JPH04349107A - 酸化物超電導薄膜の作製方法 - Google Patents
酸化物超電導薄膜の作製方法Info
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- JPH04349107A JPH04349107A JP3119915A JP11991591A JPH04349107A JP H04349107 A JPH04349107 A JP H04349107A JP 3119915 A JP3119915 A JP 3119915A JP 11991591 A JP11991591 A JP 11991591A JP H04349107 A JPH04349107 A JP H04349107A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は酸化物超電導薄膜の作製
方法に係り、特に酸化物超電導薄膜を用いたエレクトロ
ニクス素子の製造方法に応用して好適な酸化物超電導薄
膜の作製方法に関する。
方法に係り、特に酸化物超電導薄膜を用いたエレクトロ
ニクス素子の製造方法に応用して好適な酸化物超電導薄
膜の作製方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の高温超電導体の発見により、超電
導現象を利用したさまざまなエレクトロニクス素子を液
体ヘリウム温度よりも高い温度で使用することが可能と
なった。高温超電導体をエレクトロニクス素子に応用す
る場合には、超電導体の薄膜化が不可欠になる。このた
めスパッタリング法、蒸着法、さらに有機金属気相成長
法等の方法で薄膜の作製が試みられており、超電導特性
を示す薄膜の作製はいずれの方法でも実現している(山
香、太刀川、一ノ瀬、共著:高温超伝導入門、第92頁
から第96頁、オ−ム社)。さらに最近では、物理蒸着
技術の極限技術である、金属を順に供給しながら一原子
層あるいは一単位格子ごとに成長させる技術も試みられ
ている。
導現象を利用したさまざまなエレクトロニクス素子を液
体ヘリウム温度よりも高い温度で使用することが可能と
なった。高温超電導体をエレクトロニクス素子に応用す
る場合には、超電導体の薄膜化が不可欠になる。このた
めスパッタリング法、蒸着法、さらに有機金属気相成長
法等の方法で薄膜の作製が試みられており、超電導特性
を示す薄膜の作製はいずれの方法でも実現している(山
香、太刀川、一ノ瀬、共著:高温超伝導入門、第92頁
から第96頁、オ−ム社)。さらに最近では、物理蒸着
技術の極限技術である、金属を順に供給しながら一原子
層あるいは一単位格子ごとに成長させる技術も試みられ
ている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】超電導エレクトロニク
ス素子を作製するには急峻性の高い界面を形成すること
が不可欠であり、それには、界面での原子の相互拡散あ
るいは反応を防止する必要上、薄膜の低温成長が不可欠
な技術となる。低温成長は、前記の従来技術でもプラズ
マ励起技術や光励起技術を応用して実現されつつある。 しかし高温超電導体のような複雑な結晶構造を持つ物質
の薄膜を形成する場合、構成金属あるいはその化合物を
同時に供給する方法では成長表面での化合物の島状の核
成長によって成長表面の原子の拡散が阻害される現象が
起こり、低温化は450℃が限界であった。また金属を
順に供給して成長させる技術でも、表面での金属原子の
濡れ性が悪いためにその金属の酸化物あるいは目的以外
の酸化物の島状の堆積が起こって表面拡散が阻害され、
低温化は450℃が限界であった。
ス素子を作製するには急峻性の高い界面を形成すること
が不可欠であり、それには、界面での原子の相互拡散あ
るいは反応を防止する必要上、薄膜の低温成長が不可欠
な技術となる。低温成長は、前記の従来技術でもプラズ
マ励起技術や光励起技術を応用して実現されつつある。 しかし高温超電導体のような複雑な結晶構造を持つ物質
の薄膜を形成する場合、構成金属あるいはその化合物を
同時に供給する方法では成長表面での化合物の島状の核
成長によって成長表面の原子の拡散が阻害される現象が
起こり、低温化は450℃が限界であった。また金属を
順に供給して成長させる技術でも、表面での金属原子の
濡れ性が悪いためにその金属の酸化物あるいは目的以外
の酸化物の島状の堆積が起こって表面拡散が阻害され、
低温化は450℃が限界であった。
【0004】以上のように、従来技術では450℃以下
の低温成長を実現できないという問題があった。本発明
の目的は、上述してきた従来の技術が有する課題を解決
し、より一層の低温成長を達成することにある。
の低温成長を実現できないという問題があった。本発明
の目的は、上述してきた従来の技術が有する課題を解決
し、より一層の低温成長を達成することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は以下の構成を採用するものである。すなわち
;本発明の1局面によれば、有機金属化合物を原料に用
い、この原料を分子構造を保ったまま成長表面に吸着さ
せた後に、プラズマ励起若しくは、好ましくは波長が3
50nm以下の光を用いた光励起等の反応励起技術を利
用して、低温において酸化反応を進行させる工程を有す
る酸化物超電導薄膜の作製方法が提供される。本発明の
限定された1局面によれば、上記工程を複数回繰り返す
酸化物超電導薄膜の作製方法が提供される。繰返し回数
は、有機金属化合物の表面吸着時の中心金属の面密度と
酸化物超電導体の面内の金属原子の密度の比できまる。
に本発明は以下の構成を採用するものである。すなわち
;本発明の1局面によれば、有機金属化合物を原料に用
い、この原料を分子構造を保ったまま成長表面に吸着さ
せた後に、プラズマ励起若しくは、好ましくは波長が3
50nm以下の光を用いた光励起等の反応励起技術を利
用して、低温において酸化反応を進行させる工程を有す
る酸化物超電導薄膜の作製方法が提供される。本発明の
限定された1局面によれば、上記工程を複数回繰り返す
酸化物超電導薄膜の作製方法が提供される。繰返し回数
は、有機金属化合物の表面吸着時の中心金属の面密度と
酸化物超電導体の面内の金属原子の密度の比できまる。
【0006】本発明の更に限定された1局面によれば、
上記繰返し回数が14回以下である酸化物超電導薄膜の
作製方法が提供される。
上記繰返し回数が14回以下である酸化物超電導薄膜の
作製方法が提供される。
【0007】本発明の他の限定された1局面によれば、
上記繰返し回数が3回以上である酸化物超電導薄膜の作
製方法が提供される。
上記繰返し回数が3回以上である酸化物超電導薄膜の作
製方法が提供される。
【0008】
【作用】本発明では、有機金属化合物を金属原料として
導入するが、この場合、有機金属は表面拡散が容易であ
り、かつ、成長表面から気相にいったん脱離した後、再
吸着することも可能であるため、成長表面に均一に吸着
層を形成することが可能になる。そして、例えばプラズ
マ励起や光励起により反応表面において原料を活性化す
れば、吸着層の構造を保てる低温において化学反応を進
行させることができ、その結果成長温度の低温化が実現
される。
導入するが、この場合、有機金属は表面拡散が容易であ
り、かつ、成長表面から気相にいったん脱離した後、再
吸着することも可能であるため、成長表面に均一に吸着
層を形成することが可能になる。そして、例えばプラズ
マ励起や光励起により反応表面において原料を活性化す
れば、吸着層の構造を保てる低温において化学反応を進
行させることができ、その結果成長温度の低温化が実現
される。
【0009】有機金属化合物の分子サイズは単体の金属
よりも大きいため、一層の吸着層を分解させただけでは
、化合物の一原子層を構成するのに必要な量が供給され
ないことになる。種々の有機金属化合物を吸着、分解さ
せる実験の結果、有機金属化合物の分子サイズに応じて
複数回(n回)吸着と分解のプロセスを繰り返すことに
より、平坦な一原子層が形成されることが分かった。 繰返し回数nは有機金属化合物の表面吸着時の中心金属
の面密度と酸化物超電導体の面内の金属原子の密度の比
できまる。たとえば、銅の2,2,6,6−テトラメチ
ル−3,5−ヘプタンジオン錯体を用いて酸化銅の層を
形成する場合、後の有機金属化合物の実施例で述べるよ
うに、吸着分子間の距離が約10オングストロームであ
るのでこれと目的の酸化銅層の面内の格子間隔約4オン
グストロームの比から、nを3にすればよい。この比は
正確に3である必要はなく、nは切上げで整数にする。 なぜなら、最後の一吸着層は、原料の供給が多くても、
表面エネルギーの小さくなる量しか吸着できないためで
ある。有機金属化合物の分子半径がたかだか20オング
ストロームであり、目的の化合物の格子間隔が3〜5オ
ングストロームであることから、nは14〜8以下であ
る。
よりも大きいため、一層の吸着層を分解させただけでは
、化合物の一原子層を構成するのに必要な量が供給され
ないことになる。種々の有機金属化合物を吸着、分解さ
せる実験の結果、有機金属化合物の分子サイズに応じて
複数回(n回)吸着と分解のプロセスを繰り返すことに
より、平坦な一原子層が形成されることが分かった。 繰返し回数nは有機金属化合物の表面吸着時の中心金属
の面密度と酸化物超電導体の面内の金属原子の密度の比
できまる。たとえば、銅の2,2,6,6−テトラメチ
ル−3,5−ヘプタンジオン錯体を用いて酸化銅の層を
形成する場合、後の有機金属化合物の実施例で述べるよ
うに、吸着分子間の距離が約10オングストロームであ
るのでこれと目的の酸化銅層の面内の格子間隔約4オン
グストロームの比から、nを3にすればよい。この比は
正確に3である必要はなく、nは切上げで整数にする。 なぜなら、最後の一吸着層は、原料の供給が多くても、
表面エネルギーの小さくなる量しか吸着できないためで
ある。有機金属化合物の分子半径がたかだか20オング
ストロームであり、目的の化合物の格子間隔が3〜5オ
ングストロームであることから、nは14〜8以下であ
る。
【0010】有機金属化合物を吸着させるためには、最
適な温度範囲が存在する。原料の分解温度に近い温度で
は熱分解により均一な吸着層が得られず、化学吸着の飽
和吸着温度より低すぎると吸着層の厚さが数原子層にお
よんでしまう。このため、表面温度は、100〜350
℃に設定することが望ましい。
適な温度範囲が存在する。原料の分解温度に近い温度で
は熱分解により均一な吸着層が得られず、化学吸着の飽
和吸着温度より低すぎると吸着層の厚さが数原子層にお
よんでしまう。このため、表面温度は、100〜350
℃に設定することが望ましい。
【0011】以下に実施例を挙げて説明する。
【0012】
[実施例1]代表的な酸化物超電導体であるYBa2C
u3OX薄膜を本発明により作製する方法を取り上げて
説明する。
u3OX薄膜を本発明により作製する方法を取り上げて
説明する。
【0013】本発明で用いる薄膜形成装置の概念図を図
1に示す。原料にはY、Ba、CuのTHD錯体(以下
Y(THD)3、Ba(THD)2、Cu(THD)2
)1、2、3を用い、これらを封入したステンレススチ
ール容器1a、2a、3aを加熱して、高温バルブ1b
、2b、3b、加熱パイプ1c、2c、3cを通じて成
長室に導入した。蒸発温度は105℃、220℃、13
0℃である。基板4は抵抗加熱ヒータ5により加熱され
、酸化ガスに用いた酸素はマスフローコントローラ6に
より流量を所定の値に調節してマイクロ波プラズマ発生
装置7に導入されて活性化される。原料の周期的な供給
は、高温バルブの開閉により行う。膜成長は次のように
行った。すなわち、基板温度を200℃に保ってY(T
HD)3を1分間導入した後プラズマ酸化するプロセス
を4回繰り返し、つぎに基板温度を350℃に保ってB
a(THD)2を2分間導入した後プラズマ酸化するプ
ロセスを3回繰り返し、最後に基板温度を250℃に保
ってCu(THD)21分間導入した後プラズマ酸化す
るプロセスを3回繰り返し、その後またY(THD)3
の導入に戻るという工程を繰り返した。プラズマ酸化す
るときのマイクロ波電力は200W、酸素分圧は10−
4torrとした。このようにして成長させたYBa2
Cu3OX薄膜の電気抵抗の温度依存性を図2に示す。 図のように、薄膜は超電導転移開始温度は約80K、零
抵抗温度は60Kの超電導特性を示した。すなわち、本
発明により、材料本来の特性よりは低いが、超電導性を
示す薄膜を350℃以下で形成できることが明らかとな
った。
1に示す。原料にはY、Ba、CuのTHD錯体(以下
Y(THD)3、Ba(THD)2、Cu(THD)2
)1、2、3を用い、これらを封入したステンレススチ
ール容器1a、2a、3aを加熱して、高温バルブ1b
、2b、3b、加熱パイプ1c、2c、3cを通じて成
長室に導入した。蒸発温度は105℃、220℃、13
0℃である。基板4は抵抗加熱ヒータ5により加熱され
、酸化ガスに用いた酸素はマスフローコントローラ6に
より流量を所定の値に調節してマイクロ波プラズマ発生
装置7に導入されて活性化される。原料の周期的な供給
は、高温バルブの開閉により行う。膜成長は次のように
行った。すなわち、基板温度を200℃に保ってY(T
HD)3を1分間導入した後プラズマ酸化するプロセス
を4回繰り返し、つぎに基板温度を350℃に保ってB
a(THD)2を2分間導入した後プラズマ酸化するプ
ロセスを3回繰り返し、最後に基板温度を250℃に保
ってCu(THD)21分間導入した後プラズマ酸化す
るプロセスを3回繰り返し、その後またY(THD)3
の導入に戻るという工程を繰り返した。プラズマ酸化す
るときのマイクロ波電力は200W、酸素分圧は10−
4torrとした。このようにして成長させたYBa2
Cu3OX薄膜の電気抵抗の温度依存性を図2に示す。 図のように、薄膜は超電導転移開始温度は約80K、零
抵抗温度は60Kの超電導特性を示した。すなわち、本
発明により、材料本来の特性よりは低いが、超電導性を
示す薄膜を350℃以下で形成できることが明らかとな
った。
【0014】なお、プラズマ励起を用いないと有機金属
化合物の酸化は完全には進行せず、炭素を含む不純物が
多く生成する。また、有機金属化合物の導入するときの
基板温度を低くするか、導入回数を多くするとその金属
の酸化物が不純物として多く生成し、基板温度を高くす
るか、導入回数を少なくすると他の金属の酸化物が不純
物として多く生成する。
化合物の酸化は完全には進行せず、炭素を含む不純物が
多く生成する。また、有機金属化合物の導入するときの
基板温度を低くするか、導入回数を多くするとその金属
の酸化物が不純物として多く生成し、基板温度を高くす
るか、導入回数を少なくすると他の金属の酸化物が不純
物として多く生成する。
【0015】[実施例2]波長193nmのArFエキ
シマレーザを励起手法に用い、酸化ガスとしてO3を用
いてBi2Sr2Ca2Cu3OX薄膜を形成した。装
置は図1と類似した構造で、エキシマレーザの照射口は
原料導入部分の隣に設置してある。原料にはBiのトリ
フェニル錯体とBiのSr、Ca、CuのTHD錯体を
用いた。気化温度は順に120℃、200℃、200℃
、130℃とした。成膜プロセスは、Bi−O層形成、
Sr−O層形成、Cu−O層形成、Ca−O層形成、C
u−O層形成、Ca−O層形成、Cu−O層形成、Sr
−O層形成の順である。 Bi−O層、Sr−O層、Ca−O層形成、Cu−O層
形成のための基板温度、原料供給時間、繰り返し回数は
それぞれ、230℃−1分間−3回、350℃−2分間
−3回、350℃−2分間−3回、250℃−1分間−
3回とした。
シマレーザを励起手法に用い、酸化ガスとしてO3を用
いてBi2Sr2Ca2Cu3OX薄膜を形成した。装
置は図1と類似した構造で、エキシマレーザの照射口は
原料導入部分の隣に設置してある。原料にはBiのトリ
フェニル錯体とBiのSr、Ca、CuのTHD錯体を
用いた。気化温度は順に120℃、200℃、200℃
、130℃とした。成膜プロセスは、Bi−O層形成、
Sr−O層形成、Cu−O層形成、Ca−O層形成、C
u−O層形成、Ca−O層形成、Cu−O層形成、Sr
−O層形成の順である。 Bi−O層、Sr−O層、Ca−O層形成、Cu−O層
形成のための基板温度、原料供給時間、繰り返し回数は
それぞれ、230℃−1分間−3回、350℃−2分間
−3回、350℃−2分間−3回、250℃−1分間−
3回とした。
【0016】得られた薄膜の電気抵抗の温度依存性を検
討したところ、薄膜は転移開始温度は95K、零抵抗温
度は80Kの超電導性を示した。すなわち、本発明によ
り、材料本来の特性よりは低いが、液体窒素温度で抵抗
零となる薄膜を350℃以下で形成できることが明らか
となった。
討したところ、薄膜は転移開始温度は95K、零抵抗温
度は80Kの超電導性を示した。すなわち、本発明によ
り、材料本来の特性よりは低いが、液体窒素温度で抵抗
零となる薄膜を350℃以下で形成できることが明らか
となった。
【0017】[実施例3]実施例1と同様の方法でYB
a2Cu3OX薄膜を形成した。つぎに、基板温度を3
50℃に保ち、CaのTHD錯体を2分間導入し、つい
で水素ガスを導入しながらマイクロ波電力100Wでプ
ラズマ還元をおこない、さらに、HFガスを導入しなが
らマイクロ波電力50Wでプラズマフッ素化処理すると
いうプロセスを繰り返して膜厚約20ÅのCaF2薄膜
を形成した。そしてさらに、CaF2薄膜の上に実施例
1の方法でYBa2Cu3OX薄膜を形成した。なお、
上下のYBa2Cu3OX薄膜はマスク蒸着により短冊
が十字状に重なった形状に作製し、CaF2薄膜はYB
a2Cu3OX薄膜の重なった部分により広い面積で作
製した。
a2Cu3OX薄膜を形成した。つぎに、基板温度を3
50℃に保ち、CaのTHD錯体を2分間導入し、つい
で水素ガスを導入しながらマイクロ波電力100Wでプ
ラズマ還元をおこない、さらに、HFガスを導入しなが
らマイクロ波電力50Wでプラズマフッ素化処理すると
いうプロセスを繰り返して膜厚約20ÅのCaF2薄膜
を形成した。そしてさらに、CaF2薄膜の上に実施例
1の方法でYBa2Cu3OX薄膜を形成した。なお、
上下のYBa2Cu3OX薄膜はマスク蒸着により短冊
が十字状に重なった形状に作製し、CaF2薄膜はYB
a2Cu3OX薄膜の重なった部分により広い面積で作
製した。
【0018】上記の積層構造の上下のYBa2Cu3O
X薄膜間の電圧−電流特性を40Kで測定したところ、
トンネル電流が観測された。すなわち、本発明により4
0Kで動作可能な良好なジョセフソン接合が形成できる
ことが明らかとなった。
X薄膜間の電圧−電流特性を40Kで測定したところ、
トンネル電流が観測された。すなわち、本発明により4
0Kで動作可能な良好なジョセフソン接合が形成できる
ことが明らかとなった。
【0019】ところで、上記の実施例では、有機金属化
合物として、蒸気圧が高く、炭素と水素と酸素のみで配
位子が構成されているTHD錯体とトリフェニル錯体を
用いた例を示したが、他のβ−ジケトン化合物やシクロ
ペンタジエニル化合物、ないしは、金属のアルコキシド
も適当な分子サイズを持っており、分解が容易であるの
で、蒸発温度や供給条件は変化させる必要はあったが本
発明の効果は達成された。そして、上記の実施例ではO
2ないしはO3を酸化ガスに用いた例を示したが、N2
OやNO2などの酸素を含むガスを用いても酸化は可能
であり、本発明に特有の効果は出現した。
合物として、蒸気圧が高く、炭素と水素と酸素のみで配
位子が構成されているTHD錯体とトリフェニル錯体を
用いた例を示したが、他のβ−ジケトン化合物やシクロ
ペンタジエニル化合物、ないしは、金属のアルコキシド
も適当な分子サイズを持っており、分解が容易であるの
で、蒸発温度や供給条件は変化させる必要はあったが本
発明の効果は達成された。そして、上記の実施例ではO
2ないしはO3を酸化ガスに用いた例を示したが、N2
OやNO2などの酸素を含むガスを用いても酸化は可能
であり、本発明に特有の効果は出現した。
【0020】また、プラズマ励起としてマイクロ波プラ
ズマを利用した例を示したが、高周波プラズマの利用に
よっても本発明の目的は達成される。そしてまた、光励
起技術としてArFエキシマレーザを使用した例を示し
たが、350nm以下の波長の光の照射すれば、本発明
で使用する有機金属化合物の有機鎖が選択的に切断され
るため、低圧水銀ランプ、高調波アルゴンイオンレーザ
、KrFエキシマレーザ、XeClエキシマレーザも励
起技術として好適である。
ズマを利用した例を示したが、高周波プラズマの利用に
よっても本発明の目的は達成される。そしてまた、光励
起技術としてArFエキシマレーザを使用した例を示し
たが、350nm以下の波長の光の照射すれば、本発明
で使用する有機金属化合物の有機鎖が選択的に切断され
るため、低圧水銀ランプ、高調波アルゴンイオンレーザ
、KrFエキシマレーザ、XeClエキシマレーザも励
起技術として好適である。
【0021】さらに、本実施例3のように、本発明は金
属や金属ハロゲン化物の薄膜形成にも応用可能である。 また、原料の導入サイクル数(n)を変化させることに
より、酸化物の構造を変化させて、超電導膜ではないが
、半導体膜や絶縁体膜を意図的に作製することも可能で
ある。
属や金属ハロゲン化物の薄膜形成にも応用可能である。 また、原料の導入サイクル数(n)を変化させることに
より、酸化物の構造を変化させて、超電導膜ではないが
、半導体膜や絶縁体膜を意図的に作製することも可能で
ある。
【0022】
【発明の効果】本発明により酸化物超電導薄膜の形成温
度の低温化され、ジョセフソン接合素子などの超電導装
置の特性向上とその効率的な製造が可能となった。
度の低温化され、ジョセフソン接合素子などの超電導装
置の特性向上とその効率的な製造が可能となった。
【図1】本発明の代表的な実施例である、酸化物超電導
体薄膜の作製装置の原理図である。
体薄膜の作製装置の原理図である。
【図2】本発明により作製した薄膜の超電導特性を示す
図である。
図である。
1…Y原料、2…Ba原料、3…Cu原料、1a、2a
、3a…ステンレススチール容器、1b、2b、3b…
原料の周期的な供給のための高温バルブ、1c、2c、
3c…加熱パイプ、4…基板、5…抵抗加熱ヒータ、6
…酸素流量調節用のマスフローコントローラ、7…マイ
クロ波プラズマ発生装置。
、3a…ステンレススチール容器、1b、2b、3b…
原料の周期的な供給のための高温バルブ、1c、2c、
3c…加熱パイプ、4…基板、5…抵抗加熱ヒータ、6
…酸素流量調節用のマスフローコントローラ、7…マイ
クロ波プラズマ発生装置。
Claims (9)
- 【請求項1】有機金属化合物を原料に用い、この原料を
分子構造を保ったまま成長表面に吸着させた後に、反応
励起を利用して低温において酸化反応を進行させる工程
を有する酸化物超電導薄膜の作製方法。 - 【請求項2】請求項1に記載の酸化物超電導薄膜の作製
方法において、前記工程を複数回繰り返す酸化物超電導
薄膜の作製方法。 - 【請求項3】請求項2に記載の酸化物超電導薄膜の作製
方法において、前記繰返し回数が14回以下である酸化
物超電導薄膜の作製方法。 - 【請求項4】請求項2に記載の酸化物超電導薄膜の作製
方法において、前記繰返し回数が3回以上である酸化物
超電導薄膜の作製方法。 - 【請求項5】請求項1に記載の酸化物超電導薄膜の作製
方法において、前記反応励起は前記反応表面をプラズマ
、ないしは光による活性化を利用する酸化物超電導薄膜
の作製方法。 - 【請求項6】請求項2に記載の酸化物超電導薄膜の作製
方法において、前記繰返しにより一原子層づつ膜を成長
させる酸化物超電導薄膜の作製方法。 - 【請求項7】請求項5に記載の酸化物超電導薄膜の作製
方法において、前記反応励起は前記反応表面を光により
活性化する反応励起であり、かつこの光の波長が350
nm以下である酸化物超電導薄膜の作製方法。 - 【請求項8】請求項1に記載の酸化物超電導薄膜の作製
方法において、前記有機金属化合物としてβ−ジケトン
化合物、金属のアルコキシド若しくは金属のシクロペン
タジエニル化合物を用いる酸化物超電導薄膜の作製方法
。 - 【請求項9】請求項8に記載の酸化物超電導薄膜の作製
方法において、前記有機金属化合物は2,2,6,6−
テトラメチル−3,5−ヘプタンジオンを有機配位子と
する金属錯体である酸化物超電導薄膜の作製方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3119915A JPH04349107A (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 酸化物超電導薄膜の作製方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3119915A JPH04349107A (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 酸化物超電導薄膜の作製方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04349107A true JPH04349107A (ja) | 1992-12-03 |
Family
ID=14773342
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3119915A Pending JPH04349107A (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 酸化物超電導薄膜の作製方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04349107A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001172767A (ja) * | 1999-10-14 | 2001-06-26 | Asm Microchemistry Oy | 酸化物薄膜の成長方法 |
JP2003508932A (ja) * | 1999-09-08 | 2003-03-04 | エーエスエム アメリカ インコーポレイテッド | 薄膜を成長させる、改良された装置および方法 |
-
1991
- 1991-05-24 JP JP3119915A patent/JPH04349107A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003508932A (ja) * | 1999-09-08 | 2003-03-04 | エーエスエム アメリカ インコーポレイテッド | 薄膜を成長させる、改良された装置および方法 |
JP4994551B2 (ja) * | 1999-09-08 | 2012-08-08 | アーエスエム インターナショナル エヌフェー | 薄膜を成長させる、改良された装置および方法 |
JP2001172767A (ja) * | 1999-10-14 | 2001-06-26 | Asm Microchemistry Oy | 酸化物薄膜の成長方法 |
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