JPH043219Y2 - - Google Patents

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JPH043219Y2
JPH043219Y2 JP1983047217U JP4721783U JPH043219Y2 JP H043219 Y2 JPH043219 Y2 JP H043219Y2 JP 1983047217 U JP1983047217 U JP 1983047217U JP 4721783 U JP4721783 U JP 4721783U JP H043219 Y2 JPH043219 Y2 JP H043219Y2
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JP
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cross
optical
semi
laser
light source
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JP1983047217U
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JPS59152406U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案はレーザ光のクロスマークを生成するマ
ーカを持つ光学式水準測量装置に関する。
測量、計測の分野では、水準を与えるために通
常接触型の墨出しが行なわれるが、これに代り光
学的水準装置が使用されるようになつてきてい
る。光学的水準装置はいはば無接触型墨出し装置
に相当し簡便に光により水平、垂直方向のマーク
を得るものであり、その簡便さにより直線出し、
位置合せ、レベル合せ、軸合せ、方位決め等多目
的に応用できるため、従来の測量機器に併用され
る標準装置として発展してきている。
従来のこれら一連の光学的水準装置は、得よう
とする光マークが点状、一方向の直線状、直角ク
ロス線状の何れであるかによつて大別され、それ
ぞれ各種の駆動系、光学系を採用して構成されて
いる。一方向直線の場合は、第1図イのように、
光源aからの光ビームbをシリンドリカルレンズ
cを通して、あるいは第1図ロのようにビームb
を回転駆動系に装備した反射鏡dにより反射させ
て1方向直線マークを得ている。実用上は直角交
叉型罫引き作業が圧倒的に多く、直角クロスマー
クが要望されるので、この場合は第2図イのよう
に、ビームbを半透過ミラーeにより2分し1方
はシリンドリカルレンズfを通し他方は直交シリ
ンドリカルレンズg、全反射ミラーhにより分割
投影する直交クロス型水準器、第2図ロのように
ビームbを直交クロススリツトiを通し光源の可
干渉を利用して点線直交クロスマークjを得るよ
うにしたものが開発されている。これらの光学系
では光源はコヒーレントなレーザ光を採用するの
が有利である。
しかしながら、測量装置として満足な計測機能
を発揮させるには、その水準を与える直交クロス
マーク光水準器は次の諸機能を具備することが要
求される。
() 連続的な直線クロスマークであること。
() 光軸原点から直線クロスであること。
() 水平、垂直マークがそれぞれ任意の角
度、回転が可能であること。
() 複数方向の位置標準が同時にとれるこ
と。
前記従来の直角クロスマーク水準器は上記要求
の一部を充足するに過ぎない。
本考案は、この問題に解決を与えるために上記
()〜()の要求性能の全部を具備する光学
的水準器を持つ水準測量装置を創作したものであ
る。すなわち本考案のレーザクロスマーカ付水準
測量装置は、レーザクロスマーカは光源部および
光学部からのレーザビームを光学部において第1
の半透過ミラーにより2分し、その透過ビームと
反射ビームをそれぞれ交差軸線配置のミリンドリ
カルレンズに通して線状のビームとしたのち、第
2の半透過ミラーに45°の入射角度を以て直角2
方向から集中入射して第2半透過ミラーからの透
過ビームと反射ビームとの複合によつてつくり得
られる連続的直線が交差するクロスマークビーム
を光軸原点に合成し、その第1方向のクロスマー
クビームを一方向に向けて投影しその第2方向の
クロスマークビームを他方向に向けて投影可能に
したことを特徴とする。
以下、本考案を第3図、第4図イ,ロおよび第
5図に示す実施例により具体的かつ詳細に説明す
る。
第3図は本考案の水準測量装置の概略を示し、
光学部1、光源部2からなるレーザクロスマーカ
およびレンズ望遠鏡3を三脚4上に装備した三脚
水準器として構成される。
このレーザクロスマーカ1,2は、後述の光学
部1の構成により、第4図イのように光源部2の
光軸原点から連続直線状のクロスマーク5を投射
するようになつており、また第4図ロのように水
平、垂直マークとも例えば角度θで図示のように
任意角度転回可能であるようになつている。
第5図はレーザクロスマーカの上記光学部1の
光学系の構成を示す。レーサ光源6からのレーザ
ビーム7は半透過ミラー8によりビーム9,10
に2分される。ビーム9は垂直方向用シリンドリ
カルレンズ11に入射し垂直軸X方向に広がりを
持つビーム9′となり半透過、半反射ミラー12
に入射する。他方のビーム10は全反射ミラー1
3,14、水平方向用シリンドリカルレンズ15
に入射し水平軸Y方向に拡がりを持つビーム1
0′となり前記の半透過、半反射ミラー12に入
射する。
半透過、半反射ミラー12はそれに一定の相互
関連のもとに入射されたビーム9′,10′の各々
1/2にあたる光出力ビームを、形状変化なしに、
出口窓16,17方向に反射および透過する。従
つて出口窓16,17のある方向にそれぞれ水
平、垂直クロス光ビーム9″,10″が出力される
ことになる。
前記のシリンドリカルレンズ11,15をそれ
ぞれ図中X′方向およびY′方向に転回することに
より、出口窓16からクロスマークビーム投射面
18に点線で示すパターンのように例えば所望角
度θを傾けたクロスマークを得ることができる。
出口窓17に得られるマークパターンは計測ス
ケールと関連させて数値計測、検定用に利用する
ことができる。
以上のように、本考案装置によれば直角を含み
任意所望の角度で交叉する光クロスマークが形成
可能であり、かつ2方向同時に位置標準がとれる
水準器として使用可能であるばかりでなく、連続
した鮮明な光ビームで水準器原点から光軸上のど
の位置でもクロスマークが形成され、広範囲な水
準器性能に適応させることが可能である。以上要
約して本考案装置は水準器としての性能を広範囲
に満足し、小型かつ安価軽量で取扱い易い等の特
長を持つ工業的光学式水準測量装置が得られる等
の効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図イ,ロは1方向直線光マークを得る従来
装置の2例の光学系の構成を示す斜視図、第2図
は同じく他例の光学系および駆動系の構成を示す
斜視図、第2図イは直角クロスマークを得る従来
装置の1例を示す斜視図、第2図ロは同じく他例
の光学系の構成を示す斜視図、第3図は本考案の
1実施例の水準測量装置の外形の概略を示す斜視
図、第4図イはそのレーザクロスマーカからのマ
ークパターンの1例を示す斜視図、第4図ロはそ
の転回したレーザクロスマークのパターンを示す
斜視図、第5図はそのレーザクロスマーカの光学
部の構成を示す斜視図である。 1……光学部、2……光源部、3……レンズ望
遠鏡、4……三脚、5……クロスマーク、6……
レーザ光源、7……レーザビーム、8……半透過
ミラー、9,10,9′,10′,9″,10″……
ビーム、11,15……シリンドリカルレンズ、
12……半透過反射ミラー、13,14……全反
射ミラー、16,17……出口窓、18……クロ
スビーム入射面、X……垂直軸、Y……水平面、
X′,Y′……転回方向、θ……転回角度、a……
光源、b……光ビーム、c,f,g……シリンド
リカル、d……反射鏡、e……半透過ミラー、h
……全反射ミラー、i……直交クロススリツト、
j……点線直交クロスマーク。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. レーザクロスマーカは光源部2および光学部1
    からなり、光源部からのレーザビーム7を光学部
    において第1の半透過ミラー8により2分し、そ
    の透過ビーム9と反射ビーム10をそれぞれ交差
    軸線配置のシリンドリカルレンズ11と15に通
    して線状のビームとしたのち、第2の半透過ミラ
    ー12に45°の入射角度を以て直角2方向から集
    中入射して第2半透過ミラーからの透過ビームと
    反射ビームとの複合によつてつくり得られる連続
    的直線が交差するクロスマークビームを光軸原点
    に合成し、その第1方向のクロスマークビームを
    一方向に向けて投影し、その第2方向のクロスマ
    ークビームを他方向に向けて投影可能にしたこと
    を特徴とするレーザクロスマーカ付水準測量装
    置。
JP4721783U 1983-03-30 1983-03-30 レ−ザクロスマ−カ付水準測量装置 Granted JPS59152406U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4721783U JPS59152406U (ja) 1983-03-30 1983-03-30 レ−ザクロスマ−カ付水準測量装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4721783U JPS59152406U (ja) 1983-03-30 1983-03-30 レ−ザクロスマ−カ付水準測量装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59152406U JPS59152406U (ja) 1984-10-12
JPH043219Y2 true JPH043219Y2 (ja) 1992-02-03

Family

ID=30177767

Family Applications (1)

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JP4721783U Granted JPS59152406U (ja) 1983-03-30 1983-03-30 レ−ザクロスマ−カ付水準測量装置

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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0434414Y2 (ja) * 1987-12-04 1992-08-17

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS563603U (ja) * 1979-06-21 1981-01-13

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50110257U (ja) * 1974-02-18 1975-09-09

Patent Citations (1)

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JPS563603U (ja) * 1979-06-21 1981-01-13

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JPS59152406U (ja) 1984-10-12

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