JPH04230833A - 原子吸収分光計によるサンプル分析方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、サンプルの電熱霧化に
より原子吸収分光計によつてサンプルを分析する方法に
おいて、（ａ）液体サンプルを炉内に導入し、（ｂ）前
記サンプルを乾燥するために前記炉を乾燥温度にまで加
熱し、（ｃ）続いて前記サンプルを原子雲が前記炉内に
発生する霧化温度にまで加熱し、その原子雲中に前記サ
ンプルの成分が原子状態で存在し、そして（ｄ）前記サ
ンプル中に期待される元素の共鳴スペクトル線により原
子雲を通して向けられた測定光ビームの原子吸収を測定
する工程を有することを特徴とする原子吸収分光計によ
るサンプル分析方法に関する。

【０００２】さらに、本発明は、かかる方法を実施する
ためのげ原子吸収分光計によるサンプル分析装置に関す
る。

【０００３】

【従来の技術】原子吸収分光計はサンプル中の期待元素
の定量分析ようの非常に感度の良い方法である。光源、
例えば、中空カソードランプ（ＨＣＬ）は期待元素の線
スペクトルを有する光を含む光ビームを放出する。サン
プルは霧化され、すなわち、原子蒸気が形成され、該原
子蒸気中にはサンプルの元素が原子状態で存在する。測
定光ビームはこの原子蒸気を通って振り向けられる。測
定光ビームが原子蒸気中でそれに従わされる吸収が測定
される。サンプル中に期待される元素の濃度は適宜な較
正後この吸収から決定されることができる。

【０００４】サンプルの霧化は「電熱霧化」によつて発
生することができる。そこで、液体サンプルが炉内に導
入される。まず、該炉は乾燥温度にまで加熱される。溶
媒はこの乾燥温度において蒸発する。続いてより高い炭
化温度にまでの炉の加熱が生じる。それにより、サンプ
ル中の化合物が分裂指せられる。また、煙が発生する。 最後に、炉は「原子雲」が炉内に発生する霧化温度にま
で加熱され、原子雲中でサンプルの元素は原子状態で存
在する。測定光ビームはこの原子雲を通って振り向けら
れる。

【０００５】通常、炉はグラフアイト管である。電流は
長手方向に環状電極を介してまたは円周方向に半径方向
接触片を介してこのグラフアイト管を通って流される。 空気入口に対してグラフアイトから作られかつ高温で燃
焼する炉を保護するために、炉の内外に不活性ガス流が
流される。この不活性ガス流はまた、サンプルの乾燥処
理の間中、蒸発された溶媒を、かつ炭化処理の間中、固
体分解生成物を流し去る。

【０００６】蒸発された溶媒および分解生成物が不活性
ガス流によつて流し去られるまでにはある時間を取る。 それゆえ、乾燥および炭化段階が望ましくない長い時間
を取る。分析に必要な時間を短くすることが望まれる。 それにより、時間当たりより多い分析が１つの装置によ
り作られることができる。加えて、グラフアイト炉の耐
久性は、グラフアイト炉が各分析に関して短時間のみ加
熱されるならば増大する。

【０００７】ヨーロツパ特許出願第０３５６５６６号か
ら、サンプル液体が「熱噴霧」蒸発器によつて蒸発され
かつ蒸気噴流としてグラフアイト炉内に案内される、サ
ンプルの電熱霧化に関する方法および装置が知られてい
る。グラフアイト炉は乾燥温度に保持される。サンプル
はグラフアイト炉の壁またはそれに設けられたプラツト
フオームに凝縮する一方蒸発された溶媒は真空により吸
い出される。かくして、分析時間は短縮されることかで
きかつ１回の分析により霧化されるサンプル物質の量か
つしたがつて感度は増加される。

【０００８】

【発明が解決すべき課題】このような装置において、グ
ラフアイト炉はその端部において環状接点間に保持され
る長手方向に加熱されたグラフアイト管である。溶媒の
吸い出しはこれらの接点に形成されかつ吸い上げポンプ
に接続される吸い込み通路を介して生じる。そこで熱噴
霧蒸発器を有する特別な装置が要求される。

【０００９】本発明の目的は、分析に要求される時間を
短縮し、炉の有用な寿命を延長しそして冒頭に定義され
た型の方法における不都合な汚染の危険を減少すること
にある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、この目
的は、炉が乾燥温度にまで加熱されながら、炉内に発生
される蒸気が真空によつて吸い出されることにより達成
される。

【００１１】炭化温度にまでの炉の加熱は、公知の方法
において、乾燥温度にまでの炉の加熱とサンプル霧化と
の間で発生することができ、その炭化温度においてサン
プル中で化合物の分解が発生し、そして真空による煙お
よび分解生成物の吸い出しがまた炭化温度にまでの炉の
加熱の間中発生することができる。

【００１２】本発明は、真空の発生のために、吸い込み
管が開口を通って前記炉内に導入されかつ真空に曝され
るような方法において好都合に実現されることができる
。そこで、サンプルはサンプル導入開口を通して炉内に
導入されそして開口としてのサンプル導入開口に導入さ
れる。吸い込み管は前記開口から撤退させる一方前記炉
が霧化温度にまで加熱され、そして原子吸収が続いて測
定される。不都合な汚染を回避するために吸い込み管は
、測定に続いて、再び、加熱のために加熱された炉によ
り開口に導入される。さらに、吸い込み管が加熱処理の
間中真空に曝されるならば、好都合である。

【００１３】本発明による方法を実施するための装置は
、（ａ）長手方向孔および中央横方向開口を備えたサン
プルの電熱霧化用管状炉、（ｂ）前記炉を通して段状電
流を通すための手段、（ｃ）測定光ビームを長手方向孔
を通して向けるための手段および前記測定光ビームに曝
される検出器、（ｄ）前記横方向開口を介して前記炉内
に導入されるように配置された吸い込み管、（ｅ）前記
吸い込み管内に真空を発生するための手段、（ｆ）前記
吸い込み管を前記炉の開口内に導入しかつ前記吸い込み
管を前記炉から撤退させるための機構、および（ｇ）前
記機構の運動、前記グラフアイト炉の加熱および前記真
空を発生する手段を調和させるための手段からなる。

【００１４】さらに、回転運動は、吸い込み管が炉の開
口から撤退した後、該開口が、前記吸い込み管（４０）
が撤退されるとき、サンプル導入のために開放されるよ
うに、機構により吸い込み管に付与されることができる
。

【００１５】本発明の実施例は添付図面に関連して以下
により詳細に説明される。

【００１６】

【実施例】図１において、符号１０は横方向に加熱され
るグラフアイト炉を示す。該グラフアイト炉は、例えば
、ヨーロツパ特許出願第０３２６６４２号または同第０
３５０７２２号からなることができる。グラフアイト炉
は管状炉本体１２および一体の半円筒状プラツトフオー
ム１４を有している。好適な実施例において、該プラツ
トフオーム１４はウエブ１６を介して一端で保持される
。開口１８は炉本体１２の壁にプラツトフオーム１４に
対向して設けられる。グラフアイト炉１０は２つの接点
間に半径方向接触片（図示せず）そにより保持される。 １つの接点２０が図１において見ることができる複数の
接点は、広い範囲で閉止されたキヤビテイ２２を形成し
、該キヤビテイ内にグラフアイト炉が収容される。 不活性ガスが接点に形成される通路を介してキヤビテイ
内に導入される。グラフアイト管１０は長手方向孔２４
を有している。この長手方向孔２４と一直線に整列され
た２つの窓２６および２８が接点２０に設けられる。測
定光ビーム３０の光線路は窓２６および２８および長手
方向孔２４を通って延在する。漏斗状開口３２が長手方
向孔２４に対して直角にかつ炉本体１２の中間に形成さ
れた開口１８と一直線に整列された接点２０が設けられ
る。漏斗状開口３２の壁はキヤビテイ２２に隣接しかつ
グラフアイト炉１０の開口１８に同軸の筒状部分３４お
よびそれに隣接する円錐状に巻かれた部分３６を有する
。サンプル３８の小滴が開口３２および開口１８を介し
てプラツトフオーム１４に印加される。

【００１７】図１において、吸い込み管４０の先端は開
口３２および１８に導入される。吸い込み管４０の先端
は筒状部分４２および漏斗状または円錐部分４４からな
る。筒状部分４２は開口３２の部分３４を通ってかつ開
口１８を通ってグラフアイト炉の内部に同軸的に突出す
る。筒状部分４２はサンプルの小滴３８に直接対向して
終端する。

【００１８】図２および図３において、吸い込み管４０
がグラフアイト炉１０の開口１８に導入されかつこの開
口１８から撤退される機構が示される。該機構はシリン
ダハウジング４６からなる。該シリンダハウジング４６
は炉装置の平面上で台座４８と螺合される。ピストン５
０はシリンダハウジング４６内に案内される。該シリン
ダハウジング４６はヘツドピース５２によつて閉止され
る。ピストン５０のピストンロツド５４はヘツドピース
５２を通って突出する。２つの案内スロツト５８および
６０を有する案内スリーブ５６がヘツドピース内に配置
される。案内スロツト５８および６０は直径的に対向し
て配置されかつ同一方向に大きなピツチで螺旋状に屈曲
される。吸い込み管支持体６２は案内スロツト５８およ
び６０内に案内される。吸い込み管支持体６２はピスト
ンロツド５４により案内スリーブ５内に同軸的に移動さ
れることができる。同時に吸い込み管支持体６２が案内
スロツト５８および６０の屈曲により案内スリーブ５６
の軸線のまわりに枢動される。吸い込み管支持体６２は
吸い込み管部分６４を支持し、その下方端には吸い込み
管４０が配置される。

【００１９】ピストンロツドを有するピストン５０は空
気式に上下動されることができる。ピストンロツドはそ
れに設けられた吸い込み管部分６４および吸い込み管４
０を支持する吸い込み管支持体６２を動かす。上向運動
の間中、吸い込み管部分６４および吸い込み管４０を有
する吸い込み管支持体６２は、開口３２および１８がサ
ンプルの導入のために自由に接近できるように、案内ス
ロツト５８および６０により後方に回転される。

【００２０】詳細には、シリンダハウジング４６は孔５
５からなる。台座４８は平面上にシリンダハウジング４
６を固着するためのネジ付き孔６８を有する。該孔６８
はシリンダハウジング４６内に非対称的に僅かに配置さ
れる。２つのネジ付き孔７０および７２はシリンダハウ
ジング４６の「上方」端面に設けられる。これらの孔７
０，７２はヘツドピース５２の固着を許容する。

【００２１】ヘツドピース５２は孔７４を有している。 該孔７４はまたヘツドピースに対して僅かに中心からず
れかつシリンダハウジング４６の孔６６に対して同軸で
ある。孔７４の直径は孔６６の直径より僅かに小さい。 より小さい直径の孔７６が孔７４に付加される。かくし
て、環状肩部７８が孔７４と７６との間に形成される。

【００２２】シリンダスリーブ８０は孔７４内に配置さ
れる。シリンダスリーブ８０の端面は環状肩部に係合す
る。シリンダスリーブ８０の反対端面は部分８０を有す
る。この方法において、シリンダスリーブ８０は孔７４
に突出しかつ孔７４を有する環８２を形成する。ピスト
ン５０はシリンダスリーブ内に案内される。

【００２３】図７から最良に見ることができるように、
ネジ付き孔７０または７２と一直線に整列された孔８３
および８４はそれぞれ孔７４の傍に設けられる。それぞ
れネジ付き孔７０または７２に螺入されるネジ付きボル
トがこれらの孔８３および８４を通って貫通する。それ
により、ヘツドピース５２はシリンダハウジング４６に
接続される。

【００２４】ヘツドピース５２は孔７６に隣接しかつこ
の孔と同軸である段付き孔８５を有し、その段付き孔は
肩部８６を形成する。案内スリーブ５６はこの段付き孔
に挿入される。案内スリーブ５６は管状スリーブ部分８
７を有し、この部分に段状の螺旋案内スロツト５８およ
び６０が設けられる。スリーブ部分８７は縁部８８およ
びそれに隣接しかつ図３において下方に突出するポツト
形状部分９０によつて図３においてその下方端で閉止さ
れる。ポツト形状部分９０の「底部」は中央開口９２を
有している。ピストンロツド５４はこの開口９２内に案
内される。半径方向のネジ付き孔９１が孔８５の区域に
おいてヘツドピース５２に設けられる。締め付けネジは
このネジ付き孔９１に螺入され、締め付けネジは案内ス
リーブ５６をヘツドピース５２に締め付ける。

【００２５】吸い込み管支持体６２は案内スロツト５８
および６０内に案内される。吸い込み管支持体６２は環
状部分９４およびそれに隣接するハンドル９６を有する
。環状部分９４は内側にカラー９８を有している。ハン
ドル９６は溝１００および減じられた直径の端部１０２
を備えている。長手方向通路１０４はハンドル９６に形
成され、その通路は環状部分９４の内壁から出発してか
つハンドル９６の端面において終端する。ハンドルの溝
および端部は案内スリーブ５６の案内スロツト５８およ
び６０内に案内される。吸い込み管支持体６２はピスト
ンロツド５４を介してピストン５０により案内スロツト
５８，６０内に移動されることができる。吸い込み管支
持体６２が図３において上方に移動されるならば、案内
スロツトの急勾配の螺旋形状により、同時に、案内スリ
ーブ６２の軸線のまわりに後方に枢動される。

【００２６】吸い込み管部分６４は吸い込み管支持体６
２内に配置される。吸い込み管部分６４は略筒状であり
かつより大きな直径のヘツド１０６を有する。カラー１
０８はヘツド１０６に付加される。吸い込み管支持体６
２はカラー１０８を備えた吸い込み管支持体６２の環状
部分に載置する。フランジ１１２を有するネジ付きスリ
ーブ１１０は吸い込み管部分６４のネジ山１１４に螺合
されかつ図２の底部において、反対側で環状部分９４に
係合する。長手方向通路１１６は吸い込み管部分６４に
延在する。長手方向通路１１６は横方向孔１１８を介し
て管状部分９４の内部でカラー１０８とフランジ１１２
との間に形成された環１２０に接続される。環１２０は
大気から密封される。環は吸い込み管支持体６２の長手
方向通路１０４に接続される。

【００２７】吸い込み管支持体６４の長手方向通路１１
６はその端部で段付きネジ付き孔１２２に広がる。ネジ
山を備えた吸い込み管４０の上方端１２４はネジ付き孔
１２２に螺入される。吸い込み管４０はグラフアイトか
ら作られる。吸い込み管４０は吸い込み管支持体６４の
端面に係合するカラー１２６を有する。さらに、吸い込
み管４０はウエブを備えた部分１２８を有している。円
錐部分４４および筒状部分４２を備えた先端（図１）は
部分１２８に付加される。

【００２８】半径方向孔１３０がヘツドピース５２に設
けられ、その半径方向孔１３０は制御圧力ポートを形成
する。孔１３０はシリンダスリーブ８０の内部に接続さ
れかつ図２において頂部から底部への運動のためピスト
ン５０に作用する。図４から見ることができるように、
さらに他の半径方向孔１３２がネジ付き孔７０および７
２間のシリンダハウジング４６の上方端に配置され、そ
の半径方向孔は第２の制御圧力ポートを形成する。この
孔１３２はシリンダスリーブ８０と孔６６の壁との間で
環８２に接続される。この制御圧力入口に供給される圧
縮空気は、環８２を通って下方にかつ次いで部分８１を
通ってシリンダスリーブ８０の下方部分に流れる。かく
して、この圧縮空気は底部でピストンに作用する。

【００２９】孔１３０は４／２方向制御弁のポート１３
４に接続される。孔１３２はポート１３８を有する４／
２方向制御弁１３６に接続される。４／２方向制御弁の
さらに他のポートは圧縮空気源１４０に接続される。４
／２方向制御弁の第４のポートは導管１４２を介して大
気に接続される。４／２方向制御弁はソレノイド弁とし
て形成されかつ磁石巻線１４４によつて作動されること
がてきる。

【００３０】ホース１４６は吸い込み管支持体６２の端
部１０２に配置され、そのホースが吸い上げポンプ１４
８に案内される。吸い上げポンプ１４８は排気フードに
供給する。

【００３１】制御装置１５０は磁石巻線１４４、ポンプ
１４８およびグラフアイト炉１０用の電源１５２を制御
する。

【００３２】記載された装置は、制御装置１５０によつ
て制御されて、以下のように作動する。

【００３３】まず、４／２方向制御弁１３６は図示弁位
置から他の弁位置に切り換えられる。圧縮空気はピスト
ン５０の下側に供給される。ピストン炉５４は吸い込み
管支持体６４を上方に押圧する。それにより、吸い込み
管支持体６２はグラフアイト炉１０から吸い込み管部分
６４を持ち上げる。同時に、吸い込み管４０は案内スロ
ツトの急勾配の螺旋形状により開口１８から後方に枢動
される。それゆえ、開口１８が開放される。サンプルは
開口１８を介してグラフアイト炉１０に投与されること
ができる。グラフアイト炉１０のポンプ１４８および電
源１５２はオフされる。

【００３４】次いで、４／２方向制御弁１３６は図示弁
位置に切り換えられる。それにより、圧縮空気はピスト
ン５０の頂部に供給される。吸い込み管支持体６２は下
降される。まず、吸い込み管４０はそれが開口１８と一
直線に整列されるように、前方に戻される。次いで、吸
い込み管は図１に示された方法においてグラフアイト炉
１０に沈む。それにより、吸い込み管４０の端部は導入
されたサンプル３８に直接対向して配置される。いまや
電源１５２は、グラフアイト炉１０は乾燥温度にまで加
熱されるようにオンされる。同時に、ポンプ１４８は制
御装置１５０によつてオンされる。サンプル３８中の溶
媒が蒸発される。溶媒蒸気は吸い込み管４０によつて一
度に吸い出される。続いてグラフアイト炉１０は作動し
続けているポンプ１４８により炭化温度にまで加熱され
る。それにより、分解生成物は煙として現れる。また、
これらの分解生成物は吸い込み管４０を介して吸い出さ
れる。

【００３５】それにより乾燥および炭化時間の短縮が結
果として生じる。それは分析に要求される合計時間を短
縮する。溶媒蒸気または煙等はサンプル３８から直接吸
い出される。それらはグラフアイト炉１０の接点または
冷却器壁部分を越えて流れる必要はない。それは、乾燥
および炭化工程からの材料がかかる部分で凝縮しかつ次
の測定の偽造となる危険を減少する。グラフアイト炉が
各分析によりより短い時間の間中加熱されるため、グラ
フアイト炉の有用な寿命、結果としてグラフアイト炉に
より実施されることができる分析の数が増加される。

【００３６】続いて、ポンプ１４８はオフされる。弁１
３６は圧縮空気がピストン５０の下に案内される他の弁
位置に切り換えられる。吸い込み管４０は、説明された
ように、グラフアイト炉から撤退されかつ開口１８から
離れて枢動される。電源１５２は霧化温度にまでグラフ
アイト炉１０を加熱するように制御される。いまや、原
子雲がグラフアイト炉１０内に発生する。分光計（図示
せず）の測定光ビームは中空カソードランプ１５６から
出て、この原子雲を通ってかつ検出器（ＤＥＴ）１５８
に衝突する。分光計は、再び制御装置１５０により制御
されて、測定光ビーム１５４が原子雲内に受容される吸
収を決定する。それから、期待される元素の濃度が決定
されることができる。それは従来技術でありかつそれゆ
え詳細には説明されない。

【００３７】測定が実施された後、グラフアイト炉１０
は加熱された状態のままである。必要ならば、さらに、
加熱温度にまで加熱される。吸い込み管４０はその先端
４２によりグラフアイト炉１０に降下される。ポンプ１
４８はオンにされたままである。この方法において、ま
た吸い込み管の先端が加熱される。ポンプ１４８によつ
て発生された真空は、加熱過程の間中発生する蒸気が吸
い出されるのを保証する。

【００３８】その後、説明されたサイクルが新たなサン
プルにより再び始まる。

【００３９】

【発明の効果】以上説明されたように、本発明は、サン
プルの電熱霧化により原子吸収分光計によつてサンプル
を分析する方法において、（ａ）液体サンプルを炉内に
導入し、（ｂ）前記サンプルを乾燥するために前記炉を
乾燥温度にまで加熱し、（ｃ）続いて前記サンプルを原
子雲が前記炉内に発生する霧化温度にまで加熱し、その
原子雲中に前記サンプルの成分が原子状態で存在し、（
ｄ）前記サンプル中に期待される元素の共鳴スペクトル
線により原子雲を通して向けられた測定光ビームの原子
吸収を測定し、そして（ｅ）炉が乾燥温度にまで加熱さ
れながら、炉内に発生される蒸気が真空によつて吸い出
されるようにしたので、乾燥および炭化時間が結果とし
て短縮され、それにより分析に要求される時間全体を短
縮することができるという効果を奏する原子吸収分光計
によるサンプル分析方法および装置を提供することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】吸い込み管を有する横方向に加熱されるグラフ
アイト炉を示す長手方向断面図である。

【図２】吸い込み管および該吸い込み管をグラフアイト
炉に導入しかつ吸い込み管をグラフアイト炉から撤退す
るための機構および略示された制御装置を示す側面図で
ある。

【図３】吸い込み管および機構の特定の構成要素を詳細
に示す分解図である。

【図４】図３の左側から見たシリンダハウジングを示す
概略図である。

【図５】シリンダハウジングを示す平面図である。

【図６】図４および図５のシリンダハウジングに配置さ
れかつこのシリンダハウジングと螺合されるヘツドピー
スを示す平面図である。

【図７】図２および図３の機構における吸い込み管支持
体を示す平面図である。

【図８】図３の左側から見た図６のヘツドピースに配置
された案内スリーブを示す側面図である。

【符号の説明】

１０　　グラフアイト炉 １８　　開口 ２４　　長手方向孔 ４０　　吸い込み管 ４４　　円錐部分 ４６　　シリンダハウジング ５０　　ピストン ５６　　案内スリーブ ５８　　案内スロツト ６０　　案内スロツト ６２　　吸い込み管支持体 ６４　　吸い込み管部分 ６６　　孔 ８０　　シリンダスリーブ ８１　　部分 ９４　　環状部分 ９６　　ハンドル １０４　　長手方向通路 １１６　　長手方向通路 １２４　　上方端 １２８　　部分 １４８　　吸い上げポンプ １５０　　制御装置

Claims (20)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　サンプルの電熱霧化により原子吸収分
   光計によつてサンプルを分析する原子吸収分光計による
   サンプル分析方法において、（ａ）液体サンプルを炉内
   に導入し、（ｂ）前記サンプルを乾燥するために前記炉
   を乾燥温度にまで加熱し、（ｃ）続いて前記サンプルを
   原子雲が前記炉内に発生する霧化温度にまで加熱し、そ
   の原子雲中に前記サンプルの成分が原子状態で存在し、
   （ｄ）前記サンプル中に期待される元素の共鳴スペクト
   ル線により原子雲を通して向けられた測定光ビームの原
   子吸収を測定し、（ｅ）前記炉を乾燥温度にまで加熱し
   ながら、前記炉内に発生された蒸気を真空により吸い出
   す工程を有することを特徴とする原子吸収分光計による
   サンプル分析方法。
2. 【請求項２】　　さらに、（ａ）前記炉が乾燥温度にま
   で加熱された後、炭化温度にまでの前記炉の加熱が発生
   し、その炭化温度で前記サンプル中の化合物の分解が発
   生し、そして（ｂ）また前記炉が炭化温度にまで加熱さ
   れながら低圧により煙および分解生成物の吸い出しが発
   生する工程からなることを特徴とする請求項１に記載の
   原子吸収分光計によるサンプル分析方法。
3. 【請求項３】　　さらに、開口（１８）を通って前記炉
   （１０）内に導入されかつ真空に曝される吸い込み管（
   ４０）により真空を発生することからなることを特徴と
   する請求項２に記載の原子吸収分光計によるサンプル分
   析方法。
4. 【請求項４】　　さらに、（ａ）サンプル導入開口を通
   して前記炉（１０）内にサンプルを導入し、そして（２
   ）前記吸い込み管（４０）を前記開口（１８）としての
   サンプル導入開口に導入することからなることを特徴と
   する請求項３に記載の原子吸収分光計によるサンプル分
   析方法。
5. 【請求項５】　　さらに、前記吸い込み管（４０）を前
   記開口から撤退させる一方前記炉（１０）が霧化温度に
   まで加熱され、そして原子吸収が続いて測定されること
   を特徴とする請求項４に記載の原子吸収分光計によるサ
   ンプル分析方法。
6. 【請求項６】　　さらに、前記吸い込み管（４０）を、
   加熱された炉による測定に続いて、再び加熱のために前
   記開口（１８）に導入することからなることを特徴とす
   る請求項５に記載の原子吸収分光計によるサンプル分析
   方法。
7. 【請求項７】　　加熱の間中前記吸い込み管（４０）へ
   真空を供給することを特徴とする請求項６に記載の原子
   吸収分光計によるサンプル分析方法。
8. 【請求項８】　　原子吸収分光計によつてサンプルを分
   析するための原子吸収分光計によるサンプル分析装置に
   おいて、（ａ）長手方向孔（２４）および中央横方向開
   口（１８）を備えたサンプルの電熱霧化用管状炉（１０
   ）、（ｂ）前記炉（１０）を通して段状電流を通すため
   の手段（１２５）、（ｃ）測定光ビームを長手方向孔（
   ２４）を通して向けるための手段および前記測定光ビー
   ムに曝される検出器、（ｄ）前記横方向開口（１８）を
   介して前記炉内に導入されるように配置された吸い込み
   管（４０）、（ｅ）前記吸い込み管（４０）内に真空を
   発生するための手段（１４８）、（ｆ）前記吸い込み管
   （４０）を前記炉（１０）の開口（１８）内に導入しか
   つ前記吸い込み管（４０）を前記炉（１０）から撤退さ
   せるための機構、（ｇ）前記機構の運動、前記グラフア
   イト炉（１０）の加熱および前記真空を発生する手段（
   １４８）を調和させるための手段（１５０）からなるこ
   とを特徴とする原子吸収分光計によるサンプル分析装置
   。
9. 【請求項９】　　前記吸い込み管（４０）を前記炉（１
   ０）の前記開口（１８）から撤退した後、該開口（１８
   ）が、前記吸い込み管（４０）が撤退されるとき、サン
   プル導入のために開放されるように、前記機構により回
   転運動を付与するための手段からなることを特徴とする
   請求項８に記載の原子吸収分光計によるサンプル分析装
   置。
10. 【請求項１０】　　前記吸い込み管（４０）を動かすた
    めの機構が、（ａ）２つの直径的に対向する、急勾配の
    螺旋案内スロツト（５８，６０）を有する案内スリーブ
    （５６）、（ｂ）前記案内スロツト（５８，６０）内に
    案内されかつ前記吸い込み管（４０）を支持する吸い込
    み管師支持体（６２）、（ｃ）前記吸い込み管支持体（
    ６２）を前記案内スリーブ（５６）に沿って動かし、長
    手方向運動が前記案内スロツト（５８，６０）の曲率に
    より前記案内スリーブの軸線のまわりの回転運動と結合
    される手段（５０，１３６，１４０）からなることを特
    徴とする請求項９に記載の原子吸収分光計によるサンプ
    ル分析装置。
11. 【請求項１１】　　（ａ）前記吸い込み管支持体（６２
    ）が環状部分（９４）および一体のハンドル（９６）を
    有し、（ｂ）前記ハンドル（９６）は前記案内スロツト
    （５８，６０）内に案内され、そして（ｃ）前記吸い込
    み管８４０）が前記環状部分（９４）に保持されること
    を特徴とする請求項１０に記載の原子吸収分光計による
    サンプル分析装置。
12. 【請求項１２】　　筒状吸い込み管部分（６４）は前記
    環状部分（９４）内に保持されかつその端部に、前記炉
    内に導入されるような吸い込み管（４０）を支持するこ
    とを特徴とする請求項１１に記載の原子吸収分光計によ
    るサンプル分析装置。
13. 【請求項１３】　　前記吸い込み管（４０）はグラフア
    イトから作られることを特徴とする請求項１２に記載の
    原子吸収分光計によるサンプル分析装置。
14. 【請求項１４】　　前記吸い込み管（４０）は円錐状に
    テーパを付けた端部（４４）を有し、該端部に筒状の管
    状先端（４２）が炉側において付加されることを特徴と
    する請求項１２または１３に記載の原子吸収分光計によ
    るサンプル分析装置。
15. 【請求項１５】　　前記吸い込み管（４０）はウエブを
    備えた部分（１２８）を有することを特徴とする請求項
    １４に記載の原子吸収分光計によるサンプル分析装置。
16. 【請求項１６】　　（ａ）連通長手方向通路（１２４，
    １１６）が前記吸い込み管（４０）および前記吸い込み
    管部分（６４）を貫通し、（ｂ）長手方向通路（１０４
    ）が前記吸い込み管支持体（６２）のハンドル（９６）
    を貫通しかつ前記環状部分（９４）の内壁において終端
    し、（ｃ）前記吸い込み管部分（６４）の長手方向通路
    が前記ハンドル（９６）の前記長手方向通路（１０４）
    に接続され、そして（ｄ）前記ハンドル（９６）の前記
    長手方向通路（１０４）が接続ホース（１６４）を介し
    て吸い込みポンプ（１４８）に接続されることを特徴と
    する請求項１５に記載の原子吸収分光計によるサンプル
    分析装置。
17. 【請求項１７】　　（ａ）前記吸い込み管支持体（６４
    ）が１側のカラーにより前記環状部分（９４）に係合し
    かつこの環状部分（９４）の開口を貫通し、（ｂ）ネジ
    付きスリーブ（１１０）が前記吸い込み管部分（６４）
    に螺合されかつ、閉止環が前記環状部分（９４）の内部
    にかつ前記吸い込み管部分（６４）のまわりに形成され
    るように、フランジ（１１２）により、反対側で前記環
    状部分（９４）に係合し、（ｃ）前記吸い込み管部分（
    ６４）の前記長手方向通路（１１６）が横方向孔を介し
    て前記環に接続され、そして（ｄ）前記ハンドル（９６
    ）の前記長手方向通路（１０４）が前記環において終端
    することを特徴とする請求項１６に記載の原子吸収分光
    計によるサンプル分析装置。
18. 【請求項１８】　　前記吸い込み管支持体（６２）を調
    整するための前記手段が前記案内スリーブ（５６）に沿
    う空気作動ピストン（５０）を有することを特徴とする
    請求項１７に記載の原子吸収分光計によるサンプル分析
    装置。
19. 【請求項１９】　　吸い込み管支持体（６２）を動かす
    ための前記手段が、（ａ）孔（６６）を有するシリンダ
    ハウジング（４６）および（ｂ）一端で前記シリンダハ
    ウジング（４６）の孔（６６）に同軸的に保持されたシ
    リンダスリーブ（８０）からなり、該シリンダスリーブ
    内で前記ピストンが摺動し、前記シリンダスリーブ（８
    ０）の前記保持装置（５２）が前記孔（６６）の壁と前
    記シリンダスリーブ（８０）との間に形成された環を前
    記ピストン（５０）の１側に配置された前記シリンダス
    リーブ（８０）の内部空間から分離し、かつさらに、前
    記環が前記シリンダスリーブ（８０）の部分（８１）を
    介して前記ピストンの他側に配置された前記シリンダス
    リーブ（８０）の内部空間に接続されており、（ｃ）制
    御流体が前記環にまたはポート（１３０，１３２）およ
    び弁（１３６）を介して前記ピストン（５０）の前記１
    側に配置された内部空間に任意に印加されることができ
    ることを特徴とする請求項１８に記載の原子吸収分光計
    によるサンプル分析装置。
20. 【請求項２０】　　前記シリンダスリーブ（８０）と同
    軸の前記案内スリーブ（５６）が前記シリンダハウジン
    グ（４６）に接続されることを特徴とする請求項１９に
    記載の原子吸収分光計によるサンプル分析装置。