JPH04339268A - 光ファイバー式微少電流検出器 - Google Patents
光ファイバー式微少電流検出器Info
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- JPH04339268A JPH04339268A JP11132391A JP11132391A JPH04339268A JP H04339268 A JPH04339268 A JP H04339268A JP 11132391 A JP11132391 A JP 11132391A JP 11132391 A JP11132391 A JP 11132391A JP H04339268 A JPH04339268 A JP H04339268A
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 title claims abstract description 13
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000004397 blinking Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- High-Tension Arc-Extinguishing Switches Without Spraying Means (AREA)
- Insulators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】検電碍子の電圧測定、アレスター
の漏れ電流測定、真空バルブの真空漏れ測定に利用する
光ファイバー式微少電流検出器の信号処理装置に関する
の漏れ電流測定、真空バルブの真空漏れ測定に利用する
光ファイバー式微少電流検出器の信号処理装置に関する
【０００２】
【従来の技術】従来光ファイバー式微少電流検出器（特
願昭６３−１９３１７１号）は、図３に示すように、高
電圧ＶＨが印加され微少電流ＩＯが流れる検電碍子、ア
レスター等の高インピーダンスＺからなる微少電流（漏
れ電流ＩＯ）回路と直列に全波整流回路２を設け、この
全波整流回路の出力側にコンデンサＣＯを接続し、この
コンデンサと並列にその充電電圧ｅを電源とすると共に
その充電電圧が所定の電圧に達したことを検出してそれ
より低い所定の電圧までの充電電荷を放電させる２点電
圧値でヒステリシス特性（図４）を有するマイクロ・パ
ワー電圧検出器３を用いた電圧−周波数変換回路を設け
、この変換回路の抵抗Ｒとトランジスタ４からなる放電
回路中に発光ダイオード５を接続してなる検出回路１と
、この発光ダイオードの点滅回数を光ファイバー６を介
して一定時間計数する信号処理回路１０からできている
。 信号処理回路１０は、図５に示すように、光ファイバー
６からの光を受ける受光素子１１と、受光素子に流れる
パルス波形を整形するパルス波形整形回路１２と、整形
されたパルスｎを定時間カウントし、漏れ電流ＩＯに比
例したカウント値ｎ，αｎ（α：定数）を出力する定時
間カウンタ１３と、このカウント数値αｎを表示する数
値表示器１４と、カウント値ｎと基準値設定器１６から
の基準値ＮＯとを比較し、ｎ＞ＮＯになると出力する比
較器１５及びこの比較器１５の出力により漏れ電流ＩＯ
が大きくなったことを警報する警報出力器１７とから構
成されている。
願昭６３−１９３１７１号）は、図３に示すように、高
電圧ＶＨが印加され微少電流ＩＯが流れる検電碍子、ア
レスター等の高インピーダンスＺからなる微少電流（漏
れ電流ＩＯ）回路と直列に全波整流回路２を設け、この
全波整流回路の出力側にコンデンサＣＯを接続し、この
コンデンサと並列にその充電電圧ｅを電源とすると共に
その充電電圧が所定の電圧に達したことを検出してそれ
より低い所定の電圧までの充電電荷を放電させる２点電
圧値でヒステリシス特性（図４）を有するマイクロ・パ
ワー電圧検出器３を用いた電圧−周波数変換回路を設け
、この変換回路の抵抗Ｒとトランジスタ４からなる放電
回路中に発光ダイオード５を接続してなる検出回路１と
、この発光ダイオードの点滅回数を光ファイバー６を介
して一定時間計数する信号処理回路１０からできている
。 信号処理回路１０は、図５に示すように、光ファイバー
６からの光を受ける受光素子１１と、受光素子に流れる
パルス波形を整形するパルス波形整形回路１２と、整形
されたパルスｎを定時間カウントし、漏れ電流ＩＯに比
例したカウント値ｎ，αｎ（α：定数）を出力する定時
間カウンタ１３と、このカウント数値αｎを表示する数
値表示器１４と、カウント値ｎと基準値設定器１６から
の基準値ＮＯとを比較し、ｎ＞ＮＯになると出力する比
較器１５及びこの比較器１５の出力により漏れ電流ＩＯ
が大きくなったことを警報する警報出力器１７とから構
成されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来微少電流検出
器のコンデンサＣＯは、図４に示すマイクロパワー電圧
検出器３の特性によって、充放電されるので、放電回路
に設けられた発光ダイオードの点滅回数は図６（ａ），
（ｂ）の（ハ）に示すように充電電流の大きさに応じて
変化する。
器のコンデンサＣＯは、図４に示すマイクロパワー電圧
検出器３の特性によって、充放電されるので、放電回路
に設けられた発光ダイオードの点滅回数は図６（ａ），
（ｂ）の（ハ）に示すように充電電流の大きさに応じて
変化する。
【０００４】しかし、充電電流が定格の最大充電電流Ｉ
ＭＡＸ以上になると、図４のＣ→Ｄの動作時コンデンサ
ＣＯの充電電圧ｅがＶ１からＶ２まで下がる時間が伸び
るため、整流回路２からの入力電流がそのまま抵抗Ｒを
通じて発光ダイオード４に流れ、点滅が停止した状態に
なるので、図６（ｃ）の（ハ）に示すように、点滅回数
が減少する。
ＭＡＸ以上になると、図４のＣ→Ｄの動作時コンデンサ
ＣＯの充電電圧ｅがＶ１からＶ２まで下がる時間が伸び
るため、整流回路２からの入力電流がそのまま抵抗Ｒを
通じて発光ダイオード４に流れ、点滅が停止した状態に
なるので、図６（ｃ）の（ハ）に示すように、点滅回数
が減少する。
【０００５】アレスターの漏れ電流値を監視している時
、この漏れ電流ＩＯがＩＭＡＸを越えた場合、信号処理
回路１０は単純にある時間内の発光ダイオード５の点灯
回数を数えているので、漏れ電流ＩＯが増大しているに
も拘らず、漏れ電流が減少したと誤判定をする。
、この漏れ電流ＩＯがＩＭＡＸを越えた場合、信号処理
回路１０は単純にある時間内の発光ダイオード５の点灯
回数を数えているので、漏れ電流ＩＯが増大しているに
も拘らず、漏れ電流が減少したと誤判定をする。
【０００６】本発明は、従来のこのような問題点に鑑み
てなされたものであり、その目的とするところは、検出
回路の充電電流定格値オーバーによる発光ダイオードの
発光回数の減少で生ずる微少電流の誤判定を防止できる
光ファイバー式微少電流検出器の信号処理装置を提供す
ることにある。
てなされたものであり、その目的とするところは、検出
回路の充電電流定格値オーバーによる発光ダイオードの
発光回数の減少で生ずる微少電流の誤判定を防止できる
光ファイバー式微少電流検出器の信号処理装置を提供す
ることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明における光ファイバー式微少電流検出器の信
号処理装置は、微少電流を整流してコンデンサを充電し
、この充電電圧が所定値に達すると放電する放電回路中
に発光ダイオードを接続し、この発光ダイオードの点滅
を光ファイバーを介して受光する受光素子からのパルス
をパルス波形整形回路を介して所定時間カウントして微
少電流を測定する微少電流検出器において、前記パルス
波形整形回路よりのパルスから所定パルス幅以上のパル
スを検出するパルス比較器と、この比較器より出力され
るパルスのパルス周波数を測定する定時間カウンタと、
この定時間カウンタよりのパルス周波数を商用周波数と
比較してパルス周波数が高いとき過入力判定出力を出す
比較器とよりなるものである。
に、本発明における光ファイバー式微少電流検出器の信
号処理装置は、微少電流を整流してコンデンサを充電し
、この充電電圧が所定値に達すると放電する放電回路中
に発光ダイオードを接続し、この発光ダイオードの点滅
を光ファイバーを介して受光する受光素子からのパルス
をパルス波形整形回路を介して所定時間カウントして微
少電流を測定する微少電流検出器において、前記パルス
波形整形回路よりのパルスから所定パルス幅以上のパル
スを検出するパルス比較器と、この比較器より出力され
るパルスのパルス周波数を測定する定時間カウンタと、
この定時間カウンタよりのパルス周波数を商用周波数と
比較してパルス周波数が高いとき過入力判定出力を出す
比較器とよりなるものである。
【０００８】
【作用】コンデンサは整流回路を介して微少電流で充電
され、端子電圧が所定値に達すると放電する放電回路を
通じて放電する。このため放電回路中に設けられた発光
ダイオードの点滅速度は微少電流に比例するので、受光
素子のパルスを所定時間カウントすることにより微少電
流を測定することができる。
され、端子電圧が所定値に達すると放電する放電回路を
通じて放電する。このため放電回路中に設けられた発光
ダイオードの点滅速度は微少電流に比例するので、受光
素子のパルスを所定時間カウントすることにより微少電
流を測定することができる。
【０００９】この微少電流検出器が定格の最大充電電流
以上で充電されると、放電によって電圧が所定の電圧に
低下するまで時間がかかるので、発光ダイオードの点灯
回数が低下すると共に発光パルス幅の大きい発光パルス
が混在してくる。
以上で充電されると、放電によって電圧が所定の電圧に
低下するまで時間がかかるので、発光ダイオードの点灯
回数が低下すると共に発光パルス幅の大きい発光パルス
が混在してくる。
【００１０】パルス比較器は、パルス波形整形回路より
のパルスから、所定パルス幅以上のパルスを検出して出
力する。また、定時間カウンタは第１の比較器からの所
定パルス幅以上のパルスの周波数を測定する。
のパルスから、所定パルス幅以上のパルスを検出して出
力する。また、定時間カウンタは第１の比較器からの所
定パルス幅以上のパルスの周波数を測定する。
【００１１】印加電圧が高く充電電流定格値をオーバー
すると少なくとも印加電圧である商用周波数毎にパルス
幅の大きいパルスが発生するので、前記定時間カウンタ
から出力されるパルス周波数を印加電圧の周波数である
商用周波数と比較することにより過入力を判定すること
ができる。
すると少なくとも印加電圧である商用周波数毎にパルス
幅の大きいパルスが発生するので、前記定時間カウンタ
から出力されるパルス周波数を印加電圧の周波数である
商用周波数と比較することにより過入力を判定すること
ができる。
【００１２】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照して説明する。
図１は光ファイバー式微少電流検出器の信号処理装置を
示す。なお、従来図３，図４に示したものと同一構成部
分は、同一符号を付してその重複する説明を省略する。
示す。なお、従来図３，図４に示したものと同一構成部
分は、同一符号を付してその重複する説明を省略する。
【００１３】図１において、２１はパルス幅基準値設定
器、２２はパルス波形整形回路１２からのパルスｎのパ
ルス幅ＴＸとパルス幅基準値設定器２１からのパルス幅
ＴＯとを比較し、ＴＸ＞ＴＯのときパルスｎｘを出力す
るパルス比較器、２３はパルスｎｘを定時間カウントに
周波数を測定する定時間パルスカウンタ、２４は商用周
波数ｆｏを出力する商用周波数設定器、２５はパルスカ
ウンタ２３からの周波数ｆｎｘと商用周波数設定器２４
からの商用周波数ｆｏとを比較し、ｎｘ≧ｆｏのとき出
力する比較器、２６は比較器よりの出力により過入力警
報を出力する過入力警報器である。
器、２２はパルス波形整形回路１２からのパルスｎのパ
ルス幅ＴＸとパルス幅基準値設定器２１からのパルス幅
ＴＯとを比較し、ＴＸ＞ＴＯのときパルスｎｘを出力す
るパルス比較器、２３はパルスｎｘを定時間カウントに
周波数を測定する定時間パルスカウンタ、２４は商用周
波数ｆｏを出力する商用周波数設定器、２５はパルスカ
ウンタ２３からの周波数ｆｎｘと商用周波数設定器２４
からの商用周波数ｆｏとを比較し、ｎｘ≧ｆｏのとき出
力する比較器、２６は比較器よりの出力により過入力警
報を出力する過入力警報器である。
【００１４】以上のように、信号処理装置は構成されて
いるので、図３における微少電流検出回路１のコンデン
サＣＯを充電する充電電流が定格値を越えている場合、
発光ダイオード５の出力は図６（ｃ）の（ハ）のように
なるので、パルス波形整形回路１２の出力パルスｎは、
図２（イ）に示すようにパルス幅が広いパルスｎｘが混
ざったものとなる。このパルスｎのパルス幅ＴＸはパル
ス幅比較器２２で基準パルス幅ＴＯと比較され、ＴＸ＞
ＴＯのパルスｎｘが検出される（図２（ロ））。
いるので、図３における微少電流検出回路１のコンデン
サＣＯを充電する充電電流が定格値を越えている場合、
発光ダイオード５の出力は図６（ｃ）の（ハ）のように
なるので、パルス波形整形回路１２の出力パルスｎは、
図２（イ）に示すようにパルス幅が広いパルスｎｘが混
ざったものとなる。このパルスｎのパルス幅ＴＸはパル
ス幅比較器２２で基準パルス幅ＴＯと比較され、ＴＸ＞
ＴＯのパルスｎｘが検出される（図２（ロ））。
【００１５】検出されたパルスｎｘは定時間パルスカウ
ンタ２３により定時間カウントされ、パルスｎｘの周波
数ｆｎｘが測定される。この周波数ｆｎｘは比較器２５
で、商用周波数ｆｏと比較され、ｆｎｘ≧ｆｏとなると
充電電流が定格値をオーバーしているという判定出力を
過入力警報器２６に出力する。
ンタ２３により定時間カウントされ、パルスｎｘの周波
数ｆｎｘが測定される。この周波数ｆｎｘは比較器２５
で、商用周波数ｆｏと比較され、ｆｎｘ≧ｆｏとなると
充電電流が定格値をオーバーしているという判定出力を
過入力警報器２６に出力する。
【００１６】
【発明の効果】本発明は、上述のとおり構成されている
ので、次に記載する効果を奏する。
ので、次に記載する効果を奏する。
【００１７】（１）アレスターの漏れ電流の監視等、検
出微少電流が、使用状態により定格電流以上流れる状態
が連続して発生し、その状態で発光ダイオードの点滅回
数が低下しているのとの判定ができる。
出微少電流が、使用状態により定格電流以上流れる状態
が連続して発生し、その状態で発光ダイオードの点滅回
数が低下しているのとの判定ができる。
【００１８】（２）このため、充電電流が定格電流を越
えたことにより低下する発光ダイオードの点滅回数をカ
ウントして、漏れ電流が少いと誤判断することがなくな
る。
えたことにより低下する発光ダイオードの点滅回数をカ
ウントして、漏れ電流が少いと誤判断することがなくな
る。
【図１】本発明の実施例にかかる信号処理装置を示すブ
ロック回路図。
ロック回路図。
【図２】充電電流が定格値を越えている場合のパルス幅
比較器の入，出力パルスを示す波形図。
比較器の入，出力パルスを示す波形図。
【図３】従来微少電流検出器を示すブロック回路図。
【図４】マイクロパワー電圧検出器の動作説明図。
【図５】従来微少電流検出器の信号処理回路を示すブロ
ック回路図。
ック回路図。
【図６】（ａ），（ｂ），（ｃ）は充電電流小，充電電
流動作限界，充電流定格値を越えている時における印加
電圧，充電電圧及び発光ダイオード出力の関係を示すタ
イミング図。
流動作限界，充電流定格値を越えている時における印加
電圧，充電電圧及び発光ダイオード出力の関係を示すタ
イミング図。
１…微少電流検出回路、２…全波整流回路、３…マイク
ロパワー電圧検出器、５…発光ダイオード、６…光ファ
イバー、１０…信号処理回路、１１…受光素子、１２…
パルス波形整形回路、１３，２３…定時間パルスカウン
タ、１４…数値表示器、１５，２５…比較器、１６…基
準値設定器、１７，２６…警報器、２１…基準パルス幅
設定器、２２…パルス比較器、２４…商用周波数設定器
。
ロパワー電圧検出器、５…発光ダイオード、６…光ファ
イバー、１０…信号処理回路、１１…受光素子、１２…
パルス波形整形回路、１３，２３…定時間パルスカウン
タ、１４…数値表示器、１５，２５…比較器、１６…基
準値設定器、１７，２６…警報器、２１…基準パルス幅
設定器、２２…パルス比較器、２４…商用周波数設定器
。
Claims (1)
- 【請求項１】 微少電流を整流してコンデンサを充電
し、この充電電圧が所定値に達すると放電する放電回路
中に発光ダイオードを接続し、この発光ダイオードの点
滅を光ファイバーを介して受光する受光素子からのパル
スをパルス波形整形回路を介して所定時間カウントして
微少電流を測定する微少電流検出器において、前記パル
ス波形整形回路よりのパルスから所定パルス幅以上のパ
ルスを検出するパルス比較器と、この比較器より出力さ
れるパルスのパルス周波数を測定する定時間カウンタと
、この定時間カウンタよりのパルス周波数を商用周波数
と比較してパルス周波数が高いとき過入力判定出力を出
す比較器、とを設けてなることを特徴とした光ファイバ
ー式微少電流検出器の信号処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03111323A JP3116411B2 (ja) | 1991-05-16 | 1991-05-16 | 光ファイバー式微少電流検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03111323A JP3116411B2 (ja) | 1991-05-16 | 1991-05-16 | 光ファイバー式微少電流検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04339268A true JPH04339268A (ja) | 1992-11-26 |
| JP3116411B2 JP3116411B2 (ja) | 2000-12-11 |
Family
ID=14558305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03111323A Expired - Fee Related JP3116411B2 (ja) | 1991-05-16 | 1991-05-16 | 光ファイバー式微少電流検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3116411B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107154272A (zh) * | 2016-03-03 | 2017-09-12 | 东芝存储器株式会社 | 电流检测电路 |
| TWI651733B (zh) * | 2016-03-03 | 2019-02-21 | 東芝記憶體股份有限公司 | 電流檢測電路 |
-
1991
- 1991-05-16 JP JP03111323A patent/JP3116411B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107154272A (zh) * | 2016-03-03 | 2017-09-12 | 东芝存储器株式会社 | 电流检测电路 |
| TWI651733B (zh) * | 2016-03-03 | 2019-02-21 | 東芝記憶體股份有限公司 | 電流檢測電路 |
| CN107154272B (zh) * | 2016-03-03 | 2020-07-03 | 东芝存储器株式会社 | 电流检测电路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3116411B2 (ja) | 2000-12-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071006 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081006 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |