JPH04341737A - X線管用回転陽極及びその製造方法 - Google Patents
X線管用回転陽極及びその製造方法Info
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- JPH04341737A JPH04341737A JP3142457A JP14245791A JPH04341737A JP H04341737 A JPH04341737 A JP H04341737A JP 3142457 A JP3142457 A JP 3142457A JP 14245791 A JP14245791 A JP 14245791A JP H04341737 A JPH04341737 A JP H04341737A
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- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高いX線出力を要求さ
れる回転陽極式X線管用の回転陽極及びその製造方法に
関するものである。
れる回転陽極式X線管用の回転陽極及びその製造方法に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】X線CT等の医療機器の高性能化に伴い
、より強力なX線発生が必要となり、X線管用回転陽極
には、軽量でかつ大きな熱容量を持つことが要求されて
いる。この目的を達成するために、従来金属のみで構成
されていた回転陽極に代わって、次に示すように黒鉛基
板上にX線発生用金属板を接着した構造や、メッキ等に
よりX線発生用金属を被覆した構造が提案されている。
、より強力なX線発生が必要となり、X線管用回転陽極
には、軽量でかつ大きな熱容量を持つことが要求されて
いる。この目的を達成するために、従来金属のみで構成
されていた回転陽極に代わって、次に示すように黒鉛基
板上にX線発生用金属板を接着した構造や、メッキ等に
よりX線発生用金属を被覆した構造が提案されている。
【0003】まず、X線用発生用金属板を接着した構造
は、粉末冶金法により製造されたX線発生用金属板を黒
鉛基板上にろう付け等により接着したものである(従来
例1)。又、メッキによりX線発生層を被覆した構造は
、特公昭47ー8263号公報に示されるように化学的
気相法などにより黒鉛基板上にX線発生層を形成するも
ので、X線発生層として最も優れているタングステンと
、黒鉛基板との相互拡散を防ぐために、拡散障壁として
レニウムの中間層を形成することや、X線発生強度低下
を防ぐためにタングステン中にレニウムを添加すること
も前記公報などにより知られている(従来例2)。さら
に、特開昭59ー8252号公報に示されるように、前
記従来例2により中間層及びX線発生層を形成した後、
非酸化性雰囲気中で熱処理を行い、前記各層の間に合金
層を生じさせることで密着性を向上させる方法も提案さ
れている(従来例3)。
は、粉末冶金法により製造されたX線発生用金属板を黒
鉛基板上にろう付け等により接着したものである(従来
例1)。又、メッキによりX線発生層を被覆した構造は
、特公昭47ー8263号公報に示されるように化学的
気相法などにより黒鉛基板上にX線発生層を形成するも
ので、X線発生層として最も優れているタングステンと
、黒鉛基板との相互拡散を防ぐために、拡散障壁として
レニウムの中間層を形成することや、X線発生強度低下
を防ぐためにタングステン中にレニウムを添加すること
も前記公報などにより知られている(従来例2)。さら
に、特開昭59ー8252号公報に示されるように、前
記従来例2により中間層及びX線発生層を形成した後、
非酸化性雰囲気中で熱処理を行い、前記各層の間に合金
層を生じさせることで密着性を向上させる方法も提案さ
れている(従来例3)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来例1では
X線発生用金属板の接着に安定性を欠き、又構成上前記
金属板を不必要に厚くせざるをえず、回転陽極の軽量化
がそれ程達成できないという問題があった。
X線発生用金属板の接着に安定性を欠き、又構成上前記
金属板を不必要に厚くせざるをえず、回転陽極の軽量化
がそれ程達成できないという問題があった。
【0005】又、従来例2は、従来例1に比べて黒鉛基
板とX線発生層との密着性も高く、比重が大きなX線発
生層の厚さを必要最小限に形成できるが、中間層となる
レニウムが主に柱状構造であるため、タングステンと黒
鉛基板とに相互拡散が起こりやすく、X線発生層下部に
脆性の炭化タングステンが形成される。このためX線発
生強度低下の他、X線発生層の剥離、あるいは亀裂発生
といった欠点があり、特に長期的な使用に適さないとい
う問題があった。
板とX線発生層との密着性も高く、比重が大きなX線発
生層の厚さを必要最小限に形成できるが、中間層となる
レニウムが主に柱状構造であるため、タングステンと黒
鉛基板とに相互拡散が起こりやすく、X線発生層下部に
脆性の炭化タングステンが形成される。このためX線発
生強度低下の他、X線発生層の剥離、あるいは亀裂発生
といった欠点があり、特に長期的な使用に適さないとい
う問題があった。
【0006】さらに、従来例3は熱処理工程においてX
線発生層下部にすでに炭化タングステン層が形成されて
おり、前記従来例2における問題点の解決策としてそれ
ほど有効な手段とはいえない。
線発生層下部にすでに炭化タングステン層が形成されて
おり、前記従来例2における問題点の解決策としてそれ
ほど有効な手段とはいえない。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の問題点
を解消するX線管用回転陽極及びその製造方法を提供す
るもので、その特徴は、黒鉛基板上に黒鉛と反応しない
金属からなる中間層と、該中間層の上に設けられ、電子
衝撃を受けるとX線を発生する発生層とを有するX線管
用回転陽極において、前記中間層が等軸構造のレニウム
膜からなることにある(各層の形成状態を図1に示す)
。又、前記X線管用回転陽極の製造方法は、黒鉛基板上
に、金属塩化物の熱分解CVD法により、1200℃以
上の基板温度にて、レニウムの中間層を形成し、この中
間層の上に、金属弗化物の水素還元熱CVD法により、
タングステン又はタングステン−レニウム合金の発生層
を形成することにより行うものである。
を解消するX線管用回転陽極及びその製造方法を提供す
るもので、その特徴は、黒鉛基板上に黒鉛と反応しない
金属からなる中間層と、該中間層の上に設けられ、電子
衝撃を受けるとX線を発生する発生層とを有するX線管
用回転陽極において、前記中間層が等軸構造のレニウム
膜からなることにある(各層の形成状態を図1に示す)
。又、前記X線管用回転陽極の製造方法は、黒鉛基板上
に、金属塩化物の熱分解CVD法により、1200℃以
上の基板温度にて、レニウムの中間層を形成し、この中
間層の上に、金属弗化物の水素還元熱CVD法により、
タングステン又はタングステン−レニウム合金の発生層
を形成することにより行うものである。
【0008】
【作用】まず、中間層のレニウム膜を等軸構造とする理
由について述べる。CVD法などの蒸着現象においては
、蒸着温度と得られる膜の構造とは密接な関係があり、
既にいくつかの文献にも報告されている。図3に示すよ
うに、比較的低い温度では柱状構造(領域2)が、高い
温度では等軸構造(領域3)がみられ、柱状構造から等
軸構造に遷移する温度(T2)は、対象となる金属の融
点(絶対温度;K)の約2分の1であるとされ、レニウ
ムの場合これが約1450℃である。もっとも、実際に
はこの温度よりもやや低い温度(本発明においては12
00℃)において既に等軸構造が認められたが、この等
軸構造のレニウム膜は、柱状構造のそれと比べてレニウ
ム膜を通しての炭素の拡散する速度が遅い。これは、柱
状構造の結晶粒界を通しての炭素の拡散(粒界拡散)が
結晶粒内部の拡散(体積拡散)よりも速いことに起因す
る。つまり、柱状構造の結晶粒界よりも等軸構造の結晶
粒界のほうが拡散距離が長くなるためである。 又、同じ柱状構造であっても、柱状構造の粒径が細いほ
ど拡散の経路が多く、拡散により移動する炭素量は多い
ことになる。
由について述べる。CVD法などの蒸着現象においては
、蒸着温度と得られる膜の構造とは密接な関係があり、
既にいくつかの文献にも報告されている。図3に示すよ
うに、比較的低い温度では柱状構造(領域2)が、高い
温度では等軸構造(領域3)がみられ、柱状構造から等
軸構造に遷移する温度(T2)は、対象となる金属の融
点(絶対温度;K)の約2分の1であるとされ、レニウ
ムの場合これが約1450℃である。もっとも、実際に
はこの温度よりもやや低い温度(本発明においては12
00℃)において既に等軸構造が認められたが、この等
軸構造のレニウム膜は、柱状構造のそれと比べてレニウ
ム膜を通しての炭素の拡散する速度が遅い。これは、柱
状構造の結晶粒界を通しての炭素の拡散(粒界拡散)が
結晶粒内部の拡散(体積拡散)よりも速いことに起因す
る。つまり、柱状構造の結晶粒界よりも等軸構造の結晶
粒界のほうが拡散距離が長くなるためである。 又、同じ柱状構造であっても、柱状構造の粒径が細いほ
ど拡散の経路が多く、拡散により移動する炭素量は多い
ことになる。
【0009】一方、黒鉛基板上にタングステンを主成分
とするX線発生層を形成した回転陽極の寿命は、レニウ
ムの中間層を通して拡散する炭素とタングステンが反応
し、炭化タングステンになることでX線発生層に剥離や
亀裂が生じるために短くなることが知られている。従っ
て、本発明のように等軸構造のレニウム膜を中間層とし
て形成し、拡散障壁とすることで炭素の拡散を抑制すれ
ば、長期間の使用に耐えうるX線管用回転陽極を実現で
きるのである。
とするX線発生層を形成した回転陽極の寿命は、レニウ
ムの中間層を通して拡散する炭素とタングステンが反応
し、炭化タングステンになることでX線発生層に剥離や
亀裂が生じるために短くなることが知られている。従っ
て、本発明のように等軸構造のレニウム膜を中間層とし
て形成し、拡散障壁とすることで炭素の拡散を抑制すれ
ば、長期間の使用に耐えうるX線管用回転陽極を実現で
きるのである。
【0010】次に、本発明回転陽極を製造する方法とし
て、レニウム塩化物の熱分解CVD法により中間層を形
成しているが、これは次のようなメリットに基づくもの
である。第一に、熱分解反応は水素還元法に比べて活性
化エネルギーが高く、より高温での反応が可能で、緻密
な膜を得易い点にある。例えば、弗化物の水素還元法は
、原料ガスの取り扱いが比較的容易であるため広く用い
られているが、反応が300℃程度と極めて低い温度か
ら始まるために、得られる膜が密度の低いものになり易
いという欠点がある。これに対して塩化物の熱分解法を
用いると、基板温度を1200℃以上に上げても膜の密
度低下が起こらない。
て、レニウム塩化物の熱分解CVD法により中間層を形
成しているが、これは次のようなメリットに基づくもの
である。第一に、熱分解反応は水素還元法に比べて活性
化エネルギーが高く、より高温での反応が可能で、緻密
な膜を得易い点にある。例えば、弗化物の水素還元法は
、原料ガスの取り扱いが比較的容易であるため広く用い
られているが、反応が300℃程度と極めて低い温度か
ら始まるために、得られる膜が密度の低いものになり易
いという欠点がある。これに対して塩化物の熱分解法を
用いると、基板温度を1200℃以上に上げても膜の密
度低下が起こらない。
【0011】第二に、レニウム膜を構成する結晶粒を大
きくかつ等軸構造に形成できることである。等軸構造の
レニウム膜が拡散障壁として優れていることは、既に述
べた通りである。
きくかつ等軸構造に形成できることである。等軸構造の
レニウム膜が拡散障壁として優れていることは、既に述
べた通りである。
【0012】第三に、製造コストの低減が図れることで
ある。レニウム膜形成にはレニウム弗化物を用いる方法
もあるが、レニウム弗化物が極めて高価であるのに対し
、レニウム塩化物は安価に製造できるためである。例え
ば、特開昭58ー100669号公報にも記載されてい
るように、CVD装置の前段にレニウムの塩素化炉を設
置することで、金属レニウム及び塩素ガスという比較的
安価な原料から合成(塩素化)し、すぐ後段のCVD炉
内部で分解させると、原材料の収率の点で極めて有利で
ある。
ある。レニウム膜形成にはレニウム弗化物を用いる方法
もあるが、レニウム弗化物が極めて高価であるのに対し
、レニウム塩化物は安価に製造できるためである。例え
ば、特開昭58ー100669号公報にも記載されてい
るように、CVD装置の前段にレニウムの塩素化炉を設
置することで、金属レニウム及び塩素ガスという比較的
安価な原料から合成(塩素化)し、すぐ後段のCVD炉
内部で分解させると、原材料の収率の点で極めて有利で
ある。
【0013】さらに、発生層の形成を金属弗化物の水素
還元法により行っているが、これは微細な結晶粒から構
成される膜を形成するのに適しているからである。発生
層の主成分であるタングステンは電子衝撃により100
0℃以上に加熱されるため、徐々に再結晶し、延性が低
下する。タングステンにレニウムを数%〜30%添加す
ることで、このような延性の低下が抑制されることは公
知であるが、再結晶を生じにくい膜構造にすることで、
さらに延性低下抑制を図ることも可能である。本発明に
おける再結晶を生じにくい膜構造とは、微細な結晶粒の
ことであり、このような膜形成を行うには、上記の水素
還元法が最適であった。
還元法により行っているが、これは微細な結晶粒から構
成される膜を形成するのに適しているからである。発生
層の主成分であるタングステンは電子衝撃により100
0℃以上に加熱されるため、徐々に再結晶し、延性が低
下する。タングステンにレニウムを数%〜30%添加す
ることで、このような延性の低下が抑制されることは公
知であるが、再結晶を生じにくい膜構造にすることで、
さらに延性低下抑制を図ることも可能である。本発明に
おける再結晶を生じにくい膜構造とは、微細な結晶粒の
ことであり、このような膜形成を行うには、上記の水素
還元法が最適であった。
【0014】尚、製造コスト低減の観点からは、同一装
置内部で中間層及び発生層の形成を連続して行うことが
好ましいが、本発明においても塩化物の発生装置(塩素
化炉)と弗化物の供給系を共に備えた装置を用いること
で、連続コーティングが実現可能である。
置内部で中間層及び発生層の形成を連続して行うことが
好ましいが、本発明においても塩化物の発生装置(塩素
化炉)と弗化物の供給系を共に備えた装置を用いること
で、連続コーティングが実現可能である。
【0015】
(試験例1)レニウム塩化物の熱分解CVD法において
、レニウム膜の形成条件を変えて、得られた膜の構造を
調べた。ここでは膜構造を支配する条件として、ガス条
件を一定とし、蒸着時の基板温度を中心に変化させ、レ
ニウムの膜厚は30μmになるようにした。又、比較例
として金属塩化物及び金属弗化物の水素還元法を用いて
、レニウム膜の形成を行い、断面構造の判定は、コーテ
ィング試料の破断面を走査型電子顕微鏡にて観察するこ
とで行った(図2に顕微鏡写真を示す)。その結果を表
1に示す。
、レニウム膜の形成条件を変えて、得られた膜の構造を
調べた。ここでは膜構造を支配する条件として、ガス条
件を一定とし、蒸着時の基板温度を中心に変化させ、レ
ニウムの膜厚は30μmになるようにした。又、比較例
として金属塩化物及び金属弗化物の水素還元法を用いて
、レニウム膜の形成を行い、断面構造の判定は、コーテ
ィング試料の破断面を走査型電子顕微鏡にて観察するこ
とで行った(図2に顕微鏡写真を示す)。その結果を表
1に示す。
【0016】
【表1】
【0017】同表からも分かるように、塩化物の熱分解
CVD法では、1200℃以上において緻密な等軸構造
の膜を得ることができた。一方、塩化物の水素還元法で
は、1000℃を境に、それ以上では粉状の析出物が、
それ以下では柱状構造のレニウム膜が得られた。さらに
、弗化物の水素還元法では、700℃を境に、それ以上
では粉状の析出物が、それ以下では柱状構造のレニウム
膜が得られた。このように1200℃以上の温度におい
て塩化物の熱分解CVD法が等軸構造のレニウム膜形成
に適していることが確認された。
CVD法では、1200℃以上において緻密な等軸構造
の膜を得ることができた。一方、塩化物の水素還元法で
は、1000℃を境に、それ以上では粉状の析出物が、
それ以下では柱状構造のレニウム膜が得られた。さらに
、弗化物の水素還元法では、700℃を境に、それ以上
では粉状の析出物が、それ以下では柱状構造のレニウム
膜が得られた。このように1200℃以上の温度におい
て塩化物の熱分解CVD法が等軸構造のレニウム膜形成
に適していることが確認された。
【0018】(試験例2)次に試験例1において得られ
たレニウムコーティング試料の上に、金属弗化物の水素
還元法により、500μm厚のタングステンコーティン
グを行い、1200℃、10時間の等温焼鈍後のタング
ステン膜中での炭化物層の成長を調べた。その結果を表
2に示す。
たレニウムコーティング試料の上に、金属弗化物の水素
還元法により、500μm厚のタングステンコーティン
グを行い、1200℃、10時間の等温焼鈍後のタング
ステン膜中での炭化物層の成長を調べた。その結果を表
2に示す。
【0019】
【表2】
【0020】表からも分かるように、柱状構造のもの同
志を比較すると、結晶粒径の大きいほうが、炭化タング
ステン層の成長が遅い。又、柱状構造の場合に比べて、
等軸構造のほうが更に炭化タングステン層の成長が遅い
ことがわかる。従って、等軸構造のレニウム膜が拡散障
壁として優れていることが確認できた。
志を比較すると、結晶粒径の大きいほうが、炭化タング
ステン層の成長が遅い。又、柱状構造の場合に比べて、
等軸構造のほうが更に炭化タングステン層の成長が遅い
ことがわかる。従って、等軸構造のレニウム膜が拡散障
壁として優れていることが確認できた。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように本発明回転陽極は、
等軸構造のレニウム膜を拡散障壁とすることで、タング
ステンと黒鉛基板との相互拡散を抑制し、長期にわたっ
てX線の発生強度低下を防止できる。又、本発明方法は
上記回転陽極を製造するのに適した方法で、併せて製造
コストの低減も実現できる。従って、高出力のX線源が
製造でき、医療用にとどまらず工業用のX線分析装置の
分析精度向上に対して極めて有効である。
等軸構造のレニウム膜を拡散障壁とすることで、タング
ステンと黒鉛基板との相互拡散を抑制し、長期にわたっ
てX線の発生強度低下を防止できる。又、本発明方法は
上記回転陽極を製造するのに適した方法で、併せて製造
コストの低減も実現できる。従って、高出力のX線源が
製造でき、医療用にとどまらず工業用のX線分析装置の
分析精度向上に対して極めて有効である。
【図1】本発明回転陽極の発生層及び中間層のコーティ
ング状態を示す模式図である。
ング状態を示す模式図である。
【図2】本発明回転陽極の発生層及び中間層のコーティ
ング状態を示す電子顕微鏡写真である。
ング状態を示す電子顕微鏡写真である。
【図3】蒸着温度と得られる膜の関係を示す説明図であ
る。
る。
1 黒鉛基板
2 中間層
3 発生層
Claims (2)
- 【請求項1】 黒鉛基板上に黒鉛と反応しない金属か
らなる中間層と、該中間層の上に設けられ、電子衝撃を
受けるとX線を発生する発生層とを有するX線管用回転
陽極において、前記中間層が等軸構造のレニウム膜から
なることを特徴とするX線管用回転陽極。 - 【請求項2】 黒鉛基板上に、金属塩化物の熱分解C
VD法により、1200℃以上の基板温度にて、レニウ
ムの中間層を形成し、この中間層の上に、金属弗化物の
水素還元熱CVD法により、タングステン又はタングス
テン−レニウム合金の発生層を形成することを特徴とす
るX線管用回転陽極の製造方法。
Priority Applications (5)
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---|---|---|---|
JP3142457A JP2955605B2 (ja) | 1991-05-17 | 1991-05-17 | X線管用回転陽極及びその製造方法 |
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EP92108284A EP0513830B1 (en) | 1991-05-17 | 1992-05-15 | Rotary anode for X-ray tube and method for manufacturing the same |
DE69209139T DE69209139T2 (de) | 1991-05-17 | 1992-05-15 | Drehanoden-Röntgenröhre und Herstellungsmethode dafür |
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---|---|---|---|
JP3142457A JP2955605B2 (ja) | 1991-05-17 | 1991-05-17 | X線管用回転陽極及びその製造方法 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2955605B2 JP2955605B2 (ja) | 1999-10-04 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3142457A Expired - Fee Related JP2955605B2 (ja) | 1991-05-17 | 1991-05-17 | X線管用回転陽極及びその製造方法 |
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EP (1) | EP0513830B1 (ja) |
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DE10021716B4 (de) * | 2000-05-04 | 2005-01-05 | Siemens Ag | Drehkolbenröhre |
US7090893B1 (en) * | 2003-03-24 | 2006-08-15 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Rhenium composite |
US7214306B1 (en) | 2004-04-16 | 2007-05-08 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Elevated potential deposition of rhenium on graphite substrates from a ReO2/H2O2 solution |
ES2706727T3 (es) * | 2005-12-02 | 2019-04-01 | Irobot Corp | Sistema de robot |
FR2962591B1 (fr) | 2010-07-06 | 2017-04-14 | Acerde | Anode pour l'emission de rayons x et procede de fabrication d'une telle anode |
JP2013239317A (ja) * | 2012-05-15 | 2013-11-28 | Canon Inc | 放射線発生ターゲット、放射線発生装置および放射線撮影システム |
US9422966B2 (en) | 2013-03-08 | 2016-08-23 | Baker Hughes Incorporated | Shear member post shear segment retention apparatus |
US10217596B2 (en) | 2016-09-29 | 2019-02-26 | General Electric Company | High temperature annealing in X-ray source fabrication |
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---|---|---|---|---|
NL104093C (ja) * | 1956-03-30 | |||
AT281215B (de) * | 1968-04-03 | 1970-05-11 | Plansee Metallwerk | Drehanode für Röntgenröhren |
EP0037956B1 (en) * | 1980-04-11 | 1984-02-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | A rotary anode for an x-ray tube and a method for manufacturing the same |
FR2625033A1 (fr) * | 1987-12-22 | 1989-06-23 | Thomson Cgr | Procede de fabrication d'une anode de tube a rayons x et anode obtenue par ce procede |
AT392760B (de) * | 1989-05-26 | 1991-06-10 | Plansee Metallwerk | Verbundkoerper aus graphit und hochschmelzendem metall |
US4920012A (en) * | 1989-06-09 | 1990-04-24 | General Electric Company | Articles having coatings of fine-grained and/or equiaxed grain structure |
-
1991
- 1991-05-17 JP JP3142457A patent/JP2955605B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-05-13 US US07/882,026 patent/US5259015A/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-05-15 DE DE69209139T patent/DE69209139T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-05-15 EP EP92108284A patent/EP0513830B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-08-10 US US08/103,761 patent/US5352489A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69209139T2 (de) | 1996-11-28 |
JP2955605B2 (ja) | 1999-10-04 |
US5352489A (en) | 1994-10-04 |
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US5259015A (en) | 1993-11-02 |
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