JPH0427117A - 光気相成長装置 - Google Patents
光気相成長装置Info
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- JPH0427117A JPH0427117A JP13207490A JP13207490A JPH0427117A JP H0427117 A JPH0427117 A JP H0427117A JP 13207490 A JP13207490 A JP 13207490A JP 13207490 A JP13207490 A JP 13207490A JP H0427117 A JPH0427117 A JP H0427117A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
本発明は、光入射用窓に被着した物質の除去を可能にす
る光気相成長装置に関し。
る光気相成長装置に関し。
窓に被着した物質を効率良く除去して、窓洗浄に伴う付
帯作業時間を減らし、高稼働率の光気相成長装置を提供
することを目的とし。
帯作業時間を減らし、高稼働率の光気相成長装置を提供
することを目的とし。
■反応室が光入射用の窓を複数個有し、一つの窓が目的
とする膜形成用の窓として用いられ、他の窓の少なくと
も一つがエツチング用の窓として。
とする膜形成用の窓として用いられ、他の窓の少なくと
も一つがエツチング用の窓として。
前記膜形成用の窓に堆積した物質除去のための光励起エ
ツチング用に用いられる構造を有するように。
ツチング用に用いられる構造を有するように。
■前記膜形成用の窓および前記エツチング用の窓から入
射される光源は、それぞれ膜形成用ガスおよびエツチン
グ用ガスの吸収波長域内で大きな強度を有する光源であ
るように。
射される光源は、それぞれ膜形成用ガスおよびエツチン
グ用ガスの吸収波長域内で大きな強度を有する光源であ
るように。
■前記エツチング用の窓から入射する光が、前記膜形成
用の窓に内側から直接当たるように配置されている構造
を有するように構成する。
用の窓に内側から直接当たるように配置されている構造
を有するように構成する。
本発明は、光入射用窓に被着した物質の除去を可能にす
る光気相成長装置に関する。
る光気相成長装置に関する。
近年、半導体装置の高速化、高集積化に伴い。
その製造時の熱工程での低温化が必要になってきている
。主要な膜形成工程である気相成長(CVD)では、ダ
メージがなく、且つ低温での方法として光気相成長法が
、従来の熱気相成長法やプラズマ気相成長法に替わって
要求されている。
。主要な膜形成工程である気相成長(CVD)では、ダ
メージがなく、且つ低温での方法として光気相成長法が
、従来の熱気相成長法やプラズマ気相成長法に替わって
要求されている。
光気相成長法では、基板上に堆積する膜と同じ物質が光
入射用窓に被着しやすく、特に、窓の近傍では反応ガス
による吸収がないために光が強く。
入射用窓に被着しやすく、特に、窓の近傍では反応ガス
による吸収がないために光が強く。
窓内面への被着速度が大きい。そのため、基板上に膜を
成長するにしたがい、窓での光の透過率が下がってきて
、成長速度が落ちたり、膜が変質してくるために、定期
的に窓を洗浄する必要がある。
成長するにしたがい、窓での光の透過率が下がってきて
、成長速度が落ちたり、膜が変質してくるために、定期
的に窓を洗浄する必要がある。
第3図は従来例の説明図である。
図において、12は反応室、13は窓、 14は基板。
15は生成膜、 16は反応生成物、17は水銀ランプ
。
。
18はガス導入口、 19は排気口である。
第3図に示す従来の光気相成長装置は、基板14上に生
成膜】5を被着するときに9反応室12に設けられた光
入射用の窓13に反応生成物が付着し、水銀ランプ17
からの光の入射両に影響が出てきたときに窓13を反応
室1!から取り外して、薬品に浸して洗浄していた。
成膜】5を被着するときに9反応室12に設けられた光
入射用の窓13に反応生成物が付着し、水銀ランプ17
からの光の入射両に影響が出てきたときに窓13を反応
室1!から取り外して、薬品に浸して洗浄していた。
ところが、窓13を付は替えるためには、多くの時間と
労力を費やさねばならず、また、付は替えた後では水分
の除去のためには反応室全体を高温で乾燥しなければな
らず、著しく作業能率が劣っていた。
労力を費やさねばならず、また、付は替えた後では水分
の除去のためには反応室全体を高温で乾燥しなければな
らず、著しく作業能率が劣っていた。
従って、光気相成長法で基板上に膜形成する場合、他の
方法に比べて成長時間以外の付帯作業時間の割合が多(
、装置の稼働率を低くしていた。
方法に比べて成長時間以外の付帯作業時間の割合が多(
、装置の稼働率を低くしていた。
本発明は、窓に被着した物質を効率良く除去して、窓洗
浄に伴う付帯作業時間を減らし、高稼働率の光気相成長
装置を提供することを目的とする。
浄に伴う付帯作業時間を減らし、高稼働率の光気相成長
装置を提供することを目的とする。
第1図は本発明の原理説明図である。
図において、■は反応室、2は膜形成用の窓。
3はエツチング用の窓、4は基板、5は生成膜。
6は反応生成物、7はガス導入口、8は排気口。
9は低圧水銀ランプ、 10は高圧水銀ランプである。
本発明の光気相成長装置は反応室lが光入射用の窓を複
数個有し、一つの窓が目的とする膜形成用の窓2として
用いられ、他の窓の少なくとも一つがエツチング用の窓
3として、前記膜形成用の窓2に堆積した物質除去のた
めの光励起エツチング用に用いられる構造を有すること
により。
数個有し、一つの窓が目的とする膜形成用の窓2として
用いられ、他の窓の少なくとも一つがエツチング用の窓
3として、前記膜形成用の窓2に堆積した物質除去のた
めの光励起エツチング用に用いられる構造を有すること
により。
また、前記膜形成用の窓2および前記エツチング用の窓
3から入射される光源は、それぞれ膜形成用ガスおよび
エツチング用ガスの吸収波長域内で大きな強度を有する
光源であることにより。
3から入射される光源は、それぞれ膜形成用ガスおよび
エツチング用ガスの吸収波長域内で大きな強度を有する
光源であることにより。
或いは、前記エツチング用の窓3から入射する光が、前
記膜形成用の窓2に内側から直接当たるように配置され
ている構造を有することにより特徴づけらる。
記膜形成用の窓2に内側から直接当たるように配置され
ている構造を有することにより特徴づけらる。
本発明では、膜形成用の窓に被着した物質の除去に際し
、エツチング用の窓から入射した光による光化学反応に
よって発生したラジカル(活性な中性粒子)を用いる。
、エツチング用の窓から入射した光による光化学反応に
よって発生したラジカル(活性な中性粒子)を用いる。
膜形成時には、エツチング用の窓からは1反応に寄与す
る波長の光を入射しないようにするために、エツチング
用の窓にはほとんど被着しない。このために、エツチン
グ用の窓から入射する光は、窓に被着した物質による減
衰を受けることなく、ラジカル発生に有効に作用し、膜
形成用の窓に堆積した物質を効率良く除去する。
る波長の光を入射しないようにするために、エツチング
用の窓にはほとんど被着しない。このために、エツチン
グ用の窓から入射する光は、窓に被着した物質による減
衰を受けることなく、ラジカル発生に有効に作用し、膜
形成用の窓に堆積した物質を効率良く除去する。
従って9本発明によれば、膜形成用の窓に被着した物質
の除去に際し、膜形成用の窓を取り外す必要がないため
に、それに要する時間と労力を節減でき、高稼働率の光
気相成長装置を実現できる。
の除去に際し、膜形成用の窓を取り外す必要がないため
に、それに要する時間と労力を節減でき、高稼働率の光
気相成長装置を実現できる。
第2図は本発明の装置の一実施例の模式構成図であり9
枚葉式光気相成長装置の反応室を示している。
枚葉式光気相成長装置の反応室を示している。
図において、1は反応室、2は膜形成用の窓。
3はエツチング用の窓、4は基板、7はガス導入口、8
は排気口、9は低圧水銀ランプ、 10は高圧水銀ラン
プ、11は赤外線ランプである。
は排気口、9は低圧水銀ランプ、 10は高圧水銀ラン
プ、11は赤外線ランプである。
真空になっているステンレス製の反応室1にガス導入ロ
アから水素(H2)ガスを導入して圧力を200 To
rrにし、赤外線ランプ11によりシリコン(Si)の
基板4を650℃に加熱する。
アから水素(H2)ガスを導入して圧力を200 To
rrにし、赤外線ランプ11によりシリコン(Si)の
基板4を650℃に加熱する。
続いて、ガス導入ロアを通して、それぞれのガスインレ
ットから、ジシラン(Si2Ha)とホスフィン(PH
,)をそれぞれ30mA /min、 2mf /mi
n導入した後、膜形成用の窓2を通して、低圧水銀ラン
プより紫外光をSi基板4に照射する。
ットから、ジシラン(Si2Ha)とホスフィン(PH
,)をそれぞれ30mA /min、 2mf /mi
n導入した後、膜形成用の窓2を通して、低圧水銀ラン
プより紫外光をSi基板4に照射する。
このとき、 Si、H,とPH,が分解して、Si基板
4の表面に生成膜としてn型のSiエピタキシャル膜が
1.000人の厚さに成長する。
4の表面に生成膜としてn型のSiエピタキシャル膜が
1.000人の厚さに成長する。
所定の膜厚に達したところで、光の照射を止め。
導入ガスを全て停止し、1枚の基板上の成長処理を終え
9次の基板を搬送して9次の成長に備える。
9次の基板を搬送して9次の成長に備える。
このようにして、多数枚のエピタキシャル成長を続けて
行くと、膜形成用の窓2の内側にもSiが被着し1段々
厚(成ってくる。
行くと、膜形成用の窓2の内側にもSiが被着し1段々
厚(成ってくる。
このようになると、紫外光の透過が妨げられ。
光の入射量が減衰してエピタキシャル膜の成長速度が落
ちるばかりでなく、良質なエピタキシャル膜が得られな
い。
ちるばかりでなく、良質なエピタキシャル膜が得られな
い。
このため、光を減衰する影響が現れる前に、膜形成用の
窓2を洗浄して9反応生成物を除去する必要がある。
窓2を洗浄して9反応生成物を除去する必要がある。
この洗浄は9反応室1内にSi基板4がない状態で、真
空になっている反応室lにガス導入ロアから塩素(CI
!2)を導入し、 100Torrの真空度にして。
空になっている反応室lにガス導入ロアから塩素(CI
!2)を導入し、 100Torrの真空度にして。
赤外線ランプ11によって、Siの反応生成物が被着し
ている膜形成用の窓2を150℃に加熱する。
ている膜形成用の窓2を150℃に加熱する。
続いて、エツチング用の窓3から高圧水銀ランプlOを
用いて紫外光を反応室l内に照射すると。
用いて紫外光を反応室l内に照射すると。
反応室1内の塩素が分解して塩素原子となり、膜形成用
の窓2の内側に付着しているSiと反応して。
の窓2の内側に付着しているSiと反応して。
反応生成物が塩化物となって蒸発し、膜形成用の窓2が
洗浄される。
洗浄される。
以上説明したように1本発明によれば、光気相成長装置
内の膜形成用の窓に堆積した物質を、エツチング用の窓
からの入射光を利用してエツチングすることにより、効
率良(除去し、高稼働率の光気相成長装置の実現に寄与
するところが大きい。
内の膜形成用の窓に堆積した物質を、エツチング用の窓
からの入射光を利用してエツチングすることにより、効
率良(除去し、高稼働率の光気相成長装置の実現に寄与
するところが大きい。
第1図は本発明の原理説明図。
第2図は本発明の装置の一実施例の模式構成図。
第3図は従来例の説明図
である。
図において。
lは反応室、 2は膜形成用の窓。
3はエツチング用の窓。
4は基板、 5は生成膜。
6は反応生成物、 7はガス導入口。
8は排気口、 9は低圧水銀ランプ。
10は高圧水銀ランプ、 IIは赤外線ランプq低圧宸
韻うレブ 未発明O原捏説岨図 葛 1 図 16反定性成物 夜来4デ1の脱of4図
韻うレブ 未発明O原捏説岨図 葛 1 図 16反定性成物 夜来4デ1の脱of4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)反応室(1)が光入射用の窓を複数個有し、一つの
窓が目的とする膜形成用の窓(2)として用いられ、他
の窓の少なくとも一つがエッチング用の窓(3)として
、前記膜形成用の窓(2)に堆積した物質除去のための
光励起エッチング用に用いられる構造を有することを特
徴とする光気相成長装置。 2)前記膜形成用の窓(2)および前記エッチング用の
窓(3)から入射される光源は、それぞれ膜形成用ガス
およびエッチング用ガスの吸収波長域内で大きな強度を
有する光源であることを特徴とする請求項1記載の光気
相成長装置 3)前記エッチング用の窓(3)から入射する光か、前
記膜形成用の窓(2)に内側から直接当たるように配置
されている構造を有することを特徴とする請求項1記載
の光気相成長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13207490A JPH0427117A (ja) | 1990-05-22 | 1990-05-22 | 光気相成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13207490A JPH0427117A (ja) | 1990-05-22 | 1990-05-22 | 光気相成長装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0427117A true JPH0427117A (ja) | 1992-01-30 |
Family
ID=15072907
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13207490A Pending JPH0427117A (ja) | 1990-05-22 | 1990-05-22 | 光気相成長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0427117A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004020693A1 (ja) * | 2002-08-30 | 2004-03-11 | Tokyo Electron Limited | 基板処理装置のクリーニング方法及び基板処理装置 |
-
1990
- 1990-05-22 JP JP13207490A patent/JPH0427117A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004020693A1 (ja) * | 2002-08-30 | 2004-03-11 | Tokyo Electron Limited | 基板処理装置のクリーニング方法及び基板処理装置 |
JP2004091828A (ja) * | 2002-08-30 | 2004-03-25 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置のクリーニング方法及び基板処理装置 |
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