JPH04343276A - 光位置検出装置 - Google Patents

光位置検出装置

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JPH04343276A
JPH04343276A JP3115037A JP11503791A JPH04343276A JP H04343276 A JPH04343276 A JP H04343276A JP 3115037 A JP3115037 A JP 3115037A JP 11503791 A JP11503791 A JP 11503791A JP H04343276 A JPH04343276 A JP H04343276A
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JP
Japan
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light
transparent substrate
photodetecting
pinholes
incident
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JP3115037A
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English (en)
Inventor
Manabu Yamada
学 山田
Masaya Nakamura
雅也 中村
Shoichi Onda
正一 恩田
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Denso Corp
Original Assignee
NipponDenso Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、特に太陽等の光源位
置の方向を検出できる全方位日射センサに係るものであ
り、光電変換効果を利用した2次元の光位置検出装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】2次元の光位置を検出する手段として、
例えば特開昭63−278284号公報に示されるよう
な光検出装置が考えられている。この光検出装置は、正
方形の光導電膜と透明抵抗膜を積層して形成し、この透
明抵抗膜のそれぞれ4つの辺部分にそれぞれ対応して、
それぞれ対向する一対の電極を形成する。そして、光導
電膜の裏面に共通電極を形成する。すなわち、透明抵抗
膜に光スポットが照射されると、この光スポットの照射
位置で光導電膜の抵抗値が低くされ、透明抵抗膜と共通
電極とが接続されるようにしている。
【0003】この様な光検出装置にあっては、X座標お
よびY座標検出用とされる2組の対向する電極間に、同
一入力電圧をスイッチによって切換えて印加設定し、共
通電極に設定される電圧を、スイッチの切換えタイミン
グに同期して検出し、XおよびYの2つの座標を時分割
的に検出するようにしている。
【0004】しかし、この様に構成される光検出装置に
おいては、透明抵抗膜に対して、その4つの辺それぞれ
に対して外部からの電圧供給手段が必要であり、またス
イッチの切換え操作によって光スポットの入射位置のX
およびY座標が検出されるものであるため、スイッチの
切換え時間を必要とするのみならず、応答性を上げるこ
とが困難である。
【0005】また、1つの透明抵抗膜上に2組の電極が
設定されるものであるため、この透明抵抗膜上の等電位
線が歪み、特に透明抵抗膜の角部分に近接した位置では
、その位置検出精度を上げることが困難である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】この発明は上記のよう
な点に鑑みなされたもので、スイッチの切換え等の必要
性を無くして充分な応答性が確保されると共に、光スポ
ットの入射位置が容易且つ確実に高精度に検出できるよ
うにすることができ、また電源構成も容易に簡易化して
構成できるようにした、例えば太陽光の入射方向と共に
日射量の検出も容易に実現できるようにした光位置検出
装置を提供しようとするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明に係る光位置検
出装置は、特定される厚さに設定される絶縁性の透明基
板の光入射面に光不透過膜を形成すると共に、この基板
の裏面にXおよびY方向の光入射位置を検出する第1お
よび第2の光検出素子を並べて形成し、前記光不透過膜
には第1および第2の光検出素子にそれぞれ対応する位
置に、第1および第2のピンホールを形成するようにし
ている。
【0008】
【作用】この様に構成される光位置検出装置にあっては
、第1および第2のピンホールを介して第1および第2
の光検出素子にスポット光が入射され、その入射位置が
第1および第2の光検出素子において、XおよびY座標
としてそれぞれ検出される。したがって、この検出され
たXおよびY座標、第1および第2のピンホールの座標
位置、さらにピンホールからの光が導かれる透明基板の
厚さ等の要素によって、ピンポールに対する光の入射方
位および入射角度が算出される。ここで、第1および第
2の光検出素子は、それぞれXあるいはYの1つの方向
の座標位置のみを検出するため、その検出方向に対応し
て設定される一対の電極を有する構造であり、その各一
対の電極の相互間に所定の電圧が常時印加設定されるよ
うにすればよい。したがって、従来のようにスイッチ機
構を設定する必要がなく、検出応答性を容易に良好にす
ることができると共に、光検出素子を構成する光抵抗膜
に等電位線に歪みが生ずることがなく、精度の高い位置
検出が確実に実行されるようになる。
【0009】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の一実施例を
説明する。図1で示すようにこの光位置検出装置は、例
えばガラスによって構成された絶縁性の透明基板11を
備える。この透明基板11は例えば厚さtに設定される
もので、その入射側の面には、その両側に位置して第1
および第2の太陽電池12および13が設定される。こ
の第1および第2の太陽電池12および13の間には、
さらに第3の太陽電池14が設定される。
【0010】また、透明基板11の裏面には、図2に示
すように第1および第2の太陽電池12および13の位
置に対応するように2分割した状態で、第1および第2
の光検出素子15および16を配置設定する。そして、
透明基板11の表面部には、第1および第2の光検出素
子15および16の位置に対応して、それぞれ第1およ
び第2のピンホール17および18を形成し、このピン
ホール17および18を介して入射された光が、それぞ
れ光検出素子15および16部にスポット光として入射
されるようにする。
【0011】ここで、第1の光検出素子15は図の水平
方向(X方向)の両端にそれぞれ電極191 、192
 を備え、この光検出素子15に光スポットが入射され
た場合にそのX方向座標を検出するX方向位置検出素子
として使用される。また第2の光検出素子16は、X方
向と直角のY方向の両端に電極201 、202 を備
え、光スポットのY方向座標を検出するY方向位置検出
素子として使用されるようになる。
【0012】第1の太陽電池12は第1の光検出素子1
5の電源Vxとして使用され、第2の太陽電池13は第
2の光検出素子16の電源Vy として使用される。そ
して、第3の太陽電池14からの出力電圧Iは、入射さ
れる光の量に対応して発生され、例えば日射量センサと
して機能されるようになる。
【0013】図3はこの様に構成される光位置検出装置
の断面構造、具体的には図1の3−3線に対応する断面
構造を示すもので、この位置検出装置の第1の太陽電池
12に対応する4−4線部分、第2の太陽電池13に対
応する5−5線部分、および第3の太陽電池14に対応
する6−6線部分の断面を、それぞれ図4、図5および
図6で示している。
【0014】この光検出装置について、その構造を製造
方法にしたがって説明すると、まずガラス等の透明基板
11の裏面に、第1および第2の光検出素子15および
16が形成される領域に対応して、透明抵抗体21およ
び31を形成する。この抵抗体21および31は、例え
ばシート抵抗10〜1MΩ/□のSn O2 を、スパ
ッタ等によって膜状に形成して構成される。
【0015】この様に形成された透明抵抗体21および
31のそれぞれ表面上に、光電変換膜22および32を
形成するもので、この光電変換膜22および32はni
pin型a−Si多層膜によって構成され、プラズマC
VDによって形成される。そして、この光電変換膜22
および32の表面上に、アルミニウム等による電極層2
3および33を蒸着し、光検出素子15および16のそ
れぞれ出力電極とする。
【0016】この様にパターニングすることによって形
成された電極層23および33をマスクとして使用し、
光電変換膜22および32をエッチングすることによっ
て不要部分を除去し、図2で示したような状態で電極1
91 、192 および201 、202 をアルミニ
ウム蒸着によって形成することにより、この第1および
第2の光検出素子15および16が完成される。
【0017】ここで、光電変換膜22および32は、a
−Si :H、a−Si C:H、a−Si Gc :
H、a−Si N:H、μc−Si :H等の水素化ア
モルファス合金とそのフッ化物、Cd S、Cd Te
 、Cd Se 、Cu In Se 2 等の化合物
半導体材料およびC−Si 半導体材料によってnip
in層構造、またはpinip層構造、あるいはnpn
層構造、pnp層構造、および金属と組み合わせたショ
ットキー構造、さらにi層単膜構造で構成することもで
きる。また透明抵抗体21および31は、Zn O、I
TO、ITO/Sn O2 等で構成できる。
【0018】次に太陽電池部分について説明すると、透
明基板11の表面側に、第1乃至第3の太陽電池12〜
14の形成領域にそれぞ対応してアルミニウムの蒸着ま
たはスパッタによって電極層41、51、61を形成す
る。この電極層41、51、61は光不透過膜として機
能されるようになり、ピンホール17および18も同時
にパターンニングにより形成される。
【0019】この様に電極層41、51、61が形成さ
れたならば、これらの電極層41、51、51の上に光
電変換膜42、52、62をそれぞれプラズマCVDに
よって成膜する。その材料は、nip型a−Si 膜、
pinまたはnp型、pn型のC−Si 膜等によって
構成される。そして、これらの光電変換膜42、52、
62のそれぞれ上にSn O2等の透明導電膜43、5
3、63を形成する。
【0020】ここで、第1および第2の太陽電池12お
よび13は、それぞれ第1および第2の光検出素子15
および16の電源として使用され、充分な電圧を発生す
る必要があるため、図4および図5で示されるように複
数の素子に分割して構成され、これら分割された素子が
直列接続されるようにしている。
【0021】すなわち、電極層41および51を複数列
に分割し、これら分割された電極層列のそれぞれの上に
、同じく複数列に分割した光電変換膜42および52を
形成する。そして、この分割された光電変換膜42およ
び52の上に透明導電膜43および53を形成し、これ
ら透明導電膜43および53が順次隣接する列の電極層
に接続され、全体的に複数の電池素子が直列接続される
ようにする。
【0022】そして、この直列回路の両端から電源出力
端子が導出されて、それぞれ第1および第2の光検出素
子15および16のそれぞれ電極191 、192 お
よび201 、202 に接続されるようにする。
【0023】図5に示す第3の太陽電池14の部分は、
電極層51の上に光電変換膜52が形成され、この光電
変換膜42の上に透明導電層53が形成される3層構造
であればよく、例えば電極層51が接地され、導電層5
3に形成される電極54部分から出力電圧Iが取り出さ
れるようにする。
【0024】この様に構成される光位置検出装置に対し
て太陽電池側から太陽光が照射されるようになるもので
、この様に太陽光が照射されると第1乃至第3の太陽電
池12〜14でそれぞれ電圧が発生され、第1および第
2の光検出素子15および16にそれぞれ電源が供給さ
れると共に、第3の太陽電池14から照射された太陽光
の強さに対応した電圧Iが出力される。
【0025】また、この太陽光は第1および第2のピン
ホール17および18を介して透明基板11内に入射さ
れ、第1および第2の光検出素子15および16のそれ
ぞれ透明抵抗体21および31にスポット光として照射
され、さらに光電変換膜22および32に光エネルギー
として入射される。 したがって、この光電変換膜22および32の光スポッ
トの当てられた部分が低抵抗となり、この低抵抗部分を
介して透明抵抗体21と電極層23、および透明抵抗体
31と電極層33が電気的に接続されるようになる。
【0026】したがって、第1の光位置検出素子15の
電極層23から、光スポットの当られたX方向の座標位
置に対応した出力電圧Vx が出力され、第2の光位置
検出素子16の電極層33から、光スポットの当られた
Y方向座標位置に対応した出力電圧Vyがそれぞれ出力
される。
【0027】図7は光スポット位置と出力電圧との関係
を示しているもので、実施例で示したようにX方向ある
いはY方向の両方に電極191 、192および201
 、202 を形成した1次元の光位置検出素子15お
よび16においては、スポット位置と電圧とは直線的な
関係がある。これに対して4方に電極を設定する2次元
素子の場合は、指数関数的に変化するもので、実施例の
光位置検出装置の光位置検出素子15および16におい
ては、精度の高い取扱いの容易な位置検出信号が得られ
る。
【0028】図13は光位置検出素子を、(A)図のよ
うに1次元素子として構成した場合と、(B)図で示す
ように2次元素子として構成した場合を比較して示して
いるもので、1次元素子の場合の等電位線は、両端の電
極の相互間に平行に形成される。これに対して、4辺に
電極の設定される2次元素子の場合は、等電位線が電圧
を印加した電極の他の電極によって歪む。この結果、1
次元素子を使用することによって、位置検出精度が確実
に安定して設定される。
【0029】図8を用いて光位置検出素子15(16)
における検出原理を説明する。抵抗体膜21に電圧が印
加されると、この抵抗体膜21の位置に対応した分割電
圧が得られるようになる。光電変換膜22は、光が照射
されない状態では電流が流れず、光が当たると電流が流
れる性質を有する。
【0030】したがって、この光電変換膜22に対して
光スポットが照射されると、この光スポットの照射位置
にのみ光電流が流れるようになり、抵抗体膜21の光ス
ポット照射位置が電極層23に電気的に接続されるよう
になる。このため、その光スポット位置に対応した出力
電圧が得られる。
【0031】この様に第1および第2の光位置検出素子
15および16において、それぞれ光スポットの当たっ
たX方向およびY方向の座標位置が検出されると、第1
および第2のピンホール17および18の位置、さらに
このピンホール17、18を通過した光が導かれる透明
基板11の厚さt等に基づいて、光源の位置、すなわち
太陽の方向並びに入射角度等が算出できる。
【0032】第1および第2のピンホール17および1
8で得られる光スポットは、同じ方向から入射した光に
基づくものと認定できる。そして、図9において示すよ
うにピンホール17(18)からの入射光は、透明基板
11内を通過して光位置検出素子15の点Pに当たる。
【0033】この光位置検出素子15上の光スポットの
当たった位置はP(X、Y)の座標で表現される。ここ
で、空気の屈折率をn1 、透明基板11の屈折率をn
2 と仮定すると、“n1  sin(π−θ)=n2
  sin(π−θ′)”の関係となる。ここで、Vx
 、Vyが出力電圧、Vo が中心位置の電圧、さらに
aおよびbが図7で示した電圧と位置との比を示す傾き
とすると、点Pの座標XおよびYは X=(Vx −Vo )/a  およびY=(Vy −
V)/bとなる。そして、ピンホールから光位置検出素
子に至る透明基板11の厚さがtであるとすると、図9
よりこの検出装置の光入射面に対する入射角度θは
【0
034】
【数1】 また方位φは
【0035】
【数2】 で計算できる。その結果図10および図11で示すよう
に高精度の日射の入射角度および方位が算出されるよう
になる。
【0036】日射強度について説明すると、この日射強
度は第3の太陽電池14の光電流値によって求められる
。 この日射強度Iと日射量との関係は図12で示すように
なるものであるが、しかし入射角θで入射された光のエ
ネルギーは“1/ sinθ”となる。したがって、日
射強度Iは“I=Iph/ sinθ”で計算され、そ
の結果日射量に比例した値が得られるようになる。
【0037】実施例ではXおよびYの方向にそれぞれ対
応して第1および第2の光位置検出素子15および16
を設け、これらに対して第1および第2の太陽電池12
および13を設定した。しかし、この光位置検出装置は
光検出素子をX方向およびY方向に対応した2組設定す
ればよいもので、特にこれらに対応してそれぞれ太陽電
池を設定する必要はない。
【0038】しかし、光スポットの位置を検出するため
に第1および第2の光位置検出素子15および16にそ
れぞれ電圧を印加設定する必要があるもので、そのため
の電源装置を設置することが要求される。この場合、日
射強度は光位置検出素子に流れる電流値に基づき算出す
ればよい。この場合、第1および第2のピンホール17
および18は、透明基板11の光入射面に電極層に代わ
り光不透過層を形成し、この光不透過層にピンホールを
形成させるようにする。
【0039】また、実施例では透明基板11の面に第1
乃至第3の太陽電池を形成するようにしたが、これは第
1および第2の光検出素子15および16の形成された
透明基板11の表面側に、別に作成した太陽電池を貼付
けるようにして一体的に構成するようにしてもよい。
【0040】
【発明の効果】以上のようにこの発明に係る光位置検出
装置によれば、入射光の入射角度と共にその入射方位が
検出できるものであり、また日射強度も同時に検出可能
とされる。この場合、この検出装置で検出された信号そ
のものに基づいて、高精度に光源位置が検出できるもの
であり、従来のようにスイッチ操作等をしなくともよい
ものであるため、その応答性を充分に高いものとするこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例に係る光位置検出装置を説
明する斜視図。
【図2】上記光位置検出装置の裏面を示す図。
【図3】図1の3−3線断面図。
【図4】図3の4−4線断面図。
【図5】図3の5−5線断面図。
【図6】図3の6−6線断面図。
【図7】光スポット位置と出力電圧との関係を示す図。
【図8】上記光検出装置の動作の原理説明図。
【図9】同じく測定原理を説明する図。
【図10】入射光の入射角の状態を説明する図。
【図11】入射光の入射方位の状態を説明する図。
【図12】入射光の入射量の状態を説明する図。
【図13】光検出素子の等電位線の状態を1次元素子と
2次元素子とで比較して示す図。
【符号の説明】
11…透明基板、12、13、14…第1乃至第3の太
陽電池、15、16…第1および第2の光位置検出素子
、17、18…第1および第2のピンホール、191 
、192 、201 、202 …電極。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  光入射面に光不透過性膜を形成した特
    定される厚さが設定された絶縁性の透明基板と、この透
    明基板の前記光入射面と反対側の面に並べて形成された
    、互いに直交するXおよびY方向の光入射位置を検出す
    る第1および第2の光検出素子と、この第1および第2
    の光検出素子それぞれに対向して前記光不透過性膜に形
    成された第1および第2のピンホールと、前記第1およ
    び第2の光検出素子それぞれに電源を供給する電源装置
    とを具備し、前記第1および第2の光検出素子に対して
    前記第1および第2のピンホールを介して入射される光
    スポットのXおよびY方向座標位置が、前記第1および
    第2の光位置検出素子でそれぞれ検出されるようにした
    ことを特徴とする光位置検出装置。
  2. 【請求項2】  前記電源装置は、前記透明基板の光入
    射面側に設定された太陽電池によって構成されるように
    した請求項1の光検出装置。
JP3115037A 1991-05-20 1991-05-20 光位置検出装置 Pending JPH04343276A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5517017A (en) * 1992-08-21 1996-05-14 Nippondenso Co., Ltd. Photosensor for detecting the position of incident light in two dimensions using a pair of film resistors and a photoconductive element sandwiched therebetween
US5602384A (en) * 1992-11-06 1997-02-11 Nippondenso Co., Ltd. Sunlight sensor that detects a distrubition and amount of thermal load
WO2004084282A1 (en) * 2003-03-14 2004-09-30 Midwest Research Institute Bifacial structure for tandem solar cell formed with amorphous semiconductor materials

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