JPH04312907A - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents
積層セラミックコンデンサInfo
- Publication number
- JPH04312907A JPH04312907A JP996191A JP996191A JPH04312907A JP H04312907 A JPH04312907 A JP H04312907A JP 996191 A JP996191 A JP 996191A JP 996191 A JP996191 A JP 996191A JP H04312907 A JPH04312907 A JP H04312907A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- electrode
- electrodes
- base metal
- external
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 23
- 239000010953 base metal Substances 0.000 claims abstract description 29
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 12
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 10
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical group [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 6
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 10
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 8
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 6
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 5
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 239000011133 lead Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000001351 cycling effect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 description 1
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N palladium silver Chemical compound [Pd].[Ag] SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 platinum group metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電極材料に改良を施し
た積層セラミックコンデンサに関するものである。
た積層セラミックコンデンサに関するものである。
【0002】
【従来の技術】この種の積層セラミックコンデンサは、
平板状をなす複数の内部電極をセラミックを介して積層
して形成された積層チップと、該積層チップの対向壁に
付設された一対の外部電極とから構成されている。チッ
プ内の内部電極は交互に逆方向の外部電極に接続されて
おり、内部電極間で得られた所定の静電容量を外部電極
から取り出せるようになっている。
平板状をなす複数の内部電極をセラミックを介して積層
して形成された積層チップと、該積層チップの対向壁に
付設された一対の外部電極とから構成されている。チッ
プ内の内部電極は交互に逆方向の外部電極に接続されて
おり、内部電極間で得られた所定の静電容量を外部電極
から取り出せるようになっている。
【0003】上記の内部電極及び外部電極は、耐熱性及
び耐食性の関係から一般に銀や銀−パラジウム等の銀合
金から形成されている。しかし、これら金属は電極とし
て優れた特性を有する反面、材料価格が高く、このため
コンデンサ自体のコストが高価になる欠点があり、とり
わけ全体コストの30〜40%が内部電極に依存してい
る。
び耐食性の関係から一般に銀や銀−パラジウム等の銀合
金から形成されている。しかし、これら金属は電極とし
て優れた特性を有する反面、材料価格が高く、このため
コンデンサ自体のコストが高価になる欠点があり、とり
わけ全体コストの30〜40%が内部電極に依存してい
る。
【0004】積層セラミックコンデンサに係わる価格的
な問題を解消するため、内部電極を安価な卑金属から形
成する試みもなされている。しかし、内部電極をニッケ
ル等の卑金属で形成した場合では、外部電極に銀または
銀合金を用いると両電極の馴染みが悪く、両電極に導通
不良を生じ易くなる欠点がある。
な問題を解消するため、内部電極を安価な卑金属から形
成する試みもなされている。しかし、内部電極をニッケ
ル等の卑金属で形成した場合では、外部電極に銀または
銀合金を用いると両電極の馴染みが悪く、両電極に導通
不良を生じ易くなる欠点がある。
【0005】電極相互の馴染みの問題を解消するものと
して、内部電極を卑金属から形成する一方、外部電極を
、内部電極と同一または合金化した金属で形成され、且
つ内部電極に接続される第1層と、銀または銀合金で形
成され、且つ該第1層の外面に付設される第2層とから
構成したものも提案されている(特開昭59−1632
3号公報参照)。つまり、この積層セラミックコンデン
サでは、内部電極に接続される外部電極部分を内部電極
と同一系の金属から形成することで、両電極の馴染みを
向上させ導通の改善を図っている。
して、内部電極を卑金属から形成する一方、外部電極を
、内部電極と同一または合金化した金属で形成され、且
つ内部電極に接続される第1層と、銀または銀合金で形
成され、且つ該第1層の外面に付設される第2層とから
構成したものも提案されている(特開昭59−1632
3号公報参照)。つまり、この積層セラミックコンデン
サでは、内部電極に接続される外部電極部分を内部電極
と同一系の金属から形成することで、両電極の馴染みを
向上させ導通の改善を図っている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
積層セラミックコンデンサでは、内部電極と外部電極の
第1層との馴染みを向上できる反面、卑金属から成る第
1層と、銀または銀合金から成る第2層との馴染みが悪
いために、外部電極を構成する両層の境界部分に導通不
良を生じ、tanδが劣化したり、温度サイクルにより
静電容量抜けが発生する欠点がある。
積層セラミックコンデンサでは、内部電極と外部電極の
第1層との馴染みを向上できる反面、卑金属から成る第
1層と、銀または銀合金から成る第2層との馴染みが悪
いために、外部電極を構成する両層の境界部分に導通不
良を生じ、tanδが劣化したり、温度サイクルにより
静電容量抜けが発生する欠点がある。
【0007】本発明は上記問題点に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、コンデンサ自体を安価に
形成できることは勿論のこと、外部電極の引張り強度を
維持しつつ、外部電極と内部電極の相互並びに外部電極
を構成する第1層と第2層との間に高い導通性を確保で
き、静電容量やtanδ等の特性が劣化しない積層セラ
ミックコンデンサを提供することにある。
で、その目的とするところは、コンデンサ自体を安価に
形成できることは勿論のこと、外部電極の引張り強度を
維持しつつ、外部電極と内部電極の相互並びに外部電極
を構成する第1層と第2層との間に高い導通性を確保で
き、静電容量やtanδ等の特性が劣化しない積層セラ
ミックコンデンサを提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
、本発明では、セラミックを介して積層された複数の内
部電極と、内部電極と所定の接続関係をもって導通する
一対の外部電極とを具備した積層セラミックコンデンサ
において、上記内部電極を卑金属または卑金属の合金か
ら形成すると共に、上記外部電極を、白金族の金属から
成り内部電極に接続される第1層と、卑金属または卑金
属の合金から成り第1層の外面に付設された第2層とか
ら形成している。
、本発明では、セラミックを介して積層された複数の内
部電極と、内部電極と所定の接続関係をもって導通する
一対の外部電極とを具備した積層セラミックコンデンサ
において、上記内部電極を卑金属または卑金属の合金か
ら形成すると共に、上記外部電極を、白金族の金属から
成り内部電極に接続される第1層と、卑金属または卑金
属の合金から成り第1層の外面に付設された第2層とか
ら形成している。
【0009】
【作用】本発明に係る積層セラミックコンデンサでは、
外部電極の第1層が、内部電極を形成する卑金属または
卑金属の合金と馴染みのよい白金族の金属から形成され
ているので、両者の境界部分に高い導通性を確保できる
。また、外部電極の第2層が、第1層を形成する白金族
の金属と馴染みのよい卑金属または卑金属の合金から形
成されているので、両者の境界部分に高い導通性を確保
できる。
外部電極の第1層が、内部電極を形成する卑金属または
卑金属の合金と馴染みのよい白金族の金属から形成され
ているので、両者の境界部分に高い導通性を確保できる
。また、外部電極の第2層が、第1層を形成する白金族
の金属と馴染みのよい卑金属または卑金属の合金から形
成されているので、両者の境界部分に高い導通性を確保
できる。
【0010】
【実施例】図1は本発明を適用した積層セラミックコン
デンサの断面図である。
デンサの断面図である。
【0011】この積層セラミックコンデンサは、平板状
をなす複数(図中は5枚)の内部電極1をセラミック2
を介して積層して形成された角形の積層チップ3と、該
積層チップ3の内部電極方向の対向壁に付設された一対
の外部電極4とから構成されている。
をなす複数(図中は5枚)の内部電極1をセラミック2
を介して積層して形成された角形の積層チップ3と、該
積層チップ3の内部電極方向の対向壁に付設された一対
の外部電極4とから構成されている。
【0012】上記内部電極1は間隔をおいて交互に位置
をずらせて平行に配置されており、その内の3枚の端縁
を図中右側の対向壁から露出し、また2枚の端縁を図中
左側の対向壁から露出している。
をずらせて平行に配置されており、その内の3枚の端縁
を図中右側の対向壁から露出し、また2枚の端縁を図中
左側の対向壁から露出している。
【0013】この内部電極1は、ニッケル,銅,鉛,亜
鉛,鉄,錫,アルミニウム,コバルト,クロム等の卑金
属から選択される1種またはその合金から成り、好まし
くはニッケル,銅,鉛及びこれらの合金が使用される。
鉛,鉄,錫,アルミニウム,コバルト,クロム等の卑金
属から選択される1種またはその合金から成り、好まし
くはニッケル,銅,鉛及びこれらの合金が使用される。
【0014】上記各外部電極4は、積層チップ3の壁面
にその周縁に及んで付設された第1層4aと、該第1層
4aの外面を覆うようにして付設された第2層4bとか
ら構成されている。各外部電極4の第1層4aは夫々の
対向壁から露出する内部電極1の端縁に接合している。
にその周縁に及んで付設された第1層4aと、該第1層
4aの外面を覆うようにして付設された第2層4bとか
ら構成されている。各外部電極4の第1層4aは夫々の
対向壁から露出する内部電極1の端縁に接合している。
【0015】この外部電極4の第1層4aは、パラジウ
ム,白金,ロジウム,イリジウム,オスミウム,ルテニ
ウム等の白金族の金属から選択される1種から成り、好
ましくはパラジウム,白金が使用される。
ム,白金,ロジウム,イリジウム,オスミウム,ルテニ
ウム等の白金族の金属から選択される1種から成り、好
ましくはパラジウム,白金が使用される。
【0016】また、外部電極4の第2層4bは、内部電
極1と同様に卑金属または卑金属の合金から選択される
が、必ずしも内部電極1と同一金属である必要はない。
極1と同様に卑金属または卑金属の合金から選択される
が、必ずしも内部電極1と同一金属である必要はない。
【0017】以下に、本発明に係る積層セラミックコン
デンサの好適な具体例をその製造方法を交えて説明する
。
デンサの好適な具体例をその製造方法を交えて説明する
。
【0018】まず、非還元性のセラミック組成物から成
る厚さ10〜60μmのセラミックシ−トの一面に、内
部電極となるニッケル粉末のペ−ストを数μmの厚みで
、しかも多数の長方形が規則的に並ぶようにして印刷す
る。
る厚さ10〜60μmのセラミックシ−トの一面に、内
部電極となるニッケル粉末のペ−ストを数μmの厚みで
、しかも多数の長方形が規則的に並ぶようにして印刷す
る。
【0019】次に、印刷後のセラミックシ−トを1枚宛
平面方向に位置をずらして20〜100枚積層し、これ
を積層方向に所定の大きさで切断してチップ材を形成す
る。切断されたチップ材の対向壁には内部電極となるニ
ッケル層が露出する。
平面方向に位置をずらして20〜100枚積層し、これ
を積層方向に所定の大きさで切断してチップ材を形成す
る。切断されたチップ材の対向壁には内部電極となるニ
ッケル層が露出する。
【0020】次に、このチップ材のニッケル層が露出す
る対向壁夫々に、外部電極の第1層となるパラジウム粉
末のペ−ストを数μm〜数十μmの厚みをもって塗布す
る。次に、ペ−スト塗布後のチップ材を中性または還元
性雰囲気中で1300℃程度の温度で焼成する。この焼
成によってセラミック焼成体が得られると同時に、内部
電極と外部電極第1層のペ−ストの焼付けが行なわれる
。
る対向壁夫々に、外部電極の第1層となるパラジウム粉
末のペ−ストを数μm〜数十μmの厚みをもって塗布す
る。次に、ペ−スト塗布後のチップ材を中性または還元
性雰囲気中で1300℃程度の温度で焼成する。この焼
成によってセラミック焼成体が得られると同時に、内部
電極と外部電極第1層のペ−ストの焼付けが行なわれる
。
【0021】次に、外部電極の第1層の外面に外部電極
の第2層となる銅粉末のペ−ストを第1層と同程度の厚
みをもって塗布する。
の第2層となる銅粉末のペ−ストを第1層と同程度の厚
みをもって塗布する。
【0022】次に、ペ−スト塗布後のチップ材を中性ま
たは還元性雰囲気中で800℃程度の温度で焼成する。 この焼成によって外部電極第2層のペ−ストの焼付けが
行なわれる。
たは還元性雰囲気中で800℃程度の温度で焼成する。 この焼成によって外部電極第2層のペ−ストの焼付けが
行なわれる。
【0023】以上で、内部電極1がニッケルから成り、
また外部電極4の第1層4aがパラジウムで第2層4b
が銅から成る、図1に示すような積層セラミックコンデ
ンサが製造される。
また外部電極4の第1層4aがパラジウムで第2層4b
が銅から成る、図1に示すような積層セラミックコンデ
ンサが製造される。
【0024】上記の積層セラミックコンデンサでは、外
部電極4の第1層4aが、内部電極1を形成するニッケ
ルと馴染みのよいパラジウムから形成されているので、
両者の境界部分に高い導通性を確保できる。また、外部
電極4の第2層4bが、第1層4aを形成するパラジウ
ムと馴染みのよい銅から形成されているので、両者の境
界部分に高い導通性を確保できる。
部電極4の第1層4aが、内部電極1を形成するニッケ
ルと馴染みのよいパラジウムから形成されているので、
両者の境界部分に高い導通性を確保できる。また、外部
電極4の第2層4bが、第1層4aを形成するパラジウ
ムと馴染みのよい銅から形成されているので、両者の境
界部分に高い導通性を確保できる。
【0025】因みに、先に述べた方法に従って、内部電
極がニッケルで外部電極の第1層がパラジウムで第2層
が銅から成り、長さ,幅及び高さが3.2mm,1.6
mm,1.25mmで設計容量が1.0μFのF特性積
層セラミックコンデンサ(発明品)と、内部電極及び外
部電極の第1層がニッケルで第2層が銀から成り、同寸
法で同容量のF特性積層セラミックコンデンサ(従来品
)とを夫々100個宛製造し、製品中で容量が0.9μ
F以下のものとtanδが5%以上のものの個数を調べ
ると共に、各々の製品にJIS C5102で定めら
れる温度サイクル試験を行なってから同個数を調べたと
ころ、発明品では温度サイクル試験の前後で不良品の発
生が全く見られなかったのに対し、従来品では温度サイ
クル試験後に容量0.9μF以下のものが3個、tan
δ5%以上のものが8個現われた。
極がニッケルで外部電極の第1層がパラジウムで第2層
が銅から成り、長さ,幅及び高さが3.2mm,1.6
mm,1.25mmで設計容量が1.0μFのF特性積
層セラミックコンデンサ(発明品)と、内部電極及び外
部電極の第1層がニッケルで第2層が銀から成り、同寸
法で同容量のF特性積層セラミックコンデンサ(従来品
)とを夫々100個宛製造し、製品中で容量が0.9μ
F以下のものとtanδが5%以上のものの個数を調べ
ると共に、各々の製品にJIS C5102で定めら
れる温度サイクル試験を行なってから同個数を調べたと
ころ、発明品では温度サイクル試験の前後で不良品の発
生が全く見られなかったのに対し、従来品では温度サイ
クル試験後に容量0.9μF以下のものが3個、tan
δ5%以上のものが8個現われた。
【0026】尚、内部電極としてニッケル以外の卑金属
または卑金属の合金を用いる場合や、外部電極の第1層
としてパラジウム以外の白金族の金属を用いる場合や、
外部電極の第2層として銅以外の卑金属または卑金属の
合金を用いる場合も上記と同様の製造方法で積層セラミ
ックコンデンサを得ることができ、しかも同様の効果を
得ることができる。
または卑金属の合金を用いる場合や、外部電極の第1層
としてパラジウム以外の白金族の金属を用いる場合や、
外部電極の第2層として銅以外の卑金属または卑金属の
合金を用いる場合も上記と同様の製造方法で積層セラミ
ックコンデンサを得ることができ、しかも同様の効果を
得ることができる。
【0027】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、内
部電極に材料価格の低い卑金属または卑金属の合金を用
いているのでコンデンサ自体を安価に形成できることに
加え、外部電極と内部電極の相互並びに外部電極を構成
する第1層と第2層との間に高い導通性を確保できる。
部電極に材料価格の低い卑金属または卑金属の合金を用
いているのでコンデンサ自体を安価に形成できることに
加え、外部電極と内部電極の相互並びに外部電極を構成
する第1層と第2層との間に高い導通性を確保できる。
【図1】本発明を適用した積層セラミックコンデンサの
断面図
断面図
1…内部電極、2…セラミック、3…積層チップ、4…
外部電極、4a…第1層、4b…第2層。
外部電極、4a…第1層、4b…第2層。
Claims (1)
- 【請求項1】セラミックを介して積層された複数の内部
電極と、内部電極と所定の接続関係をもって導通する一
対の外部電極とを具備した積層セラミックコンデンサに
おいて、上記内部電極を卑金属または卑金属の合金から
形成すると共に、上記外部電極を、白金族の金属から成
り内部電極に接続される第1層と、卑金属または卑金属
の合金から成り第1層の外面に付設された第2層とから
形成した、ことを特徴とする積層セラミックコンデンサ
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3009961A JP2680480B2 (ja) | 1991-01-30 | 1991-01-30 | 積層セラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3009961A JP2680480B2 (ja) | 1991-01-30 | 1991-01-30 | 積層セラミックコンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04312907A true JPH04312907A (ja) | 1992-11-04 |
JP2680480B2 JP2680480B2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=11734540
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3009961A Expired - Lifetime JP2680480B2 (ja) | 1991-01-30 | 1991-01-30 | 積層セラミックコンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2680480B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5488725B2 (ja) * | 2011-02-14 | 2014-05-14 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサの製造方法 |
US10726994B2 (en) | 2016-06-06 | 2020-07-28 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Multilayer ceramic capacitor |
US20220157523A1 (en) * | 2020-11-16 | 2022-05-19 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Electronic component and method of manufacturing the same |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02206108A (ja) * | 1989-02-06 | 1990-08-15 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミックコンデンサ |
-
1991
- 1991-01-30 JP JP3009961A patent/JP2680480B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02206108A (ja) * | 1989-02-06 | 1990-08-15 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミックコンデンサ |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5488725B2 (ja) * | 2011-02-14 | 2014-05-14 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサの製造方法 |
US10726994B2 (en) | 2016-06-06 | 2020-07-28 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Multilayer ceramic capacitor |
US20220157523A1 (en) * | 2020-11-16 | 2022-05-19 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Electronic component and method of manufacturing the same |
US11631536B2 (en) * | 2020-11-16 | 2023-04-18 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Electronic component |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2680480B2 (ja) | 1997-11-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI486983B (zh) | 低背型積層陶瓷電容器 | |
US6829134B2 (en) | Laminated ceramic electronic component and method for manufacturing the same | |
CN101473390B (zh) | 薄膜电容器 | |
US11784007B2 (en) | Capacitor component including reinforcing pattern in a margin/cover portion | |
CN107045938A (zh) | 电子部件 | |
US6588094B2 (en) | Method of producing thermistor chips | |
JPH04312908A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP4618362B2 (ja) | 積層コンデンサの製造方法 | |
JPH10312933A (ja) | 積層セラミック電子部品 | |
JPH04312907A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP4302054B2 (ja) | Ptc構成素子及びその製造方法 | |
JPH04312906A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JPH04312904A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JPH04312905A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JPH03208323A (ja) | 積層コンデンサ | |
JP3604040B2 (ja) | セラミック積層電子部品及びその製造方法 | |
JPH04268710A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JPH08115844A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JPH0338812A (ja) | 積層コンデンサ | |
JP3708796B2 (ja) | 厚膜抵抗器 | |
JP3823512B2 (ja) | サーミスタ素子 | |
JP3772467B2 (ja) | チップ型サーミスタ | |
JP2024052512A (ja) | 積層型キャパシタ | |
JP2023092470A (ja) | 積層型電子部品 | |
JPS6311702Y2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19960220 |