JPH0426881Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の技術分野〕 本考案はデイスク再生装置に関し、特にサーボ
系に改良を加えたデイスク再生装置に関する。

〔考案の技術的背景および問題点〕 同心円状にもしくは渦巻状にオーデイオ情報、
ビデオ情報が記録され、読出される情報記憶担体
（以下、デイスクと記す）の再生装置においては、
振動等、外部からの衝撃に対して再生装置の再生
性を向上するために、サーボ系において外乱の周
波数帯域に対してオープンループゲインを大きく
とつて、外乱をサーボ系で圧縮することは知られ
ている。

しかし定常的に高域のオープンループゲインを
大きくとることはアクチユエータから発生する騒
音を大きくしたり、発熱が増大する問題があつて
好ましくない。

このため一般にはサーボ系の残留エラー信号を
観測して、残留エラー信号が所定値を超えると外
乱が大きいと判断して、高域のオープンループゲ
インを大にする方法がとられる。この方法を用い
た従来の例を第１図に示す。

第１図において、１および２はデイスク上にス
ポツトを結ぶトラツキングエラー検出用のサブビ
ームスポツトであり、所謂３ビーム方式のトラツ
キングエラー検出方式の場合の例である。

ピツクアツプで生成したサブビームスポツト
１，２からの信号をデテクタでそれぞれ受け、こ
のデテクタからの出力は差動増幅器３に供給し
て、その差の演算をし、差動増幅器３の出力から
トラツキングエラー信号を得ている。差動増幅器
３から得たトラツキングエラー信号をピツクアツ
プの特性を補正してサーボ帯域を設定するトラツ
キングイコライザ４に供給して所望のゲイン、位
相特性に補正される。ここでトラツキングイコラ
イザ４は通常再生時の特性と、外乱の多い場合の
ために高域のループゲインを大きく取つた特性と
を切換えられるように構成してある。本明細書で
は前者の特性をナロー特性と、後者の特性をワイ
ド特性と記す。

トラツキングイコライザ４で補正されたトラツ
キングエラー信号は、駆動増幅器５を介してトラ
ツキングアクチユエータ６に供給されて、トラツ
キングアクチユエータ６を駆動する。

一方、トラツキングエラー信号はバンドパスフ
イルタ７に供給されて残留エラー信号が検出さ
れ、バンドパスフイルタ７の出力は比較器８およ
び９に供給され、比較器８の出力と比較器９の出
力はオア回路１０に供給され、オア回路１０の出
力によりトラツキングイコライザ４の特性が切換
えられるように構成されている。

すなわち、振動等、外乱の多い場合にはトラツ
キングエラー信号には外乱によつて生ずるトラツ
キングエラー残留成分、すなわち残留エラー信号
が現われてくる。この残留エラー信号はバンドパ
スフイルタ７によつて抽出され、バンドパスフイ
ルタ７で抽出された残留エラー信号が比較器８，
９の基準電圧＋REF，−REFを（＋）方向にまた
は（−）方向に超えると外乱が大きいと判断され
てトラツキングイコライザ４の特性がワイド特性
に切替えられる。

しかるに上記の如き従来の光学式デイスク再生
装置によるときは、デイスクに存在する欠陥、ブ
ラツクスポツト、指紋跡、傷、気泡など所謂、部
分的欠陥（Local Defect）があると、これら部
分的欠陥の部分を再生しようとした場合、たとえ
ばトラツキングサーボについて説明すると、本来
のビームスポツトと、トラツクとの相対変位とは
無関係な、でたらめな信号がトラツキングエラー
信号として差動増幅器３から出力される。

このようなトラツキングエラー信号はトラツキ
ングイコライザ４、駆動増幅器５を介してトラツ
キングアクチユエータ６を駆動することになり、
ついには音飛びの原因であるトラツクジヤンプを
引き起すことになる。

上記した部分的な欠陥部分の再生による、でた
らめな信号の周波数帯域も100Hz〜20kHz程度で
あるために、第１図に示す従来例では振動等の外
乱と区別がつかず、部分的な欠陥部分が存在する
場合もトラツキングイコライザ４の特性を切換え
てしまうことになる。

このために部分的な欠陥部分による、でたらめ
な信号に対する追従性が更に向上して、さらに音
飛びをするようになる。

以上の如く従来例の光学式デイスク再生装置に
よるときには、振動等の外乱に対する再生性は向
上するが、部分的な欠陥などデイスクに起因する
外乱には逆に再生性が悪くなる欠点があつた。

〔考案の目的〕

本考案は上記にかんがみてなされたもので、サ
ーボ系の外乱による残留エラー信号成分からデイ
スクの回転周期に同期する成分があるかを判別し
て振動等の外乱と部分的な欠陥とを検出し、再生
性を向上させた光学式デイスク再生装置を提供す
ることを目的とする。

〔考案の実施例〕

第２図は本考案の一実施例の構成を示すブロツ
ク図である。

第２図において、第１図における従来例と同一
構成要素には同一の符号を付して示してあり、そ
の説明は省略してある。

第２図において１１は残留エラー信号からスピ
ンドル回転周期に同期した外乱があるかを検出す
る検出回路、１２は検出回路１１の出力とオア回
路１０の出力とを受けて、トラツキングイコライ
ザ４の特性を切替える判断回路である。

検出回路１１は、たとえば第３図に示す如く構
成してある。第３図において、差動増幅器３から
出力されたトラツキングエラー信号はバンドパス
フイルタ２１に供給されて外乱成分の周波数帯域
のみが通過する。バンドパスフイルタ２１からの
出力は比較器２２および２３に供給されて比較器
２２，２３の基準電圧＋REF、−REFを（＋）方
向に、（−）方向にそれぞれ超えたことが検出さ
れる。比較器２２，２３の出力はそれぞれ各別に
単安定マルチバイブレータ２４，２５に供給され
て、単安定マルチバイブレータ２４，２５をトリ
ガし、単安定マルチバイブレータ２４，２５の出
力はそれぞれ各別にバンドパスフイルタ２６，２
７に供給されてスピンドルの回転周波数、すなわ
ちデイスクの回転周波数成分のみが通過する。バ
ンドパスフイルタ２６，２７の出力は検波回路２
８，２９にそれぞれ供給され、検波回路２８，２
９の出力は比較器３０，３１に供給され、比較器
３０，３１の出力はオア回路３２を介して判断回
路１２に供給される。

以上の様に構成された本考案の一実施例の作用
について説明する。

部分的な欠陥のあるデイスクを再生した場合、
差動増幅器３から出力されるトラツキングエラー
信号は、第４図ａに示した如き波形であり、デイ
スクの偏心によるトラツキングエラー信号の残留
成分およびデイスクの回転周期に一致する成分
に、欠陥による外乱成分が重畳されている。第４
図に示す如きトラツキングエラー信号はバンドパ
スフイルタ２１に供給されて、バンドパスフイル
タ２１によつて欠陥による外乱成分のみが抽出さ
れ、デイスクの偏心によるトラツキングエラー信
号の残留成分は減衰させられる。そこでバンドパ
スフイルタ２１の出力波形は第４図ｂに示す如き
波形となる。

第４図ｂに示したバンドパスフイルタ２１から
の出力は比較器２２，２３に供給され、比較器２
２，２３の基準電圧＋REF、−REFを（＋）方向
にまたは（−）方向に超えた出力が供給されたと
き比較器２２，２３は出力を発生する。比較器２
２，２３のこの出力により単安定マルチバイブレ
ータ２４，２５はトリガされる。トリガされた単
安定マルチバイブレータ２４または２５の出力は
第４図ｃに示す如くになる。

トリガされた単安定マルチバイブレータ２４，
２５の出力はバンドパスフイルタ２６，２７に供
給され、バンドパスフイルタ２６，２７によつて
デイスク回転周波数成分のみが単安定マルチバイ
ブレータ２６，２７の出力から抽出される。バン
ドパスフイルタ２６，２７の出力は第４図ｄに示
す如くである。

バンドパスフイルタ２６，２７から抽出された
デイスク回転周波数成分は検波回路２８，２９に
供給されて、デイスク回転周波数成分に対応した
直流出力に変換された後に比較器３０，３１に供
給される。検波回路２８，２９で変換されたデイ
スク回転周波数成分が比較器３０，３１の基準電
圧＋REF、−REFよりも（＋）方向または（−）
方向に超えているときは、比較器３０，３１は出
力を発生する。比較器３０，３１の出力はオア回
路３２を介して出力される。

しかるに、欠陥は広がりを有し、第５図に示す
如く数トラツクにわたつて存在する。したがつて
デイスクＴを回転させ再生しているときに、欠陥
Ｄが存在する場所を再生し始めて、デイスクの引
き続く回転が行なわれて、初めて欠陥による回転
周期成分であることから検出できるわけである。
この間、比較器８または９により外乱として検出
されると、トラツキングイコライザ４の特性をワ
イドに切替える可能性がある。

しかしながら、欠陥によるトラツキングエラー
信号の乱され方は時刻の経過とともに変化する。
すなわち第５図に示す如く欠陥にトラツクがかか
り始めた時刻t₁においてはトラツキングエラーの
乱され方は小さく、時刻t₂に近づくにしたがつて
乱され方は大きくなり時刻t₂で最大に乱される。
時刻t₂から時刻t₃に近づくにつれて乱され方は小
さくなる。しかるに時刻t₁付近の数回転の間に、
第４図ａ〜ｄによつて説明した如くデイスク回転
周波数成分が検出回路１１によつて検出されて、
判断回路１２に供給されるため、オア回路１０か
らの出力にかかわらず、トラツキングイコライザ
４の特性をワイドにすることはなくなる。

したがつて欠陥部を再生をしているときは、ト
ラツキングイコライザ４の特性がワイドに切替え
られることはない。しかし、時刻t₁の近傍におい
て短い時間だけトラツキングイコライザ４の特性
をワイドに切替えられる可能性があるが、このと
きにおいては欠陥によるトラツキングエラー信号
の乱され方が未だ小さいため、影響は少ない。

なお、以上説明した本考案の一実施例において
は、単安定マルチバイブレータ２４，２５の出力
パルス幅は、比較器８，９の基準電圧＋REF、−
REFとの関係で自由に設定することができる。

またバンドパスフイルタ７と２１とは共用する
ことができる。

またさらに、以上説明した本考案の一実施例に
おいて検出回路１０は第３図に示した如く外乱の
繰返し周期のスペクトラムをアナログ的に検出す
る方法を用いたが、外乱の繰返し周期をデジタル
カウンタで計数し、スピンドルの回転周期と一致
することを検出することもできる。また、外乱の
位相とスピンドルの回転位相との位相差を検出
し、この位相差が変化しないことを検出しても同
様である。後者の場合の一例を第６図に示す。

第６図において、３５はカウンタであつて、任
意のクロツクパルスが供給され、かつカウント開
始信号として第４図ｃに示す如きトラツキングエ
ラー信号の外乱検出信号が供給されている。また
カウントの停止信号としてデイスクの１回転に１
回発生するクロツクパルスを供給してある。カウ
ンタ３５の計数値がほぼ同一であるかをマイクロ
コンピユータ３６により判別するようにしてもよ
い。

そこでデイスクの欠陥のある部分を再生してい
るときは、カウンタ３５の計数結果はほぼ等し
く、所定範囲内に入り、振動等による外乱の場合
はデイスクの回転と関係のない計数値となる。し
たがつてこの計数値をマイクロコンピユータ３６
で判定することにより欠陥による外乱かどうかが
判別される。

また、第７図に示す如く、トラツキングエラー
信号をＡ／Ｄ変換器３７に供給してデジタル信号
に変換し、Ａ／Ｄ変換器３７の出力をカウンタ３
８に供給して、スピンドル周期信号期間毎にカウ
ントし、カウンタ３８の出力はRAM３９に記憶
してスピンドル１回転前の計数値と、例えばマイ
クロコンピユータ４０に供給してほぼ同一か否か
を判別してもよい。

また、本考案の一実施例においてトラツキング
イコライザ４の特性にナローとワイドとを設け
て、デイスクの欠陥部分を検出した場合、強制的
にワイドの特性に切替える場合を説明したが、通
常の再生のときにおけるトラツキングイコライザ
４の特性（ナロー特性）と、ナロー特性よりもさ
らに帯域の狹く、かつ欠陥に強い狹帯域の特性に
設定しておき、欠陥を検出したとき、上記の狹帯
域の特性に切替えるようにしてもよい。

また、上記実施例においてはトラツキングサー
ボの場合を例に説明したが、フオーカスサーボに
対しても同様に適用できる。また、コンパクトデ
イスク再生装置およびビデオデイスク再生装置に
も適用できることは勿論である。

〔考案の効果〕

以上説明した如く本考案によればエラー信号の
外乱成分がデイスクの回転に同期しているかどう
かを判別することによりデイスクに存在する欠陥
を、振動などの外乱と区別して検出することがで
きるので、欠陥の存在する場合はサーボ帯域を狹
く切替えることができ、デイスクの欠陥に対し
て、再生装置の再生性を高めることができ、振動
等の外乱によつて再生性を悪化させることもな
い。

【図面の簡単な説明】

第１図は光学式デイスク再生装置における従来
のトラツキングサーボ装置のブロツク図、第２図
は本考案の一実施例のブロツク図、第３図は本考
案の一実施例における検出回路のブロツク図、第
４図および第５図は本考案の作用の説明に供する
波形図、第６図および第７図は本考案の一実施例
における検出回路の他の例を示すブロツク図であ
る。 ４……トラツキングイコライザ、７……バンド
パスフイルタ、８および９……比較器、１１……
検出回路、１２……判断回路。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 同心円状または渦巻状に情報が記録されたデイ
   スクから情報を検出するピツクアツプと、該ピツ
   クアツプの動作を制御するためのエラー信号生成
   手段と、該エラー信号生成手段の信号を受けて外
   乱信号を検出する外乱検出手段と、該外乱検出手
   段の検出出力に基づいて前記出力のループゲイン
   を高くするイコライザと、該イコライザの出力が
   供給されて前記ピツクアツプを駆動する駆動回路
   とを備えたデイスク再生装置において、 前記エラー信号生成手段の出力に基づいて外乱
   信号を検出するとともに前記外乱信号の発生周期
   がデイスクの回転周期と同期しているか否かを検
   出する検出手段と、該検出手段によつて前記外乱
   信号の発生周期がデイスクの回転周期と同期して
   いることが検出されたとき前記イコライザ出力の
   ループゲインを低くすることを特徴とするデイス
   ク再生装置。