JPH04297350A - 車両における外部メモリ制御方法 - Google Patents
車両における外部メモリ制御方法Info
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- JPH04297350A JPH04297350A JP3063426A JP6342691A JPH04297350A JP H04297350 A JPH04297350 A JP H04297350A JP 3063426 A JP3063426 A JP 3063426A JP 6342691 A JP6342691 A JP 6342691A JP H04297350 A JPH04297350 A JP H04297350A
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Landscapes
- Forklifts And Lifting Vehicles (AREA)
- Control Of Position, Course, Altitude, Or Attitude Of Moving Bodies (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は車両における外部メモリ
制御方法に係り、詳しくは不揮発性メモリのデータ書き
替え制御方法に関する。
制御方法に係り、詳しくは不揮発性メモリのデータ書き
替え制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えばフオークリフトにおいては
自己診断機能を備えたものがある。この自己診断機能は
各種センサ、電気部品等のエラーを検出し、そのエラー
を記憶装置に記憶する。そして、この記憶装置に記憶さ
れたデータを読んで走行及び荷役作業中に各種センサ、
電気部品等のエラーがあったか否かを検査し保守管理す
るものである。
自己診断機能を備えたものがある。この自己診断機能は
各種センサ、電気部品等のエラーを検出し、そのエラー
を記憶装置に記憶する。そして、この記憶装置に記憶さ
れたデータを読んで走行及び荷役作業中に各種センサ、
電気部品等のエラーがあったか否かを検査し保守管理す
るものである。
【0003】この記憶装置としてICカードを用いたも
のが提案されている(特開昭62−3313号公報)。 しかし、ICカードにエラー情報を記録する場合、カー
ドライタを使用する必要があり、装置としては大型化す
るとともにコスト的にも問題がある。更に、情報を多く
記録できるものの、エラーが発生するごとにカードライ
タを介して記録することから書き込み処理時間が長くな
るという問題があった。
のが提案されている(特開昭62−3313号公報)。 しかし、ICカードにエラー情報を記録する場合、カー
ドライタを使用する必要があり、装置としては大型化す
るとともにコスト的にも問題がある。更に、情報を多く
記録できるものの、エラーが発生するごとにカードライ
タを介して記録することから書き込み処理時間が長くな
るという問題があった。
【0004】又、その他の記憶装置として、コスト及び
小型化に優れた不揮発性メモリを使用したものが提案さ
れている。不揮発性メモリは1バイトのEEPROMが
使用されている。つまり、例えば図6に示すように1バ
イト(8ビット)のEEPROM51の各ビットはそれ
ぞれ各検査対象(この場合は8種類)となるの各種セン
サ、電気部品毎に割り当てられ、例えば走行電流センサ
が誤動作しエラーと判定された時、その割り当てた対応
するビットERR3にエラーデータ「1」が書き込まれ
る。
小型化に優れた不揮発性メモリを使用したものが提案さ
れている。不揮発性メモリは1バイトのEEPROMが
使用されている。つまり、例えば図6に示すように1バ
イト(8ビット)のEEPROM51の各ビットはそれ
ぞれ各検査対象(この場合は8種類)となるの各種セン
サ、電気部品毎に割り当てられ、例えば走行電流センサ
が誤動作しエラーと判定された時、その割り当てた対応
するビットERR3にエラーデータ「1」が書き込まれ
る。
【0005】この書き込み処理について詳述する。図5
はフオークリフトに搭載したマイクロコンピュータの走
行、荷役制御プログラムにおけるメインループのフロー
チャートを示し、この走行・荷役処理動作中(S50)
に自己診断のエラー検出処理(S51)に基づいて各検
査対象のエラー判断が行われる。エラー検出処理(S5
1)において各検査対象のうち1つでもエラーが検出さ
れると、つまり前ループの処理におけるエラーデータと
異なった場合のみ、外部記憶装置としてのEEPROM
51に書き込まれたエラーデータをフォークリフト内の
図示しないRAMに読み出して新たなエラーデータを書
き込む。そして、図6に示すようにEEPROM51に
書き込むエラーデータを送信データに変換する(S53
)。すると、送信データに変換されたエラーデータはマ
イクロコンピュータがシリアル通信によってEEPRO
M51に送信し、そのエラーデータを書き込む(S54
)。尚、前記エラー検出処理は図7に示すように各検査
対象となる各種センサ、電気部品等のエラーの検出を行
うフローチャトが構成され、このフローチャートに基づ
いて各検査対象となる各種センサ、電気部品等のエラー
の検出を行っている。
はフオークリフトに搭載したマイクロコンピュータの走
行、荷役制御プログラムにおけるメインループのフロー
チャートを示し、この走行・荷役処理動作中(S50)
に自己診断のエラー検出処理(S51)に基づいて各検
査対象のエラー判断が行われる。エラー検出処理(S5
1)において各検査対象のうち1つでもエラーが検出さ
れると、つまり前ループの処理におけるエラーデータと
異なった場合のみ、外部記憶装置としてのEEPROM
51に書き込まれたエラーデータをフォークリフト内の
図示しないRAMに読み出して新たなエラーデータを書
き込む。そして、図6に示すようにEEPROM51に
書き込むエラーデータを送信データに変換する(S53
)。すると、送信データに変換されたエラーデータはマ
イクロコンピュータがシリアル通信によってEEPRO
M51に送信し、そのエラーデータを書き込む(S54
)。尚、前記エラー検出処理は図7に示すように各検査
対象となる各種センサ、電気部品等のエラーの検出を行
うフローチャトが構成され、このフローチャートに基づ
いて各検査対象となる各種センサ、電気部品等のエラー
の検出を行っている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記メ
インループのフローチャートの1工程の処理時間は約1
0msであるのに対してエラーデータをEEPROM5
1に送信する時間は15msと非常に長い。そのため、
複数のエラーが発生した場合には全部のエラーデータを
EEPROM51に送信することができなくなるという
問題があった。また、各種センサ、電気部品等にエラー
が発生する度毎にEEPROM51内のエラーデータを
書き換える(更新する)ため、更新回数が多くなりEE
PROM51の寿命が短くなりデータ書き込み不能とな
るおそれもあった。
インループのフローチャートの1工程の処理時間は約1
0msであるのに対してエラーデータをEEPROM5
1に送信する時間は15msと非常に長い。そのため、
複数のエラーが発生した場合には全部のエラーデータを
EEPROM51に送信することができなくなるという
問題があった。また、各種センサ、電気部品等にエラー
が発生する度毎にEEPROM51内のエラーデータを
書き換える(更新する)ため、更新回数が多くなりEE
PROM51の寿命が短くなりデータ書き込み不能とな
るおそれもあった。
【0007】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的は外部の不揮発性メモリに
効率よくエラーデータを書き込むとともに、不揮発性メ
モリの寿命を長くすることができる車両における外部メ
モリ制御方法を提供することにある。
れたものであって、その目的は外部の不揮発性メモリに
効率よくエラーデータを書き込むとともに、不揮発性メ
モリの寿命を長くすることができる車両における外部メ
モリ制御方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は上記問題点を解
決するため、車両の各種センサ、電気部品等の異常を検
出し、そのエラーデータを外部不揮発性メモリに記憶す
る自己診断機能を備えた車両における外部メモリ制御方
法において、前記車両の走行中又は荷役作業中の時々に
各種センサ、電気部品等の異常を検出処理してエラーデ
ータを作成し、制御装置内のメモリに一旦蓄えておき、
車両の使用終了時にその作成したエラーデータを外部不
揮発性メモリに記憶することをその要旨とする。
決するため、車両の各種センサ、電気部品等の異常を検
出し、そのエラーデータを外部不揮発性メモリに記憶す
る自己診断機能を備えた車両における外部メモリ制御方
法において、前記車両の走行中又は荷役作業中の時々に
各種センサ、電気部品等の異常を検出処理してエラーデ
ータを作成し、制御装置内のメモリに一旦蓄えておき、
車両の使用終了時にその作成したエラーデータを外部不
揮発性メモリに記憶することをその要旨とする。
【0009】
【作用】従って、本発明によれば車両の走行中又は荷役
作業中においては各種センサ、電気部品等の異常の有無
が検出され、その検出結果に基づいてエラーデータが作
成される。そして、その車両の使用が終了した時点でそ
の作成したエラーデータを外部不揮発性メモリに記憶す
る。その結果、エラー発生ごとに不揮発性メモリにデー
タを書き込むよりもデータの書き込み回数が少なくなる
。又、車両が使用されていないときにエラーデータを不
揮発性メモリに書き込むので、不揮発性メモリにデータ
を書き込む時間がかかっても影響がない。
作業中においては各種センサ、電気部品等の異常の有無
が検出され、その検出結果に基づいてエラーデータが作
成される。そして、その車両の使用が終了した時点でそ
の作成したエラーデータを外部不揮発性メモリに記憶す
る。その結果、エラー発生ごとに不揮発性メモリにデー
タを書き込むよりもデータの書き込み回数が少なくなる
。又、車両が使用されていないときにエラーデータを不
揮発性メモリに書き込むので、不揮発性メモリにデータ
を書き込む時間がかかっても影響がない。
【0010】
【実施例】以下、本発明をフォークリフトにおける外部
メモリ制御方法に具体化した一実施例を図1〜図4に従
って説明する。図2において、フォークリフトに搭載さ
れたマイクロコンピュータ1は中央処理装置(CPU)
2、制御プログラムを記憶したリードオンリメモリ(R
OM)3及び演算処理結果等を一時記憶する書き換え可
能なメモリ(RAM)4から構成されている。CPU2
には各種の自己診断を行うための各種のセンサ、電気部
品等から検出データが入力される。そして、CPU2は
制御プログラムに基づいて自己診断処理、即ち各種セン
サ、電気部品等の異常の有無を検出するためのエラー検
出処理を行う。更に、CPU2は制御プログラムに基づ
いてフォークリフトの走行及び荷役のための処理動作を
行うようになつている。
メモリ制御方法に具体化した一実施例を図1〜図4に従
って説明する。図2において、フォークリフトに搭載さ
れたマイクロコンピュータ1は中央処理装置(CPU)
2、制御プログラムを記憶したリードオンリメモリ(R
OM)3及び演算処理結果等を一時記憶する書き換え可
能なメモリ(RAM)4から構成されている。CPU2
には各種の自己診断を行うための各種のセンサ、電気部
品等から検出データが入力される。そして、CPU2は
制御プログラムに基づいて自己診断処理、即ち各種セン
サ、電気部品等の異常の有無を検出するためのエラー検
出処理を行う。更に、CPU2は制御プログラムに基づ
いてフォークリフトの走行及び荷役のための処理動作を
行うようになつている。
【0011】又、CPU2は外部記憶装置5と接続され
ている。外部記憶装置5はEEPROMよりなる不揮発
性メモリであって、マイクロコンピュータ1からの自己
診断処理を行ったエラーデータがシリアル通信によって
書き込まれるようになっている。尚、本実施例ではこの
外部記憶装置5はフォークリフトの車載チャージャの充
電回数を記憶するために設けられた記憶装置を利用する
ものであって、その一部の記憶領域(4バイト)が使用
されるようになっている。
ている。外部記憶装置5はEEPROMよりなる不揮発
性メモリであって、マイクロコンピュータ1からの自己
診断処理を行ったエラーデータがシリアル通信によって
書き込まれるようになっている。尚、本実施例ではこの
外部記憶装置5はフォークリフトの車載チャージャの充
電回数を記憶するために設けられた記憶装置を利用する
ものであって、その一部の記憶領域(4バイト)が使用
されるようになっている。
【0012】前記割り当てられた4バイトの記憶領域は
1バイトごとに区分され、図3に示すようにそれぞれ各
1バイト毎の記憶領域6は下位2ビットERR1,ER
R2を識別コードとして使用している。そして、この下
位2ビットERR1,ERR2に「1」又は「0」を書
き込むことにより、他のバイトの記憶領域6と区分し、
この4バイトで最大24種類のエラーデータを書き込む
ことができるようになっている。
1バイトごとに区分され、図3に示すようにそれぞれ各
1バイト毎の記憶領域6は下位2ビットERR1,ER
R2を識別コードとして使用している。そして、この下
位2ビットERR1,ERR2に「1」又は「0」を書
き込むことにより、他のバイトの記憶領域6と区分し、
この4バイトで最大24種類のエラーデータを書き込む
ことができるようになっている。
【0013】即ち、図3において、識別コードが「0,
0」のバイトの記憶領域6においては、ビットERR3
に走行電流センサ、ビットERR4に荷役電流センサ、
ビットERR5に電圧異常、ビットERR6にバッテリ
異常、ビットERR7にボリューム電圧等、計6種類の
各種センサ、電気部品の異常の有無を記憶することがで
きるようになっている。従って、他の識別コードが「0
,1」、「1,0」、「1,1」のバイトの記憶領域6
もそれぞれ6種類の各種センサ、電気部品の異常の有無
が記憶される。そして、本実施例では異常がある場合に
は「1」が、異常がない場合には「0」が書き込まれる
ようになっている。
0」のバイトの記憶領域6においては、ビットERR3
に走行電流センサ、ビットERR4に荷役電流センサ、
ビットERR5に電圧異常、ビットERR6にバッテリ
異常、ビットERR7にボリューム電圧等、計6種類の
各種センサ、電気部品の異常の有無を記憶することがで
きるようになっている。従って、他の識別コードが「0
,1」、「1,0」、「1,1」のバイトの記憶領域6
もそれぞれ6種類の各種センサ、電気部品の異常の有無
が記憶される。そして、本実施例では異常がある場合に
は「1」が、異常がない場合には「0」が書き込まれる
ようになっている。
【0014】同様に、図3に示すように前記RAM4に
は前記外部記憶装置5に記憶される前記24種類の検査
対象に対応した数だけのフラグが設けられている。そし
て、CPU2がその時々で行う各検査対象のエラー検出
処理においてエラーと判断した検査対象のフラグは「1
」のデータが、反対にエラーがないと判断した検査対象
のフラグは「0」のデータが同CPU2にて書き込まれ
る。
は前記外部記憶装置5に記憶される前記24種類の検査
対象に対応した数だけのフラグが設けられている。そし
て、CPU2がその時々で行う各検査対象のエラー検出
処理においてエラーと判断した検査対象のフラグは「1
」のデータが、反対にエラーがないと判断した検査対象
のフラグは「0」のデータが同CPU2にて書き込まれ
る。
【0015】更に、前記RAM4には前記外部記憶装置
5に割り当てられた各記憶領域6に対応した記憶領域4
aが設けられ、CPU2がその時々で行うエラーコード
整理処理において、前記エラー検出処理結果で得た各フ
ラグの内容に基づいて書き換え記憶される。RAM4に
割り当てられたこの記憶領域4aは各記憶領域6と対応
しかつ同じ構成で構成され、その下位2ビットERR1
,ERR2を識別コードとして使用される。そして、記
憶領域6に対応する記憶領域4aには同じ識別コードが
記録され、その識別コードが記録された上位6ビットに
それぞれ対応する各種センサ、電気部品の異常の有無の
データが前記フラグの内容に基づいて記憶される。
5に割り当てられた各記憶領域6に対応した記憶領域4
aが設けられ、CPU2がその時々で行うエラーコード
整理処理において、前記エラー検出処理結果で得た各フ
ラグの内容に基づいて書き換え記憶される。RAM4に
割り当てられたこの記憶領域4aは各記憶領域6と対応
しかつ同じ構成で構成され、その下位2ビットERR1
,ERR2を識別コードとして使用される。そして、記
憶領域6に対応する記憶領域4aには同じ識別コードが
記録され、その識別コードが記録された上位6ビットに
それぞれ対応する各種センサ、電気部品の異常の有無の
データが前記フラグの内容に基づいて記憶される。
【0016】又、CPU2にはキースイッチ検出器8が
接続され、CPU2は運転席に設けたキーの操作位置、
即ちキースイッチ、ACCスイッチ等のオン・オフ状態
を判断するようになっている。次に、上記のように構成
されたマイクロコンピュータ1の作用について説明する
。まず、説明の便宜上自己診断におけるエラー検出処理
を簡単に説明する。
接続され、CPU2は運転席に設けたキーの操作位置、
即ちキースイッチ、ACCスイッチ等のオン・オフ状態
を判断するようになっている。次に、上記のように構成
されたマイクロコンピュータ1の作用について説明する
。まず、説明の便宜上自己診断におけるエラー検出処理
を簡単に説明する。
【0017】図4は前記各種センサ、電気部品の異常を
検出するための一部フローチャートを示し、例えばフォ
ークリフトのバッテリ電圧において、同電圧が20V以
上となったときにはバッテリーが異常であるとCPU2
は判断する。この時、この検査対象(バッテリー異常)
に対応するフラグ(識別コード「0,0」のビットER
R6に対応するフラグ)に「1」を書き込む。反対に、
バッテリーの電圧が20V未満であればCPU2はその
フラグをそのままにして次の検査対象の検出処理に移る
。即ち、フラグが「0」であるならば、「0」のままに
し、先の処理でフラグが「1」であるならば、「1」の
ままにして次の検出処理に移る。
検出するための一部フローチャートを示し、例えばフォ
ークリフトのバッテリ電圧において、同電圧が20V以
上となったときにはバッテリーが異常であるとCPU2
は判断する。この時、この検査対象(バッテリー異常)
に対応するフラグ(識別コード「0,0」のビットER
R6に対応するフラグ)に「1」を書き込む。反対に、
バッテリーの電圧が20V未満であればCPU2はその
フラグをそのままにして次の検査対象の検出処理に移る
。即ち、フラグが「0」であるならば、「0」のままに
し、先の処理でフラグが「1」であるならば、「1」の
ままにして次の検出処理に移る。
【0018】次に、フォークリフトのボリューム電圧に
おいて、ボリューム電圧が5V以上となったときにはボ
リューム電圧が異常であるとCPU2は判断する。この
時、検査対象(ボリューム電圧)に対するフラグ(識別
コード「0,0」のビットERR7に対応するフラグ)
に「1」を書き込む。反対に、5V未満であればCPU
2はそのフラグを前記と同様にそのままにして次の検査
対象の処理に移る。
おいて、ボリューム電圧が5V以上となったときにはボ
リューム電圧が異常であるとCPU2は判断する。この
時、検査対象(ボリューム電圧)に対するフラグ(識別
コード「0,0」のビットERR7に対応するフラグ)
に「1」を書き込む。反対に、5V未満であればCPU
2はそのフラグを前記と同様にそのままにして次の検査
対象の処理に移る。
【0019】このような手順に基づいて各種センサ、電
気部品の異常の有無が検出され、各フラグのエラーデー
タは1度エラーが発生した後は正常な状態に復帰しても
書き換えないようになっている。次にマイクロコンピュ
ータによる外部記憶装置5へのエラーデータ書き込み処
理を説明する。
気部品の異常の有無が検出され、各フラグのエラーデー
タは1度エラーが発生した後は正常な状態に復帰しても
書き換えないようになっている。次にマイクロコンピュ
ータによる外部記憶装置5へのエラーデータ書き込み処
理を説明する。
【0020】図1に示すように、フォークリフトを始動
するとマイクロコンピュータ1は走行・荷役制御プログ
ラムに基づいてフォークリフトを制御する(STEP1
、以下STEPを単にSという)。次に、マイクロコン
ピュータ1は前記図4に従って説明した自己診断、即ち
フォークリフトの各種センサ、電気部品の異常の有無の
エラー検出を行う。そして、各検査対象に対応して設け
られたRAM4のフラグに検査結果を記憶する(S2)
。
するとマイクロコンピュータ1は走行・荷役制御プログ
ラムに基づいてフォークリフトを制御する(STEP1
、以下STEPを単にSという)。次に、マイクロコン
ピュータ1は前記図4に従って説明した自己診断、即ち
フォークリフトの各種センサ、電気部品の異常の有無の
エラー検出を行う。そして、各検査対象に対応して設け
られたRAM4のフラグに検査結果を記憶する(S2)
。
【0021】又、マイクロコンピュータ1は前記エラー
検出によって各フラグの内容に基づいてエラーデータ整
理を行う(S3)。即ち、前記RAM4に設けた外部記
憶装置5の各記憶領域6に対応した記憶領域4aの対応
するビットにその対応するフラグの内容を記憶するよう
にして外部記憶装置5の対応する各記憶領域6に書き込
みできるようにエラーデータを整理する。その後、マイ
クロコンピュータ1はその他の処理を制御プログラムに
基づいて行い、以後同様な処理動作をキースイッチがオ
フ操作されるまで繰り返す(S4,S5)。従って、エ
ラー検出時において、例えばバッテリ電圧のエラー検出
が前回のとき20V以上になり異常であると判断されて
ビットERR6に「1」が書き込まれ、再びエラー検出
を行ったときバッテリ電圧が20V未満となって正常と
なってもビットERR6のエラーデータ「1」であって
、「0」とはならない。
検出によって各フラグの内容に基づいてエラーデータ整
理を行う(S3)。即ち、前記RAM4に設けた外部記
憶装置5の各記憶領域6に対応した記憶領域4aの対応
するビットにその対応するフラグの内容を記憶するよう
にして外部記憶装置5の対応する各記憶領域6に書き込
みできるようにエラーデータを整理する。その後、マイ
クロコンピュータ1はその他の処理を制御プログラムに
基づいて行い、以後同様な処理動作をキースイッチがオ
フ操作されるまで繰り返す(S4,S5)。従って、エ
ラー検出時において、例えばバッテリ電圧のエラー検出
が前回のとき20V以上になり異常であると判断されて
ビットERR6に「1」が書き込まれ、再びエラー検出
を行ったときバッテリ電圧が20V未満となって正常と
なってもビットERR6のエラーデータ「1」であって
、「0」とはならない。
【0022】やがて、フォークリフトの使用が終了する
べくキースイッチをオフ状態にすると(S5)、マイク
ロコンピュータ1はエラーデータをシリアル通信により
送信することができるように前記RAM4の記憶領域4
aに記憶したエラーデータを送信データに変換する(S
6)。次に、マイクロコンピュータ1は既に外部記憶装
置5の各記憶領域6に記憶された先のエラーデータを読
み出しこのシリアル通信するエラーデータとを比較する
(S7)。そして、一致した場合、即ち今回のエラーデ
ータと先のエラーデータに変化がない場合には新たなエ
ラーデータを外部記憶装置5に書き込まないようにし、
次のキー操作を待つ(S9,S10)。
べくキースイッチをオフ状態にすると(S5)、マイク
ロコンピュータ1はエラーデータをシリアル通信により
送信することができるように前記RAM4の記憶領域4
aに記憶したエラーデータを送信データに変換する(S
6)。次に、マイクロコンピュータ1は既に外部記憶装
置5の各記憶領域6に記憶された先のエラーデータを読
み出しこのシリアル通信するエラーデータとを比較する
(S7)。そして、一致した場合、即ち今回のエラーデ
ータと先のエラーデータに変化がない場合には新たなエ
ラーデータを外部記憶装置5に書き込まないようにし、
次のキー操作を待つ(S9,S10)。
【0023】一方、新たにエラーデータと先のエラーデ
ータとが一致しなかった場合、即ち新たに異常の検査対
象のものがでた場合には、新たなエラーデータをシリア
ル通信にて転送し外部記憶装置5の各記憶領域6の内容
をこの新たなエラーデータに書き換える(S8)。そし
て、次のキー操作を待つ(S9,S10)。このように
、本実施例ではフォークリフトが使用されている場合に
は、マイクロコンピュータが各種センサ、電気部品の自
己診断を繰り返し行い、そのエラーデータを整理し、フ
ォークリフトの使用が終了するとエラーデータをシリア
ル通信によって不揮発性メモリ1に書き込むため、従来
とは異なりエラーデータを外部記憶装置(EEPROM
よりなる不揮発性メモリ)5に書き込むことに時間を減
らすことができ、不揮発性メモリ5の寿命を延ばすこと
ができる。
ータとが一致しなかった場合、即ち新たに異常の検査対
象のものがでた場合には、新たなエラーデータをシリア
ル通信にて転送し外部記憶装置5の各記憶領域6の内容
をこの新たなエラーデータに書き換える(S8)。そし
て、次のキー操作を待つ(S9,S10)。このように
、本実施例ではフォークリフトが使用されている場合に
は、マイクロコンピュータが各種センサ、電気部品の自
己診断を繰り返し行い、そのエラーデータを整理し、フ
ォークリフトの使用が終了するとエラーデータをシリア
ル通信によって不揮発性メモリ1に書き込むため、従来
とは異なりエラーデータを外部記憶装置(EEPROM
よりなる不揮発性メモリ)5に書き込むことに時間を減
らすことができ、不揮発性メモリ5の寿命を延ばすこと
ができる。
【0024】又、外部記憶装置(不揮発性メモリ)5に
既に記憶されたエラーデータと記憶したい新たなエラー
データをと比較し、不一致の場合にのみエラーデータを
書き込むようにしたので、更にエラーデータを外部記憶
装置(不揮発性メモリ)5に書き込む回数を減らすこと
ができる。尚、この比較フローは必ずしも設ける必要が
なく、必要に応じて削除することも可能である。
既に記憶されたエラーデータと記憶したい新たなエラー
データをと比較し、不一致の場合にのみエラーデータを
書き込むようにしたので、更にエラーデータを外部記憶
装置(不揮発性メモリ)5に書き込む回数を減らすこと
ができる。尚、この比較フローは必ずしも設ける必要が
なく、必要に応じて削除することも可能である。
【0025】更に、フォークリフトが使用終了となって
いるため、フォークリフトのマイクロコンピュータが自
己診断を行っておらず、新たなエラーデータが作成され
ない。この結果、エラーデータが新たに送信されてこな
いため、エラーデータを外部記憶装置(不揮発性メモリ
)5に書き込むごとに時間がかかっても影響がない。 又、エラーデータを外部記憶装置(不揮発性メモリ)5
に書き込むためにエラーデータ整理を行っているため、
複数の異常が発生しても確実にそのエラーデータを整理
して不揮発性メモリ5に記憶することができる。
いるため、フォークリフトのマイクロコンピュータが自
己診断を行っておらず、新たなエラーデータが作成され
ない。この結果、エラーデータが新たに送信されてこな
いため、エラーデータを外部記憶装置(不揮発性メモリ
)5に書き込むごとに時間がかかっても影響がない。 又、エラーデータを外部記憶装置(不揮発性メモリ)5
に書き込むためにエラーデータ整理を行っているため、
複数の異常が発生しても確実にそのエラーデータを整理
して不揮発性メモリ5に記憶することができる。
【0026】次に、本実施例の別例について説明する。
この実施例においては図8に示すようにエラーデータを
記憶するRAM4及び外部記憶装置5を6バイト(8ビ
ット)にて構成し、上位3ビットをインデックス領域、
下位5ビットをエラーコード領域として使用するように
なっている。又、インデックス領域は前記メインフロー
の1つの周期において同じデータが書き込まれるように
なっているので、同時に発生したエラーを知ることがで
きる。そして、1ビット分の記憶領域4a,6が1つの
センサのエラーを表示し、この場合においては6バイト
のため、6個のセンサのエラーを表示することができる
ようになっている。更に、エラーコード領域のエラーデ
ータは5ビットのエラーコードにて現されるようになっ
ており、25 個、つまり32種類のセンサをエラーコ
ード化することができるようなっている。
記憶するRAM4及び外部記憶装置5を6バイト(8ビ
ット)にて構成し、上位3ビットをインデックス領域、
下位5ビットをエラーコード領域として使用するように
なっている。又、インデックス領域は前記メインフロー
の1つの周期において同じデータが書き込まれるように
なっているので、同時に発生したエラーを知ることがで
きる。そして、1ビット分の記憶領域4a,6が1つの
センサのエラーを表示し、この場合においては6バイト
のため、6個のセンサのエラーを表示することができる
ようになっている。更に、エラーコード領域のエラーデ
ータは5ビットのエラーコードにて現されるようになっ
ており、25 個、つまり32種類のセンサをエラーコ
ード化することができるようなっている。
【0027】又、RAM4はメインフロー周期毎に同じ
インデックスを有し、センサがエラーを起こした場合、
そのインデックスとエラーを起こしたセンサのエラーコ
ードを記憶するようになっている。このとき、その書き
込みはインデックスが最も古いバイトを優先して書き換
えるようになっている。例えば、図9に示すように、3
個のセンサが連係的にエラーを起こした場合、RAM4
における3バイト分の記憶領域4aのインデックス領域
を「0,0,0」から「0,0,1」に書き換え、その
エラーデータ領域にエラーコードを記憶する。その後、
これらのエラーデータと異なった新たなエラーが発生す
ると、最も古い記憶領域4aにエラーデータを記憶する
。この場合においては、「0,0,0」となるインデッ
クス領域がまだ存在するため、この領域に新たに発生し
たエラーデータを記憶する。これらの処理をエラーデー
タ整理にて行う。
インデックスを有し、センサがエラーを起こした場合、
そのインデックスとエラーを起こしたセンサのエラーコ
ードを記憶するようになっている。このとき、その書き
込みはインデックスが最も古いバイトを優先して書き換
えるようになっている。例えば、図9に示すように、3
個のセンサが連係的にエラーを起こした場合、RAM4
における3バイト分の記憶領域4aのインデックス領域
を「0,0,0」から「0,0,1」に書き換え、その
エラーデータ領域にエラーコードを記憶する。その後、
これらのエラーデータと異なった新たなエラーが発生す
ると、最も古い記憶領域4aにエラーデータを記憶する
。この場合においては、「0,0,0」となるインデッ
クス領域がまだ存在するため、この領域に新たに発生し
たエラーデータを記憶する。これらの処理をエラーデー
タ整理にて行う。
【0028】又、キースイッチがオフすると図9に示す
エラーデータが送信データに変換される。そして、例え
ば図10に示す外部記憶装置5に記憶されたエラーデー
タがRAM4に読み出され、両者のエラーデータが比較
される。この内、イッデックス及びエラーデータが同一
の場合にはエラーデータが送信されて外部記憶装置5に
記憶されないが、図9に示すエラーデータは、外部記憶
装置5に読み出されたエラーデータと異なるため書き換
えられる。このとき、外部記憶装置5のエラーデータの
内、「0,1,1」となるインデックスのエラーデータ
が古いため、図11に示すように記憶される。そして、
このエラーデータが送信データとなって外部記憶装置5
に送信される。
エラーデータが送信データに変換される。そして、例え
ば図10に示す外部記憶装置5に記憶されたエラーデー
タがRAM4に読み出され、両者のエラーデータが比較
される。この内、イッデックス及びエラーデータが同一
の場合にはエラーデータが送信されて外部記憶装置5に
記憶されないが、図9に示すエラーデータは、外部記憶
装置5に読み出されたエラーデータと異なるため書き換
えられる。このとき、外部記憶装置5のエラーデータの
内、「0,1,1」となるインデックスのエラーデータ
が古いため、図11に示すように記憶される。そして、
このエラーデータが送信データとなって外部記憶装置5
に送信される。
【0029】通常、フォークリフトには数10個ものセ
ンサが設けられているが、同時に数10個のセンサがエ
ラーになることはない。そのため、どのセンサがエラー
を起こしたかを知るのではなく、同時にどのセンサが連
係的にエラーを起こしたかをイッデックスに記憶された
データに基づいて容易に知ることができる。その他、バ
イト数は6バイトに限らず、必要に応じて増減すること
もできる。
ンサが設けられているが、同時に数10個のセンサがエ
ラーになることはない。そのため、どのセンサがエラー
を起こしたかを知るのではなく、同時にどのセンサが連
係的にエラーを起こしたかをイッデックスに記憶された
データに基づいて容易に知ることができる。その他、バ
イト数は6バイトに限らず、必要に応じて増減すること
もできる。
【0030】尚、本実施例ではフォークリフトに具体化
したが、その他車両に具体化してもよいことは勿論であ
る。
したが、その他車両に具体化してもよいことは勿論であ
る。
【0031】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、外
部の不揮発性メモリに効率よくエラーデータを書き込む
とともに、不揮発性メモリの寿命を長くすることができ
る優れた効果がある。
部の不揮発性メモリに効率よくエラーデータを書き込む
とともに、不揮発性メモリの寿命を長くすることができ
る優れた効果がある。
【図1】本発明にかかる外部メモリ制御方法を示すフロ
ーチャート図である。
ーチャート図である。
【図2】フォークリフトに搭載された電気制御装置の電
気ブロック回路図である。
気ブロック回路図である。
【図3】1バイト(8ビット)の外部記憶装置及びRA
Mの内部データの構成を示す説明図である。
Mの内部データの構成を示す説明図である。
【図4】エラー検出処理の1部構成を示すフローチャー
ト図である。
ト図である。
【図5】従来の外部メモリ制御方法を示すフローチャー
ト図である。
ト図である。
【図6】従来の1バイトのEEPROM内部データの構
成を示す説明図である。
成を示す説明図である。
【図7】エラー検出処理の1部構成を示すフローチャー
ト図である。
ト図である。
【図8】6バイトにてRAM及び外部記憶装置の記憶領
域を示す説明図である。
域を示す説明図である。
【図9】RAMに記憶されたエラーデータを示す説明図
である。
である。
【図10】EEPROMに記憶されたエラーデータを示
す説明図である。
す説明図である。
【図11】EEPROMから読み出されたエラーデータ
にRAMに記憶された新たなエラーデータを記憶して新
たな送信データとして構成したことを示す説明図である
。
にRAMに記憶された新たなエラーデータを記憶して新
たな送信データとして構成したことを示す説明図である
。
Claims (1)
- 【請求項1】 車両の各種センサ、電気部品等の異常
を検出し、そのエラーデータを外部記憶装置に記憶する
自己診断機能を備えた車両における外部メモリ制御方法
において、前記車両の走行中又は荷役作業中の時々に各
種センサ、電気部品等の異常を検出処理してエラーデー
タを作成し、車両の使用終了時にその作成したエラーデ
ータを外部記憶装置に記憶することを特徴とする車両に
おける外部メモリ制御方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3063426A JPH04297350A (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 車両における外部メモリ制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3063426A JPH04297350A (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 車両における外部メモリ制御方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04297350A true JPH04297350A (ja) | 1992-10-21 |
Family
ID=13228951
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3063426A Pending JPH04297350A (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 車両における外部メモリ制御方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04297350A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002236595A (ja) * | 2001-02-09 | 2002-08-23 | Fujitsu Ten Ltd | 電子機器ならびにそのデバッグ支援装置および方法 |
JP2007062632A (ja) * | 2005-09-01 | 2007-03-15 | Fujitsu Ten Ltd | 電子制御ユニットおよび異常発生時記憶用データの記憶方法 |
JP2007106164A (ja) * | 2005-10-11 | 2007-04-26 | Denso Corp | 車両診断装置 |
JP2008201554A (ja) * | 2007-02-21 | 2008-09-04 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 産業車両の稼動管理方法及びシステム |
JP2010013004A (ja) * | 2008-07-04 | 2010-01-21 | Denso Corp | 車両用電子制御装置 |
JP2020016511A (ja) * | 2018-07-25 | 2020-01-30 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路および回転検出装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6379031A (ja) * | 1986-09-24 | 1988-04-09 | Nissan Motor Co Ltd | 車両用故障診断装置 |
-
1991
- 1991-03-27 JP JP3063426A patent/JPH04297350A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6379031A (ja) * | 1986-09-24 | 1988-04-09 | Nissan Motor Co Ltd | 車両用故障診断装置 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002236595A (ja) * | 2001-02-09 | 2002-08-23 | Fujitsu Ten Ltd | 電子機器ならびにそのデバッグ支援装置および方法 |
JP2007062632A (ja) * | 2005-09-01 | 2007-03-15 | Fujitsu Ten Ltd | 電子制御ユニットおよび異常発生時記憶用データの記憶方法 |
JP2007106164A (ja) * | 2005-10-11 | 2007-04-26 | Denso Corp | 車両診断装置 |
JP4677876B2 (ja) * | 2005-10-11 | 2011-04-27 | 株式会社デンソー | 車両診断装置 |
JP2008201554A (ja) * | 2007-02-21 | 2008-09-04 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 産業車両の稼動管理方法及びシステム |
JP2010013004A (ja) * | 2008-07-04 | 2010-01-21 | Denso Corp | 車両用電子制御装置 |
JP2020016511A (ja) * | 2018-07-25 | 2020-01-30 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路および回転検出装置 |
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