JPH042967A - フローセンサ - Google Patents

フローセンサ

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JPH042967A
JPH042967A JP10561690A JP10561690A JPH042967A JP H042967 A JPH042967 A JP H042967A JP 10561690 A JP10561690 A JP 10561690A JP 10561690 A JP10561690 A JP 10561690A JP H042967 A JPH042967 A JP H042967A
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JP
Japan
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thin film
cavity
resistor
temperature
substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP10561690A
Other languages
English (en)
Inventor
Haruhiko Nasa
奈佐 晴彦
Kazuyoshi Fukuda
和良 福田
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、気体の流速や、さらにはそれから気体の流
量を求めるために使用されるフローセンサに関するもの
である。
〔従来の技術] 近年、計測用または工業計測用にフローセンサが利用さ
れるようになってきた。流速を計測する方法については
、これまで幾種類か発表されているが、その中でも発熱
体の抵抗値が気体の流速により変化することを利用して
、流速を計測する方法が計測器などで具体化されている
フローセンサには、定電流型と定温度型とがあるが、い
ずれもその出力電圧Vまたは出力電流Iは、流速をVと
したとき、 ■または1.oc(α+β×v I / 2 ) + 
/ Zとなる関係がある。なお、α、βは定数である。
この原理に基づいた定温度型のフローセンサの一例を第
3図に示す。
第3図(a)はセンサ素子24を示す図である。センサ
素子24は、短ざく状のガラス薄板25の同一面状の一
方の端部側にヒータ26およびヒータ温度モニタ28が
配置され、他力の端部側に温度イにンザ27が配置され
ているものである。これらヒータ26.温度センサ27
およびヒータ温度モニタ28は、いずれも白金薄膜で構
成されている。
センサ素子24は、第3図(b)に示すように、カラス
薄板25の温度セン゛す27が配置されている側端部で
、片持ち梁状にヘース29により保持されている。
このフローセンザ番Δ−1温度センザ27とヒータ温度
モニタ28とで検出される温度の差を一定に保つ回路に
接続され、第3図(b)に示す矢印Z方向へ気体を流す
とともに、ヒータ26に通電し、温度センサ27とヒー
タ温度モニタ28とによる検出温度差を一定に保持させ
たときのヒータ26の消費電力から流速を求めている。
〔発明か解決しようとする課題〕
フローセンサの特性は、主に流速に対する感度と応答速
度とで評価されるが、上記従来のフローセンサは、感度
と応答速度とを高めるため乙こセン→ノー素子24を実
質的に中空に浮かせた状態になっている。このため、構
造上不安定であり、歩留りも非常に悪いというlL’l
aかある。
この発明の目的は、上記従来の問題を解決し、特性の優
れたフローセンザ?i、提供するごよである。
〔課題を解決するだめの手段〕
請求項(1)記載の゛ノローナンリ゛は、絶縁膜か表面
に形成され絶縁基板か裏面に貼着された゛1′:導体基
板と、この半導体基板の絶縁膜上に形成された第1およ
び第2の薄膜側/i!li抵抗体と、この第1お」ミび
第2の薄膜4)す温11℃抗体の一トカ4こおLJる半
導体基板の11.ri域に形成した第1の空洞部と、半
導体基板の絶縁膜上の第1および第2の薄膜側d7.抵
抗体と別の位置に形成された第3の薄膜測温抵抗体と、
この第3の薄膜測温抵抗体の下方にお()る゛1′−導
体基板の領域Cご形成した第2の空洞部とを備え、第]
および第2の空洞部を真空にしている。
請求項(2)記載のフし1−センサは、請求項(1)記
載のフローセンサにおいて、第1および第2の空洞部を
共通の空洞部で形成したことを特徴とする。
〔作用〕
この発明の構成によれば、半導体基板と一体の薄い絶縁
膜上に第1の薄膜測温抵抗体が形成され、しかも空洞部
を真空にしであるため断熱性に優れ、第1の薄膜測温抵
抗体が僅かな電力で容易に温度−に昇する。また、空洞
部か密閉され空洞部での乱流を防止できる。
〔実施例] 実薯」殊↓ この発明の第1の実施例のフローセンサについて第1図
を参照しなから説明する。
第1図(a)はこの発明の第1の実施例の定電流型のフ
ローセンサの斜視図、第1図(b)は第1図(a)にお
いてT−M線に沿った断面図、第1図(C1は第11m
(a)においてn−n’線に沿った断面図である。
1はシリコン基板、2はシリコン基板1を異方性エツチ
ングして形成した第1の空洞部、3,5Di、’ S 
i 3 N aまたは5102からなる絶縁膜、4は第
1の空洞部2を異方性エツチング形成する際に残留させ
た第1の空洞部2上の絶縁膜3からなる支持薄膜、6は
白金からなる第】の薄膜測温抵抗体で支持薄膜4−ト乙
こンクジ1グ状に形成されてよりす、その両端部分はり
一1条7.8によって電極端子9.10に接続されてい
る。11は白金からなる第2の薄膜測温抵抗体で支持薄
膜4斗に第1の薄膜測温抵抗体の近傍にソグザグ状に形
成されており、その両端部分はり−1−条7.I2によ
って電極端子9.13に接続されている。
14はシリコン基十反1をbyブフ1生コニノチンクし
て形成した第2の空洞部、15は第2の空洞部14を異
方性エンチング形成する際に残留させた第2の空洞部]
4上の絶縁膜3からなる支持薄膜、16は白金からなる
第3の薄膜測温抵抗体で支持′al膜1膜上5上グザグ
4ノe ?こ形成されており、その両端部分はり一ト条
]、7.18によって電極端子19.20に接続されて
いる。
21は第1の空洞部2および第2の空洞部が真空状態に
なるようにシリコン基板1に静電?1等で貼り合わせた
耐熱ガラス、22LiSirN、またはSiO2からな
る保護膜である。
第1の空洞部2−にの支持薄膜4.第1の薄膜測温抵抗
体6.第2の薄j1ψ測温抵抗体11および保護膜22
からなる積層部分は、流速感応部Aを構成しその厚さは
数μmから数十μmという極めて薄い膜状をなしている
以下、この実施例のフローセンサの動作について説明す
る。
第1図において、流速感応部Aの構成要素である第1の
薄膜測温抵抗体6は、電極端子9,10間に電圧を印加
して通電すると発熱する。流速感応部Aは薄膜状である
ので、僅かな電力で温度か上昇し、シリコン基板1の温
度より高くなる。この流速感応部への温度変化に応して
、第1の薄膜測温抵抗体6の抵抗値が変化する。それに
伴い電極端子9,10間の電圧が変化する。
この実施例のフローセンサを測定すべき流体中に置くと
その流速に応じて流速感応部Aからの単位時間当たりの
熱散逸量が変化する。すなわち、流速が増減することに
より、流速感応部Aの温度か上昇または低下する。そし
て流速感応部Aを構成する第1の薄膜測温抵抗体6の抵
抗値は温度の変化に応して増減するので、電極端子9,
10間の電圧が増減する。
一方、シリコン基板1の温度捷たば周囲温度は、第3の
′7jj膜ff1ll温抵抗体16で検出される。無風
状態で検出される温度と、第1の薄膜測温抵抗体6によ
る温度との差が常に一定に保たれるように、第2の薄膜
測温抵抗体11に一定電流を流し7ておく。このときの
第1の薄膜/Itll温抵抗体6の電圧を基準とすると
、出力電圧■または出力電流■ば、流速をVとしたとき
、 ■またはl oC(α十βX V l/2 ) l/2
となる関係式(α、βは定数)から明らかなように、流
速Vの値の4乗根に比例した出力電圧Vか得られる。
以上のようにこの実施例によれば、シリコン基十反1上
に異方性コ:ノチングによって熱的に敏感な支持薄膜4
と支持薄膜15とを形成し、支持薄膜4の上に第1.第
2の薄膜測温抵抗体6 11を形成し、支持薄膜15の
上に第3の薄膜測温抵抗体16とを形成することで、感
度が高く、応答速、8 度の速い高精度なフローセンサが得られる。
X1華( この発明の第2の実施例のフローセンサについて第2図
を参照しながら説明する。
第2図(a)はこの発明の第2の実施例の定温度型のフ
ローセンサの斜視図、第2図(b)は第2図(a)にお
いてIII −III”線に沿った断面図である。なお
、第1図に対応するものには同一の符号を付しである。
この実施例では第1の実施例における2つの空洞部2,
14を1つの空洞部2aとしたことに特徴がある。第2
図に示すように、空洞部2 a pi域の絶縁膜3から
なる支持薄膜4a上に、第1.第2の薄膜測温抵抗体6
,11を設け、その近傍に第3の薄膜測温抵抗体16を
設りている。
空洞部2a上の支持薄膜4a、第1の薄膜測温抵抗体6
.第2の薄膜測温抵抗体11および保護膜22からなる
積層部分は、流速感応部Bを構成しその厚さは数μmか
ら数十μmという極めて薄い膜状をなしている。
以下、この実施例のフローセンサの動作について説明す
る。
第2の薄膜θす温抵抗体11で検出した第1の薄膜測温
抵抗体6の温度と、第3の薄膜測温抵抗体16で検出し
たシリコン基板1の温度との差か常に一定に保たれるよ
うに第1の薄膜測温抵抗体6の電流源を制御する。
流速感応部Bから散逸する熱は流速の平方根に比例し、
その分だけ第1の薄膜測温抵抗体6に流ず電流が増えて
温度差が一定に保たれる。第2の薄膜測温抵抗体11と
第3の薄膜測温抵抗体16とによる検出温度差を一定に
保持させたときの第1の薄膜測温抵抗体6の消費電力か
ら流速が求められる。
〔発明の効果〕
この発明のフローセンサは、半導体基板と一体の薄い絶
縁膜上に第1の薄膜測温抵抗体が形成され、しかも空洞
部を真空にしであるため断熱性に優れ、第1の薄膜測温
抵抗体か僅かな電力で容易に温度上昇するので、感度と
応答速度がともに高められる。また、空洞部が密閉され
空洞部での乱゛疏を防止できるため、装置を配置する方
向性も必要なく、電力消費量が少なく、効率良く流体の
流速を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)はごの発明の第1の実施例のフローセンサ
の斜視図、第1図(b)は第1図(a)における■■゛
線に沿った断面図、第1図(C)は第1図(a)におけ
るn−n’ 線に沿った断面図、第2図(5))はこの
発明の第2の実施例のフに1−センサの斜視図、第2圓
(b)は第2図(a)におiJるm−m’線に沿った1
す「面図、第3図(a)は従来のフローセンサにおける
素子の平面図、第3図(b)は従来のノロ−センサの斜
視図である。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)絶縁膜が表面に形成され絶縁基板が裏面に貼着さ
    れた半導体基板と、この半導体基板の絶縁膜上に形成さ
    れた第1および第2の薄膜測温抵抗体と、この第1およ
    び第2の薄膜測温抵抗体の下方における前記半導体基板
    の領域に形成した第1の空洞部と、前記半導体基板の絶
    縁膜上の前記第1および第2の薄膜測温抵抗体と別の位
    置に形成された第3の薄膜測温抵抗体と、この第3の薄
    膜測温抵抗体の下方における前記半導体基板の領域に形
    成した第2の空洞部とを備え、第1および第2の空洞部
    を真空にしたフローセンサ。
  2. (2)第1および第2の空洞部を共通の空洞部で形成し
    たことを特徴とする請求項(1)記載のフローセンサ。
JP10561690A 1990-04-20 1990-04-20 フローセンサ Pending JPH042967A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6393907B1 (en) 1999-03-24 2002-05-28 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Thermo-sensitive flow rate sensor
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WO2003102974A1 (fr) * 2002-06-03 2003-12-11 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Pellicule fine de platine et capteur thermique
US6762672B2 (en) 2002-11-06 2004-07-13 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Thermal sensor

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