JPH04253368A - 基板バイアス回路 - Google Patents

基板バイアス回路

Info

Publication number
JPH04253368A
JPH04253368A JP3028106A JP2810691A JPH04253368A JP H04253368 A JPH04253368 A JP H04253368A JP 3028106 A JP3028106 A JP 3028106A JP 2810691 A JP2810691 A JP 2810691A JP H04253368 A JPH04253368 A JP H04253368A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
potential
transistor
node
circuit
vdd
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3028106A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2575956B2 (ja
Inventor
Ryosuke Matsuo
松 尾 良 輔
Masaru Koyanagi
小 柳   勝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP3028106A priority Critical patent/JP2575956B2/ja
Priority to KR1019920001004A priority patent/KR950014244B1/ko
Priority to US07/827,267 priority patent/US5202588A/en
Publication of JPH04253368A publication Critical patent/JPH04253368A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2575956B2 publication Critical patent/JP2575956B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/205Substrate bias-voltage generators
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M3/00Conversion of dc power input into dc power output
    • H02M3/02Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac
    • H02M3/04Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters
    • H02M3/06Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider
    • H02M3/07Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider using capacitors charged and discharged alternately by semiconductor devices with control electrode, e.g. charge pumps

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Dc-Dc Converters (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路等にお
ける基板の電位を設定する基板バイアス回路に関し、特
に単一電源で駆動される半導体集積回路に用いて好適な
基板バイアス回路に関する。
【0002】
【従来の技術】単一電源によって駆動されるMOSFE
T集積回路においては、MOSトランジスタのしきい値
電圧制御のため基板端子にある電圧を印加している。す
なわち、P型基板上のNチャンネル・トランジスタの場
合、ソース端子より負の電位が基板端子に与えられ、N
型基板上のPチャンネル・トランジスタの場合、ソース
端子より正の電位が基板端子に与えられる。このような
バイアス電圧を発生させる回路を基板バイアス回路と呼
んでいる。Nチャンネル・トランジスタの基板端子に印
加する場合の基板バイアス回路の従来例を図面を参照し
て説明する。
【0003】基板バイアス回路は、図11に示される発
振回路1及び制御信号発生回路2と、図10に示される
チャージポンプ回路3とによって構成される。発振回路
1は、インバータI1〜I5の各々が互いに直列に接続
されかつインバータI5の出力がインバータI1の入力
として帰還される構成により、所定周波数で発振する。 インバータI5の出力は発信器出力OSCとして制御信
号発生回路2に供給される。
【0004】制御信号発生回路2は、互いに直列に接続
されたインバータI6〜I12と、インバータI8及び
I10の両出力を入力とするナンドゲートA1と、イン
バータI6及びI12の両出力を入力とするナンドゲー
トA2と、インバータI8及びI10の両出力を入力と
するノアゲートO1と、ノアゲートO1の出力を反転す
るインバータI13とによって構成される。この内、イ
ンバータI7〜I12は信号遅延回路を形成している。 ナンドゲートA1、ナンドゲートA2及びインバータI
13の各出力は、夫々制御信号A、B及びCとしてチャ
ージポンプ回路3に供給される。発信器出力OSCの1
サイクルにおける各制御信号の変化を図12に示す。
【0005】チャージポンプ回路3は、ノードVBBで
ある出力端VBBから電荷をトランジスタT2を介して
キャパシタC1に吸込み、これをトランジスタT1を介
して接地電位Vssに放出し、出力端子VBBの電位を
接地電位よりも低い負電位に引き下げる。トランジスタ
T1及びT2を交互に導通させるべく制御信号A及びC
によってトランジスタT1のゲートを制御するゲート制
御回路31と、制御信号A、B及び出力端電位VBBに
よってトランジスタT2のゲートを制御するゲート制御
回路32とが設けられる。
【0006】すなわち、チャージポンプ回路3は、ノー
ドN1及び接地電位VSS間に夫々ソース及びドレイン
が接続されかつゲートがノードN3に接続されるトラン
ジスタT1、ノードN1及び出力端VBB間に夫々ドレ
イン及びソースが接続されかつゲートがノードN2に接
続されるトランジスタT2、一端に制御信号Aが印加さ
れ、他端がノードN1に接続される比較的に容量の大き
いキャパシタC1からなるポンプ回路と、ノードN1及
びノードN2間にドレイン及びソースが接続されかつゲ
ートに出力端VBBが接続されるトランジスタT5、一
端に制御信号Bが印加され、他端がノードN2に接続さ
れるキャパシタC2からなるゲート制御回路32と、一
端に制御信号Cが印加され、他端がノードN4に接続さ
れるキャパシタC3、一端に制御信号Aが印加され、他
端がノードN4に接続されるキャパシタC4、ノードN
4及び接地電位VSS間に夫々ソース及びドレインが接
続されかつゲートがノードN4に接続されるトランジス
タT3、ノードN3及び接地電位VSS間に夫々ソース
及びドレインが接続されかつゲートがノードN4に接続
されるトランジスタT4からなるゲート制御回路31と
、によって構成されている。
【0007】なお、図示していないが、各トランジスタ
のサブ端子には適当なバイアス電圧が印加されている。
【0008】次に、回路の動作について説明する。回路
の定常状態における回路各部の電位は図12に示される
ように、ノードN1、N2及びN4は電位Vssに、ノ
ードN3は、電位−i・Vddに、出力端VBBは電位
VBBになっている。上記iは、キャパシタC23のカ
ップリング比であり、通常、0.8〜1.0の値である
。後述する各カップリング比の値も同様である。従って
、トランジスタT1はオン、トランジスタT2はオフ、
トランジスタT3はオン、トランジスタT4はオフ、ト
ランジスタT5はオン状態である。
【0009】かかる状態で発振回路21の出力OSCが
図12のように立下がると、制御信号Cが少し時間をお
いて回路の電源電圧Vddまで立ち上がる。この制御信
号Cの電圧VddがキャパシタC3を介してノードN3
に印加される。ノードN3の電位は、−i・Vddの電
位から接地レベルVssに持上げられる。これによりゲ
ートが接地レベルとなったトランジスタT1,T3はオ
ン状態からオフ状態になる。トランジスタT1が非導通
となることにより、キャパシタC1から接地電位Vss
への電荷の放出は阻止される。
【0010】次に、制御信号Aが立下り、接地レベルV
ssがキャパシタC1の一端に印加されると、キャパシ
タC1の正電荷が放出されてキャパシタC1の他端に負
電荷が残る。該他端に接続されるノードN1は、キャパ
シタC1のカップリング比をjとすると、負電荷によっ
て接地レベルVssから−j・Vddの電位に引下げら
れる。 このときトランジスタT5は導通しており、ノードN2
は、ノードN1の電位が低下したことにより、−VBB
+Vthp の電位に引下げられる。Vthp はトラ
ンジスタT5のソース・ゲート間電圧降下である。
【0011】上記制御信号Aが立下ると同時にノードN
4は、キャパシタC4によってVssから電位−k・V
dd(kはキャパシタC4のカップリング比)に引き下
げられる。これによって、トランジスタT4がオフ状態
からオン状態になり、ノードN3はVssレベルになる
【0012】次に、制御信号Bが立下り、ノードN2は
電位(−VBB−Vthp )からキャパシタC2によ
って(−VBB−Vthp −m・Vdd)に、更に引
下げられる。 mはキャパシターC2のカップリング比である。ノード
N2が上記電位に引下げられると同時に、逆バイアスさ
れたトランジスタT5はカットオフとなり、キャパシタ
C1とC2との接続を断ち、ノードN2の電位をノード
N1の電位から隔離する。
【0013】ノードN2が負に深くバイアスされること
によって、このノードにゲートが接続されたトランジス
タT2が導通し、ノードN1と出力端VBBとを接続す
る。ノードN1の電位が−j・Vddであることによっ
て、出力端VBBから電荷がノードN1へ引き抜かれ、
出力端VBBの電位−VBBは電位−j・Vddに向け
て引下げられて−VBB´となる。
【0014】発振回路1の出力OSCが立上がると、制
御信号Bが続いて電位Vddまで立上がる。これによっ
て、トランジスタT5は順バイアスされて導通し、ノー
ドN2は電位(−VBB´−Vthp )に引上げられ
る。トランジスタT2は非導通となり、出力端VBBか
らの電荷の引抜きは終了する。
【0015】続いて信号Aが電位Vddまで立上がると
、ノードN1及びノードN4は電位Vssまで立上がる
。これにより、トランジスタT4はオフとなる。
【0016】次に、制御信号Cが電位Vssに立下がり
、ノードN3の電位は−i・Vddとなる。これにより
、トランジスタT1,T3が導通し、ノードN4の電位
は接地電位Vssになる。従って、出力端VBBからキ
ャパシタC1に引抜かれた電荷はトランジスタT1を介
し接地電位Vssに放出される。
【0017】このように、制御信号Aによってキャパシ
タC1の負チャージを行い、制御信号A及びBによって
トランジスタT5の導通を制御してトランジスタT2の
ゲートバイアスを二段階に与え、制御信号C及びBによ
って夫々トランジスタT1及びT2を交互に導通させて
、チャージポンプ動作の1サイクルが実現される。これ
を連続して行うことにより、出力端VBBの電位が−j
・Vddまで引下げられる。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た基板バイアス回路に電源を投入した当初や電源電圧が
低い場合において、チャージポンプ回路3の出力端VB
Bの電位−VBBは、接地電位Vssよりも十分に低く
引下げられていない。このような状態では、トランジス
タT5のゲートバイアスが浅く、トランジスタT5が完
全な導通状態にならない場合がある。
【0019】このような場合には、制御信号Aが立下が
り、ノードN1が電位Vssから電位(−j・Vdd)
に引下げられても、ノードN2の電位は十分に引下げら
れない。従って、次に制御信号Bが立ち下がり、更にノ
ードN2の電位が引下げられても、電位が不十分のため
、トランジスタT2のゲート電位が浅くてトランジスタ
T2が完全な導通状態にならない。
【0020】このため、出力端VBBから電荷を引抜く
チャージポンプ回路の能力が小さい、また、出力端VB
Bの電位をノードN2の電位+Vthp の電位までし
か出力端VBBのレベルを引下げることができないとい
う不具合も生じ得る。図14は、電源電圧Vddに対す
る出力端VBBの電位の関係を示しており、電源電圧V
ddが低いと必要な出力端VBBの電位が得られないこ
とが判る。
【0021】そこで、本発明は、電源電圧が低い状態で
のチャージポンプ回路のポンプ効率の向上を図った基板
バイアス回路を提供することを目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明の基板バイアス回路回路は、第1トランジスタ(
T5)を介して互いに直列に接続された第1及び第2キ
ャパシタ(C1,C2)とからなるキャパシタ直列回路
と、上記第1トランジスタ(T5)と第2キャパシタと
の接続点の電位によって導通が制御されて出力端の電荷
を上記第1キャパシタ(C1)と上記第1トランジスタ
(T5)との接続点に導出する第2トランジスタ(T2
)と、上記第1キャパシタ(C1)と上記第1トランジ
スタ(T5)との接続点に導出された電荷を基準電位に
導出する第3トランジスタ(T1)と、上記直列回路の
両端及び上記第3トランジスタ(T1)のゲートに制御
信号を与えて上記第2及び第3トランジスタを交互に導
通させて上記出力端を所定電位に設定する制御手段とを
含む基板バイアス回路において、  上記制御手段は、
上記第2トランジスタ(T2)が非導通となるべき期間
に上記第1トランジスタ(T5)を暫時強制的に導通さ
せることを特徴とする。
【0023】
【作用】第1トランジスタ(T5)のゲートに追加され
た制御回路は、第2トランジスタ(T2)が非導通とな
るべき期間において第1トランジスタを短時間導通させ
るべく、第1トランジスタのゲート電位を暫時強制的に
制御して第1トランジスタの導通状態をより完全にして
第1キャパシタ(C1)の電位を第2キャパシタ(C2
)側へ導出し、第2トランジスタのゲートが2段階に確
実にバイアスされるようにしている。
【0024】
【発明の実施例】以下、本発明の実施例について図面を
参照して説明する。図1及び図2は本発明の実施例の構
成を示しており、図10及び図11と対応する部分には
同一符号を付し、かかる部分の説明は省略する。
【0025】図1に示されるチャージポンプ回路3aの
構成においては、トランジスタT5のゲート制御回路3
3が新たに設けられている。ゲート制御回路33は、ソ
ース及びゲートが出力端VBBに接続されてドレインが
トランジスタT5のゲートに接続されたトランジスタT
6と、ソースが出力端VBBに接続されてゲート及びド
レインがトランジスタT5のゲートに接続されたトラン
ジスタT7と、一端に制御信号Dが印加されて他端がト
ランジスタT5のゲートに接続されたキャパシタC5と
によって構成される。トランジスタT5のゲートの接続
点はノードN5となっている。トランジスタT6及びT
7は、いわゆるダイオード接続になっており、ノードN
5の電位のフローティング防止の役割を担っている。
【0026】制御信号Dは、図2に示される制御信号発
生回路2aのインバータI8及びI11の両出力を入力
とするナンドゲートA3の出力によって得られる。制御
信号発生回路2a及びチャージポンプ回路3aの他の構
成は従来構成と同様である。
【0027】次に、ゲート制御回路33による回路動作
について図3の各部の信号波形を参照して説明する。
【0028】ゲート制御回路33のノードN5は、フロ
ーティング防止のためのトランジスタT5、T6により
電位(−VBB±Vthp )の範囲内に維持される。 制御信号Dが電源電圧Vddから設置電位Vssに立下
がると、キャパシタC5によってノードN5の電位は、
キャパシタC5のカップリング比をnとして(−n・V
dd−VBB±Vthp )となる。よって、従来例に
比べて少なくとも制御信号Dが電位Vssである期間中
(−n・Vdd)分だけ電位が更に低く引下げられるた
め、ノードN1及びノードN2相互間を連結するトラン
ジスタT5のゲートには十分に深い負バイアスが与えら
れてトランジスタT5の導通状態はより完全なものとな
り、トランジスタT5のソース・ドレイン間電圧降下は
十分に低い。従って、制御信号Dが電位Vssにある状
態においては、トランジスタT5を介してノード1の電
位が略そのままノードN2に伝達されるように改善され
る。
【0029】次に、制御信号Dが電位Vssにある状態
で、制御信号Aが電位Vddから電位Vssに立下がる
。ノードN1の電位は−j・Vddとなり、この電位は
ノードN2に伝達される。一方、トランジスタT5のゲ
ート・ソース間電圧を介してノードN2は出力端VBB
の値に応じた電位が与えられる。このため、制御信号A
が電位Vssに低下した直後のノードN2の電位Vx 
は(−j・Vdd)〜(−n・Vdd−VBB−2Vt
hp )までの間の値を採る。
【0030】次に、制御信号Dが電位Vssから電位V
ddまで立上がると、ノードN5の電位はトランジスタ
T6及びT7の作用によってVBB±Vthp となる
。トランジスタT7は、ノードN5のゲート電位がノー
ドN1のドレインの電位より高くなることによってカッ
トオフする。トランジスタT5を遮断するのは、容量の
大きいキャパシタC1とこれよりも容量の少ないキャパ
シタC2との接続を断って、制御信号BのキャパシタC
2への印加によるノードN2の引下げのカップリング比
mを改善するためである。
【0031】次に、制御信号Bが電位VddからVss
に立下り、ノードN2は電位Vx からキャパシタC2
によってVx −m・Vddに、更に引下げられる。
【0032】ノードN2が負に深くバイアスされること
によって、このノードにゲートが接続されたトランジス
タT2は完全に導通し、ノードN1と出力端VBBとを
接続する。ノードN1の電位が−j・Vddであること
によって、出力端VBBから電荷がノードN1へ強く引
き抜かれ、出力端VBBの電位−VBBは電位−j・V
ddに向けて引下げられて電位−VBB´となる。
【0033】これ以後の制御動作及び他の素子の動作は
従来と同様であるので説明を省略する。
【0034】図9及び図13は、回路の電源電圧Vdd
を2Vと低く設定し、出力端の電位VBBを0Vの状態
として回路を起動し、定常状態になったところの本願実
施回路及び従来回路の信号波形を示している。
【0035】図13に示されるように従来回路では、ノ
ードN1の引下げ電位−Vddまで出力端の電位−VB
Bが引下げられていないことがわかる。これは、ノード
N2の電位が十分に引下げられないため、トランジスタ
T2の導通が完全ではないからである。別言すれば、ノ
ードN1の電位を引下げた際に、トランジスタT2のゲ
ート電位たるノードN2の電位を充分に引下げられなか
ったからである。
【0036】これに対し、図9に示される本願回路では
、ノードN2の電位がキャパシタC1及びC2の両方の
電荷によって2段階に十分に引下げられて、略−2Vd
dの電位が得られている。このため、低い回路電源電圧
であってもトランジスタT2が完全に導通状態となり、
出力端の電位−VBBはノードN1の引下げ電位−Vd
dまで引下げられる。
【0037】ところで、上述したようにトランジスタT
5は、制御信号Aが電位VddからVssに立ち下がっ
たとき導通して、キャパシタC1によるノードN1の電
位−j・VddをノードN2に伝えて一段ブートを行い
、制御信号Bが電位VddからVssに立ち下がったと
き非導通となって、ノードN2の電位に−m・Vddを
加えて略−2Vddを得る2段ブートを行う役割を担っ
ている。
【0038】このため、ゲート制御回路33は、トラン
ジスタT5を導通させるべくトランジスタT5のゲート
電位を(−j・Vdd−Vthp )以下に引下げる役
割を果たしている。このゲート制御回路33と同様に機
能し得る制御回路の他の実施例を図4に示す。
【0039】図4においてゲート制御回路33aは、制
御信号Dが一端に印加されかつ他端がトランジスタT5
のゲートに接続れるキャパシタC5と、制御信号Eが一
端に印加されかつ他端がノードN6に接続されるキャパ
シタC6と、ノードN6とトランジスタT5のゲート間
にノードN6からノードN5への流入を阻止する方向に
ダイオード接続されるトランジスタT8と、ノードN6
と設置電位Vss間に設置電位VssからノードN6へ
の流入を阻止する方向にダイオード接続されるトランジ
スタT9とによって構成される。制御信号Eは、図6に
示されるように制御信号Dが電位Vssになる期間を含
む長い期間中、電位Vssになっている。
【0040】この制御信号Eは、例えば、図5に示され
るように制御信号発生回路2aのインバータI6及びI
12の出力を使用して得ることが出来る。すなわち、イ
ンバータI12の出力をインバータI14を介してナン
ドゲートA4の一方入力とし、インバータI6の出力を
ナンドゲートA4の他方入力としてナンドゲートA4の
出力端に制御信号Eを得る。
【0041】かかる構成において、制御信号D及びEに
よってキャパシタC5及びC6に電位Vddが印加され
ると、トランジスタT8及びT9が導通してノードN6
の電位はVss+Vthp 、ノードN5の電位はVs
s+2Vthp となる。制御信号Eが電位Vssに立
下がると、トランジスタT9はカットオフになる。ノー
ドN6の電位は略−Vdd+Vthp となり、導通し
ているトランジスタT8を介してノードN5に伝達され
、ノードN5の電位は−Vdd+2Vthp となる。 次に、制御信号Dが電位VddからVssに立下がると
、ノードN5に略−Vddが更に印加されてトランジス
タT8はカットオフになる。ノードN5の電位は−2V
dd+2Vthp となって、トランジスタT5は導通
し、ノードN2に−Vddの電位を伝達する。 制御信号Dが電位Vddに立上がると、ノードN5の電
位は−Vdd+Vthp となる。トランジスタT5は
非導通となる。制御信号EがVddに立上がると、ノー
ドN6はVddとなるがトランジスタT8はカットオフ
となって、ノードN5の電位は−Vdd+2Vthp 
に保持される。図6のN5に定常状態のノードN5のレ
ベル変化を示す。
【0042】図7は、ゲート制御回路33の他の構成例
を示しており、ゲート制御回路33のトランジスタT6
及びT7を抵抗に置換えている。
【0043】こうすると、電源投入当初においてノード
N5の電位は−Vddであるが、出力端VBBが−Vd
dに引き下げられた後は、図8に示すように制御信号D
が電位Vssとなる期間中、ノードN5の電位を略−2
Vddに設定することが可能である。
【0044】なお、上述した各実施例ではPチャンネル
FETトランジスタを形成して基板バイアス回路を構成
する場合について説明したが、NチャンネルFETトラ
ンジスタを形成して上述した基板バイアス回路を構成し
、同様の効果を得ることができる。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように本発明の基板バイア
ス回路は、出力端から電荷を吸い込むトランジスタT1
を完全に導通させるべく深いゲートバイアスを発生させ
るためのトランジスタT5のゲートを制御する構成とし
たので、集積回路の電源電圧が低い場合においてもチャ
ージポンプ回路のポンプ効率が高く、低電源電圧でも十
分に動作可能であり、電源投入後の回路起動の際にも出
力端のノードを所定レベルに素早く設定し得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例のチャージポンプ回路を示す回
路図。
【図2】本発明の実施例の発振回路及び制御信号発生回
路を示す回路図。
【図3】図1のチャージポンプ回路の各部信号波形を示
す波形図。
【図4】ゲート制御回路の他の実施例を示す回路図。
【図5】制御信号Eの発生回路を示す回路図。
【図6】図4のゲート制御回路の信号波形を示す波形図
【図7】ゲート制御回路の他の実施例を示す回路図。
【図8】図7のゲート制御回路の信号波形を示す波形図
【図9】実施回路の信号のオシロスコープ波形を示す波
形図。
【図10】従来のチャージポンプ回路を示す回路図。
【図11】従来の発振回路1及び制御信号発生回路2を
示す回路図。
【図12】図10のチャージポンプ回路の各部信号波形
を示す波形図。
【図13】従来回路の信号のオシロスコープ波形を示す
波形図。
【図14】従来回路の電源電圧依存性を説明するための
グラフ。
【符号の説明】
1  発振回路 2  制御信号発生回路 3  チャージポンプ回路 31〜33,33a,33b  ゲート制御回路I1〜
I14  インバータ A1〜A4  NANDゲート O1  NORゲート C1〜C6  キャパシタ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1トランジスタ(T5)を介して互いに
    直列に接続された第1及び第2キャパシタ(C1,C2
    )とからなるキャパシタ直列回路と、前記第1トランジ
    スタ(T5)と第2キャパシタとの接続点の電位によっ
    て導通が制御されて出力端の電荷を前記第1キャパシタ
    (C1)と前記第1トランジスタ(T5)との接続点に
    導出する第2トランジスタ(T2)と、前記第1キャパ
    シタ(C1)と前記第1トランジスタ(T5)との接続
    点に導出された電荷を基準電位に導出する第3トランジ
    スタ(T1)と、前記直列回路の両端及び前記第3トラ
    ンジスタ(T1)のゲートに制御信号を与えて前記第2
    及び第3トランジスタを交互に導通させて前記出力端を
    所定電位に設定する制御手段とを含む基板バイアス回路
    であって、前記制御手段は、前記第2トランジスタ(T
    2)が非導通となるべき期間に前記第1トランジスタ(
    T5)を暫時強制的に導通させることを特徴とする基板
    バイアス回路。
JP3028106A 1991-01-29 1991-01-29 基板バイアス回路 Expired - Lifetime JP2575956B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3028106A JP2575956B2 (ja) 1991-01-29 1991-01-29 基板バイアス回路
KR1019920001004A KR950014244B1 (ko) 1991-01-29 1992-01-24 기판 바이어스 회로
US07/827,267 US5202588A (en) 1991-01-29 1992-01-29 Substrate bias circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3028106A JP2575956B2 (ja) 1991-01-29 1991-01-29 基板バイアス回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04253368A true JPH04253368A (ja) 1992-09-09
JP2575956B2 JP2575956B2 (ja) 1997-01-29

Family

ID=12239560

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3028106A Expired - Lifetime JP2575956B2 (ja) 1991-01-29 1991-01-29 基板バイアス回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5202588A (ja)
JP (1) JP2575956B2 (ja)
KR (1) KR950014244B1 (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR950002726B1 (ko) * 1992-03-30 1995-03-24 삼성전자주식회사 기판전압 발생기의 전하 펌프 회로
DE69328743T2 (de) * 1992-03-30 2000-09-07 Mitsubishi Electric Corp Halbleiteranordnung
FR2696598B1 (fr) * 1992-10-01 1994-11-04 Sgs Thomson Microelectronics Circuit élévateur de tension de type pompe de charge avec oscillateur bootstrapé.
US5342799A (en) * 1993-02-22 1994-08-30 Texas Instruments Incorporated Substrate slew circuit process
JP3643385B2 (ja) * 1993-05-19 2005-04-27 株式会社東芝 半導体回路装置
US5642073A (en) * 1993-12-06 1997-06-24 Micron Technology, Inc. System powered with inter-coupled charge pumps
US5493249A (en) * 1993-12-06 1996-02-20 Micron Technology, Inc. System powered with inter-coupled charge pumps
JP3102833B2 (ja) 1994-09-06 2000-10-23 株式会社 沖マイクロデザイン 昇圧回路
JP3638641B2 (ja) * 1994-10-05 2005-04-13 株式会社ルネサステクノロジ 昇圧電位発生回路
US5694072A (en) * 1995-08-28 1997-12-02 Pericom Semiconductor Corp. Programmable substrate bias generator with current-mirrored differential comparator and isolated bulk-node sensing transistor for bias voltage control
KR100208443B1 (ko) * 1995-10-14 1999-07-15 김영환 네가티브 전압 구동회로
EP1359592A3 (en) * 1995-10-31 2006-12-20 STMicroelectronics S.r.l. Clock generator for electrically programmable nonvolatile memory cells
US5920225A (en) * 1995-12-20 1999-07-06 Hyundai Electronic Industries, Co., Ltd. Negative voltage drive circuit
KR0176115B1 (ko) * 1996-05-15 1999-04-15 김광호 불휘발성 반도체 메모리 장치의 차지 펌프 회로
US6023187A (en) * 1997-12-23 2000-02-08 Mitsubishi Semiconductor America, Inc. Voltage pump for integrated circuit and operating method thereof
KR100278608B1 (ko) * 1998-01-16 2001-02-01 윤종용 문턱전압 보상회로
DE19924568B4 (de) 1999-05-28 2014-05-22 Qimonda Ag Ladungspumpe
US20080068068A1 (en) * 2006-09-19 2008-03-20 Sridhar Yadala Method and system for charge pumps
US8115597B1 (en) * 2007-03-07 2012-02-14 Impinj, Inc. RFID tags with synchronous power rectifier

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4229667A (en) * 1978-08-23 1980-10-21 Rockwell International Corporation Voltage boosting substrate bias generator
JPS57199335A (en) * 1981-06-02 1982-12-07 Toshiba Corp Generating circuit for substrate bias
NL8402764A (nl) * 1984-09-11 1986-04-01 Philips Nv Schakeling voor het opwekken van een substraatvoorspanning.
US4628214A (en) * 1985-05-22 1986-12-09 Sgs Semiconductor Corporation Back bias generator
JPS6266656A (ja) * 1985-09-19 1987-03-26 Toshiba Corp 基板電位生成回路

Also Published As

Publication number Publication date
JP2575956B2 (ja) 1997-01-29
KR920015378A (ko) 1992-08-26
US5202588A (en) 1993-04-13
KR950014244B1 (ko) 1995-11-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04253368A (ja) 基板バイアス回路
US5469099A (en) Power-on reset signal generator and operating method thereof
JP2772522B2 (ja) パワーオン信号発生回路
JPS63307771A (ja) 相補型金属酸化物半導体集積回路
JPH0257734B2 (ja)
JP2816508B2 (ja) 電源投入検出回路
US7482847B2 (en) Power-on reset circuit
US6677798B2 (en) High speed voltage level shifter
JPH04229714A (ja) バッファを有する集積回路
JP2000091900A (ja) ブ―トストラップ型mosドライバ―
US6084446A (en) Power on reset circuit
US7221199B2 (en) Circuit and method for generating level-triggered power up reset signal
JP3652793B2 (ja) 半導体装置の電圧変換回路
US4468576A (en) Inverter circuit having transistors operable in a shallow saturation region for avoiding fluctuation of electrical characteristics
US4274017A (en) Cascode polarity hold latch having integrated set/reset capability
JPS61222318A (ja) パワ−オンリセツト回路
KR100605591B1 (ko) 반도체 소자의 승압전압 발생기
EP0081800B1 (en) Clock circuit
US8988153B1 (en) Ring oscillator with NMOS or PMOS variation insensitivity
JP2601978B2 (ja) Ttl入力信号レベルを変換するためのcmosレシーバ回路
JP2005039635A (ja) パワーオンリセット回路
JP2569684B2 (ja) パワーオンリセット回路
EP0109004A2 (en) Low power clock generator
JP2672023B2 (ja) 基板電圧発生回路
JPH0576811B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071107

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081107

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091107

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101107

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101107

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111107

Year of fee payment: 15

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111107

Year of fee payment: 15