JPH04241471A - 半導体導波路型受光素子 - Google Patents
半導体導波路型受光素子Info
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- JPH04241471A JPH04241471A JP3002705A JP270591A JPH04241471A JP H04241471 A JPH04241471 A JP H04241471A JP 3002705 A JP3002705 A JP 3002705A JP 270591 A JP270591 A JP 270591A JP H04241471 A JPH04241471 A JP H04241471A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
pn接合を設けた半導体導波路型受光素子に関するもの
である。
う物質の特性を利用して、光の吸収が大きく屈折率が高
い材料で構成された層に、受光素子の光電変換層と導波
路のコア層との両者の機能を持たせることを特徴とした
導波路型受光素子は、光の入射方向が光励起キャリアの
走行方向(pn接合方向)と垂直であるため、光電変換
効率の要因となる光の入射方向の素子長と、高速性の要
因となる素子厚とを独立に設定することが可能であり、
したがって、高速かつ高効率な受光素子として適してい
る。また、その構造の類似性から半導体レーザや導波路
型光スイッチ等とのモノリシック集積化が容易であると
いう利点をもっている。
光波長が1.55μmの場合を例にとると、図8に示す
ように、p電極層としてのp+−InP、低キャリア濃
度層としてのn−In0.53Ga0.47As、n電
極層としてのn+−InPによって構成されている。こ
れらの層のうち、In0.53Ga0.47Asのみが
波長1.55μmの信号光を吸収することができ、光電
変換層として機能している。ここで導波路構造としてみ
れば、屈折率が高いn−In0.53Ga0.47As
がコア層、屈折率が低いp+−InP、n+−InPが
それぞれ上部クラッド層、下部クラッド層となっており
、コア層とクラッド層との屈折率の大きな違いによって
、導波光を上記コア層の近傍に閉じ込めることが可能に
なる(S.Chandrasekhar他著、アイ・ジ
ー・ダブリュウ・オー(IGWO),(1989),p
186)。上記受光素子はp電極層であるp+−InP
と、n電極層であるn+−InPとの間に逆バイアス電
圧を印加してIn0.53Ga0.47As低キャリア
濃度層に空乏層を形成し、この空乏層にかかる高電界を
利用することによって、光電変換を行うものである。
面から入射し、コアに沿って導波路内を導波しながら、
コア層で光電変換される。しかし、光ファイバから出射
された出射光のうち、光ファイバからの出射光界分布の
スポットサイズWOFと、それぞれの導波路構造に固有
な導波光界分布のスポットサイズWWGとで表わされる
結合効率 η=2/(WOF/WWG+WWG/WOF)の割合だ
けが、導波路型受光素子内を導波、光電変換され、それ
以外の部分は導波路外に放射され、光電変換されること
がない。図9に示すように結合効率ηの値はWOF=W
WGのとき最大値1となり、出射光界分布のスポットサ
イズWOFと導波光界分布のスポットサイズWWGとの
違いが大きくなるほど減少する。ところで、光ファイバ
からの出射光界分布のスポットサイズWOFは光ファイ
バのコア径とほぼ等しく約10μmであり、先球ファイ
バを用いた場合においても1μm以上となるのに対して
、従来の導波路型受光素子においては、コア層とクラッ
ド層の屈折率差が0.4程度と大きいため、導波光はコ
ア層近傍に閉じ込められ、スポットサイズは図10に示
すように導波路のコア層の厚さとほぼ等しく、0.5μ
m程度以下になっている。このような光ファイバとのス
ポットサイズの差異から、従来の導波路型受光素子では
、信号光を十分に素子内に導くことができず、導波路型
受光素子が、本来有する高速かつ高効率な性質を実現す
ることが困難であった。
ファイバからの信号光を高効率に光電変換する半導体導
波路型受光素子を得ることにある。
子整合するIn1−xGaxAsyP1−y(0≦x≦
1、0≦y≦1)系半導体層で構成された半導体導波路
型受光素子において、厚さ0.3μm以下のIn1−x
1Gax1Asy1P1−y1層よりなる第1半導体層
と、厚さ0.05μm以上のIn1−x2Gax2As
y2P1−y2(x1<x2、y1<y2)層よりなり
、かつ上記第1半導体層を挾んで積層された第2、第3
半導体層と、さらに上記第2、第3半導体層の第1半導
体層に接しない側に接してそれぞれ積層された、In1
−x3Gax3Asy3P1−y3(x3<x2、y3
<y2)からなる第4、第5半導体層とが、InP基板
上に形成され、これら各半導体層のうち少なくとも第2
半導体層または第3半導体層が、ノンドープ層であるこ
とにより達成され、また、厚さ0.01μm以上のノン
ドープIn1−x1Gax1Asy1P1−y1(x1
≧0.42、y1≧0.9)層と、同じくノンドープI
n1−x2Gax2Asy2P1−y2(x2<0.4
2、y2<0.9)層とを、交互に4層以上繰り返し積
層して形成した半導体多層膜と、該半導体多層膜を挾み
、半導体多層膜の等価的な屈折率よりも低い屈折率を有
するIn1−x3Gax3Asy3P1−y3(x3≧
x2、y3≧y2)層とから構成することにより達成さ
れる。
構成することにより広い導波モードを実現し、その結果
、導波路型受光素子の導波光界分布のスポットサイズを
、光ファイバからの出射光界分布のスポットサイズに近
づけることを特徴とするもので、上記2つのコア層の厚
さがそれぞれ0.05μm以上としたのは、上記厚さが
0.05μm以下だと受光素子として十分機能するだけ
の光電変換効率が得られないからである。なお、第2ま
たは第3半導体層のノンドープ層とは、キャリア濃度が
通常1×1016cm ̄3以下の範囲を指している。本
発明の導波路型受光素子は、従来技術における単一コア
層の導波路型受光素子に較べて、光ファイバからの信号
光を高い効率で素子内に導くことができるという利点が
あり、一方のコア層に沿って導波する光を他方のコア層
に沿って導波する光に移行させる、いわゆるエバネッセ
ント結合導波路とは中間層の厚さが薄いという点で異な
っており、コア層が長波長信号光の光吸収層であるとい
う点で長波長半導体レーザとは異なっている。
厚さd1屈折率3.6のIn0.53Ga0.47As
と、厚さd2のIn0.53Ga0.47Asよりも小
さな屈折率n2を有する半導体層の積層構造とすること
により、光吸収層としてのコア層の機能を保ちながら、
(3.6×d1+n2×d2)/(d1+d2)で表わ
されるコア層の等価的な屈折率をクラッド層の屈折率に
近づけることにより、上記コア層内への導波光の閉じ込
めを弱くし、その結果、導波路型受光素子の導波光界分
布のスポットサイズを、光ファイバからの出射光界分布
のスポットサイズに近づけることを特徴とするものであ
り、従来技術におけるコア層とクラッド層との屈折率差
が大きい導波路型受光素子に較べて、光ファイバからの
信号光を高い効率で素子内に導くことができるという利
点があり、上記導波路型受光素子は、コア層を構成する
光吸収層の厚さが、量子効果を生じさせるに十分な薄さ
の半導体井戸層の積層からなる多重量子井戸における、
半導体井戸層の厚さ(およそ0.01μm以下)よりも
厚いという点で多重量子井戸構造とは異なっている。
る。図1は本発明による半導体導波路型受光素子の第1
実施例を示す断面図、図2は上記第1実施例の各層にお
ける屈折率と素子内の導波光界分布を示す図、図3は本
発明の第2実施例を示す断面図、図4は上記実施例の各
層における屈折率と素子内の導波光界分布を示す図、図
5は高い結合効率が得られない場合の導波光界分布を示
す図、図6は本発明の第3実施例を示す断面図、図7は
上記実施例の各層における屈折率と素子内の導波光界分
布を示す図である。
のn+−InP基板、2は厚さ1μmでキャリア濃度1
×1018cm ̄3のn+−InP下部クラッド層、3
および5は厚さ0.1μmでキャリア濃度1×1016
cm ̄3以下のn−In0.53Ga0.47Asコア
層、4は厚さ0.2μmでキャリア濃度1×1016c
m ̄3以下のn−In1−xGaxAsyP1−y(x
=0.42、y=0.9)中間クラッド層である。また
、6は厚さ1μmでキャリア濃度1×1018cm ̄3
のp+−InP上部クラッド層である。In0.53G
a0.47AsおよびIn1−xGaxAsyP1−y
(x=0.42、y=0.9)はInPと格子整合した
材料である。ここで、ダイオード構造より記載すれば、
1、2はn電極層、3、4、5は低キャリア濃度層、6
はp電極層であり、これらのうち3、4、5で示す層の
みが波長1.55μmの光を吸収することができる光電
変換層である。受光素子は、各層をエピタキシャル成長
したのちにエッチングにより導波路構造に加工し、p+
−InP層上にp型オーミック電極、InP基板裏面に
n型オーミック電極をそれぞれ蒸着して形成する。光フ
ァイバから出射した波長1.55μmの信号光は素子の
端面に照射され、その一部が素子内を導波する。
折率分布からマックスウェル方程式によって計算される
素子内の導波光界分布を、同じ図2に曲線で示した。導
波光界分布の広がりの度合を表わすスポットサイズは、
上記構造では約1.5μmとなり、図10に示す単一コ
ア層とした導波路型受光素子の場合のスポットサイズ0
.8μmに較べると大きくなっている。実際、先球ファ
イバを用いた実験によると上記構造の導波路型受光素子
の受光効率は約60%となり、コア層を単一とした場合
の受光効率40%に比して大幅に改善された。
にInP、3および5で示す層にIn0.53Ga0.
47As層、4で示す層にIn1−xGaxAsyP1
−y(x=0.42、y=0.9)層を用いているが、
これらのうち3、4、5で示す各層のみが入射光を吸収
し得る材料であり、かつ、4の層の屈折率が3および5
の層の屈折率よりも小さく、また2および6の層の屈折
率よりも大きくなるような材料の組合せであれば、同様
の効果を期待できる。
濃度1×1018cm ̄3のn+−InP基板、8は厚
さ1μmでキャリア濃度1×1018cm ̄3のn+−
In1−xGaxAsyP1−y(x=0.37、y=
0.8)下部クラッド層、9、11は厚さ0.1μmの
キャリア濃度1×1016cm ̄3以下のn−In0.
53Ga0.47Asコア層、10は0.2μmのキャ
リア濃度1×1016cm ̄3以下のn−InP中間ク
ラッド層である。また、12は厚さ1μmでキャリア濃
度1×1018cm ̄3のp+−In1−xGaxAs
yP1−y(x=0.37、y=0.8)上部クラッド
層である。これらのうち、9および11で示す層のみが
波長1.55μmの光を吸収することができる光電変換
層である。
実線で示した。第1実施例と同様に、導波光界分布の広
がり度合を表わすスポットサイズは約1.5μmとなり
、コア層を単一とした従来のスポットサイズに較べると
非常に大きくなっている。実際に先球ファイバを用いた
実験によると、本構造の導波路型受光素子の受光効率は
約60%となり、コア層が単一の場合の受光効率約40
%に較べ大幅に改善された。本実施例では、8および1
2で示す層にIn1−xGaxAsyP1−y(x=0
.37、y=0.8)、9および11で示す層にIn0
.53Ga0.47As層、10で示す層にInP層を
用いているが、これらは上記9、11で示す層だけが入
射光を吸収できる材料であれば同様の効果が期待できる
。
においては、中間クラッド層の厚さを0.2μmとした
場合について示したが、これを0.3μmより厚くする
と図5に示すように、導波光界分布の2つの極大点どう
しの間隔が広くなり、その結果、中間クラッド層での導
波光強度が低下して高い結合効率は得られない。また、
2つのコア層および2つのコア層に挾まれた中間クラッ
ド層を、低キャリア濃度層とした場合について示したが
、上部あるいは下部クラッド層の一部も低キャリア濃度
層とする場合、また一方のコア層のみを低キャリア濃度
層とする場合、あるいは一方のコア層とクラッド層の一
部を低キャリア濃度層とする場合においても、同様の効
果が期待できる。また、両方のコア層が信号光を吸収で
きる材料とした例を示したが、一方のコア層だけが信号
光を吸収できる材料であっても同様の効果は期待できる
。
ア濃度1×1018cm ̄3のn−−InP基板、14
は厚さ2μmでキャリア濃度1×1018cm ̄3のn
−−In1−xGaxAsyP1−y(x=0.37、
y=0.8)クラッド層、15、16、17、18、1
9はそれぞれコア層の構成要素であり、15、17、1
9は厚さ0.05μmでn型キャリア濃度1×1016
cm ̄3以下のIn0.53Ga0.47As層、16
、18は厚さ0.05μmでn型キャリア濃度1×10
16cm ̄3以下のIn1−xGaxAsyP1−y(
x=0.37、y=0.8)層、20は厚さ2μmでキ
ャリア濃度1×1018cm ̄3のp−−In1−xG
axAsyP1−y(x=0.37、y=0.8)クラ
ッド層である。In0.53Ga0.47As、In1
−xGaxAsyP1−y(x=0.37、y=0.8
)は、InPと格子整合した材料である。ここで、ダイ
オード構造より記載すれば、13、14はn電極層、1
5、16、17、18、19は低キャリア濃度層、20
はp電極層であり、これらのうち15、17、19で示
す層のみが波長1.55μmの光を吸収し得る。受光素
子は、各層をエピタキシャル成長したのちにエッチング
により導波路構造に加工し、p+−In1−xGaxA
syP1−y(x=0.37、y=0.8)層上にp型
オーミック電極、InP基板裏面にn型オーミック電極
をそれぞれ蒸着して形成する。光ファイバから出射した
波長1.55μmの信号光は、素子の端面に照射され、
その一部が素子内を導波する。
の屈折率差は約0.1と非常に小さくなっている。屈折
率分布からマックスウェル方程式によって計算される素
子内の導波光界分布を、同じく図7に曲線で示した。導
波光界分布の広がり度合を表わすスポットサイズは、本
構造においては約1μmとなり、コア層にIn0.53
Ga0.47As、クラッド層にInPを用いた場合(
図10)のスポットサイズ0.4μmと較べて非常に大
きくなっている。実際に先球ファイバを用いた実験によ
ると、本構造の導波路型受光素子の受光効率は約60%
となり、コア層にIn0.53Ga0.47As、クラ
ッド層にInPを用いた従来の導波路型受光素子の場合
の受光効率約30%に較べて、大幅に改善された。
18、20で示す層にIn1−xGaxAsyP1−y
(x=0.37、y=0.8)、15、17、19で示
す層にIn0.53Ga0.47Asを用いた例を示し
ているが、これら各層は、15、17、19で示す層の
みが入射光を吸収できる材料であり、また、14および
20で示す層がコア層(15、16、17、18、19
)の等価屈折率よりも低い屈折率を持つ材料であれば、
同様の効果が期待できる。また、多層膜を構成する半導
体を2種類としているが、In1−x1Gax1Asy
1P1−y1(x1≧0.42、y≧0.9)を含む3
種類以上の半導体により構成された多層膜としても、同
様の効果が期待できる。
びコア層の材料として、InP基板と格子整合する材料
を用いた例を示したが、これらの一部あるいは全べてを
、InP基板と格子整合しない材料としても同様の効果
が期待できる。また、信号光波長が1.55μmである
場合について例示したが、材料を適当に選ぶことにより
、波長1.55μm以外の信号光に対しても本実施例と
同様の効果を有する導波路型受光素子を実現することが
できる。また、本構造を半導体光変調器に適用すること
によって、光ファイバとの結合がよい半導体光変調器を
実現することも可能である。
型受光素子は、InPに格子整合するIn1−xGax
AsyP1−y(0≦x≦1、0≦y≦1)系半導体層
で構成された半導体導波路型受光素子において、厚さ0
.3μm以下のIn1−x1Gax1Asy1P1−y
1層よりなる第1半導体層と、厚さ0.05μm以上の
In1−x2Gax2Asy2P1−y2(x1<x2
、y1<y2)層よりなり、かつ上記第1半導体層を挾
んで積層された第2、第3半導体層と、さらに上記第2
、第3半導体層の第1半導体層に接しない側に接してそ
れぞれ積層された、In1−x3Gax3Asy3P1
−y3(x3<x2、y3<y2)からなる第4、第5
半導体層とが、InP基板上に形成され、これら各半導
体層のうち少なくとも第2半導体層または第3半導体層
が、ノンドープ層であること、および、厚さ0.01μ
m以上のノンドープIn1−x1Gax1Asy1P1
−y1(x1≧0.42、y1≧0.9)層と、同じく
ノンドープIn1−x2Gax2Asy2P1−y2(
x2<0.42、y2<0.9)層とを、交互に4層以
上繰り返し積層して形成した半導体多層膜と、該半導体
多層膜を挾み、半導体多層膜の等価的な屈折率よりも低
い屈折率を有するIn1−x3Gax3Asy3P1−
y3(x3≧x2、y3≧y2)層とから構成されるこ
とにより、光ファイバからの信号光を高い効率で素子内
に導くことができるため、高い光電変換効率を有する半
導体導波路型受光素子を実現することができる。
施例を示す断面図である。
の導波光界分布を示す図である。
の導波光界分布を示す図である。
を示す図である。
の導波光界分布を示す図である。
る。
Claims (2)
- 【請求項1】InPに格子整合するIn1−xGaxA
syP1−y(0≦x≦1、0≦y≦1)系半導体層で
構成された半導体導波路型受光素子において、厚さ0.
3μm以下のIn1−x1Gax1Asy1P1−y1
層よりなる第1半導体層と、厚さ0.05μm以上のI
n1−x2Gax2Asy2P1−y2(x1<x2、
y1<y2)層よりなり、かつ上記第1半導体層を挾ん
で積層された第2、第3半導体層と、さらに上記第2、
第3半導体層の第1半導体層に接しない側に接してそれ
ぞれ積層された、In1−x3Gax3Asy3P1−
y3(x3<x2、y3<y2)からなる第4、第5半
導体層とが、InP基板上に形成され、これら各半導体
層のうち少なくとも第2半導体層または第3半導体層が
、ノンドープ層であることを特徴とする半導体導波路型
受光素子。 - 【請求項2】InPに格子整合するIn1−xGaxA
syP1−y(0≦x≦1、0≦y≦1)系半導体層で
構成された半導体導波路型受光素子において、厚さ0.
01μm以上のノンドープIn1−x1Gax1Asy
1P1−y1(x1≧0.42、y1≧0.9)層と、
同じくノンドープIn1−x2Gax2Asy2P1−
y2(x2<0.42、y2<0.9)層とを、交互に
4層以上繰り返し積層して形成した半導体多層膜と、該
半導体多層膜を挾み、半導体多層膜の等価的な屈折率よ
りも低い屈折率を有するIn1−x3Gax3Asy3
P1−y3(x3≧x2、y3≧y2)層とから構成さ
れていることを特徴とする半導体導波路型受光素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3002705A JP2847205B2 (ja) | 1991-01-14 | 1991-01-14 | 半導体導波路型受光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3002705A JP2847205B2 (ja) | 1991-01-14 | 1991-01-14 | 半導体導波路型受光素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04241471A true JPH04241471A (ja) | 1992-08-28 |
JP2847205B2 JP2847205B2 (ja) | 1999-01-13 |
Family
ID=11536710
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3002705A Expired - Lifetime JP2847205B2 (ja) | 1991-01-14 | 1991-01-14 | 半導体導波路型受光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2847205B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6718108B2 (en) | 1999-12-10 | 2004-04-06 | Nec Compound Semiconductor Devices | Semiconductor photodetector |
JP2010010450A (ja) * | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Mitsubishi Electric Corp | 導波路型受光素子 |
-
1991
- 1991-01-14 JP JP3002705A patent/JP2847205B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6718108B2 (en) | 1999-12-10 | 2004-04-06 | Nec Compound Semiconductor Devices | Semiconductor photodetector |
JP2010010450A (ja) * | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Mitsubishi Electric Corp | 導波路型受光素子 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2847205B2 (ja) | 1999-01-13 |
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