JPH04308090A - 気相化学反応生成装置のロードロック機構 - Google Patents

気相化学反応生成装置のロードロック機構

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JPH04308090A
JPH04308090A JP3072766A JP7276691A JPH04308090A JP H04308090 A JPH04308090 A JP H04308090A JP 3072766 A JP3072766 A JP 3072766A JP 7276691 A JP7276691 A JP 7276691A JP H04308090 A JPH04308090 A JP H04308090A
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reaction generation
front chamber
reaction
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Masao Sugino
杉野 将雄
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M B K MAIKUROTETSUKU KK
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
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    • H01L21/67757Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber vertical transfer of a batch of workpieces
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/54Apparatus specially adapted for continuous coating

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、気相化学反応生成(C
VD:CHEMICALVAPOR  DEPOSIT
ION)装置に関し、さらに詳しくは、かかる装置にお
ける反応生成室内を気密状態に保持するための気甲機構
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】気相化学反応生成装置としては、縦形低
圧気相化学反応生成(LPCVD)装置が知られている
。この装置は半導体の製造プロセスに於いて、現在、最
も重要な技術の一つとなっている。図7には、この装置
の代表的な構造例を示してある。この図に示すように、
反応室2Aは、外周ヒーター1により囲まれた石英管2
の内部空間として形成されており、石英管2は、真空シ
ール用のOリング5Aを介して、ステンレス製のマニホ
ールド6により支持させている。マニホールド6は、シ
ール5Bを介してステンレス製の支持プレート9に固定
されている。半導体基板3は石英キャリア4に装填され
、石英キャリア4はステンレス製のシールプレート10
により支持されている。シールプレート10には、上下
動支持部11が直結しており、上下動機構11′により
、このプレート10は上下運動する。シールプレート1
0が上端に移動したときには、シール5Cにより、支持
プレート19との間で真空シールが形成される。石英管
2、マニホールド6およびシールプレート10によって
区画形成される真空室内は、真空排気口7から真空排気
系7′により真空排気させる。通常、反応生成プロセス
中において真空室内の圧力が0.5Torr程度に保た
れる真空室内には、ガス導入口8を介して反応ガスが導
入される。この反応ガス雰囲気中で、基板3は外周ヒー
ター1によって加熱され、これにより熱化学反応が生じ
、基板3の表面上に各種の薄膜が生成される。
【0003】また、従来においては、石英管を二重にし
た二重管方式の構造も知られているが、本質的には、反
応生成に関しては、図7に示す一重管タイプと同一であ
るので、ここでは言及しない。
【0004】このような構造の縦形LPCVD装置にお
いては、反応室内にシリコン基板等を装填した石英キャ
リアを挿入する際、あるいはプロセス処理終了後に反応
室内から石英キャリアを取り出す際に、反応室内が一旦
大気圧に戻され、しかる後に、石英キャリアの挿入、取
り出しが行われる。このために、かかる操作の際、高温
状態の基板が大気(空気)に直接さらされ、かつ反応室
内部にも空気が混入してしまう。この結果、以下のよう
な問題点が生ずる。
【0005】すなわち、基板を取り出す際に、高温に加
熱された基板等の表面が空気中の酸素および水分によっ
て酸化されてしまう。また、反応室内の石英管内壁に付
着している反応生成物が同様に酸化して、パーティクル
発生の原因となる。更には基板、石英キャリアを反応室
内に収容した際にも反応室内の残留空気により、基板表
面がプロセス処理前に酸化してしまう。
【0006】これらの問題点を解決するために、反応室
の他に前室を有する2室方式のロードロック機構が提案
されている。その代表的な構造例を図8に示してある。 図に示すように、石英管2″に囲まれた反応室2′の形
状は、上述した図7の例と同様である。しかし、本例で
は、マニホールド6″の直下に、ゲートバルブ22が設
けられており、このゲートバルブ22の下方には、真空
シール23を介して前室用真空室24が設置されている
。真空室24の内部は前室24′となっており、この前
室24′は、真空排気口25から真空排気系25′によ
り真空排気される。この例では、反応室2′と前室24
′とは、ゲートバルブ22により遮断できる構造となっ
ている。基板の挿入、取り出しは、上下動機構26によ
り、石英キャリア4″を降下させて、図において破線で
示す下方位置27迄移動させ、次にゲートバルブ22を
閉じて反応室を密閉し、しかる後に、前室24′を一旦
大気圧に戻して、前室ドア28を開いてから行われる。
【0007】一方、基板を装着した石英キャリア4″を
反応室2′に収容する動作は、前室ドア28を閉じて、
前室24′を真空排気し、前室24′内が充分な真空圧
力に達した後に、ゲートバルブ22を開き、上下動機構
26によりシールプレート10″を上昇させるという手
順で行われる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな2室方式のロードロック機構においても次のような
問題点が依然として残っている。
【0009】まず、基板の装着、取り出しの際には、前
室内を一旦大気圧に戻さなければならない。このため、
基板装着後に、再度真空引きしても、前室内に空気が或
る程度残留してしまうことは避けられない。即ち、例え
ば空気の平均分子存在数が2.68×1019個/cm
3 とした場合には、10−6程度の高真空状態に到達
したとしても、尚1010個/cm3 程度の空気分子
が、この前室内に残留することになる。よってこの残留
空気による基板表面などの酸化は避けられない。
【0010】次に、上下動機構部が前室の内部に設置さ
れているので、機械的駆動部から金属汚染物質、パーテ
ィクル等が発生し、これらが基板表面に付着してしまう
【0011】本発明の課題は、このような従来の問題点
に着目し、空気の混入および残留を極力回避でき、また
機械的駆動部による汚染やパーティクルの発生も極力回
避できる気相化学反応生成装置のロードロック機構を実
現することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記の課題を達成するた
めに、本発明の気相化学反応生成装置においては、基板
の装着および取り出しを行うための前室と、基板表面に
化学反応生成プロセスにより薄膜を形成するための反応
生成室との間に、中間室を形成した3室構成を採用して
、この中間室を、前室が基板の装着および取り出しのた
めの大気開放された場合においても、反応生成室は大気
側とは完全に分離した気密状態にするためのバッファ室
として機能させるようにしている。
【0013】また、本発明においては、前室および反応
生成室の間で基板を搬送せさる搬送手段を構成する部材
を極力中間室の外部に配置する構成を採用し、これによ
って、このような搬送手段を構成する各部材から発生す
るパーティクルなどが基板表面に付着することを回避す
るようにしている。
【0014】すなわち、本発明における気相化学反応生
成装置のロードロック機構は、基板を出し入れするため
の開閉部を備え、この開閉部を閉鎖した場合には実質的
な気密状態となる前室と、前記基板の表面上に薄膜を形
成するための実質的に気密状態の反応生成室と、前記前
室および反応生成室のそれぞれ連通した前室側連通口お
よび反応生成室側連通口および、これらの連通口を密閉
する密閉手段を備えた実質的に気密状態の中間室と、前
記開閉部を介して前記前室内に入れられた前記基板を前
記中間室を通って前記反応生成室内に搬送すると共に、
この反応生成室内で処理された後の前記基板を前記中間
室を通って前記前室内に戻す基板搬送手段とを有するこ
とを特徴としている。
【0015】また、本発明において上記の基板搬送手段
は、前記基板を装着する基板装着部と、この基板装着部
を前記前室側連通口を通して前記前室および前記中間室
との間を往復動させる第1の駆動部と、この第1の駆動
部によって前記前室側連通口から前記中間室内に移動さ
れた前記基板装着部を前記反応生成室側連通口を通して
、前記中間室および前記反応生成室との間を往復動させ
る第2の駆動部とを有している。
【0016】この第1の駆動部を構成する駆動源は前記
前室の外部に配置され、この駆動源からの駆動力を前記
基板装着部に伝達する伝達部材は、前記前室を形成する
外壁に形成した貫通穴を通って、前記前室内に延びてい
る。さらには、この貫通穴と前記前室の内部との間は、
前記伝達部材の外周に配置された回転磁気シール・ユニ
ットによって実質的に気密状態となるように区画されて
いる。
【0017】又、上記第2の駆動部を構成する駆動源は
前記中間室の外部に配置され、この駆動源からの駆動力
を前記基板装着部に伝達する伝達部材は、前記中間室を
形成する外壁に形成した貫通穴を通って前記中間室内に
延びている。さらには、この貫通穴と前記中間室の内部
との間は、前記伝達部材の外周に配置され、この伝達部
材の移動方向に向けて伸縮自在となったベローズと、こ
のベローズと前記伝達部材との間に配置したシール手段
とによって実質的に気密状態となるように区画されてい
る。
【0018】
【実施例】以下に図面を参照して本発明の実施例を説明
する。
【0019】第1図乃至第3図には本例のCVD装置を
示してある。
【0020】(構成の説明)これらの図に示すように、
装置31は、ステンレススティールからなる箱形をした
中間室32と、この中間室32の上壁32a上に垂直方
向に配置された反応生成室33と、中間室32に対して
水平方向に配置された前室34とを有している。中間室
32と前室34とは、前室側連通口34aの密閉手段で
あるゲート・バルブ51を介して接続されている。
【0021】前室34は、全体として箱形形状をしてお
り、その中間室側の側壁には、矩形の開口が形成され、
この開口が中間室32に連通する前室側連通口34aと
されている。上述したように、ここにはゲート・バルブ
51が介在しており、ゲート・バルブ51を閉じると、
この連通口34aは気密シールされた状態になる。図1
から分かるように、前室34の側壁には、基板37の出
し入れを行うための開口34bが開いており、この開口
34bには、開閉ドア34cが取り付けられている。ま
た、前室34の更に別の側壁部分には、前室34内を真
空状態にするための真空排気ポート34dが形成されて
おり、このポートは真空排気系39の側に連通している
【0022】一方、前室34の内部には、第1の駆動部
35が配置されている。この第1の駆動部35は、基板
37および基板装着部38を、前室側連通口34aおよ
びゲート・バルブ51を介して、前室34および中間室
32の間を往復動させるためのものである。この第1の
駆動部を駆動する駆動源36は、前室34の直下に配置
されている。駆動源36からの駆動力を伝達する伝達部
材は、前室34の底壁に形成された貫通穴を通って、第
1の駆動部35に連結されている。この貫通穴と伝達部
材との間には回転磁気シールユニットが配置され、前室
34内部の気密性が保持されている。
【0023】なお、第1の駆動部35は、市販されてい
る真空搬送ロボットを用いることができるので、本明細
書においてはその詳細な説明を省略する。また、反応生
成室33の構成は、基本的には従来のものと同様である
ので、本明細書においては、その詳細な説明を省略する
【0024】反応生成室33の下端開口は、中間室の上
壁32aにおける前方側に開けた開口に対して気密状態
で連通しており、この部分が反応生成室33と中間室3
2とを連通する反応生成室側連通口40とされている。 反応生成室33の外周側壁には、図2から分かるように
、真空排気ポート33aが形成されており、この真空排
気ポート33aは真空排気系41に連通している。
【0025】中間室32は、その側壁の途中位置に真空
排気ポート32bを有し、このポートに真空排気系42
に連通している。この中間室32の上壁32aの後方側
にはほぼ垂直に起立した円筒突出部32cが形成されて
いる。この円筒突出部32cには、その中央部を貫通し
てリフト・シャフト43が上下方向に延びている。リフ
ト・シャフト43の下端は中間室32内に配置した水平
支持ビーム44の上面後方側に固定されている。この支
持ビーム44の上面前方側には、上記の反応生成室側連
通口40と同心状態になる位置に、円盤形のシール・プ
レート45が固定されている。このシール・プレート4
5の上部には、垂直支持ロッド46が固定されている。 支持ロッド46の上端には多数枚の基板37を搭載可能
な基板装着部38を装填できるようになっている。
【0026】一方、中間室32の上壁32aに形成した
反応室側連通口40の周縁部分の直下には、石英製反応
管62を支持したガス・リング47が配置されている。 このガス・リング47を介して、反応管62内に反応ガ
ス61が導入される。このガス・リング48と中間室上
壁32aとの間はOリング48によって気密状態とされ
ている。また、このガス・リング48の中間室側の面に
は、同心状態にOリング48が取り付けられている。図
2において実線で示すように、シール・プレート45が
その上端位置にある時には、このシール・プレート45
とガス・リング47との間の気密性がこのOリング49
によって得られる。
【0027】次に、上記のリフト・シャフト43の外周
には、このシャフトの軸線方向に伸縮可能なステンレス
スティール製の筒状ベローズ63が配置されている。こ
のペローズ63の上端は、円筒突出部32cの上端に密
着固定され、その下端は、水平支持ビーム44に密着固
定されている。さらに、リフト・シャフト43の上端は
、これに直交した水平サポート・プレート64の一端に
固定され、このサポート・プレート64の他端は、上下
動駆動系65に固定されている。
【0028】本構成のCVD装置においては、ゲート・
バルブ51を開閉することにより、前室34と中間室3
2との間を連通および遮断することができる。また、中
間室32と反応生成室33との間を遮断するには、第2
の駆動部を構成する上下動駆動系65により、リフト・
シャフト43をその上端位置まで上昇させ、シール・プ
レート45をOリング49を介してガス・リング47に
密着させれば良い。
【0029】(動作の説明)本例のCVD装置の動作手
順は次のようになる。
【0030】(1)先ず、中間室32および反応生成室
33の内部を、両方共、高真空状態にしておく。
【0031】(2)前室34のドア34cを開けて、基
板37を基板装着部38に装着する。
【0032】この後、ドア34cを再び閉じて、前室3
4内部の真空引きを開始する。
【0033】(3)前室34内部が一定の真空度に到達
した後は、ゲート・バルブ51を開いて、第1の駆動部
35により基板37が搭載された基板装着部38を、中
間室32内部に搬入する。
【0034】(4)第2の駆動部(65)により、基板
装着部38の受け渡し位置にまで、シール・プレート4
5を降下させる。すなわち、図2において想像線で示す
下端位置までシール・プレート45を降下させる。シー
ル・プレートを受け渡し位置に設定した後に、第1の駆
動部35の側から基板装着部38を第2の駆動部(65
)の側に移載する。
【0035】(5)基板装着部38の受け渡し終了後、
第1駆動部35を前室34内に後退させる。一方、第2
の駆動部(65)により、シール・プレート45を上昇
させ、反応室側連通口40を密閉する(図2において実
線で示す)上端位置まで移動させる。
【0036】(6)この後、反応生成室33内において
、所定のCVDプロセスを行う。プロセス終了後に、第
2の駆動部(65)により、基板装着部38を、第1の
駆動部35への受け渡し位置にまで降下させる。
【0037】(7)基板装着部38を第1の駆動部35
の側に引き渡した後に、第1の駆動部35により、基板
装着部38を前室34内に戻し、ゲート・プレート51
を閉鎖する。
【0038】(8)前室34内を大気圧に戻した後に、
ドア34cを開けて基板37を取り出す。
【0039】本例のCVD装置によれば、次のような効
果が得られる。
【0040】第1に、CVD装置のロードロック機構と
して、前室、中間室、反応室の3室構造をとることによ
り、この中間室を、常時、高真空状態に保つことができ
る。
【0041】このため、反応室内への空気の混入が極端
に少なくなり、空気酸化によるパーティクル発生を回避
できる。また、基板を反応室内に入れる操作、および取
り出す操作を、中間室内の高真空中で行うことがでるの
で、基板表面の酸化を回避することができる。
【0042】第2に、昇降機構の駆動系を中間室の外部
に配置したので、機械駆動部からの汚染物質、パーティ
クルなどの発生を回避できる。
【0043】第3に、基板装着部を支持しているステン
レススティール製のシール・プレート自体が、反応生成
室と中間室との間の真空シール部として機能する。従っ
て、高価でかつ耐熱性が悪いゲート・バルブを反応生成
室の密閉手段として用いる必要がなくなる。
【0044】第4に、真空引きサイクルは、前室内に対
してのみ行えば良く、しかも、この前室の容積は比較的
小さくできるので、2室方式ロードロック機構に比べて
エネルギー効率が良く、装置の運転コストを低減できる
【0045】なお、本例においては各室に真空雰囲気を
形成しているが、必ずしも真空を使用しなくても良い。 例えば、真空状態にする代わりに、反応室、中間室、前
室内に、所要のプロセスに応じた適当な雰囲気ガス(例
えばN2 、Ar等)を共通の経路、あるいはそれぞれ
独立の経路を介して導入しても良い。さらには、各室内
の圧力も真空から1気圧以上迄自由に設定できるので、
広範なプロセスに対して適用可能である。また、場合に
よっては、前室の手前に、さらに前処理室を配置しても
良い。この前処理室内で、例えば、無水HFエッチング
等の前処理を基板に対して行えば、この後、一切の外気
に接触させることなしに、CVDプロセスを行うことが
可能である。
【0046】(他の実施形態)上述の実施例では、反応
生成室を従来と同一の構成とし、真空シールを、石英管
とステンレススティール製マニホールドとの間で形成す
るようにしてある。この構造では、高真空シールの実現
が困難で、高温に対する耐久性が十分に得られない場合
もある。
【0047】図4には、この点を考慮した本発明による
CVD装置の構成例を示してある。
【0048】図に示すように、ヒーター76を含む反応
生成室33の外周には、ステンレススティール製の円筒
形をした水冷機構付きシュラウド73を配置してある。 このシュラウド73の上部は、Oリング72により真空
シールされたトップ・プレート71により密閉されてい
る。また、シュラウド73の下部は、Oリング74によ
り真空シールされて、ステンレススティール製のマニホ
ールド75に連結されている。このような構造を採用す
ることにより、真空シールを全て金属と金属と間に形成
できるので高真空を得ることができる。また、800〜
1200℃の高温反応生成プロセスを実現することがで
きる。
【0049】従って、本例の方式を採用すれば、外気を
遮断した状態で、シリコン・エピタキシャル成長プロセ
ス、シリコン・カーバイト薄膜形成、チタン・カーバイ
ト膜形成等の高温プロセスを高純度雰囲気中で実現でき
る。
【0050】ここで、上述した各実施例は、前室、中間
室、反応生成室の3室により一つのCVD装置が構成さ
れている。しかし、応用範囲を広げ、生産性を向上させ
るためには、図5および図6に示す構成を採用すること
が望ましい。
【0051】図5において、Aは前室を示し、基板の出
し入れは前面ドアA′を介して行われる。この前室Aの
周囲には、3組の中間室/反応生成室B1、B2および
B3が配置されている。これらの中間室/反応生成室B
1〜B3が単一の前室Aを共用する構成となっている。 前室、中間室および反応生成室の構成は、前述した実施
例と同様であるので、それらの説明は省略する。
【0052】このような構成を採用することにより、単
一薄膜生成を行う場合には、生産性の向上を実現できる
。また、異種膜を連続的に形成することも可能となる。
【0053】図6には、上記と異なった構成例を示して
ある。図において、C1、C2はそれぞれ前室を示し、
D1、D2、D3は、それぞれ中間室/反応生成室を示
す。
【0054】このような構成を採用することにより、図
5に示す例と同様の効果を得ることができる。また、プ
ロセス・シーケンスの自由度が増す。本例においても、
前室、中間室および反応生成室の構成は、最初に説明し
た実施例と同様であるので、それらの説明は省略する。
【0055】なお、本発明は、実施例としてあげた、縦
型LPCVD装置への応用の他にも、エピタキシャル成
長、有機金属CVD、タングステン等の金属CVD、プ
ラズマCVD、III−V族CVD、拡散炉プロセス、
およびその他のプロセス装置のロードロック機構として
広範な応用が可能である。
【0056】
【発明の効果】以上説明したように、本発明においては
、CVD装置のロードロック機構として、前室、中間室
および反応室の3室構成を採用しているので、中間室を
常時高真空状態に保持することによって、反応室内への
空気の進入を極力回避することが可能になり、空気酸化
によるパーティクルの発生を回避できるという効果が得
られる。また、基板は、このような高真空状態の中間室
から反応室内に搬入されると共に、反応室内から高真空
状態の中間室に取り出されるので、基板表面の酸化を回
避できるという効果が得られる。
【0057】また、本発明においては、基板を搬送する
キャリアの駆動系を構成する部材を極力中間室の外側に
配置できる構造を採用しているので、これらの機械駆動
部から発生したパーティクル等によって基板表面が汚染
されてしまうことを最小限度に抑えることができるとい
う効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】  本発明の一実施例のCVD装置を示す上面
図である。
【図2】  図1の装置をII−II線に沿って切断し
た部分を示す概略図である。
【図3】  図1の装置をIII−III線に沿って切
断した部分を示す概略断面図である。
【図4】  図1の装置の変形例を示す説明図である。
【図5】  図1の装置の変形例を示す説明図である。
【図6】  図1の装置の変形例を示す説明図である。
【図7】  従来のCVD装置の構成を示す概略断面図
である。
【図8】  従来のCVD装置の別の構成を示す概略断
面図である。
【符号の説明】
31・・・CVD装置 32・・・中間室 33・・・反応生成室 34・・・前室 35・・・第1の駆動部 36・・・第1の駆動部の駆動源 37・・・基板 38・・・基板装着部 39、41、42・・・真空排気系 43・・・リフト・シャフト 44・・・支持ビーム 45・・・シール・プレート 46・・・支持ロッド 47・・・ガス・リング 48、49・・・Oリング 51・・・ゲート・バルブ 62・・・石英製反応管 63・・・ベローズ 64・・・サポート・プレート

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  実質的に外気を遮断した真空雰囲気中
    で、シリコン・ウェーハ等の基板表面上に気相化学生成
    反応を利用して薄膜を形成する気相化学反応生成装置に
    おいて、基板を搬入および搬出するための開閉部を備え
    、この開閉部を閉鎖した場合には実質的な気密状態とな
    る前室と、基板の表面上に薄膜を形成するための実質的
    に気密状態の反応生成室と、前記前室および反応生成室
    に対して、それぞれ連通した前室側連通口および反応生
    成室側連通口、並びにこれらの連通口を密閉する密閉手
    段を備えた実質的に気密状態の中間室と、前記開閉部を
    介して前記前室内に搬入された基板を前記中間室を通っ
    て前記反応生成室内に搬入すると共に、この反応生成室
    内で処理された後の基板を前記中間室を通って前記前室
    内に戻す基板搬送手段と、を有することを特徴とする気
    相化学反応生成装置のロードロック機構。
  2. 【請求項2】  請求項1において、前記基板搬送手段
    は、基板を装着する基板装着部と、この基板装着部を前
    記前室側連通口を通して前記前室および前記中間室との
    間を往復動させる第1の駆動部と、この第1の駆動部に
    よって前記前室側連通口から前記中間室内に移動された
    前記基板装着部を前記反応生成室連通口を通して、前記
    中間室と前記反応生成室との間を往復動させる第2の駆
    動部とを有しており、前記第1の駆動部は前記前室内に
    設けられ、この第1の駆動部を構成する駆動源は前記前
    室の外部に配置され、この駆動源からの駆動力を前記基
    板装着部に伝達する伝達部材は、前記前室を形成する外
    壁に形成した貫通穴を通って、前記前室内に延びており
    、この貫通穴と前記前室の内部との間は、前記伝達部材
    の外周に配置した回転磁気シール・ユニットによって、
    実質的に気密状態に保持されており、前記第2の駆動部
    を構成する駆動源は前記中間室の外部に配置され、この
    駆動源からの駆動力を前記基板装着部に伝達する伝達部
    材は、前記中間室を形成する外壁に形成した貫通穴を通
    って前記中間室内に延びており、この貫通穴と前記中間
    室の内部との間は、前記伝達部材の外周に配置され、こ
    の伝達部材の移動方向に向けて伸縮自在となったベロー
    ズと、このベローズと前記伝達部材との間に配置したシ
    ール手段とによって、実質的に気密状態に区画されてい
    ることを特徴とする気相化学反応生成装置のロードロッ
    ク機構。
  3. 【請求項3】  請求項2において、前記第2の駆動部
    は、前記反応生成室側連通口を密閉可能なシール部材と
    、前記基板装着部をこのシール部材上に支持する支持部
    材と、このシール部材を前記第2の駆動部に連結するた
    めの連結部材とを有しており、前記第2の駆動源によっ
    て前記基板装着部が前記反応生成室内に位置決めされた
    ときには、前記シール部材は、前記反応生成室側連通口
    の外周部に当接して、前記反応生成室側連通口を密閉状
    態に保持するようになっていることを特徴とする気相化
    学反応生成装置のロードロック機構。
  4. 【請求項4】  請求項1乃至3のいずれかの項におい
    て、前記反応生成室の外周が、筒形状をした金属製の水
    冷機構付きシュラウドにより覆われており、このシュラ
    ウドの上端開口は、シール部材を介して金属製のトップ
    ・プレートにより密閉され、下端開口の側は、前記反応
    生成室と前記中間室との間の連通部を形成する金属製の
    マニホールドに対して、シール部材を介して連結されて
    いることを特徴とする気相化学反応生成装置のロードロ
    ック機構。
  5. 【請求項5】  請求項1乃至4のいずれかの項におい
    て、前記第2の駆動部を有する前記中間室および前記反
    応生成室を一対として、これらを複数対、前記前室の周
    囲に配置し、この前室と前記の各対との間には、それぞ
    れ相互に連通した前室側連通口およびこれらの連通口の
    それぞれを密閉する密閉手段を設け、これらの複数対の
    それぞれにおける気密性を保持した状態で、これら各対
    間を前記第1の駆動部によって前記基板装着部を往復動
    可能としてあることを特徴とする気相化学生成装置のロ
    ードロック機構。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0822961A (ja) * 1994-07-05 1996-01-23 Tokyo Electron Ltd 熱処理方法
WO1998019334A1 (fr) * 1996-10-31 1998-05-07 Tokyo Electron Limited Appareil de traitement thermique
JPWO2014103677A1 (ja) * 2012-12-26 2017-01-12 麒麟麦酒株式会社 薄膜の成膜装置及び成膜方法

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0600851B1 (en) * 1989-10-20 1999-02-03 Applied Materials, Inc. Robot apparatus
SG43860A1 (en) * 1990-09-10 1997-11-14 Mitsubishi Electric Corp Coding apparatus
US5314541A (en) * 1991-05-28 1994-05-24 Tokyo Electron Limited Reduced pressure processing system and reduced pressure processing method
JP3140096B2 (ja) * 1991-07-11 2001-03-05 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置
JP3186262B2 (ja) * 1992-10-14 2001-07-11 ソニー株式会社 半導体装置の製造方法
JP3239977B2 (ja) * 1994-05-12 2001-12-17 株式会社日立国際電気 半導体製造装置
US5730801A (en) * 1994-08-23 1998-03-24 Applied Materials, Inc. Compartnetalized substrate processing chamber
US5614247A (en) * 1994-09-30 1997-03-25 International Business Machines Corporation Apparatus for chemical vapor deposition of aluminum oxide
JP3982844B2 (ja) * 1995-01-12 2007-09-26 株式会社日立国際電気 半導体製造装置及び半導体の製造方法
US5961269A (en) * 1996-11-18 1999-10-05 Applied Materials, Inc. Three chamber load lock apparatus
DE19803423C2 (de) * 1998-01-29 2001-02-08 Siemens Ag Substrathalterung für SiC-Epitaxie und Verfahren zum Herstellen eines Einsatzes für einen Suszeptor
US6013134A (en) 1998-02-18 2000-01-11 International Business Machines Corporation Advance integrated chemical vapor deposition (AICVD) for semiconductor devices
US6000905A (en) * 1998-03-13 1999-12-14 Toro-Lira; Guillermo L. High speed in-vacuum flat panel display handler
JP4526136B2 (ja) * 1998-06-08 2010-08-18 株式会社日立国際電気 被処理物搬送装置、半導体製造装置及び被処理物の処理方法
JP3379464B2 (ja) * 1999-02-26 2003-02-24 日本電気株式会社 半導体装置の製造方法及びスパッタリング装置
US6092981A (en) * 1999-03-11 2000-07-25 Applied Materials, Inc. Modular substrate cassette
US6194030B1 (en) * 1999-03-18 2001-02-27 International Business Machines Corporation Chemical vapor deposition velocity control apparatus
US20020195201A1 (en) * 2001-06-25 2002-12-26 Emanuel Beer Apparatus and method for thermally isolating a heat chamber
KR100446318B1 (ko) * 2001-11-29 2004-09-01 주식회사 하이닉스반도체 챔버 세정기를 구비한 증착장치 및 그를 이용한 챔버 세정방법
EP1459352A1 (fr) * 2001-12-20 2004-09-22 Aisapack Holding SA Dispositif pour le traitement d'objets par deposition plasma
US6899507B2 (en) * 2002-02-08 2005-05-31 Asm Japan K.K. Semiconductor processing apparatus comprising chamber partitioned into reaction and transfer sections
US7205216B2 (en) * 2004-07-29 2007-04-17 International Business Machines Corporation Modification of electrical properties for semiconductor wafers
CN101370963B (zh) * 2006-01-19 2012-03-28 Asm美国公司 高温原子层沉积进气歧管
US7371998B2 (en) * 2006-07-05 2008-05-13 Semitool, Inc. Thermal wafer processor
DE102010007498B4 (de) * 2010-02-09 2012-04-19 Lurgi Gmbh Stutzenanordnung für eine innen liegende Komponente
US9574268B1 (en) 2011-10-28 2017-02-21 Asm America, Inc. Pulsed valve manifold for atomic layer deposition
US9388492B2 (en) 2011-12-27 2016-07-12 Asm America, Inc. Vapor flow control apparatus for atomic layer deposition
US10403532B2 (en) * 2012-09-20 2019-09-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Semiconductor apparatus with inner wafer carrier buffer and method
CN106033737B (zh) * 2015-03-16 2019-01-18 中微半导体设备(上海)有限公司 真空锁系统及基片传送方法
US10662527B2 (en) 2016-06-01 2020-05-26 Asm Ip Holding B.V. Manifolds for uniform vapor deposition
US11492701B2 (en) 2019-03-19 2022-11-08 Asm Ip Holding B.V. Reactor manifolds
US11946141B2 (en) 2019-09-12 2024-04-02 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Automated conveyance of articles in chemical vapor processing
KR20210048408A (ko) 2019-10-22 2021-05-03 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 증착 반응기 매니폴드

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4640223A (en) * 1984-07-24 1987-02-03 Dozier Alfred R Chemical vapor deposition reactor
JPH01125821A (ja) * 1987-11-10 1989-05-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 気相成長装置
JP2502661B2 (ja) * 1988-03-04 1996-05-29 松下電器産業株式会社 気相成長装置
JP2654996B2 (ja) * 1988-08-17 1997-09-17 東京エレクトロン株式会社 縦型熱処理装置
JPH0330320A (ja) * 1989-06-27 1991-02-08 M B K Maikurotetsuku:Kk 気相化学反応生成装置のロードロック機構

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0822961A (ja) * 1994-07-05 1996-01-23 Tokyo Electron Ltd 熱処理方法
WO1998019334A1 (fr) * 1996-10-31 1998-05-07 Tokyo Electron Limited Appareil de traitement thermique
JPWO2014103677A1 (ja) * 2012-12-26 2017-01-12 麒麟麦酒株式会社 薄膜の成膜装置及び成膜方法

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