JPH0433541Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 この考案は、光ピツクアツプの光学系に設けら
れ、反射ビームにこの反射ビーム中のトラツク幅
方向に相当する方向に延びる稜線を侵入させてそ
の略半分を遮ると共に、遮つた反射ビームを稜線
方向の中央で二分して光検出器に結像させるナイ
フエツジ用プリズムの調整機構に関するものであ
る。

従来の技術 ナイフエツジ法によるフオーカシングエラー検
出を行う光ピツクアツプの光学系としては、従来
から第４図及び第５図に示したようなものがあ
る。

光ピツクアツプ本体１０の光路穴１１には、光
検出器２０と、光デイスクＤで反射された反射ビ
ームを光検出器２０に向つて集束させる集光レン
ズ３０が設けられており、これらの光検出器２０
と集光レンズ３０との間にはナイフエツジ４０が
設けられている。

光検出器２０は、図中上下に配列する二つの受
光部２１、２２から構成されており、これらの受
光部２１，２２の出力を引算することによつてフ
オーカシングエラー信号が検出される。

また、光ピツクアツプ本体１０には、先端部に
ナイフエツジ４０が取付けられた調整ネジ４１が
螺合している。そして、ナイフエツジ４０はこの
調整ネジ４１の回動によつて図中上下方向Ａに進
退し、光検出器２０のそれぞれの受光部２１，２
２の受光量のバランスをとることができる。

第４図の光学系では、対物レンズ５０と光デイ
スクＤとの距離が適正である時の反射ビームの集
束位置にナイフエツジ４０の先端が位置する構成
とされており、光デイスクＤと対物レンズ５０と
の距離が近過ぎるときには下側の受光部２２のみ
が照射され、遠過ぎるときには上側の受光部２１
のみが照射され、合焦時には両者を均等に照射す
る。

この方式を利用すれば、光検出器２０を４分割
として１つの光検出器でトラツキングエラー信号
をも得ることができるが、追記型の光デイスクで
はプツシユプル法によるトラツキングエラー成分
が最大となるよう構成されているため、反射ビー
ムに包含されるトラツキングエラー成分がフオー
カシングエラー信号へ干渉し、正確なフオーカシ
ングエラー検出が行い難いという不具合があつ
た。

次に第５図の光学系では、対物レンズ５０と光
デイスクＤとの距離が適正である時の反射ビーム
の集束位置に光検出器２０が配置されており、光
デイスクＤと対物レンズ５０との距離が近過ぎる
ときには上側の受光部２１のみが照射され、遠過
ぎるときには下側の受光部２２のみが照射され、
合焦時には両者の間に結像して何れの受光部の出
力も略０となる。

従つて、この方式を利用すると上記の干渉は回
避できるが、トラツキングエラー検出用の光検出
器を別個に設ける必要があり、部品点数が多く、
光学系が大型化するという難点があつた。

考案が解決しようとする問題点 そこで近時、第６図に示したように対物レンズ
５０と光デイスクＤとの距離が適正である時の反
射ビームの集束位置に光検出器２０を配置し、こ
の光検出器２０の中央にナイフエツジ法によるフ
オーカシングエラー検出用受光部２１，２２を設
けると共に、その両側にプツシユプル法によるト
ラツキングエラー検出用受光部２３，２４を設け
（第７図参照）、光検出器２０と集光レンズ３０と
の間に設けたウエツジ型のナイフエツジ用プリズ
ム６０によつて反射ビームの略半分を遮ると共
に、遮つた反射ビームをこのナイフエツジ用プリ
ズム６０で二分して光検出器２０のトラツキング
エラー検出用受光部２３，２４の各々に結像させ
る構成とした光学系が考えられている。

ここで示した光学系では光検出器２０のトラツ
キングエラー検出用受光部２３，２４間のバラン
スをとるため、前述した上下方向Ａに加えて反射
ビーム中のトラツク幅方向に相当する方向Ｂ（第
６図中、紙面と垂直な方向）へも変位可能な構成
とする必要がある。

そこで、上記の光学系におけるナイフエツジ用
プリズム６０の調整機構としては、第８図に示し
たように２つの遊挿孔７１，７１及びビームを通
過させる切欠７２が形成された保持板７０の一端
にナイフエツジ用プリズム６０を取付け、ボルト
７３をこれらの遊挿孔７１を貫通させて光ピツク
アツプ本体１０に螺合させたものが考えられてい
る。

しかしながら上記のような調整機構では、ナイ
フエツジ用プリズム６０を調整する際、ボルト７
３を緩めると保持板７０がその自重で変位してし
まうため、調整前の状態を基準とした連続的な調
整が行い得ないという問題点がある。

考案の目的 この考案は、上述した問題点に鑑みてなされた
ものであり、ナイフエツジ用プリズムを二軸方向
へ変位させる調整機構において、調整前の状態を
基準とした連続的な調整を行い得るナイフエツジ
用プリズムの調整機構を提供することを目的とす
る。

問題点を解決するための手段 この考案は、上記の目的を達成させるため、光
デイスクで反射して光検出器に集束する反射ビー
ム中のトラツク幅方向に相当する方向に延びるナ
イフエツジ用プリズムの稜線を反射ビームに侵入
させてその略半分を遮ると共に、遮つた反射ビー
ムを稜線方向の中央で二分して光検出器に結像さ
せるナイフエツジ用プリズムの調整機構であつ
て、ナイフエツジ用プリズムを組付けた保持体と
この保持体を支持する光ピツクアツプ本体との何
れか一方に軸線が稜線と平行な円柱部を設けると
共に、他方に円柱部が摺動自在に嵌合する支持穴
を設け、支持穴に嵌合した保持体を前記軸線回り
方向へ回動させてナイフエツジ用プリズムの反射
ビームに対する侵入量を変化させ、保持体を前記
軸線方向へスライドさせてナイフエツジ用プリズ
ムで二分された反射ビームの光量を相対的に変化
させる構成としたことを特徴としたものである。

作 用 この考案は、上述したような構成としたため、
反射ビームのうちナイフエツジ用プリズムに遮ら
れなかつた部分をナイフエツジ法によるフオーカ
シングエラー検出に利用し、遮られた部分をプツ
シユプル法によるトラツキングエラー検出に利用
するとができる。

また、保持体を円柱部の軸方向へスライドさせ
ることによつてトラツキングエラー検出用のビー
ムのバランスを調整することができると共に、保
持体を円柱部の軸回り方向へ回動させることによ
つてフオーカシングエラー検出用のビームのバラ
ンスを調整することができる。

実施例 以下、この考案を図面に基づいて説明する。第
１図〜第３図はこの考案の一実施例を示したもの
である。図中、従来と同一或いは均等な部位また
は部材には同一符号を付している。

図示されるようにこの光学系は、ビームを光デ
イスクＤに集光させる対物レンズ５０と、光デイ
スクＤで反射されたビームを光検出器２０側に導
くビームスプリツター３１と、反射ビームを集束
させる集光レンズ３０とを有しており、光検出器
２０は対物レンズ５０と光デイスクＤとの距離が
適正なときの反射ビームの集束位置に配置されて
いる。

また、集光レンズ３０と光検出器２０との間に
はウエツジ型のナイフエツジ用プリズム６０が設
けられている。このナイフエツジ用プリズム６０
は、反射ビーム中のトラツク幅方向に相当する方
向に延びる稜線（ここでは入射面６１の下辺と一
致する）を反射ビームに侵入させてその略半分を
遮ると共に、入射面６１から入射する反射ビーム
を稜線方向の中央で二分して出射面６２，６３か
ら出射させる構成とされている。

ナイフエツジ用プリズム６０が組付けられる略
円柱状の保持体８０には、第３図に示したように
一端側に保持体８０の軸線ｋと平行でかつ互いに
直交する二つの平面部８１，８２と保持体８０を
貫通する貫通孔８３とが形成されており、他端側
が円柱部８４とされている。

また、本実施例においては、軸線ｋは反射ビー
ムの光軸と略一致する構成となつており、かつ平
面部８２は軸線ｋを含むような平面の一部であつ
て平面部８１と８２との境界線は保持体８０の軸
線ｋから偏心している。なお、この例では保持体
８０が全体として円柱部８４と同径の円柱とされ
ているため、円柱部８４と保持体８０との軸線は
一致する。

ナイフエツジ用プリズム６０は、入射面６１を
上記の平面部８１に接触させると共に、平面部８
１と８２との境界線に入射面６１の下辺を一致さ
せて組付けられている。

一方、光ピツクアツプ本体１０には断面円形の
支持穴１２が穿設されており、保持体８０はこの
支持穴１２に摺動自在に嵌合している。

そして、光ピツクアツプ本体１０には先端が支
持穴１２内に臨む止めネジ９０が螺合しており、
この止めネジ９０の先端は保持体８０の側壁に当
接して保持体８０を光ピツクアツプ本体１０に対
して固定している。

なお、上記の光検出器２０は、第７図に示した
ように、図中上下に並ぶ２つのフオーカシングエ
ラー検出用受光部２１，２２と、このフオーカシ
ングエラー検出用受光部２１，２２を挟んで両側
に設けられた二つのトラツキングエラー検出用受
光部２３，２４とを有している。

このような構成とすれば、光デイスクＤで反射
して貫通孔８３に入射した反射ビームのうちナイ
フエツジ用プリズムに遮られなかつた部分は第２
図に破線で示したように光検出器２０の中央に設
けられたフオーカシングエラー検出用受光部２
１，２２に向つて集束し、遮られた部分は第２図
に実線で示したようにナイフエツジ用プリズムで
２分割されてそれぞれトラツキングエラー検出用
受光部２３，２４に結像する。

光デイスクＤと対物レンズ５０との距離が適正
なときには、反射ビームはフオーカシングエラー
検出用受光部２１，２２の何れにも入射しせず、
従つて、この状態ではフオーカシングエラー信号
にトラツキングエラー成分が干渉する虞はなく、
正確なフオーカシングエラー検出を行うことがで
きる。

また、このとき光検出器２０のトラツキングエ
ラー検出用受光部２３，２４には第７図に示した
ように扇形の像が結ばれる。トラツキングエラー
検出用受光部２３，２４に結ばれたそれぞれの像
は、光デイスクＤ上のスポツトをトラツク幅方向
の中央で分割した成分に相当しており、これらの
像の光量を検知したトラツキングエラー検出用受
光部２３，２４の出力を引算することによつてプ
ツシユプル法によるトラツキングエラー信号を検
出することができる。

次に、上述したナイフエツジ用プリズムの調整
機構の作用を説明する。

フオーカシングエラー検出用受光部２１，２２
の出力が、光デイスクＤと対物レンズ５０との距
離が適正であつても０とならず、フオーカシング
エラー信号にオフセツトが含まれる場合には、止
めネジ９０を緩め、保持体８０を必要なだけ軸線
ｋ回り方向Ｒに回動させる。ナイフエツジ用プリ
ズム６０は、この軸線ｋに対して偏心して組付け
られているため、保持体８０の回動によつて反射
ビームへの侵入量が変化する。

また、トラツキングエラー検出用受光部２３，
２４の受光量が、光デイスクＤのトラツクとビー
ムのスポツトとが合致しているときにも均等とな
らず、トラツキングエラー信号にオフセツトが含
まれる場合には、止めネジ９０を緩め、保持体８
０を軸線ｋ方向Ｔに必要なだけスライドさせる。
これによつてナイフエツジ用プリズム６０の出射
面６２と６３との境界線が反射ビーム中のトラツ
ク幅方向に相当する方向に変化し、トラツキング
エラー検出用受光部２３と２４との受光量が相対
的に変化する。

調整によつて各エラー信号のオフセツトが除去
された後、止めネジ９０を締め付けて保持体８０
を光ピツクアツプ本体１０に固定する。

このようにして保持体８０を円柱部８１の軸方
向あるいは軸回り方向に摺動させることにより、
ナイフエツジ用プリズム６０を調整前の状態を基
準として連続的に調整することができ、光検出器
２０に集束する反射ビームのバランスを迅速、正
確に調整することができる。

また、保持体２０と光ピツクアツプ本体１０と
を固定しているのは止めネジ９０一本のみである
ため、従来と比較して調整前後の作業も迅速に行
うことができる。

効 果 以上、説明してきたようにこの考案は、ナイフ
エツジ用プリズムが組付けられた保持体と保持体
を支持する光ピツクアツプ本体との何れか一方に
円柱部を設け、他方に支持穴を設けて円柱部を摺
動自在に嵌合させる構成としたため、保持体を円
柱部の軸線回り方向あるいは、軸線方向へ摺動さ
せることによつてナイフエツジ用プリズムを調整
前の状態を基準として連続的に調整することがで
き、光検出器に集束する反射ビーム中のフオーカ
シングエラー成分のバランス、及びトラツキング
エラー成分のバランスを迅速、正確に調整するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案に係るナイフエツジ用プリズ
ムの調整機構の一実施例を示す説明図、第２図は
第１図の矢印Ｐ方向からの矢視図、第３図は第１
図に示した保持体の斜視図、第４図〜第６図は従
来の光学系を示す説明図、第７図は第１図及び第
６図に示した光検出器の平面図、第８図は第６図
に示した保持板の斜視図である。 Ｄ……光デイスク、１０……光ピツクアツプ本
体、１２……支持穴、２０……光検出器、５０…
…対物レンズ、６０……ナイフエツジ用プリズ
ム、８０……保持体、８４……円柱部。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 光デイスクで反射して光検出器に集束する反射
   ビーム中のトラツク幅方向に相当する方向に延び
   るナイフエツジ用プリズムの稜線を前記反射ビー
   ムに侵入させてその略半分を遮ると共に、遮つた
   反射ビームを前記稜線方向の中央で二分して前記
   光検出器に結像させるナイフエツジ用プリズムの
   調整機構であつて、 前記ナイフエツジ用プリズムを組付けた保持体
   と該保持体を支持する光ピツクアツプ本体との何
   れか一方に軸線が前記稜線と平行な円柱部を形成
   し、他方に該円柱部が摺動自在に嵌合する支持穴
   を設け、該支持穴に嵌合された前記保持体を前記
   軸線回り方向へ回動させて前記ナイフエツジ用プ
   リズムの前記反射ビームに対する侵入量を変化さ
   せ、前記保持体を前記軸線方向へスライドさせて
   前記ナイフエツジ用プリズムで二分された反射ビ
   ームの光量を相対的に変化させる構成としたこと
   を特徴とするナイフエツジ用プリズムの調整機
   構。