JPH0433386A - 端面出射型半導体発光素子およびその駆動方法 - Google Patents

端面出射型半導体発光素子およびその駆動方法

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JPH0433386A
JPH0433386A JP13845290A JP13845290A JPH0433386A JP H0433386 A JPH0433386 A JP H0433386A JP 13845290 A JP13845290 A JP 13845290A JP 13845290 A JP13845290 A JP 13845290A JP H0433386 A JPH0433386 A JP H0433386A
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JP
Japan
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light
light emitting
electrodes
electrode
layer
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Application number
JP13845290A
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English (en)
Inventor
Takeshi Takagi
剛 高木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Publication of JPH0433386A publication Critical patent/JPH0433386A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 技術分野 この発明は1チツプ上に発光部と発光部の出力光をモニ
タするための受光部とを設けた端面出射型半導体発光素
子およびその駆動方法に関する。
従来技術とその問題点 1チツプ上に発光部と発光部の出力光をモニタするため
の受光部とを設けた従来の端面出射型半導体発光素子の
一例として、レーザ・ダイオード・チップの両端面間の
中央付近をその表面から活性層を超える深さまでエツチ
ングにより除去し、上記チップにおけるエツチング溝の
一方側部分をレーザ・ダイオードとして使用し、他方側
部分をフォトダイオードとして使用するものが提案され
ている(たとえば、迂回ら「Br2ガスRIEによるI
nGaAsP/InP L D −P D一体化素子」
第34回応用物理学会関係連合講演会予稿集29a−Z
 H−10参照)。
しかしながらこの半導体発光素子ては、レーザ・ダイオ
ードの共振器を構成する2つの端面のうち一方はへき開
面とすることができるが、他方はエツチングにより形成
された溝の壁面であるために へき開面に比べてその共
振器面としての品質が劣り信頼性について問題がある。
またレーザ・ダイオード端面から出射した光は回折によ
り広がるためフォトダイオード部への結合効率はあまり
よくない。さらにフォトダイオード端面で反射する光が
戻り光としてレーザ・ダイオードに入りやすい構造とな
っているために雑音特性が悪いという問題点かある。
発明の概要 発明の目的 この発明は、1チツプ上に発光部と発光部の出力光をモ
ニタするだめの受光部とを設けた端面出射型半導体発光
素子において、へき開面をレーザ共振器面とすることが
可能であるとともに2発光部の出力光の受光部への結合
効率を高め、さらに雑音特性を向上させることができる
ようにすることを目的とする。
発明の構成1作用および効果 この発明は、活性層を有し2両端面がへき開面である端
面出射型半導体発光素子において、一方の表面に相互に
独立した少なくとも2つの第1および第2の電極が形成
され、これらの電極の間の表面部分から活性層を超える
深さまで絶縁部か形成され、他方の表面に共通電極が形
成されていることを特徴とする。
この発明による駆動方法は上記の端面出射型半導体発光
素子において、第1の電極と共通電極との間に駆動電流
を流し、第2の電極と共通電極の間からモニタ電流を取
出すようにするものである。
この発明によると1両端面がへき開により形成された1
チツプ共振器内に発光部に加えて光吸収部(受光部)が
絶縁部を隔てて設けられている。
発光部で発光した光は絶縁部を通ってへき開面である両
端面で反射する。したがって、この発明をレーザとして
用いる場合にはへき開面が共振器面となり、高信頼性を
保つことができる。また1発光部で発光した光は素子内
部の先導波路を通って吸収部に導波されるので発光部と
吸収部との結合効率か高くなる。また、吸収部端面での
反射光が雑音として発光部に戻ることかないので雑音特
性か向上する。
この発明をレーザとして用いた場合に、その活性層を量
子井戸構造とすると、吸収部での吸収を小さく抑えるこ
とかできるためしきい値の上昇を少なくすることも可能
である。
この発明を端面発光ダイオードやスーパー・ルミネッセ
ント・ダイオードに適用すると、吸収部はレーザ発振を
抑制する機能をもつとともに光出力モニタ用として働き
自動パワー制御(APC)駆動か可能となる。すなわち
、後者のAPC駆動は、第1の電極と共通電極との間に
駆動電流を流して発光部を駆動し、第2の電極と共通電
極からフォト・カレントを取出し、この電流出力を発光
部駆動回路にフィードバックして1発光部の発光出力の
安定化を図るものである。
実施例の説明 第1図および第2図はこの発明をリッジ型端面出射半導
体レーザに適用した実施例を示すものである。
n −GaAs基板1上に、  n−A、1)GaAs
クラッド層2.アンドープGRIN −5CH−MQW
 (Graded−Index  Waueguide
  5eparate  Confinement  
Heter。
5tructure Multi−Quantum W
ell)活性層3.p−A j7G a A sクラッ
ト層4およびp −GaAsキャップ層5が積層され、
中央部にリッジ部を残してその両側がI)  ANGa
Asクラッド層4の中途の深さまで除去されている。素
子上面にはリッジ部の上面を除いてSiO□膜6A、6
Bが形成され、この8102膜6A、6Bおよびリッジ
部上面にCr/Au電極7A、7Bが形成されている。
また素子の下面にはAuGeNi / Au電極8がそ
の全面に設けられている。この素子チップの両端面はへ
き開されたものである。
この素子の前半部Aは発光部であり、後半部Bは光吸収
部(受光部)である。たとえば発光部Aの長さが400
μm、吸収部Bの長さか100μmで、吸収部Bの方が
小さい。発光部Aの上面には電極7Aが設けられ、吸収
部Bの上面には電極7Bが設けられている。これらの電
極7Aと7Bは互いに間隔(第2図にCで示す)を離し
て設けられており1両電極7Aと7Bの間が絶縁部9と
なっている。絶縁部9の幅はたとえば10μmである。
このように発光部Aと吸収部Bとの間には絶縁部9が設
けられ、電極7Aと7Bもまた相互に独立であるから、
これらの発光部Aと吸収部Bは電気的に独立に2個のダ
イオードとして動作させることが可能である。
絶縁部9は、Hイオン、  Gaイオンなどを活性層3
より下までイオン注入することにより形成することかで
きる。イオン注入された部分は高抵抗化する。S i 
O2膜および電極を素子上面全面に形成したのち絶縁部
9を形成すべき部分の5in2膜および電極を除去し、
その後イオン注入してもよいし、この逆の工程を採用し
てもよい。または、絶縁部9の表面を序してSiO2膜
6A、6Bおよび電極7A、7Bを選択的に形成しても
よい。5102膜は絶縁部9の上面に存在してもよい。
活性層3は低損失な導波路として知られる量子井戸構造
であり、その詳細が第3図に示されている。活性層3は
複数のGaAs超格子層とAlGaAs超格子層とか交
互に積層されてなり、これらの超格子層と上下のpAf
fGaAsクラッド層4およびn −AN GaAsク
ラッド層2との境界においてはA1組成比が徐々に変化
している。この活性層3を含む素子の結晶成長はM B
 E (Molecular Bea[IEpitax
y )法を用いて行なうことができる。
このような構造の発光素子において1発光部Aと吸収部
Bは電気的には絶縁されているか光学的には絶縁されて
いす1両へき開端面内をキャビティと考えることができ
る。すなわち2発光部Aて発光した光は絶縁部9を通過
する。
この発光素子の電極7Aと8との間に順方向に電流I、
を流すと1発光部Aの光出力Pは第4図に示すような特
性を示し、レーザ発振を起す。これは吸収部Bでの光吸
収に打勝って発振に至るものである。このとき吸収部B
では光の吸収によりフォト・カレントが発生し、第4図
に示すような電流■ か得られる。この電流■。は光出
力Pと阿 リニアな関係をもち、このレーザ・ダイオードをAPC
駆動させるときのモニタ電流として使うことができる。
また電流値も大きくとれるため回路の簡略化も期待でき
る。
レーザ・ダイオードの場合は吸収部Bでの光の吸収をあ
まり大きくすると発振しきい値が上昇しでしまうため吸
収部分でも導波路構造を形成しておくとよい。こうする
ことにより吸収領域面積が小さくなり、その部分をレー
ザ光に対して透明にするのに必要な光子数が少なくてす
み1 しきい値の上昇を抑えることができる。
第5図は他の実施例を示すもので、この発明を端面発光
ダイオードまたはスーパー・ルミネッセント・ダイオー
ドに適用した場合である。
n −GaAs基板11上にn −Al7 GaAsク
ラッド層12、アンドープGRIN −SCH−MQW
活性層13゜p−AJGaAs クラッド層14および
p −GaAsキャップ層I5層形5されている。前半
部の発光部(電流注入部)では、p−GaAsキャップ
層15上に5in2膜16か形成され、その上にCr/
Au電極+7Aか設けられている。S iO2膜16は
中央においてストライプ状に欠除されており、このスト
ライプ状部分においてのみ電極17Aはp −GaAs
キャップ層15と接触している。後半部の吸収部17B
では5in2膜は設けられていすp −GaAsキャッ
プ層15の全面にCr/Au電極17Bが設けられてい
る。素子の下面にはAuGeNi /Au電極18がそ
の全面に設けられている。
ストライプ構造を有する発光部Aと、ストライプ構造を
もたない吸収部Bとの間は電気的に絶縁されている。す
なわち、電極17Aと17Bは相互に間隔(Cて示す)
をあけて設けられ、この間隔Cにおいて絶縁層19か活
性層13の下方まで形成されている。
発光部Aで発生した光は吸収部Bで吸収されフォト・カ
レントを発生する。発光部Aと吸収部Bとは光学的には
つなかっているため光の吸収部への結合効率は高く、大
きなフォト・カレントを得ることができる。また吸収部
Bは導波構造をもたないため発光部Aから導波されてき
た光は吸収部B内で広がり実効的に吸収領域が大きくな
ったこととなり、高出力状態までレーザ発振を抑制する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図はこの発明の実施例を示し、第1図
は斜視図、第2図は断面図である。第3図は活性層の構
造を詳細に示すものであり、第4図は駆動電流と光出力
およびモニタ電流との関係を示すグラフである。第5図
はこの発明の他の実施例を示す斜視図である。 1.11・・・基板。 3.13・・・活性層。 7A、7B、17A。 9、I9・・・絶縁部。 A・・・発光部。 B・・・吸収部。 17B、 8.18・・・電極。 以 上 第2図 第4図 [mA]

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)活性層を有し、両端面がへき開面である端面出射
    型半導体発光素子において、 一方の表面に相互に独立した少なくとも2つの第1およ
    び第2の電極が形成され、これらの電極の間の表面部分
    から活性層を超える深さまで絶縁部が形成され、他方の
    表面に共通電極が形成されていることを特徴とする端面
    出射型半導体発光素子。
  2. (2)第1の電極と共通電極との間に駆動電流を流し、
    第2の電極と共通電極の間からモニタ電流を取出す請求
    項(1)に記載の端面出射型半導体発光素子の駆動方法
JP13845290A 1990-05-30 1990-05-30 端面出射型半導体発光素子およびその駆動方法 Pending JPH0433386A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6078602A (en) * 1996-02-12 2000-06-20 Nec Corporation Separate confinement heterostructured semiconductor laser device having high speed characteristics
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WO2020065744A1 (ja) * 2018-09-26 2020-04-02 三菱電機株式会社 半導体レーザ、半導体レーザアレイおよび半導体レーザの製造方法

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