JPH04238275A - 電気回路テスト方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は電気回路テスト方法に関
し、特に電気回路における入出力特性をテストする電気
回路テスト方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の電気回路テスト方法としては、入
力信号に対応して、当該電気回路が所定の入出力特性に
沿って、期待通りの動作が行われているか否かをテスト
する方法として、入力信号に対して出力される出力信号
と、期待する出力信号の変化を表わす期待値とを比較照
合することにより行われている。このテスト方法の具体
的な方法については、以下、図２（ａ）、（ｂ）、（ｃ
）および（ｄ）に示される、従来の電気回路テスト方法
におけるタイム・チャートを参照して説明する。

【０００３】図２（ａ）、（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）
は、それぞれ入力信号１０５、出力信号１０６、期待値
１０７および比較照合位置１０８を示しており、入力信
号１０５におけるテスト周期ｔ０　の開始よりｔ５　の
時間経過後において、入力信号１０５がＬレベルからＨ
レベルに変化し、それに伴ない電気回路の動作に対応し
て、出力信号１０６がｔ１　の時間経過後に変化して出
力されている。この場合における期待値１０７は、テス
ト周期ｔ０　の開始時点において設定される。次いで、
入力信号１０５に応じて、出力信号１０６の変化が完了
するのに十分な時間ｔ３　の経過後の比較照合位置１０
８において、出力信号１０７と期待値１０８の比較照合
が行われ、電気回路として、期待通りの動作が行われた
か否かが判定されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の電気回
路テスト方法においては、周囲温度および電源電圧等の
テスト条件が変化することにより、入力信号１０５によ
って生じる出力信号１０６における変化が終了するまで
の時間ｔ１　が大きくなり、その変化が、次のテスト周
期ｔ４　にずれ込むという欠点があり、また、テスト周
期ｔ０　が短く、テスト周期ｔ０　内において電気回路
の動作が完了しない場合には、次のテスト周期ｔ４以降
において比較照合を行う期待値１０７を別途に設定しな
ければならず、テスト条件およびテスト周期等によって
、期待値１０７を複数用意しなければならないという欠
点がある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明の電気回路テスト
方法は、試験用の入力信号に対応する出力信号の変化値
と、期待する出力信号の変化値を表わした期待値とを比
較照合する電気回路テスト方法において、前記比較照合
に対応する比較照合位置を設定する参照基準位置として
、前記電気回路に対するテスト用の入力信号の立上り位
置Ｔを選定する手順と、前記入力信号に対応して、前記
電気回路より出力される出力信号の変化として表われる
であろうと予測される時間（Ｔ＋ｔ３　）に対応する時
間位置を、前記比較照合位置として設定する手順と、前
記比較照合位置の設定に対応して、前記期待値の時間位
置を（Ｔ＋ｔ３）に対応する時間位置に設定する手順と
、前記入力信号に対応して、前記電気回路から出力され
る出力信号の変化する時間位置（Ｔ＋ｔ１　）を検出し
、前記比較照合位置（Ｔ＋ｔ３　）に対応する時間位置
において、この出力信号の変化する時間位置（Ｔ＋ｔ１
　）と前記期待値の時間位置（Ｔ＋ｔ３　）とを比較照
合して、ｔ１　≦ｔ３　である場合には当該電気回路の
動作は正常であると判断し、ｔ１　＞ｔ３　である場合
には当該電気回路の動作が正常でないと判断する手順と
、を含むことを特徴としている。

【０００６】

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。

【０００７】図１（ａ）、（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）
は、本発明の一実施例における、入力信号１０１、出力
信号１０２、期待値１０３および比較照合位置１０４を
示すタイム・チャートである。

【０００８】図１（ａ）、（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）
において、入力信号１０１に対応する出力信号１０２と
、期待値１０３との比較照合位置１０４としては、回路
動作の基準となる信号の入力信号１０１の立上り位置を
基準位置として設定し、この基準位置に対して、入力信
号１０１に応じて電気回路が動作し、出力信号１０２の
変化として出力されるまでに要するものと予測される時
間ｔ３を加えた位置としている。この比較照合位置１０
４に合わせて、期待値１０３においても、比較照合位置
１０４と同様に時間ｔ３　の遅れ時間２０１（図１（ｄ
）参照）を加えて、比較照合用として用いるものとして
いる。

【０００９】図１（ａ）、（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）
においては、予測される時間ｔ３　よりも実際の出力信
号１０２の変化する時間ｔ１　が、時間ｔ２　だけ早く
表われており、予め設定された比較照合位置１０４にお
いては、出力信号１０２と期待値１０３とは、明らかに
一致するものとなっており、この場合には、テスト対象
の電気回路は正常であると判断される。また、予測され
た時間ｔ３　よりも、出力信号１０２の変化する時間ｔ
１　の方が遅い場合には、出力信号１０２と期待値１０
３とは、明らかに不一致となる。この場合は、電気回路
の動作は正常ではないものと判断される。また、入力信
号１０１の１周期ｔ０　、即ち、テスト周期を超過して
、次のテスト周期において出力信号１０１が変化しても
、テスト周期ｔ０　において比較照合を行うものとして
作成された期待値１０３が、そのまま期待値として使用
することが可能となるため、テスト条件およびテスト周
期に変化が生じても、１本の期待値１０３のみを使用す
ることにより、電気回路のテストを行うことが可能とな
る。

【００１０】なお、以上の説明においては、１本の入力
信号と、１本の出力信号とを対象として、二つ目のテス
ト周期まで出力信号の変化時間が要するものとして、テ
ストのタイム・チャートについての説明をしているが、
本発明は、このような条件に限定されるものではなく、
複数の入力信号、複数の出力信号および複数の比較照合
位置に対応する場合においても、出力信号の変化時間が
最初のテスト周期内に収まり、または３番目のテスト周
期となるようなテスト条件およびテスト周期が設定され
る場合においても、同様に有効に適用されることは云う
までもない。

【００１１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、電気回
路のテスト方法として、テスト条件およびテスト周期等
における変化に関せず、出力信号の比較対象となる期待
値として、１本の期待値を使用するのみにて、電気回路
のテストを行うことができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例におけるタイム・チャートを
示す図である。

【図２】従来例におけるタイム・チャートを示す図であ
る。

【符号の説明】

１０１，１０５　　　　入力信号 １０２，１０６　　　　出力信号 １０３，１０７　　　　期待値 １０４，１０８　　　　比較照合位置 ２０１　　　　遅れ時間

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　試験用の入力信号に対応する出力信号
   の変化値と、期待する出力信号の変化値を表わした期待
   値とを比較照合する電気回路テスト方法において、前記
   比較照合に対応する比較照合位置を設定する参照基準位
   置として、前記電気回路に対するテスト用の入力信号の
   立上り位置Ｔを選定する手順と、前記入力信号に対応し
   て、前記電気回路より出力される出力信号の変化として
   表われるであろうと予測される時間（Ｔ＋ｔ３　）に対
   応する時間位置を、前記比較照合位置として設定する手
   順と、前記比較照合位置の設定に対応して、前記期待値
   の時間位置を（Ｔ＋ｔ３　）に対応する時間位置に設定
   する手順と、前記入力信号に対応して、前記電気回路か
   ら出力される出力信号の変化する時間位置（Ｔ＋ｔ１　
   ）を検出し、前記比較照合位置（Ｔ＋ｔ３　）に対応す
   る時間位置において、この出力信号の変化する時間位置
   （Ｔ＋ｔ１　）と前記期待値の時間位置（Ｔ＋ｔ３　）
   とを比較照合して、ｔ１　≦ｔ３　である場合には当該
   電気回路の動作は正常であると判断し、ｔ１　＞ｔ３　
   である場合には当該電気回路の動作が正常でないと判断
   する手順と、を含むことを特徴とする電気回路テスト方
   法。