JPH0426435B2

JPH0426435B2 -

Info

Publication number: JPH0426435B2
Application number: JP59121402A
Authority: JP
Inventors: Fumihiro Hoshiai
Original assignee: Nippon Electric Co Ltd
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1984-06-13
Filing date: 1984-06-13
Publication date: 1992-05-07
Also published as: JPS61766A

Description

【発明の詳細な説明】（技術分野）本発明は回路基板のパターンにいおける回路断
線、回路間ブリツチを電気的に検査する布線試験
方法およびその装置に関するものである。

（従来技術）従来、この種の布線試験は測定プローブ支持板
上に一定ピツチ格子状に配置した測定プローブ群
を有する布線試験装置を用いており、被検査回路
基板と測定プローブ群との間に被検査回路基板の
検査必要個所にのみ測定プローブを通過する孔を
有する絶縁板を介在させ、必要な測定プローブを
選択することにより、布線試験を実施していた。

第１図は従来方式の１例であり、特開昭53−
6879号公報にて開示されたものである。測定プロ
ーブ１１は絶縁性を有する測定プローブ支持板１
０上に一定ピツチで格子状に配置されており、こ
のピツチは通常検査対象となる回路基板の設計基
準に従つて2.54mm、1.27mm等のピツチが採用され
る。被検査回路基板（以後基板と略称）２０と測
定プローブ支持板（以後支持板と略称）１０との
間にはガラスエポシキ樹脂等の絶縁材料の板に基
板２０の検査個所となるスルホール２１に相当す
る位置に孔明けしたマスクプレート３０を介在さ
せる。この状態で基板２０の布線試験を行うに
は、基板２０とマスクプレート３０をそれぞれ支
持板１０の板面に対向し、かつ測定プローブ１１
の配置した格子と基板２０のスルホール２１の設
計格子およびマスクプレート３０逃げ孔３１の設
計格子が相互に水平状態で、かつ等間隔に一致す
るように支持板１０上に植立させたパイロツトピ
ン１２に基板２０、マスクプレート３０の両ガイ
ド孔２０ａ，３０ａを嵌合さて位置決め装着す
る。次に基板２０と支持板１０とを公知の加圧手
段により押出し近接させると、マスクプレート３
０の逃げ孔３１のある個所から測定プローブ１１
が貫挿し、突出状態で基板２０の検査必要個所に
あるスルホール２１と接触する。従つて電気的に
検査可能状態となるため、測定プローブ１１の下
端と配線（図示省略）を介して接続された布線試
験機の測定部４０により検査必要個所のみの布線
試験を行なつている。このような従来の布線試験
方法では、 (イ) 基板のパターンが異なるごとにそのパターン
に合せて孔あけしたマスクプレートトを製作す
る必要がある。そのため製作コストがかかり、
かつ準備工数も必要とした。

(ロ) マスクプレートは通常回路基板のＸ、Ｙ座標
形成で記述された孔あけ位置情報（以下Ｎ／Ｃ
孔あけ情報と称す）をそのまま用いて製作する
ので、測定プローブの配列格子からはずれた個
所にも孔あけされることがあり、誤検出の原因
となり易かつた。

(ハ) またマスクプレートは通常、薄い絶縁板で作
られるので、耐久性に乏しく、長く使用してい
ると位置決め精度が劣化して測定プローブがマ
スクプレートの逃げ孔を正しく貫挿しなくなる
ため、測定プローブと基板のスルホール間に接
触不良が生じて布線試験の信頼性を低下させて
いた。

（目的）本発明の目的はかかる従来欠点を解決した基板
の布線試験方法およびその装置を提供することに
ある。

（構成）本発明によれば、回路基板のＮ／Ｃ孔あけ情報
を入力し、その情報を所定の移動量だけ移動する
工程と、さらに移動した情報から布線試験機の測
定プローブの配線格子上に位置する情報のみを選
択すし、前記測定プローブと布線試験機との間に
配設した測定プローブに対応するスイツチのアド
レスに変換する工程と、上記アドレスに対応した
スイツチのみをONにする工程とを含む回路基板
の布線試験方法および、回路基板のＮ／Ｃ孔あけ
情報を読取る情報読取り機構と、上記情報読取り
機構と接続されキーボード入力部を有する計算部
と、回路基板の被検査部と接触する測定プローブ
と布線試験機測定部の間に設け、かつ前記計算部
と接続された制御部により個々にON／OFFされ
る前記測定プローブに対応したスイツチ群とを有
することを特徴とする回路基板の布線試験装置が
得られる。

（実施例）以下、本発明の実施例を第２図および第３図
ａ，ｂ，ｃを参照して説明する。

第２図において、従来例と同様に測定プローブ
１１は絶縁性を有する支持板１０上に2.54mm、
1.27mm等の一定ピツチで格子状に配置されてお
り、基板２０はスルホール２１の設計格子と測定
プローブ１１の配置格子とが相互に水平状態で、
かつ等間隔に一致するように支持板１０の一辺に
植立させたバイロツトピン１２に基板２０、マス
クプレート３０の両ガイド孔２０ａ，３０ａを嵌
合して支持板１０上に位置決め装着される。次に
スイツチ群１は通常半導体スイツチで構成されて
おり、布線試験機の測定部４０と測定プローブ１
１の一端とを接続する配線（図示省略）と中間に
それぞれの測定プローブ１１に対応して測定プロ
ーブ１１の数だけ接続され、アドレスデコーダ等
の論理回路で構成される制御部２の指示により指
定されたアドレスのスイツチをON／OFFするこ
とにより、指定された位置の測定プローブ１１と
対応する測定部４０の測定回路（通常半導体シイ
ツチより構成される）との接続が制御できる。

マイクロコンピユータ等で構成される計算部３
は情報読取り機構４を介して入力したXY座標形
式の基板２０のＮ／Ｃ孔あけ情報６をキーボード
部５よりあらかじめ入力したパラメータにより計
算し、シイツチ群１のアドレスに変換して制御部
２へ送り込む機能を有している。

次に本発明による布線試験の動作工程を第３図
ａ，ｂ，ｃにて説明する。

第３図ｂは第２図の基板２０の外形Ａと測定プ
ローブ１１の配置格子Ｂとの関係を示した説明図
であり、座標点P₁〜P₅は基板２０の外に設けた
基準点Z₁を原点とする基板２０のXY座標値形式
（mm単位）のＮ／Ｃ孔あけ情報で、第２図の孔あ
け情報６の一部を示したものである。ΔX，ΔY
は前述のＮ／Ｃ孔あけ情報の原点Z₁と測定プロー
ブ１１の配置格子Ｂの原点Z₂との間のそれぞれ
Ｘ、Ｙ方向の距離であり、基板２０を支持板１０
上に位置決めする時に一意的に決まる値である。

第３図ａのフローチヤートによると、まずキー
ボード部５より前述の原点移動量ΔX ΔYを入力
し、情報読取り機構４え読取つた基板２０のＮ／
Ｃ孔あけ情報６に対して計算部３によりそれぞれ
Ｘ座標、Ｙ座標に対して原点移動を行うと、例え
ば第３図ｂで示すＮ／Ｃ孔あけ情報の座標点P₁
〜P₅は配置格子Ｂの原点Z₂を原点とする情報に
変換される。次に計算部３により前述の原点移動
された情報をそれぞれＸ座標、Ｙ座標共測定プロ
ーブ１１を配置格子ビツチ（通常2.54mm等）で除
し、割り切れるもののみ選択すると、例えば第３
図ｂの孔あけ情報の座標点P₁〜P₅の中でP₄は配
置格子Ｂの交点上に無いため除外され、座標点
P₁（X₁、Y₁）はP₁（２、２）のように格子座標系
に変換される。さらに配置格子Ｂの格子点はそれ
ぞれスイツチ群１のアドレスに一対一で対応して
いるので格子座標系に変換された孔あけ情報は計
算部３によりスイツチ群１のアドレスに変換す
る。この変換は例えばスイツチ群１のアドレスが
連続していれば計算式により計算して変換し、断
続していれば計算部３の記憶部（図示省略）に対
応表をあらかじめ記憶させその対応表を参照して
変換すればよい。次の第３図ｃは第３図ｂのＮ／
Ｃ孔あけ情報の座標点P₁〜P₅がスイチツ群１の
アドレスa₁〜a₅に変換されたことを示す説明図で
ある。スイツチ群１のアドレスに変換された情報
は計算部３から制御部２に送られ、スイツチ群１
の中で指定されたアドレスのみをONにする。な
お、基板２０の端子部２２に対しては、（通常端
子部にはＮ／Ｃ孔あけ情報がないので）あらかじ
め端子部２２に接触する位置の測定プローブ１１
に対応するスイツチのアドレスをスイツチ群１か
ら選択し、キーボード部５より直接入力して、上
記のスイツチをONにすればよい。例えば第３図
ｂに示すアドレスb₁〜b₆は端子部２２に対応する
スイツチのアドレスを示す。

以上の操作により、基板２０を支持板１０上に
位置決めしたときのスルホール２１の位置および
端子部２２の位置に接触すべき測定プローブ１１
に対応するスイツチのみがONされるので、布線
試験機の測定部４０から見て基板２０が検査必要
個所のみに対応する支持板１０が形成されたのと
同じとなり、従来例のようにマスクプレート３０
を介在させた場合と同一の効果をもたらす。従つ
て以後従来例と同様に基板２０を支持板１０に位
置決め装着し、測定プローブ１１と基板２０の検
査必要個所を公知と加圧手段により押圧して接触
させ、測定部４０により検査必要個所のみの布線
試験が行える。

なお、本実施例ではスイツチ群１は測定部４０
と独立して設置しているが、通常測定部４０は電
圧を基板に印加するための半導体スイツチから構
成さえているがスイツチの機種によつてはON／
OFF制御の有効、無効が指定できるものもある。
この場合、制御部２の指示信号をこれら有効、無
効の指定に用いるように制御部２と測定部４０を
接続すれば検査必要個所に対応する測定部４０の
シイツチのみを有効にする操作ができ、スイツチ
群１を省略しることもできる。

（効果）以上、本発明の布線試験方法およびその装置を
用いることにより、 (イ) 従来のように個々の基板に対してマスクプレ
ートを製作する必要がない。そのためマスクプ
レートを製作および交換工数を省略することが
できる。

(ロ) 基板の検査必要個所の選択はすべて入力情報
により行われるため、マスクプレートの位置ず
れによる接触不良は皆無となる。

(ハ) コンピユータ等の計算処理によりプローブ配
列格子上の入力情報のみを選択するので、該検
出も無くなり信頼性の高い布線試験が実施でき
る。

等の効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来例の布線試験方法およびその装置
を説明する斜視図、第２図は本発明の布線試験方
法およびその装置を説明する斜視図とブロツク
図、第３図ａ，ｂ，ｃは本発明の布線試験方法の
動作工程を説明するフローチヤート図および説明
図である。図において、１……スイツチ群、２……制御部、３……計算
部、４……情報読取り機構、１５……キーボード
部、６……Ｎ／Ｃ孔あけ情報、１０……（測定プ
ローブ）支持板、１１……測定プローブ、１２…
…パイロツトピン、２０……（被検査回路）基
板、２１……スルホール、２２……端子部、３０
……マスクプレート、３１……逃げ孔、４０……
布線試験機測定部。

Claims

【特許請求の範囲】１絶縁支持体上に複数の測定プローブを所定の
ピツチで格子上に配置した構造を有する布線試験
機による回路基板の布線試験方法において、前記
回路基板のXY座標形成で記述された孔あけ位置
情報を入力し、該孔あけ位置情報の原点を前記測
定プローブ配置格子の原点に移動させる工程と、
該孔あけ位置情報から前記測定プローブの配置格
子上に位置する情報のみを選択し、前記測定プロ
ーブと布線試験機との間に配設した測定プローブ
に対応するスイツチのアドレスに変換する工程
と、該アドレスに対応した前記スイツチのみを
ONにする工程とを含むことを特徴とする回路基
板の布線試験方法。２回路基板の孔あけ位置情報を読取る情報読取
り機構と、前記情報読取り機構の出力を受けて指
定されたアドレス信号を出力する計算部と前記ア
ドレス信号を受けてON／OFF信号を出力する制
御部と、前記ON／OFF信号を受けて、回路基板
の被検査部と接触する測定プローブと布線試験機
測定部との間の導通を個々にON／OFFするスイ
ツチ群とを有することを特徴とする回路基板の布
線試験装置。