JPH04298094A - 電子部品の樹脂封止実装方法 - Google Patents

電子部品の樹脂封止実装方法

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JPH04298094A
JPH04298094A JP3086344A JP8634491A JPH04298094A JP H04298094 A JPH04298094 A JP H04298094A JP 3086344 A JP3086344 A JP 3086344A JP 8634491 A JP8634491 A JP 8634491A JP H04298094 A JPH04298094 A JP H04298094A
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Takeshi Nagamura
猛 永村
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    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
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    • HELECTRICITY
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    • H05K3/3431Leadless components
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板に取り付
けられた電子部品や複雑な形状の部品を樹脂封止する方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】通常プリント基板内にセラミックチップ
コンデンサ等の電子部品を実装する場合、信頼性向上の
ため電子部品周囲を樹脂封止することが行われている。 図3に従来例としてセラミックチップコンデンサを基板
に半田付により取り付けた場合の断面図を示す。1a,
1bは基板、2は部品取付ランドを含む回路パターン、
3はセラミックチップコンデンサ、4はコンデンサの電
極、5は半田、6は封止材、7は回路パターン間隔を含
むすき間である。同図から明らかなように、基板1bと
セラミックチップコンデンサ3の間では完全に封止材6
が充填されないことが多く、すき間7の全部又は一部が
残存していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このすき間7の存在に
より、コンデンサ3を取り付けた半田5が後工程で付加
される熱等により再び溶融し、すき間7で接触し短絡す
る不具合を生ずる。
【0004】一方、このすき間7を埋めるためには低粘
度の封止材を使用しなければならないが、その場合低粘
度化を実現するために封止材6に混合されるフィラー(
セラミック粉末)の含有量を低下させなければならない
。しかし、これにより封止材6の収縮率と熱膨張率を増
加させてしまい、セラミックチップコンデンサ3の持つ
収縮率及び熱膨脹率の違いから、熱的または機械的な応
力で発生する歪を吸収することが困難となり、封止材6
のクラックやセラミックチップコンデンサ3の破壊等の
問題を引き起こし易いという欠点を有している。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明はこのような欠点
を解決するため、フィラーと樹脂とを別々に充填又は含
浸することを特徴とするもので、封止材の防湿性、絶縁
性、硬化性等の各特性を損なうことなく、かつ埋め込ま
れる部品と熱膨張率を近似させるためフィラーの種類、
量、形状や粒径等を調整して微小なすき間や複雑な形状
の部品に対し信頼性の高い樹脂封止を行うことを目的と
する。以下実施例につき図面により詳細に説明する。
【0006】
【実施例】図1は本発明の一実施例の断面図で、1a,
1bは基板、2は部品取付ランドを含む回路パターン、
3はセラミックチップコンデンサ、4はコンデンサ電極
、5は半田、6は封止材である。
【0007】本実施例においては、まず粒子状のフィラ
ーを充填しておき、次に低粘度の液状樹脂を該フィラー
の空隙間に含浸させる。この際、低粘度の液状樹脂はそ
れ自身の有する高流動性並びに毛細管現象により、基板
1bとチップコンデンサ3間のわずかなすき間及び充填
されたフィラー間に均一に浸透して行く。
【0008】この図から分かるように、すき間7は液状
樹脂とフィラーの混在物で完全に埋まり、半田5の再溶
融等により電極4間の短絡は容易かつ確実に防止される
【0009】フィラーとしては、SiO2 ,CaCO
3 ,Al2 O3 ,AlN等のセラミックスの粒子
を使用し、用途により種類、量、形状、粒径等を変化さ
せ、部品の熱膨張率に近似させることが可能であり、充
填の際は超音波の振動等を併用することで、より効果的
にフィラーを充填することが可能である。一方、樹脂を
含浸させる方法としてはポッティング及びテーピングを
施してからのディッピング等の方法で良好な結果が得ら
れている。
【0010】一例として図2にディッピングの方法を示
してある。まず図2(A)において、基板1aの凹部上
方からフィラー8のみ充填する。その際フィラー量は電
子部品3の熱膨張率により、またフィラー粒径はすき間
7の大きさにより調整する。次に同図(B)に示すよう
に、基板1aの上部をテーピングし、液状樹脂槽(図示
せず)へ浸漬する。電子部品の下部等から低粘度の樹脂
が充填され、すき間7や基板1a,1b間の空隙も樹脂
の高流動性及び毛細管現象により細部まで浸透する。テ
ープ9は熱処理後に除去される。このようなディッピン
グは低圧下での処理が有効である。更にフィラー自体に
もカップリング処理を施すことで、より強固な樹脂との
接合が可能である。本方法は実施例に示すセラミックチ
ップコンデンサ以外にも各種ベアーチップ素子、チップ
抵抗及び各種モールド部品等の樹脂防止においても良好
な結果が得られている。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、既存のコート材で
は不可能であった基板と取付け部品の微小な空間、又は
複雑な形状を有する各種部品の樹脂封止を行う際に、コ
ート材の主成分であるフィラー及び樹脂をそれぞれ個別
に充填又は含浸することにより均一かつ確実で信頼性の
高い樹脂封止が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す樹脂封止構成の断面図
【図2】ディッピング法による実施例の説明図。
【図3】従来の樹脂封止構成の断面図。
【符号の説明】
1a,1b  基板 2          回路パターン 3          セラミックチップコンデンサ4
          電極 5          半田 6          封止材 7          すき間 8          フィラー

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  一部に設けた凹部内に電子部品を挿入
    、接合し樹脂封止を行うプリント基板において、前記凹
    部に取り付けた電子部品の近傍領域に予めセラミック粉
    末を充填し、更に液状樹脂を前記セラミック粉末充填部
    分へ注入又は含浸することを特徴とする電子部品の樹脂
    封止実装方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002100876A (ja) * 2000-07-21 2002-04-05 Ibiden Co Ltd プリント配線板及びプリント配線板の製造方法
JP2002118368A (ja) * 2000-07-31 2002-04-19 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板およびその製造方法

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JP2002100876A (ja) * 2000-07-21 2002-04-05 Ibiden Co Ltd プリント配線板及びプリント配線板の製造方法
JP2002118368A (ja) * 2000-07-31 2002-04-19 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板およびその製造方法
JP4695289B2 (ja) * 2000-07-31 2011-06-08 日本特殊陶業株式会社 配線基板の製造方法

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