'un plateau mobile a sa position de repos et palpeur multidirectionnel utilisant ce dispositif |
US4625417A (en) * | 1985-06-17 | 1986-12-02 | Gte Valeron Corporation | Probe with stylus pressure adjustment |
GB8610087D0 (en) * | 1986-04-24 | 1986-05-29 | Renishaw Plc | Probe |
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