JPH04256206A - Mmic化発振器 - Google Patents
Mmic化発振器Info
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- JPH04256206A JPH04256206A JP3039521A JP3952191A JPH04256206A JP H04256206 A JPH04256206 A JP H04256206A JP 3039521 A JP3039521 A JP 3039521A JP 3952191 A JP3952191 A JP 3952191A JP H04256206 A JPH04256206 A JP H04256206A
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
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- H03C2200/00—Indexing scheme relating to details of modulators or modulation methods covered by H03C
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- H03C—MODULATION
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- H03C3/10—Angle modulation by means of variable impedance
- H03C3/12—Angle modulation by means of variable impedance by means of a variable reactive element
- H03C3/22—Angle modulation by means of variable impedance by means of a variable reactive element the element being a semiconductor diode, e.g. varicap diode
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- Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Microwave Amplifiers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はマイクロ波集積回路基
板に搭載したMMIC化発振器に関し、特にそのマイク
ロ波信号の帰還増幅を行う帰還増幅素子と外部負荷とを
容量結合する負荷結合容量に関するものである。
板に搭載したMMIC化発振器に関し、特にそのマイク
ロ波信号の帰還増幅を行う帰還増幅素子と外部負荷とを
容量結合する負荷結合容量に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図8は従来のMMIC化発振器を示す等
価回路図である。図において、1はマイクロ波集積回路
基板(図示せず)に搭載された、印加電圧により発振周
波数を制御可能なMMIC化発振器で、これは、マイク
ロ波信号の増幅を行い、該増幅信号の一部を発振出力と
して外部負荷300へ供給する信号増幅部100と、自
己のリアクタンス成分を変化させて該信号増幅部100
からの発振出力の周波数を制御するリアクタンス制御部
200とから構成されている。
価回路図である。図において、1はマイクロ波集積回路
基板(図示せず)に搭載された、印加電圧により発振周
波数を制御可能なMMIC化発振器で、これは、マイク
ロ波信号の増幅を行い、該増幅信号の一部を発振出力と
して外部負荷300へ供給する信号増幅部100と、自
己のリアクタンス成分を変化させて該信号増幅部100
からの発振出力の周波数を制御するリアクタンス制御部
200とから構成されている。
【0003】上記信号増幅部100において、10はマ
イクロ波信号の帰還増幅を行う帰還増幅素子で、ここで
はGaAsMESFETを用いており、以下帰還増幅用
FETという。110は該帰還増幅用FET10と外部
負荷300とを容量結合する負荷結合部で、該FET1
0のソース10aを所定電位にバイアスするソースバイ
アス部111と、ソース出力を外部負荷側に送る信号出
力部112とからなる。R4、T5は上記ソースバイア
ス部111を構成するバイアス抵抗及び伝送線路で、こ
れらはソース10aと接地との間に直列に接続されてい
る。またT6,C4,T7はそれぞれ上記信号出力部1
12を構成する伝送線路,負荷結合容量,及び伝送線路
で、これらはソース端子10aから外部負荷側に順次接
続されている。またC3は上記帰還増幅用FET10の
ドレイン10bをマイクロ波信号に対して接地するコン
デンサで、これは接地部120を構成している。また1
1は上記ドレイン10bに直流電圧Vddを印加する定
電圧源である。
イクロ波信号の帰還増幅を行う帰還増幅素子で、ここで
はGaAsMESFETを用いており、以下帰還増幅用
FETという。110は該帰還増幅用FET10と外部
負荷300とを容量結合する負荷結合部で、該FET1
0のソース10aを所定電位にバイアスするソースバイ
アス部111と、ソース出力を外部負荷側に送る信号出
力部112とからなる。R4、T5は上記ソースバイア
ス部111を構成するバイアス抵抗及び伝送線路で、こ
れらはソース10aと接地との間に直列に接続されてい
る。またT6,C4,T7はそれぞれ上記信号出力部1
12を構成する伝送線路,負荷結合容量,及び伝送線路
で、これらはソース端子10aから外部負荷側に順次接
続されている。またC3は上記帰還増幅用FET10の
ドレイン10bをマイクロ波信号に対して接地するコン
デンサで、これは接地部120を構成している。また1
1は上記ドレイン10bに直流電圧Vddを印加する定
電圧源である。
【0004】また上記リアクタンス制御部200におい
て、210はダイオードで、上記帰還増幅用FET10
のゲート10cと接地との間にその容量成分C2が可変
となるよう逆方向に挿入されている。なおR1は上記ダ
イオード210の内部抵抗である。またT2,T3は上
記ゲート10cとダイオード210のアノード側との間
に挿入された直列接続の伝送線路、C1は上記ダイオー
ド210のカソード側と接地との間に挿入された容量で
あり、これらは接地と帰還増幅用FET10のゲート1
0cとの間でのソース出力のフィードバック経路PFB
となっている。また21は直流制御電圧Vcontを発
生し、これにより上記ダイオード210の容量成分C2
を制御する周波数制御用の電圧源で、伝送線路T1を介
して上記ダイオード210のカソード側に接続されてい
る。またT4は上記伝送線路T2,T3の接続点と接地
との間に挿入された伝送線路で、フィードバック経路P
FBでの信号の波形整合をとるためのものである。なお
ここでR2,R5は上記フィードバック経路PFBから
マイクロ波信号が漏れるのを防止するための抵抗である
。
て、210はダイオードで、上記帰還増幅用FET10
のゲート10cと接地との間にその容量成分C2が可変
となるよう逆方向に挿入されている。なおR1は上記ダ
イオード210の内部抵抗である。またT2,T3は上
記ゲート10cとダイオード210のアノード側との間
に挿入された直列接続の伝送線路、C1は上記ダイオー
ド210のカソード側と接地との間に挿入された容量で
あり、これらは接地と帰還増幅用FET10のゲート1
0cとの間でのソース出力のフィードバック経路PFB
となっている。また21は直流制御電圧Vcontを発
生し、これにより上記ダイオード210の容量成分C2
を制御する周波数制御用の電圧源で、伝送線路T1を介
して上記ダイオード210のカソード側に接続されてい
る。またT4は上記伝送線路T2,T3の接続点と接地
との間に挿入された伝送線路で、フィードバック経路P
FBでの信号の波形整合をとるためのものである。なお
ここでR2,R5は上記フィードバック経路PFBから
マイクロ波信号が漏れるのを防止するための抵抗である
。
【0005】また、上記外部負荷300は、上記発振出
力を増幅する1段高出力増幅器310と、該増幅出力を
電波として空中に放射するアンテナ320からなる。こ
こで、301は上記増幅器310を構成する信号増幅用
FET、311はそのゲートに上記発振出力を導入する
ための入力側伝送回路、T8〜T11は入力側のインピ
ーダンス整合用伝送線路、C5は直流カット用容量であ
り、T12,C6,C7,及びR6はそれぞれ上記信号
増幅用FET301のゲートバイアス回路を構成する伝
送線路,容量,及び抵抗である。また、312は上記F
ET301のドレイン出力をアンテナ320に導くため
の出力側伝送回路、T13〜T16は出力側のインピー
ダンス整合用伝送線路、C8は直流カット用容量、T1
7,C9,C10,R7はそれぞれドレインバイアス回
路を構成する伝送線路、容量、及び抵抗である。
力を増幅する1段高出力増幅器310と、該増幅出力を
電波として空中に放射するアンテナ320からなる。こ
こで、301は上記増幅器310を構成する信号増幅用
FET、311はそのゲートに上記発振出力を導入する
ための入力側伝送回路、T8〜T11は入力側のインピ
ーダンス整合用伝送線路、C5は直流カット用容量であ
り、T12,C6,C7,及びR6はそれぞれ上記信号
増幅用FET301のゲートバイアス回路を構成する伝
送線路,容量,及び抵抗である。また、312は上記F
ET301のドレイン出力をアンテナ320に導くため
の出力側伝送回路、T13〜T16は出力側のインピー
ダンス整合用伝送線路、C8は直流カット用容量、T1
7,C9,C10,R7はそれぞれドレインバイアス回
路を構成する伝送線路、容量、及び抵抗である。
【0006】なおここでは上記各素子や伝送線路はマイ
クロ波集積回路基板(以下、MMIC基板ともいう)上
にモノリシックに搭載されている。
クロ波集積回路基板(以下、MMIC基板ともいう)上
にモノリシックに搭載されている。
【0007】次に動作について説明する。定電圧源11
の電圧Vdd(通常3〜10V程度)を帰還増幅用FE
T10に印加すると、上記MMIC化発振器1では、ゲ
ート入力を上記FET10により増幅してソース10a
に出力しさらに該ソース出力をゲート入力とするという
信号のフィードバック増幅動作が行われる。この時、フ
ィードバック経路PFBではマイクロ波信号の帰還増幅
が行われると同時に、上記帰還増幅出力の一部が発振出
力として信号出力経路POUT を介して外部負荷30
0に供給される。そして上記外部負荷300では、上記
発振出力を1段高出力増幅器310により増幅し、この
増幅発振出力をアンテナ320より電波として空中に放
射する。
の電圧Vdd(通常3〜10V程度)を帰還増幅用FE
T10に印加すると、上記MMIC化発振器1では、ゲ
ート入力を上記FET10により増幅してソース10a
に出力しさらに該ソース出力をゲート入力とするという
信号のフィードバック増幅動作が行われる。この時、フ
ィードバック経路PFBではマイクロ波信号の帰還増幅
が行われると同時に、上記帰還増幅出力の一部が発振出
力として信号出力経路POUT を介して外部負荷30
0に供給される。そして上記外部負荷300では、上記
発振出力を1段高出力増幅器310により増幅し、この
増幅発振出力をアンテナ320より電波として空中に放
射する。
【0008】このような発振状態において、上記リアク
タンス制御部200の可変電圧源21の電圧を変えると
、上記ダイオード210の容量成分C2が変化し、つま
りリアクタンス制御部200のリアンタンスが変化し、
上記発振出力の周波数が変化する。このMMIC化発振
器1ではこのようにして直流制御電圧Vcontにより
発振器1の発振周波数を変更することができる。
タンス制御部200の可変電圧源21の電圧を変えると
、上記ダイオード210の容量成分C2が変化し、つま
りリアクタンス制御部200のリアンタンスが変化し、
上記発振出力の周波数が変化する。このMMIC化発振
器1ではこのようにして直流制御電圧Vcontにより
発振器1の発振周波数を変更することができる。
【0009】なお特開昭60−224310号公報には
、上記MMIC化発振器と同様、バラクタダイオードに
制御電圧を印加して発振周波数を制御する、マイクロ波
集積回路基板上に搭載された発振器が示されている。
、上記MMIC化発振器と同様、バラクタダイオードに
制御電圧を印加して発振周波数を制御する、マイクロ波
集積回路基板上に搭載された発振器が示されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来のMM
IC化発振器では、上記負荷結合部110の負荷結合容
量C4として、大きな容量素子を形成できるMIM(M
etal−Insulator−Metal)キャパシ
タを用いていたため、上記負荷結合容量値のバラツキが
大きいという問題点があった。
IC化発振器では、上記負荷結合部110の負荷結合容
量C4として、大きな容量素子を形成できるMIM(M
etal−Insulator−Metal)キャパシ
タを用いていたため、上記負荷結合容量値のバラツキが
大きいという問題点があった。
【0011】すなわち、MIMキャパシタ等のコンデン
サでは、設計段階で計算した通りの容量値を得るのが一
般に困難であり、またMIMキャパシタは下地金属層上
に層間絶縁膜を介して上地金属層を形成してなる積層構
造をしており、容量値が層間絶縁膜の膜厚と反比例の関
係にあるため、製造プロセスで、成膜時の温度変化や原
料ガス供給源でのガス組成の変化によってその膜厚がバ
ラツクと、容量値もバラツクという問題もある。例えば
、負荷結合容量が過大となった場合には図9に示すよう
に、可変電圧源21の制御電圧(Controll V
oltage)のある範囲内では発振出力が得られない
という発振停止領域Sの出現や、制御電圧のある範囲内
では急激に発振周波数FOSC が変化する周波数ジャ
ンプ現象Jが起こり易く、逆に負荷結合容量が過少とな
った場合には、発振出力の低下が発生しやすいという問
題があった。
サでは、設計段階で計算した通りの容量値を得るのが一
般に困難であり、またMIMキャパシタは下地金属層上
に層間絶縁膜を介して上地金属層を形成してなる積層構
造をしており、容量値が層間絶縁膜の膜厚と反比例の関
係にあるため、製造プロセスで、成膜時の温度変化や原
料ガス供給源でのガス組成の変化によってその膜厚がバ
ラツクと、容量値もバラツクという問題もある。例えば
、負荷結合容量が過大となった場合には図9に示すよう
に、可変電圧源21の制御電圧(Controll V
oltage)のある範囲内では発振出力が得られない
という発振停止領域Sの出現や、制御電圧のある範囲内
では急激に発振周波数FOSC が変化する周波数ジャ
ンプ現象Jが起こり易く、逆に負荷結合容量が過少とな
った場合には、発振出力の低下が発生しやすいという問
題があった。
【0012】このため従来は、例えば、負荷結合容量と
してのMIM容量C4を所望の値に設定した基準のMM
IC化発振器と、MIM容量C4を上記所望値に対して
±5パーセント程度の範囲でずらして設定したいくつか
の予備のMMIC化発振器を設計し、これらを実際に作
ってみてその発振特性等を調べ、最も良い特性のMMI
C化発振器を選択して量産するという方法をとっていた
が、この方法では、量産体制に入るまでの設計段階等で
手間暇がかかり、また不経済であるという問題がある。
してのMIM容量C4を所望の値に設定した基準のMM
IC化発振器と、MIM容量C4を上記所望値に対して
±5パーセント程度の範囲でずらして設定したいくつか
の予備のMMIC化発振器を設計し、これらを実際に作
ってみてその発振特性等を調べ、最も良い特性のMMI
C化発振器を選択して量産するという方法をとっていた
が、この方法では、量産体制に入るまでの設計段階等で
手間暇がかかり、また不経済であるという問題がある。
【0013】また特開平2−183606号公報には、
帰還型MIC化発振器において、帰還増幅回路を構成す
る伝送線路と出力取り出し用の伝送線路との間にマルチ
ランドコンデンサを配設し、これにより上記両伝送線路
の結合部でのインピーダンスを簡単に最適化できるよう
にしたものが示されており、一見、この公報記載のマル
チランドコンデンサが上記負荷結合容量として適用可能
なものとも考えられる。
帰還型MIC化発振器において、帰還増幅回路を構成す
る伝送線路と出力取り出し用の伝送線路との間にマルチ
ランドコンデンサを配設し、これにより上記両伝送線路
の結合部でのインピーダンスを簡単に最適化できるよう
にしたものが示されており、一見、この公報記載のマル
チランドコンデンサが上記負荷結合容量として適用可能
なものとも考えられる。
【0014】しかしこの公報には、マルチランドの具体
的な構成が何ら示されておらず、マルチランドコンデン
サを上記負荷結合容量として適用することは困難である
。またコンデンサのマルチランド化は、いくつかのコン
デンサを用意しておき、そのうち適当なものを選択する
という方法と考えられ、この方法は本来の機能に必要な
大きな容量を持つコンデンサを多数用意する必要があり
、集積化や素子の利用効率等の点で不利であり、近年の
低コスト、高集積化等の要請に沿わないという問題があ
る。
的な構成が何ら示されておらず、マルチランドコンデン
サを上記負荷結合容量として適用することは困難である
。またコンデンサのマルチランド化は、いくつかのコン
デンサを用意しておき、そのうち適当なものを選択する
という方法と考えられ、この方法は本来の機能に必要な
大きな容量を持つコンデンサを多数用意する必要があり
、集積化や素子の利用効率等の点で不利であり、近年の
低コスト、高集積化等の要請に沿わないという問題があ
る。
【0015】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、設計上や製造プロセス上でのキ
ャパシタ容量のバラツキをデバイスの使用状態で簡単に
修正することができ、これにより集積化や低コスト化を
阻害することなく、常に良好な発振特性でもって発振動
作させることができるMMIC化発振器を得ることを目
的とする。
ためになされたもので、設計上や製造プロセス上でのキ
ャパシタ容量のバラツキをデバイスの使用状態で簡単に
修正することができ、これにより集積化や低コスト化を
阻害することなく、常に良好な発振特性でもって発振動
作させることができるMMIC化発振器を得ることを目
的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】この発明に係るMMIC
化発振器は、マイクロ波信号の帰還増幅素子と外部負荷
とを結合する負荷結合容量として、バイアス電圧に応じ
て変化する可変容量を有し、上記帰還増幅素子と外部負
荷とを上記接合容量により結合するバラクタダイオード
を設けたものである。
化発振器は、マイクロ波信号の帰還増幅素子と外部負荷
とを結合する負荷結合容量として、バイアス電圧に応じ
て変化する可変容量を有し、上記帰還増幅素子と外部負
荷とを上記接合容量により結合するバラクタダイオード
を設けたものである。
【0017】この発明に係るMMIC化発振器は、マイ
クロ波信号の帰還増幅素子と外部負荷とを結合する負荷
結合容量として、MMIC基板上に形成され、帰還増幅
素子と外部負荷とを容量結合する主結合容量と、上記M
MIC基板上に該主結合容量と近接して設けられ、上記
主結合容量と接続してその容量値を調整するための補助
結合容量とを備えたものである。
クロ波信号の帰還増幅素子と外部負荷とを結合する負荷
結合容量として、MMIC基板上に形成され、帰還増幅
素子と外部負荷とを容量結合する主結合容量と、上記M
MIC基板上に該主結合容量と近接して設けられ、上記
主結合容量と接続してその容量値を調整するための補助
結合容量とを備えたものである。
【0018】この発明に係るMMIC化発振器は、上記
主及び補助結合容量をワイヤボンドにより並列接続でき
るよう構成したものである。
主及び補助結合容量をワイヤボンドにより並列接続でき
るよう構成したものである。
【0019】
【作用】この発明においては、マイクロ波信号の帰還増
幅素子と外部負荷とを結合する負荷結合容量として、バ
イアス電圧に応じて変化する可変容量を有し、上記帰還
増幅素子と外部負荷とを上記接合容量により結合するバ
ラクタダイオードを設けたから、上記バイアス電圧の調
整により負荷結合容量の値を変えることができ、設計上
や製造プロセス上でのキャパシタ容量のバラツキをデバ
イスの使用状態で簡単に修正することができる。この結
果集積化や低コスト化を阻害することなく、MMIC発
振器を常に良好な発振特性でもって発振動作させること
ができる。
幅素子と外部負荷とを結合する負荷結合容量として、バ
イアス電圧に応じて変化する可変容量を有し、上記帰還
増幅素子と外部負荷とを上記接合容量により結合するバ
ラクタダイオードを設けたから、上記バイアス電圧の調
整により負荷結合容量の値を変えることができ、設計上
や製造プロセス上でのキャパシタ容量のバラツキをデバ
イスの使用状態で簡単に修正することができる。この結
果集積化や低コスト化を阻害することなく、MMIC発
振器を常に良好な発振特性でもって発振動作させること
ができる。
【0020】この発明においては、マイクロ波信号の帰
還増幅素子と外部負荷とを結合する負荷結合容量として
、MMIC基板上に帰還増幅素子と外部負荷とを接続す
る主結合容量を設けるとともに、上記MMIC基板上に
該主結合容量と近接して補助結合容量を配設したから、
上記補助結合容量をワイヤボンド等により主結合容量に
接続することにより、設計上や製造プロセス上でのキャ
パシタ容量のバラツキをデバイスの使用段階で簡単に修
正することができる。この結果上記同様、集積化や低コ
スト化の阻害を招くことなく、MMIC発振器での発振
動作を常に良好に行うことができる。
還増幅素子と外部負荷とを結合する負荷結合容量として
、MMIC基板上に帰還増幅素子と外部負荷とを接続す
る主結合容量を設けるとともに、上記MMIC基板上に
該主結合容量と近接して補助結合容量を配設したから、
上記補助結合容量をワイヤボンド等により主結合容量に
接続することにより、設計上や製造プロセス上でのキャ
パシタ容量のバラツキをデバイスの使用段階で簡単に修
正することができる。この結果上記同様、集積化や低コ
スト化の阻害を招くことなく、MMIC発振器での発振
動作を常に良好に行うことができる。
【0021】
【実施例】以下、この発明の実施例を図について説明す
る。図1は本発明の第1の実施例によるMMIC化発振
器を示す等価回路図である。図において、図8と同一符
号は同一のものを示し、3はカソード側への印加電圧に
よりその容量成分が変化するバラクタダイオードで、負
荷結合容量として、伝送線路T6及びT7の間に挿入さ
れている。また2は上記バラクタダイオード3のカソー
ド側と伝送線路7との間に接続されたDCカット用容量
、12は上記バラクタダイオード3への印加電圧を発生
するとともにその制御が可能な制御電圧源、5は上記バ
ラクタダイオード3のカソードと上記制御電圧源12と
の間に接続されたRFカット用インダクタである。また
131は上記伝送線路T6,T7、バラクタダイオード
3、DCカット用容量2、RFカット用インダクタ5、
及び制御電圧源12からなる信号出力部である。101
は該信号出力部131とソースバイアス部111からな
る負荷結合部である。なおここでは外部負荷300につ
いては略記している。
る。図1は本発明の第1の実施例によるMMIC化発振
器を示す等価回路図である。図において、図8と同一符
号は同一のものを示し、3はカソード側への印加電圧に
よりその容量成分が変化するバラクタダイオードで、負
荷結合容量として、伝送線路T6及びT7の間に挿入さ
れている。また2は上記バラクタダイオード3のカソー
ド側と伝送線路7との間に接続されたDCカット用容量
、12は上記バラクタダイオード3への印加電圧を発生
するとともにその制御が可能な制御電圧源、5は上記バ
ラクタダイオード3のカソードと上記制御電圧源12と
の間に接続されたRFカット用インダクタである。また
131は上記伝送線路T6,T7、バラクタダイオード
3、DCカット用容量2、RFカット用インダクタ5、
及び制御電圧源12からなる信号出力部である。101
は該信号出力部131とソースバイアス部111からな
る負荷結合部である。なおここでは外部負荷300につ
いては略記している。
【0022】また図12(a) ,図12(b) は上
記バラクタダイオード3の構造を示す平面図及び断面図
であり、図中30はGaAsMMIC基板で、Cは該基
板30上に形成された平面コ字形状のカソード電極、A
は上記基板30上に形成された平面T字形状のアノード
電極で、その脚部が上記カソード電極Cのコ字状部内に
配置されている。また31は上記基板30のアノード電
極A直下の領域に形成された空乏層である。ここでWa
はアノード幅、つまり上記アノード電極A脚部のカソ
ード電極Cと重なっている部分の長さで、またLa は
アノード長、つまり上記アノード電極Aの脚部のパター
ン幅である。 そしてこの構造のバラクタダイオードでは、容量はアノ
ード幅Wa とアノード長La の積に一次の近似では
比例する。
記バラクタダイオード3の構造を示す平面図及び断面図
であり、図中30はGaAsMMIC基板で、Cは該基
板30上に形成された平面コ字形状のカソード電極、A
は上記基板30上に形成された平面T字形状のアノード
電極で、その脚部が上記カソード電極Cのコ字状部内に
配置されている。また31は上記基板30のアノード電
極A直下の領域に形成された空乏層である。ここでWa
はアノード幅、つまり上記アノード電極A脚部のカソ
ード電極Cと重なっている部分の長さで、またLa は
アノード長、つまり上記アノード電極Aの脚部のパター
ン幅である。 そしてこの構造のバラクタダイオードでは、容量はアノ
ード幅Wa とアノード長La の積に一次の近似では
比例する。
【0023】次に動作について説明する。基本的な発振
動作は従来のMMIC化発振器と同一であるので、ここ
では省略し、以下発振特性、つまり発振周波数と発振出
力の調節について説明する。
動作は従来のMMIC化発振器と同一であるので、ここ
では省略し、以下発振特性、つまり発振周波数と発振出
力の調節について説明する。
【0024】図2はX帯(7GHz〜9GHz帯)のM
MIC化発振器における発振周波数及び発振出力の、負
荷結合容量に対する依存性を示すグラフの一例であり、
図中F1,P1はそれぞれ発振周波数,及び発振出力の
安定領域、F2,P2はそれぞれ発振周波数,及び発振
出力の不安定領域である。
MIC化発振器における発振周波数及び発振出力の、負
荷結合容量に対する依存性を示すグラフの一例であり、
図中F1,P1はそれぞれ発振周波数,及び発振出力の
安定領域、F2,P2はそれぞれ発振周波数,及び発振
出力の不安定領域である。
【0025】この例では、負荷結合容量値Xが約0.1
8pF以上で発振周波数及び発振出力は不安定となる。 また負荷結合容量が小さくなるほど発振出力は低下する
ため、負荷結合容量値Xは若干の余裕を見て約0.15
pF程度が最適値となる。
8pF以上で発振周波数及び発振出力は不安定となる。 また負荷結合容量が小さくなるほど発振出力は低下する
ため、負荷結合容量値Xは若干の余裕を見て約0.15
pF程度が最適値となる。
【0026】この負荷結合容量値Xはアノード幅Waが
500μm程度のバラクタダイオードで実現可能な値で
あり、MMIC化発振器の設計誤差やプロセス変動の影
響で容量値が上記最適値からずれた場合は、上記バラク
タダイオード3に印加する制御電圧を制御電圧源12に
より調整して常に最適な容量値を実現できる。
500μm程度のバラクタダイオードで実現可能な値で
あり、MMIC化発振器の設計誤差やプロセス変動の影
響で容量値が上記最適値からずれた場合は、上記バラク
タダイオード3に印加する制御電圧を制御電圧源12に
より調整して常に最適な容量値を実現できる。
【0027】このように本実施例では、マイクロ波信号
の帰還増幅用FET10と外部負荷300とを結合する
負荷結合容量として、バイアス電圧に応じて変化する可
変容量を有し、上記帰還増幅用FET10と外部負荷3
00とを上記可変容量により結合するバラクタダイオー
ド3を設けたので、上記バイアス電圧の調整により負荷
結合容量値Xを変えることができ、設計誤差や製造プロ
セス変動に起因する負荷結合容量のバラツキをデバイス
の使用状態で簡単に修正することができる。この結果集
積化や低コスト化を阻害することなく、図7に示すよう
な常に安定な発振特性でもって発振動作を行うことがで
きる。
の帰還増幅用FET10と外部負荷300とを結合する
負荷結合容量として、バイアス電圧に応じて変化する可
変容量を有し、上記帰還増幅用FET10と外部負荷3
00とを上記可変容量により結合するバラクタダイオー
ド3を設けたので、上記バイアス電圧の調整により負荷
結合容量値Xを変えることができ、設計誤差や製造プロ
セス変動に起因する負荷結合容量のバラツキをデバイス
の使用状態で簡単に修正することができる。この結果集
積化や低コスト化を阻害することなく、図7に示すよう
な常に安定な発振特性でもって発振動作を行うことがで
きる。
【0028】また図10(a) 〜図10(F) はそ
れぞれMMIC化発振器における帰還増幅FETと信号
出力部及び制御部との接続方法、つまり帰還増幅FET
のどの端子から出力を取り出し、どの端子を制御入力と
するかを示す。図11はそれぞれの場合の変調感度特性
、つまり直流制御電圧Vcontの変化に対する発振周
波数Fの変化を説明するための図で、ここでは、横軸に
、上記発振周波数Fの目安となる可変リアクタンスの反
射係数の位相を、縦軸に、上記直流制御電圧Vcont
の目安となる負荷側からみたFETの反射係数の位相を
とって示している。
れぞれMMIC化発振器における帰還増幅FETと信号
出力部及び制御部との接続方法、つまり帰還増幅FET
のどの端子から出力を取り出し、どの端子を制御入力と
するかを示す。図11はそれぞれの場合の変調感度特性
、つまり直流制御電圧Vcontの変化に対する発振周
波数Fの変化を説明するための図で、ここでは、横軸に
、上記発振周波数Fの目安となる可変リアクタンスの反
射係数の位相を、縦軸に、上記直流制御電圧Vcont
の目安となる負荷側からみたFETの反射係数の位相を
とって示している。
【0029】そして本実施例では図10(F) に示す
ように、FET10のドレインを接地し、そのゲートに
リアクタンス制御部200を、ソースに負荷結合部10
1を接続し、ソースから発振出力を取り出すようにして
いるので、図11の特性曲線Fで示すように変調感度が
大きく、また大出力化も可能である。
ように、FET10のドレインを接地し、そのゲートに
リアクタンス制御部200を、ソースに負荷結合部10
1を接続し、ソースから発振出力を取り出すようにして
いるので、図11の特性曲線Fで示すように変調感度が
大きく、また大出力化も可能である。
【0030】図3は本発明の第2の実施例によるMMI
C化発振器を示す等価回路図であり、図において図1と
同一符号は同一のものを示し、6は負荷結合部101の
伝送線路T6と伝送線路T7の間に接続され、帰還増幅
用FET10と外部負荷300とを容量結合する主結合
容量で、その負荷結合容量値Xは設計段階で予想される
最適値より若干小さく設定されている。17,27はワ
イヤボンド等により上記主結合容量6と並列に接続でき
るよう、上記主結合容量6と近接して配置された、上記
負荷結合容量値Xを調整するための第1,第2の補助結
合容量である。また、132は上記主及び補助結合容量
6及び17,27、伝送線路T6,T7からなる信号出
力部、102は該信号出力部132とソースバイアス部
111からなる負荷結合部である。
C化発振器を示す等価回路図であり、図において図1と
同一符号は同一のものを示し、6は負荷結合部101の
伝送線路T6と伝送線路T7の間に接続され、帰還増幅
用FET10と外部負荷300とを容量結合する主結合
容量で、その負荷結合容量値Xは設計段階で予想される
最適値より若干小さく設定されている。17,27はワ
イヤボンド等により上記主結合容量6と並列に接続でき
るよう、上記主結合容量6と近接して配置された、上記
負荷結合容量値Xを調整するための第1,第2の補助結
合容量である。また、132は上記主及び補助結合容量
6及び17,27、伝送線路T6,T7からなる信号出
力部、102は該信号出力部132とソースバイアス部
111からなる負荷結合部である。
【0031】図4はMMIC発振器の負荷結合容量部を
示す平面図で、上記主結合容量及び第1,第2の補助結
合容量のMMIC基板(図示せず)上での配置を示して
いる。ここで上記主結合容量6は、下地電極層6a上に
層間絶縁膜6cを介して上地電極層6bを形成してなる
積層構造をしており、負荷結合容量として大きな容量値
X0 を有している。また上記下地及び上地電極層6a
,6bには所定の部分にボンディングパッド部8a,8
bが形成されている。また第1,第2の補助結合容量1
7,27は、それぞれ下地電極層17a,27a上に層
間絶縁膜17c,27cを介して上地電極層17b,2
7bを積層してなるもので、それぞれ上記負荷結合容量
を調整するための小さい容量値X1 ,X2 を有して
いる。また19a,19bは第1の補助結合容量17の
ボンディングパッド部、29a,29bは第2の補助結
合容量27のボンディングパッド部である。
示す平面図で、上記主結合容量及び第1,第2の補助結
合容量のMMIC基板(図示せず)上での配置を示して
いる。ここで上記主結合容量6は、下地電極層6a上に
層間絶縁膜6cを介して上地電極層6bを形成してなる
積層構造をしており、負荷結合容量として大きな容量値
X0 を有している。また上記下地及び上地電極層6a
,6bには所定の部分にボンディングパッド部8a,8
bが形成されている。また第1,第2の補助結合容量1
7,27は、それぞれ下地電極層17a,27a上に層
間絶縁膜17c,27cを介して上地電極層17b,2
7bを積層してなるもので、それぞれ上記負荷結合容量
を調整するための小さい容量値X1 ,X2 を有して
いる。また19a,19bは第1の補助結合容量17の
ボンディングパッド部、29a,29bは第2の補助結
合容量27のボンディングパッド部である。
【0032】また図5は図4と同一部分を示す平面図で
、ワイヤボンドにより主結合容量に補助結合容量を接続
して負荷結合容量値を調節している状態を示している。 なお上記図4及び図5では主結合容量6と第1,第2の
補助結合容量17,27を同一の大きさに描いているが
、実際のデバイスでは、補助結合容量の基板上での占有
面積は主結合容量に比べてかなり小さくなっている。
、ワイヤボンドにより主結合容量に補助結合容量を接続
して負荷結合容量値を調節している状態を示している。 なお上記図4及び図5では主結合容量6と第1,第2の
補助結合容量17,27を同一の大きさに描いているが
、実際のデバイスでは、補助結合容量の基板上での占有
面積は主結合容量に比べてかなり小さくなっている。
【0033】次に作用効果について説明する。この実施
例では負荷結合容量値の調整は、基準となる主結合容量
6の容量値X0 を最適値よりも小さめに作成しておき
、ワイヤボンドにより、上記主結合容量6に第1,第2
の補助結合容量を適宜結合させることにより、負荷結合
容量として常に最適な容量値を得る。
例では負荷結合容量値の調整は、基準となる主結合容量
6の容量値X0 を最適値よりも小さめに作成しておき
、ワイヤボンドにより、上記主結合容量6に第1,第2
の補助結合容量を適宜結合させることにより、負荷結合
容量として常に最適な容量値を得る。
【0034】このように本実施例では、負荷結合容量と
して、その容量値X0 を設計段階で予想される最適値
より若干小さく設定した主結合容量6を設けるとともに
、上記容量値X0 を調整するための第1,第2の補助
結合容量17,27を設けたので、上記主結合容量6に
ワイヤボンド等により第1,第2の補助結合容量17,
27を順次並列接続していくことにより、設計上や製造
プロセス上での負荷結合容量のバラツキをデバイスの使
用段階で簡単に修正することができる。
して、その容量値X0 を設計段階で予想される最適値
より若干小さく設定した主結合容量6を設けるとともに
、上記容量値X0 を調整するための第1,第2の補助
結合容量17,27を設けたので、上記主結合容量6に
ワイヤボンド等により第1,第2の補助結合容量17,
27を順次並列接続していくことにより、設計上や製造
プロセス上での負荷結合容量のバラツキをデバイスの使
用段階で簡単に修正することができる。
【0035】またこの実施例では、主結合容量6の大き
な容量値X0 を、第1,第2の補助結合容量17,2
7の小さい容量値X1 ,X2 により調整するように
しているので、いくつかの主結合容量を予め作っておき
、そのうち最適な容量値となっているものを選択する方
法等に比べて、負荷結合容量部の面積を小さくすること
ができる。
な容量値X0 を、第1,第2の補助結合容量17,2
7の小さい容量値X1 ,X2 により調整するように
しているので、いくつかの主結合容量を予め作っておき
、そのうち最適な容量値となっているものを選択する方
法等に比べて、負荷結合容量部の面積を小さくすること
ができる。
【0036】なお、上記第2の実施例では、主及び補助
結合容量をワイヤボンドにより接続するようにしている
が、該容量の接続はこれに限るものではなく、これらを
電気的に接続できる方法であればどのようなものでもよ
い。
結合容量をワイヤボンドにより接続するようにしている
が、該容量の接続はこれに限るものではなく、これらを
電気的に接続できる方法であればどのようなものでもよ
い。
【0037】また、上記各実施例ではバラクタダイオー
ドの負荷側にDCカット用容量4を有するものを示した
が、これは、図8に示す従来のMMIC化発振器のよう
に発振器1の直後にDCカット用容量5を内蔵するバッ
ファアンプ310等が接続されている場合は不要である
。
ドの負荷側にDCカット用容量4を有するものを示した
が、これは、図8に示す従来のMMIC化発振器のよう
に発振器1の直後にDCカット用容量5を内蔵するバッ
ファアンプ310等が接続されている場合は不要である
。
【0038】図6はこのような構成の本発明の第3の実
施例を示し、図において、310はMMIC化発振器1
の出力に接続され、DCカット用容量を内蔵するバッフ
ァアンプ、133はバラクタダイオード3,RFカット
用インダクタ5,制御電圧源12及び伝送経路T6,T
7からなる信号出力部、103は該信号出力部133と
ソースバイアス部111からなる負荷結合部である。こ
のように本実施例では、伝送線路T7とバラクタダイオ
ード3との間にDCカット用容量を接続していない点以
外は上記第1の実施例と同一である。
施例を示し、図において、310はMMIC化発振器1
の出力に接続され、DCカット用容量を内蔵するバッフ
ァアンプ、133はバラクタダイオード3,RFカット
用インダクタ5,制御電圧源12及び伝送経路T6,T
7からなる信号出力部、103は該信号出力部133と
ソースバイアス部111からなる負荷結合部である。こ
のように本実施例では、伝送線路T7とバラクタダイオ
ード3との間にDCカット用容量を接続していない点以
外は上記第1の実施例と同一である。
【0039】なお、上記各実施例では、外部負荷が増幅
部310やアンテナ320である場合について示したが
、これはミキサーや周波数変換器でもよく、またアンテ
ナに代えて、電気信号を光信号に変えて伝送する光伝送
装置でもよい。
部310やアンテナ320である場合について示したが
、これはミキサーや周波数変換器でもよく、またアンテ
ナに代えて、電気信号を光信号に変えて伝送する光伝送
装置でもよい。
【0040】また、上記各実施例では、ソースから発振
出力を取り出す場合を示したが、これは図10(b)
に示すようにドレインに負荷結合部101を接続し、ド
レインから発振出力を取り出すようにしてもよい。この
場合、変調感度は図11の特性曲線Bから分かるように
あまり良くないが、大出力化が可能である。
出力を取り出す場合を示したが、これは図10(b)
に示すようにドレインに負荷結合部101を接続し、ド
レインから発振出力を取り出すようにしてもよい。この
場合、変調感度は図11の特性曲線Bから分かるように
あまり良くないが、大出力化が可能である。
【0041】さらに図10(c) に示すようにゲート
を接地し、ソースに制御部200を、ドレインに負荷結
合部101を接続した場合、図11の特性曲線Cから分
かるように大きい変調感度を得ることができる。
を接地し、ソースに制御部200を、ドレインに負荷結
合部101を接続した場合、図11の特性曲線Cから分
かるように大きい変調感度を得ることができる。
【0042】また図10(d) に示すように帰還増幅
FET10のゲートを接地し、ドレインに制御部200
を、ソースに負荷結合部101を接続した場合、負荷側
からの影響を受けにくいというメリットがある。また図
10(e)に示すようにドレインを接地し、ソースに制
御部200を、ゲートに負荷結合部101を接続した場
合も、図10(d) の場合も同様負荷側からの影響を
受けにくいというメリットがあるが、大出力化は困難で
ある。
FET10のゲートを接地し、ドレインに制御部200
を、ソースに負荷結合部101を接続した場合、負荷側
からの影響を受けにくいというメリットがある。また図
10(e)に示すようにドレインを接地し、ソースに制
御部200を、ゲートに負荷結合部101を接続した場
合も、図10(d) の場合も同様負荷側からの影響を
受けにくいというメリットがあるが、大出力化は困難で
ある。
【0043】さらにまた図10(a) に示すようにソ
ースを接地し、ドレインに制御部200を、ゲートに負
荷結合部101を接続することもできるが、この場合は
あまりメリットはない。
ースを接地し、ドレインに制御部200を、ゲートに負
荷結合部101を接続することもできるが、この場合は
あまりメリットはない。
【0044】
【発明の効果】この発明に係るMMIC化発振器によれ
ば、マイクロ波信号の帰還増幅素子と外部負荷とを結合
する負荷結合容量として、バイアス電圧に応じて変化す
る可変容量を有し、上記帰還増幅素子と外部負荷とを上
記接合容量により結合するバラクタダイオードを設けた
ので、上記バイアス電圧の調整により負荷結合容量の値
を変えることができ、設計上や製造プロセス上での負荷
結合容量のバラツキをデバイスの使用状態で簡単に修正
することができる。この結果集積化や低コスト化を阻害
することなく、常に良好な発振特性でもって発振動作を
行うことができる効果がある。
ば、マイクロ波信号の帰還増幅素子と外部負荷とを結合
する負荷結合容量として、バイアス電圧に応じて変化す
る可変容量を有し、上記帰還増幅素子と外部負荷とを上
記接合容量により結合するバラクタダイオードを設けた
ので、上記バイアス電圧の調整により負荷結合容量の値
を変えることができ、設計上や製造プロセス上での負荷
結合容量のバラツキをデバイスの使用状態で簡単に修正
することができる。この結果集積化や低コスト化を阻害
することなく、常に良好な発振特性でもって発振動作を
行うことができる効果がある。
【0045】この発明に係るMMIC化発振器によれば
、マイクロ波信号の帰還増幅素子と外部負荷とを結合す
る負荷結合容量として、MMIC基板上に帰還増幅素子
と外部負荷とを接続する主結合容量を設けるとともに、
上記MMIC基板上に該主結合容量と近接して補助結合
容量を配設したので、上記主結合容量にワイヤボンド等
により補助結合容量を接続することにより、設計上や製
造プロセス上での負荷結合容量のバラツキをデバイスの
使用段階で簡単に修正することができる。この結果上記
同様、集積化や低コスト化の阻害を招くことなく、常に
良好な発振動作を行うことができる効果がある。
、マイクロ波信号の帰還増幅素子と外部負荷とを結合す
る負荷結合容量として、MMIC基板上に帰還増幅素子
と外部負荷とを接続する主結合容量を設けるとともに、
上記MMIC基板上に該主結合容量と近接して補助結合
容量を配設したので、上記主結合容量にワイヤボンド等
により補助結合容量を接続することにより、設計上や製
造プロセス上での負荷結合容量のバラツキをデバイスの
使用段階で簡単に修正することができる。この結果上記
同様、集積化や低コスト化の阻害を招くことなく、常に
良好な発振動作を行うことができる効果がある。
【図1】本発明の第1の実施例によるMMIC化発振器
を示す等価回路図である。
を示す等価回路図である。
【図2】上記MMIC化発振器における発振周波数,発
振出力の負荷結合容量依存性のグラフの一例を示す図で
ある。
振出力の負荷結合容量依存性のグラフの一例を示す図で
ある。
【図3】本発明の第2の実施例によるMMIC化発振器
を示す等価回路図である。
を示す等価回路図である。
【図4】上記第2の実施例のMMIC化発振器の負荷結
合容量部を示す平面図である。
合容量部を示す平面図である。
【図5】上記第2の実施例において負荷結合容量値を調
整している状態を示す図である。
整している状態を示す図である。
【図6】本発明の第3の実施例によるMMIC化発振器
を示す等価回路図である。
を示す等価回路図である。
【図7】本発明のMMIC化発振器における発振特性の
グラフの一例を示す図である。
グラフの一例を示す図である。
【図8】従来のMMIC化発振器を示す等価回路図であ
る。
る。
【図9】従来のMMIC化発振器における発振特性のグ
ラフの一例を示す図である。
ラフの一例を示す図である。
【図10】本発明のMMIC化発振器において、帰還増
幅素子の発振出力を取り出す方法の変形例を示す図であ
る。
幅素子の発振出力を取り出す方法の変形例を示す図であ
る。
【図11】上記各変形例における変調感度の特性曲線を
示す図である。
示す図である。
【図12】本発明の第1及び第3の実施例によるMMI
C化発振器に用いたバラクタダイオードを説明するため
の図である。
C化発振器に用いたバラクタダイオードを説明するため
の図である。
1
MMIC化発振器2
DCカット用容量3
バラクタダイオード
5
RFカット用インダクタ6
主結合容量10
帰還増幅用FET12
バラク
タダイオードの制御電圧源
MMIC化発振器2
DCカット用容量3
バラクタダイオード
5
RFカット用インダクタ6
主結合容量10
帰還増幅用FET12
バラク
タダイオードの制御電圧源
Claims (3)
- 【請求項1】 マイクロ波信号の帰還増幅を行う帰還
増幅素子を有し、該帰還増幅信号の一部を発振出力とし
て外部負荷に供給する、マイクロ波半導体集積回路基板
にモノリシックに搭載したMMIC化発振器において、
バイアス電圧に応じて変化する接合容量を有し、上記帰
還増幅素子と外部負荷とを上記接合容量により結合する
バラクタダイオードを備えたことを特徴とするMMIC
化発振器。 - 【請求項2】 マイクロ波信号の帰還増幅を行う帰還
増幅素子を有し、該帰還増幅信号の一部を発振出力とし
て外部負荷に供給する、マイクロ波半導体集積回路基板
にモノリシックに搭載したMMIC化発振器において、
上記基板上に形成され、帰還増幅素子と外部負荷とを容
量結合する主結合容量と、上記基板上に該主結合容量と
近接して設けられ、上記主結合容量と接続してその容量
値を調整するための補助結合容量とを備えたことを特徴
とするMMIC化発振器。 - 【請求項3】 請求項2記載のMMIC化発振器にお
いて、上記主及び補助結合容量は、これらをワイヤボン
ドにより並列に接続できるよう構成したものであること
を特徴とするMMIC化発振器。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3039521A JPH04256206A (ja) | 1991-02-07 | 1991-02-07 | Mmic化発振器 |
US07/735,952 US5157357A (en) | 1991-02-07 | 1991-07-25 | Monolithic microwave ic oscillator |
EP91306969A EP0498101A1 (en) | 1991-02-07 | 1991-07-30 | Monolithic microwave IC oscillator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3039521A JPH04256206A (ja) | 1991-02-07 | 1991-02-07 | Mmic化発振器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04256206A true JPH04256206A (ja) | 1992-09-10 |
Family
ID=12555351
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3039521A Pending JPH04256206A (ja) | 1991-02-07 | 1991-02-07 | Mmic化発振器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5157357A (ja) |
EP (1) | EP0498101A1 (ja) |
JP (1) | JPH04256206A (ja) |
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---|---|---|---|---|
US5304794A (en) * | 1993-05-25 | 1994-04-19 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Method for mixing optical and microwave signals using a GaAs MESFET |
GB9510028D0 (en) * | 1995-05-18 | 1995-07-12 | Cambridge Ind Ltd | Local oscillator noise rejection circuit |
FI101657B (fi) * | 1996-07-25 | 1998-07-31 | Nokia Mobile Phones Ltd | Jänniteohjattu oskillaattorikytkentä |
KR100497480B1 (ko) * | 2002-11-19 | 2005-07-01 | 삼성전자주식회사 | 칼라 화상형성장치 |
JP5185041B2 (ja) * | 2008-09-25 | 2013-04-17 | 株式会社東芝 | 安定化回路および安定化回路を備える半導体装置 |
JP5387499B2 (ja) * | 2010-05-14 | 2014-01-15 | 三菱電機株式会社 | 内部整合型トランジスタ |
US8461930B2 (en) | 2011-08-18 | 2013-06-11 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Monolithic microwave integrated circuit (MMIC) including air bridge coupler |
US9270012B2 (en) | 2012-02-01 | 2016-02-23 | Apple Inc. | Electronic device with calibrated tunable antenna |
US20210328344A1 (en) * | 2020-04-20 | 2021-10-21 | Avx Antenna, Inc. D/B/A Ethertronics, Inc. | Method and System for Controlling a Null Steering Antenna Having a Variable Reactance Active Element |
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US4189690A (en) * | 1978-05-30 | 1980-02-19 | Hughes Aircraft Company | Resonant linear frequency modulator |
US4310809A (en) * | 1979-04-27 | 1982-01-12 | Westinghouse Electric Corp. | Low noise microstrip voltage controlled oscillator |
JPS5768055A (en) * | 1980-10-16 | 1982-04-26 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device |
US4670722A (en) * | 1981-03-09 | 1987-06-02 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | FET oscillator having controllable reactance element-controlled two port feedback network |
US4458215A (en) * | 1981-08-17 | 1984-07-03 | Rca Corporation | Monolithic voltage controlled oscillator |
JPS60224310A (ja) * | 1984-04-23 | 1985-11-08 | Tokyo Keiki Co Ltd | マイクロ波半導体発振器 |
FR2625051B1 (fr) * | 1987-12-18 | 1990-04-20 | Thomson Hybrides Microondes | Oscillateur doubleur de frequence, accorde par varactors |
JPH0222925A (ja) * | 1988-07-12 | 1990-01-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マイクロ波電圧制御発振器 |
JPH02183606A (ja) * | 1989-01-10 | 1990-07-18 | Nec Corp | 帰還型mic化発振器 |
-
1991
- 1991-02-07 JP JP3039521A patent/JPH04256206A/ja active Pending
- 1991-07-25 US US07/735,952 patent/US5157357A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-07-30 EP EP91306969A patent/EP0498101A1/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5157357A (en) | 1992-10-20 |
EP0498101A1 (en) | 1992-08-12 |
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