JPH0423141A - 性能測定装置 - Google Patents
性能測定装置Info
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- JPH0423141A JPH0423141A JP2128907A JP12890790A JPH0423141A JP H0423141 A JPH0423141 A JP H0423141A JP 2128907 A JP2128907 A JP 2128907A JP 12890790 A JP12890790 A JP 12890790A JP H0423141 A JPH0423141 A JP H0423141A
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- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
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- VWTINHYPRWEBQY-UHFFFAOYSA-N denatonium Chemical compound [O-]C(=O)C1=CC=CC=C1.C=1C=CC=CC=1C[N+](CC)(CC)CC(=O)NC1=C(C)C=CC=C1C VWTINHYPRWEBQY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
各被性能測定装置から共通アドレス空間内においてアク
セスし得る各被性能測定装置対応の性能測定装置で当該
被性能測定装置の性能測定を行なう性能測定装置に関し
、 短時間内の正確な性能測定、解析を為して被性能測定装
置の性能向上に寄与することを目的とし、各被性能測定
装置からの性能測定開始設定情報、アドレス及びアクセ
スモード情報を転送して来る共通バスへ接続され、予め
決められるタイムスロット内の性能測定開始設定情報、
アドレス及びアクセスモード情報に応答してセレクト信
号及びアドレスを出力する共通バス制御部と、前記セレ
クト信号、及び前記アドレス内の性能測定開始情報、又
は性能測定停止情報に応答して該アドレス対応の起動信
号、又は停止信号を発生する測定制御装置と、前記起動
信号、又は停止信号に応答して起動、又は停止される前
記アドレス対応の性能測定手段とを設けて構成した。
セスし得る各被性能測定装置対応の性能測定装置で当該
被性能測定装置の性能測定を行なう性能測定装置に関し
、 短時間内の正確な性能測定、解析を為して被性能測定装
置の性能向上に寄与することを目的とし、各被性能測定
装置からの性能測定開始設定情報、アドレス及びアクセ
スモード情報を転送して来る共通バスへ接続され、予め
決められるタイムスロット内の性能測定開始設定情報、
アドレス及びアクセスモード情報に応答してセレクト信
号及びアドレスを出力する共通バス制御部と、前記セレ
クト信号、及び前記アドレス内の性能測定開始情報、又
は性能測定停止情報に応答して該アドレス対応の起動信
号、又は停止信号を発生する測定制御装置と、前記起動
信号、又は停止信号に応答して起動、又は停止される前
記アドレス対応の性能測定手段とを設けて構成した。
本発明は、各被性能測定装置から共通アドレス空間内に
おいてアクセスし得る各被性能測定装置対応の性能測定
装置で当該被性能測定装置の性能測定を行なう性能測定
装置に関する。
おいてアクセスし得る各被性能測定装置対応の性能測定
装置で当該被性能測定装置の性能測定を行なう性能測定
装置に関する。
情報処理装置は、その高速化、高性能化への要求が高く
、その開発もその方向へ進んでいる。そして、前記高速
化、高性能化は、マルチプロセッサ構成の下でも、同様
である。そのシステム構成の如何を問わず、装置性能を
製造段階等において測定し得る必要がある。このような
性能測定装置は、通常外付けとなっている。
、その開発もその方向へ進んでいる。そして、前記高速
化、高性能化は、マルチプロセッサ構成の下でも、同様
である。そのシステム構成の如何を問わず、装置性能を
製造段階等において測定し得る必要がある。このような
性能測定装置は、通常外付けとなっている。
前述のようなシステム構成で用いられる従来の性能測定
装置は、第8図に示すようなものであった。即ち、その
性能測定装置200は、スタート/ストップレジスタ2
02、及びカウンタ204を有して構成され、そのスタ
ート/スト・ンブレジスタ202は、デバッグインタフ
ェース208を介して被性能測定装置(処理装置)20
6へ接続されてその性能を測定するものであった。その
接続形態は、共通バス210へ接続される各被性能測定
装置206毎に接続/切り離しを行なうものである。そ
して、被性能測定装置(処理装置)206の性能測定は
、被性能測定装置の測定対象プログラムにカウンタスタ
ート/ストップ命令を追加することで、測定対象プログ
ラムの実行時間を測定するものであった。
装置は、第8図に示すようなものであった。即ち、その
性能測定装置200は、スタート/ストップレジスタ2
02、及びカウンタ204を有して構成され、そのスタ
ート/スト・ンブレジスタ202は、デバッグインタフ
ェース208を介して被性能測定装置(処理装置)20
6へ接続されてその性能を測定するものであった。その
接続形態は、共通バス210へ接続される各被性能測定
装置206毎に接続/切り離しを行なうものである。そ
して、被性能測定装置(処理装置)206の性能測定は
、被性能測定装置の測定対象プログラムにカウンタスタ
ート/ストップ命令を追加することで、測定対象プログ
ラムの実行時間を測定するものであった。
従来の性能測定装置200は、各被性能測定装置(処理
装置)206毎に、接続替えを行なう必要があるから、
共通バス210へ接続される各被性能測定装置206の
同時性能測定は、行なうことはできなかった。そのため
に、正確な性能測定、解析を行なうことが、困難乃至不
可能であった。
装置)206毎に、接続替えを行なう必要があるから、
共通バス210へ接続される各被性能測定装置206の
同時性能測定は、行なうことはできなかった。そのため
に、正確な性能測定、解析を行なうことが、困難乃至不
可能であった。
又、デバッグインタフェース208を有しない処理装置
の性能測定は出来なかった。
の性能測定は出来なかった。
本発明は、斯かる問題点に鑑みて創作されたもので、短
時間内の正確な性能測定、解析を為して被性能測定装置
の性能向上に寄与し得る性能測定装置を従供することを
その目的とする。
時間内の正確な性能測定、解析を為して被性能測定装置
の性能向上に寄与し得る性能測定装置を従供することを
その目的とする。
第1図は本発明の原理ブロック図を示す。この図に示す
ように、本発明は、各被性能測定装置からの性能測定開
始設定情報、アドレス及びアクセスモード情報を転送し
て来る共通バス2へ接続され、予め決められるタイムス
ロット内の性能測定開始設定情報、アドレス及びアクセ
スモード情報に応答してセレクト信号及びアドレスを出
力する共通バス制御部4と、前記セレクト信号、及び前
記アドレス内の性能測定開始情報、又は性能測定停止情
報に応答して該アドレス対応の起動信号、又は停止信号
を発生する測定制御装置6と、前記起動信号、又は停止
信号に応答して起動、又は停止される前記アドレス対応
の性能測定手段8とを設けて、構成される。
ように、本発明は、各被性能測定装置からの性能測定開
始設定情報、アドレス及びアクセスモード情報を転送し
て来る共通バス2へ接続され、予め決められるタイムス
ロット内の性能測定開始設定情報、アドレス及びアクセ
スモード情報に応答してセレクト信号及びアドレスを出
力する共通バス制御部4と、前記セレクト信号、及び前
記アドレス内の性能測定開始情報、又は性能測定停止情
報に応答して該アドレス対応の起動信号、又は停止信号
を発生する測定制御装置6と、前記起動信号、又は停止
信号に応答して起動、又は停止される前記アドレス対応
の性能測定手段8とを設けて、構成される。
共通バス2へ接続された複数の被性能測定装置の内の、
性能測定を開始したい被性能測定手段(例えば、その中
で実行れさるプログラム)から共通バス2を経て本発明
の性能測定装置へ性能測定開始設定情報、アドレス及び
アクセスモード情報が転送されて来る。
性能測定を開始したい被性能測定手段(例えば、その中
で実行れさるプログラム)から共通バス2を経て本発明
の性能測定装置へ性能測定開始設定情報、アドレス及び
アクセスモード情報が転送されて来る。
性能測定開始設定情報、アドレス及びアクセスモード情
報を受信した共通バス制御部4は、セレクト信号を発生
すると共に、アドレスを出力する。
報を受信した共通バス制御部4は、セレクト信号を発生
すると共に、アドレスを出力する。
測定制御装置6は、前記セレクト信号、及び前記アドレ
ス内の性能測定開始情報、又は性能測定停止情報に応答
して該アドレス対応の起動信号、又は停止信号を発生す
る。
ス内の性能測定開始情報、又は性能測定停止情報に応答
して該アドレス対応の起動信号、又は停止信号を発生す
る。
前記アドレス対応の起動信号の供給を受ける前記アドレ
ス対応の性能測定手段8は、その性能測定を開始し、そ
の後に供給される同一アドレス対応の停止信号の供給で
それまで行なっていた性能測定動作を停止する。
ス対応の性能測定手段8は、その性能測定を開始し、そ
の後に供給される同一アドレス対応の停止信号の供給で
それまで行なっていた性能測定動作を停止する。
このような性能測定動作の開始、そして停止は、各被性
能測定装置からの前述のような性能測定開始設定情報、
アドレス及びアクセスモード情報の供給で生ぜしめれる
から、各被性能測定装置の性能測定のためにそれらの被
性能測定装置の逐一の接続替えを必要としないし、それ
らの性能測定は、並行して連続的に遂行し得る。従って
、正確な性能測定、解析を短時間の内に為し得るから、
被性能測定装置の性能改善に寄与し得る。
能測定装置からの前述のような性能測定開始設定情報、
アドレス及びアクセスモード情報の供給で生ぜしめれる
から、各被性能測定装置の性能測定のためにそれらの被
性能測定装置の逐一の接続替えを必要としないし、それ
らの性能測定は、並行して連続的に遂行し得る。従って
、正確な性能測定、解析を短時間の内に為し得るから、
被性能測定装置の性能改善に寄与し得る。
第2図は本発明の一実施例を示す。この実施例は、被性
能測定装置の性能測定対象(プログラム)数を4とする
例についての実施例である。第2図において、性能測定
装置26は、前述「従来の技術」の項で説明したように
、共通バス24(前述[従来の技術Jの項で説明した共
通バス210に対応)へ接続され、その共通バス24に
は、複数の処理装置(第1図の処理装置1.処理装置2
参照)が接続される。その性能測定装置26は、共通バ
ス制御部30、カウンタスタート/ストップ制御回路2
8、カウンタ32から成る。カウンタ32には、パーソ
ナルコンピュータ34が接続される。共通バス制御部3
0は、フリップフロップ回路(FF)36、バッファ3
8、フリップフロップ回路40、アンド回路42、デコ
ーダ44から成る。そのアンド回路42からセレクト信
号が、又バッファ38からアドレスが出力される。カウ
ンタスタート/ストップ制御回路28は、スタート/ス
トップレジスタ46、デコーダ48、フリップフロップ
回路50、フリップフロップ回路52、フリップフロッ
プ回路54、フリップフロップ回路56、アンド回路5
8、アンド回路60、アンド回路62、アンド回路64
から成る。スタート/ストップレジスタ46には、第3
図に示すように前記複数の処理装置で用いられるレジス
タアドレス空間内に予め割り当てられているアドレスの
各々が一時には1つセットされる。第3図のレジスタマ
ツプの左側に示される “Xij”は、アドレスの各々
を示し、Xは、アドレスの上位ビットを、又゛ij”は
、アドレスの下位8ビツトを示す。そして、そのiは、
下位8ビツト(第5図参照)の内の上位4ビツトを、又
jは、その下位4ビツトを16進法で示す。これら上位
4ビツト及び下位4ビツトについての詳細は、第5図を
参照して後述する。アンド回路5日、アンド回路60、
アンド回路62、アンド回路64は、フリップフロップ
回路50、フリップフロップ回路52、フリップフロッ
プ回路54、フリップフロップ回路56の出力をチャネ
ルクロツタ(CCLK)でゲートする。それらのアンド
回路58、アンド回路60、アンド回路62、アンド回
路64の出力を受けるCHOカウンタ66、CHIカウ
ンタ68、CH2カウンタ70、CH3カウンタ72は
、それぞれ前記4つの性能測定対象対応に設けられてい
る。前記CHOカウンタ66、CHIカウンタ68、C
H2カウンタ70、CH3カウンタ72の出力は、マル
チプレクサ74を経てパーソナルコンピュータ34へ供
給される。
能測定装置の性能測定対象(プログラム)数を4とする
例についての実施例である。第2図において、性能測定
装置26は、前述「従来の技術」の項で説明したように
、共通バス24(前述[従来の技術Jの項で説明した共
通バス210に対応)へ接続され、その共通バス24に
は、複数の処理装置(第1図の処理装置1.処理装置2
参照)が接続される。その性能測定装置26は、共通バ
ス制御部30、カウンタスタート/ストップ制御回路2
8、カウンタ32から成る。カウンタ32には、パーソ
ナルコンピュータ34が接続される。共通バス制御部3
0は、フリップフロップ回路(FF)36、バッファ3
8、フリップフロップ回路40、アンド回路42、デコ
ーダ44から成る。そのアンド回路42からセレクト信
号が、又バッファ38からアドレスが出力される。カウ
ンタスタート/ストップ制御回路28は、スタート/ス
トップレジスタ46、デコーダ48、フリップフロップ
回路50、フリップフロップ回路52、フリップフロッ
プ回路54、フリップフロップ回路56、アンド回路5
8、アンド回路60、アンド回路62、アンド回路64
から成る。スタート/ストップレジスタ46には、第3
図に示すように前記複数の処理装置で用いられるレジス
タアドレス空間内に予め割り当てられているアドレスの
各々が一時には1つセットされる。第3図のレジスタマ
ツプの左側に示される “Xij”は、アドレスの各々
を示し、Xは、アドレスの上位ビットを、又゛ij”は
、アドレスの下位8ビツトを示す。そして、そのiは、
下位8ビツト(第5図参照)の内の上位4ビツトを、又
jは、その下位4ビツトを16進法で示す。これら上位
4ビツト及び下位4ビツトについての詳細は、第5図を
参照して後述する。アンド回路5日、アンド回路60、
アンド回路62、アンド回路64は、フリップフロップ
回路50、フリップフロップ回路52、フリップフロッ
プ回路54、フリップフロップ回路56の出力をチャネ
ルクロツタ(CCLK)でゲートする。それらのアンド
回路58、アンド回路60、アンド回路62、アンド回
路64の出力を受けるCHOカウンタ66、CHIカウ
ンタ68、CH2カウンタ70、CH3カウンタ72は
、それぞれ前記4つの性能測定対象対応に設けられてい
る。前記CHOカウンタ66、CHIカウンタ68、C
H2カウンタ70、CH3カウンタ72の出力は、マル
チプレクサ74を経てパーソナルコンピュータ34へ供
給される。
第4図は、前述のスタート/ストップレジスタ46、デ
コーダ48、フリップフロップ回路50、フリップフロ
ップ回路52、フリップフロップ回路54、フリップフ
ロップ回路56の構成の詳細図である。そのスタート/
ストップレジスタ46には、アドレス下位8ビツトがセ
ットされるが、その上位4ビツトが上位4ビツトレジス
タ46Uに、下位4ビツトが下位4ビツトレジスタ46
Lに供給される。その上位4ビツトレジスタ46Uの最
下位ビット位置にスタート/ストップビットがセットさ
れ(第5図のスタート/ストップビット参照)、下位4
ビツトレジスタ46Lの下位2ビット位置にチャネル識
別ビットがセットされる(第5図のチャネル識別ビット
参照)。各フリップフロップ回路52,54,56.5
8は、それぞれアンド回路A、B、JKフリップフロッ
プ回路Cから成る。
コーダ48、フリップフロップ回路50、フリップフロ
ップ回路52、フリップフロップ回路54、フリップフ
ロップ回路56の構成の詳細図である。そのスタート/
ストップレジスタ46には、アドレス下位8ビツトがセ
ットされるが、その上位4ビツトが上位4ビツトレジス
タ46Uに、下位4ビツトが下位4ビツトレジスタ46
Lに供給される。その上位4ビツトレジスタ46Uの最
下位ビット位置にスタート/ストップビットがセットさ
れ(第5図のスタート/ストップビット参照)、下位4
ビツトレジスタ46Lの下位2ビット位置にチャネル識
別ビットがセットされる(第5図のチャネル識別ビット
参照)。各フリップフロップ回路52,54,56.5
8は、それぞれアンド回路A、B、JKフリップフロッ
プ回路Cから成る。
第2図乃至第4図において、共通バス24は、第1図の
共通バス2に対応し、共通バス制御部30は、第1図の
共通バス制御部4に対応する。カウンタスタート/スト
ップ制御回路2日は、第1図の測定制御装置6に対応し
、カウンタ3o、マルチプレクサ74、パーソナルコン
ピュータ34は、第1図の性能測定手段8に対応する。
共通バス2に対応し、共通バス制御部30は、第1図の
共通バス制御部4に対応する。カウンタスタート/スト
ップ制御回路2日は、第1図の測定制御装置6に対応し
、カウンタ3o、マルチプレクサ74、パーソナルコン
ピュータ34は、第1図の性能測定手段8に対応する。
前述のような構成の本発明装置の動作を以下に説明する
。
。
マルチプロセッサ構成のシステムの共通バス24へ性能
測定装置26が接続され、性能測定装置26ヘパーソナ
ルコンピユータ34が接続された状態で、該システムが
動作されており、マルチプロセッサ構成システムを構成
している複数の処理装置の内の成るプロセッサで実行さ
れつつあるプログラム(例えば、チャネルCHI)(第
6図のチャネルCHI参照)において、その実行時間測
定のための測定スタート指示(設定情報)は、第7図に
示すように測定スタートの先頭タイムスロット(第7図
の■参照)時刻に共通バス24から性能測定装置26へ
転送されて来てフリップフロップ回路36にセットされ
る一方、アドレス、アクセスモード情報(レジスタライ
トアクセス情報)は、バッファ38にセットされる。ア
ドレス、及びレジスタライトアクセス情報は、デコーダ
44でデコードされ、そこから“H”レベルの信号を出
力する。従って、アンド回路42からも′H°。
測定装置26が接続され、性能測定装置26ヘパーソナ
ルコンピユータ34が接続された状態で、該システムが
動作されており、マルチプロセッサ構成システムを構成
している複数の処理装置の内の成るプロセッサで実行さ
れつつあるプログラム(例えば、チャネルCHI)(第
6図のチャネルCHI参照)において、その実行時間測
定のための測定スタート指示(設定情報)は、第7図に
示すように測定スタートの先頭タイムスロット(第7図
の■参照)時刻に共通バス24から性能測定装置26へ
転送されて来てフリップフロップ回路36にセットされ
る一方、アドレス、アクセスモード情報(レジスタライ
トアクセス情報)は、バッファ38にセットされる。ア
ドレス、及びレジスタライトアクセス情報は、デコーダ
44でデコードされ、そこから“H”レベルの信号を出
力する。従って、アンド回路42からも′H°。
レベルの信号(セレクト信号)が出力される。そのセレ
クト信号(前記アクセスに対する応答)は、フリップフ
ロップ回路40にセットされ、そこから共通バス24を
経て性能測定アクセス元のプロセッサによる読み取りに
供される。
クト信号(前記アクセスに対する応答)は、フリップフ
ロップ回路40にセットされ、そこから共通バス24を
経て性能測定アクセス元のプロセッサによる読み取りに
供される。
前記セレクト信号を受けるスタート/ストップレジスタ
46の上位4ビツトレジスタ46U内の最下位ビット位
置に、バッファ38内にセットされている上位4ビツト
内のスタート/ストップビットがセットされ、下位4ビ
ツト内の下位2ビツトのチャネル識別ビットが、下位4
ビツトレジスタ46Lの下位2ビット位置にセットされ
る。この時刻に上位4ビツトレジスタ46U内の最下位
ビット位置にセットされるビットは、スタートビットで
あるから、スタート/ストップレジスタ46からフリッ
プフロップ回路50、フリップフロップ回路52、フリ
ップフロップ回路54、フリップフロップ回路56に対
して“0”の信号が供給され、スタート/ストップレジ
スタ46のチャネル識別ビットをデコードするデコーダ
48から、前記酸るプロセッサで実行されつつあるプロ
グラム(例えば、チャネルCHI)を識別するデコード
信号を発生し、該デコード信号で指定されるカウンタ(
例えば、CHIカウンタ68)のカウント動作を開始さ
せる(第6図のチャネルCHIの開始参照)。
46の上位4ビツトレジスタ46U内の最下位ビット位
置に、バッファ38内にセットされている上位4ビツト
内のスタート/ストップビットがセットされ、下位4ビ
ツト内の下位2ビツトのチャネル識別ビットが、下位4
ビツトレジスタ46Lの下位2ビット位置にセットされ
る。この時刻に上位4ビツトレジスタ46U内の最下位
ビット位置にセットされるビットは、スタートビットで
あるから、スタート/ストップレジスタ46からフリッ
プフロップ回路50、フリップフロップ回路52、フリ
ップフロップ回路54、フリップフロップ回路56に対
して“0”の信号が供給され、スタート/ストップレジ
スタ46のチャネル識別ビットをデコードするデコーダ
48から、前記酸るプロセッサで実行されつつあるプロ
グラム(例えば、チャネルCHI)を識別するデコード
信号を発生し、該デコード信号で指定されるカウンタ(
例えば、CHIカウンタ68)のカウント動作を開始さ
せる(第6図のチャネルCHIの開始参照)。
このようにして、カウント動作を開始させられたカウン
タのカウント動作が中断し中断せずして、又はそのカウ
ント動作の終了となるか否かを問わずして、前述と同様
のカウンタのカウント動作が、その他のカウンタについ
て並行して連続的に生ぜしめられる(第6図のその他の
チャネル参照)。
タのカウント動作が中断し中断せずして、又はそのカウ
ント動作の終了となるか否かを問わずして、前述と同様
のカウンタのカウント動作が、その他のカウンタについ
て並行して連続的に生ぜしめられる(第6図のその他の
チャネル参照)。
これにより、性能測定対象毎に、従来のような接続替え
が不要になるばかりでなく、それらの同時的にして連続
的に測定が可能になる。
が不要になるばかりでなく、それらの同時的にして連続
的に測定が可能になる。
前述のカウンタのカウント動作中断、又は終了は、実行
されつつあるプログラムからのストップ指示(共通バス
24を経て与えられるアドレス内の上位4ピント内の最
下位ビットにセントされたストップビット)に応答して
為される。即ち、スタート/ストップレジスタ46から
フリップフロップ回路50、フリップフロップ回路52
、フリップフロップ回路54、フリップフロップ回B5
6に対して“1”の信号を供給することで生ぜしめられ
る(第6図のチャネルCHIの停止参照)。
されつつあるプログラムからのストップ指示(共通バス
24を経て与えられるアドレス内の上位4ピント内の最
下位ビットにセントされたストップビット)に応答して
為される。即ち、スタート/ストップレジスタ46から
フリップフロップ回路50、フリップフロップ回路52
、フリップフロップ回路54、フリップフロップ回B5
6に対して“1”の信号を供給することで生ぜしめられ
る(第6図のチャネルCHIの停止参照)。
このようなカウンタのカウント動作開始、その停止の反
復の有無を問わず、プロセッサ性能測定対象プログラム
の各々の動作時間が、それぞれ対応カウンタ内に並行し
て連続的に計時される。
復の有無を問わず、プロセッサ性能測定対象プログラム
の各々の動作時間が、それぞれ対応カウンタ内に並行し
て連続的に計時される。
このようにして、各チャネル対応のカウンタに計測され
ているプログラム実行時間は、測定終了時にマルチプレ
クサ74を経てパーソナルコンピュータ34へ転送され
てプログラムの性能解析に用いられる。
ているプログラム実行時間は、測定終了時にマルチプレ
クサ74を経てパーソナルコンピュータ34へ転送され
てプログラムの性能解析に用いられる。
なお、前記実施例のカウンタは、ソフトカウンタであっ
てもよい。
てもよい。
以上述べたところから明らかなように本発明によれば、
被性能測定対象が動作するアドレス空間内に前記被性能
測定対象毎に設けられた性能測定装置の起動/停止制御
系を構築したので、性能測定対象毎の従来のような接続
替えが不要になるばかりでなく、それらの同時的にして
連続的な測定が可能になる。従って、正確な性能測定、
解析を短時間内に行なうことが出来る。その結果を性能
改善点の洗い出し等に用いることが出来るから、被性能
測定装置の性能改善に寄与し得る。
被性能測定対象が動作するアドレス空間内に前記被性能
測定対象毎に設けられた性能測定装置の起動/停止制御
系を構築したので、性能測定対象毎の従来のような接続
替えが不要になるばかりでなく、それらの同時的にして
連続的な測定が可能になる。従って、正確な性能測定、
解析を短時間内に行なうことが出来る。その結果を性能
改善点の洗い出し等に用いることが出来るから、被性能
測定装置の性能改善に寄与し得る。
第1図は本発明の原理ブロック図、
第2図は本発明の一実施例を示す図、
第3図はレジスタマツプを示す図、
第4図はカウンタスタート/ストップ制御回路の詳細図
、 第5図は本発明で用いられるアドレスの構成図、第6図
はプログラム実行時間の測定説明図、第7図は共通レジ
スタアクセスタイムチャートを示す図、 第8図は従来の性能測定方式を示す図である。 第1図乃至第3図において、 2は共通バス(共通バス24)、 4は共通バス制御部(共通バス制御部30)、6は測定
制御装置(カウンタスタート/ストップ制御回路28)
、 8は性能測定手段(カウンタ30、マルチプレクサ74
、パーソナルコンピュータ34)である。 不死6月の#王里フ゛O−/7図 第 図 レジ又タマ・lプ 第 図 CCLK 刀つンタ又タート/又1”+ア制伶rロ鋒第4図 LS日 7Fしスの壌へ圓 第5図 プDグラムit1時間のゴリ11定1化θ日図第6図
、 第5図は本発明で用いられるアドレスの構成図、第6図
はプログラム実行時間の測定説明図、第7図は共通レジ
スタアクセスタイムチャートを示す図、 第8図は従来の性能測定方式を示す図である。 第1図乃至第3図において、 2は共通バス(共通バス24)、 4は共通バス制御部(共通バス制御部30)、6は測定
制御装置(カウンタスタート/ストップ制御回路28)
、 8は性能測定手段(カウンタ30、マルチプレクサ74
、パーソナルコンピュータ34)である。 不死6月の#王里フ゛O−/7図 第 図 レジ又タマ・lプ 第 図 CCLK 刀つンタ又タート/又1”+ア制伶rロ鋒第4図 LS日 7Fしスの壌へ圓 第5図 プDグラムit1時間のゴリ11定1化θ日図第6図
Claims (1)
- (1)各被性能測定装置からの性能測定開始設定情報、
アドレス及びアクセスモード情報を転送して来る共通バ
ス(2)へ接続され、予め決められるタイムスロット内
の性能測定開始設定情報、アドレス及びアクセスモード
情報に応答してセレクト信号及びアドレスを出力する共
通バス制御部(4)と、 前記セレクト信号、及び前記アドレス内の性能測定開始
情報、又は性能測定停止情報に応答して該アドレス対応
の起動信号、又は停止信号を発生する測定制御装置(6
)と、 前記起動信号、又は停止信号に応答して起動、又は停止
される前記アドレス対応の性能測定手段(8)とを設け
たことを特徴とする性能測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2128907A JPH0423141A (ja) | 1990-05-18 | 1990-05-18 | 性能測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2128907A JPH0423141A (ja) | 1990-05-18 | 1990-05-18 | 性能測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0423141A true JPH0423141A (ja) | 1992-01-27 |
Family
ID=14996313
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2128907A Pending JPH0423141A (ja) | 1990-05-18 | 1990-05-18 | 性能測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0423141A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS534735B2 (ja) * | 1974-03-08 | 1978-02-20 | ||
JPH0244457A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-14 | Mitsubishi Electric Corp | プログラマブル制御装置 |
-
1990
- 1990-05-18 JP JP2128907A patent/JPH0423141A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS534735B2 (ja) * | 1974-03-08 | 1978-02-20 | ||
JPH0244457A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-14 | Mitsubishi Electric Corp | プログラマブル制御装置 |
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