JPS63241453A - 原子吸光分光々度計 - Google Patents
原子吸光分光々度計Info
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- JPS63241453A JPS63241453A JP62076562A JP7656287A JPS63241453A JP S63241453 A JPS63241453 A JP S63241453A JP 62076562 A JP62076562 A JP 62076562A JP 7656287 A JP7656287 A JP 7656287A JP S63241453 A JPS63241453 A JP S63241453A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/74—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using flameless atomising, e.g. graphite furnaces
-
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- G01N2021/745—Control of temperature, heating, ashing
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔;猥業上の利用分野〕
本発明は溶液を分析試料として、これしこ溶解している
微’llの元素の濃度を測定する目的り3使y月される
原子吸光分光々度肝に関する。
微’llの元素の濃度を測定する目的り3使y月される
原子吸光分光々度肝に関する。
第1図に従来゛皆首の一構成例を示す。
第1図において、光源1から放射された光線2は、分析
試料を導入した電気炉3に入射する。加熱電力を供給す
る電源4が前記電気炉3に接続されている。この電気炉
3に導入された分析試料の液滴は乾燥、灰化後に高温に
加熱され、蒸発して原子状態になる。電気炉3に入射し
た光線2はこれらの原子によって吸収された光線となり
、残りの透過した光線5は分光器6に入退する。分光器
6において原子吸光々線(Atomic absorp
tioneline) 7が選択され、光電変換器8に
入射する。
試料を導入した電気炉3に入射する。加熱電力を供給す
る電源4が前記電気炉3に接続されている。この電気炉
3に導入された分析試料の液滴は乾燥、灰化後に高温に
加熱され、蒸発して原子状態になる。電気炉3に入射し
た光線2はこれらの原子によって吸収された光線となり
、残りの透過した光線5は分光器6に入退する。分光器
6において原子吸光々線(Atomic absorp
tioneline) 7が選択され、光電変換器8に
入射する。
原子吸光々線7の強度に比例した電気信号が増幅器9に
送られる。最終的には演算表示器1oにおいて、増幅器
9から送られた信号の計算が行なわれ、電気炉3の中に
生成された分析試料の原子蒸気の密度に比例した数値が
求められ、分析結果として表示される。
送られる。最終的には演算表示器1oにおいて、増幅器
9から送られた信号の計算が行なわれ、電気炉3の中に
生成された分析試料の原子蒸気の密度に比例した数値が
求められ、分析結果として表示される。
また、第1図に示された従来装置における、電気炉3の
構造を第2図に示す。図中、右側は断面回、左側は側面
図である。
構造を第2図に示す。図中、右側は断面回、左側は側面
図である。
第2図において1円筒状加熱体11は右側TLf112
、左側電極13によりはさまれ、これ等各電極に電気的
に接続されている。右側端子14.左側端子15から電
流が供給され、円筒状加熱体11が必要とする温度に加
熱される。
、左側電極13によりはさまれ、これ等各電極に電気的
に接続されている。右側端子14.左側端子15から電
流が供給され、円筒状加熱体11が必要とする温度に加
熱される。
右側電極12には原子吸収の測定に用いる光線22を透
過する。例えば石英材料の窓16が備えられている。左
側電極13にも同じく測定用の光線23を入射する石英
材料の窓17が備えられている。右側電極12と、左側
電極13には絶縁材料(insulator) から
成る円筒18が被せられていてO−リング24.25に
より接触部分の気密性を保っている。右側電極12には
不活性ガスを導入する管21があり、ここから例えばア
ルゴンガスが導入される。円筒18の中央部には分析試
料導入用の開孔19が備えられている。円筒状加熱体1
1にも同じく前記開孔と同軸に開花26が備えられてい
る。例えば20μQの試料液滴2Qは、注射器(Mic
ro syringe)などを用いて、前記開孔19.
開孔26を介して円筒加熱体11の内部に注入される。
過する。例えば石英材料の窓16が備えられている。左
側電極13にも同じく測定用の光線23を入射する石英
材料の窓17が備えられている。右側電極12と、左側
電極13には絶縁材料(insulator) から
成る円筒18が被せられていてO−リング24.25に
より接触部分の気密性を保っている。右側電極12には
不活性ガスを導入する管21があり、ここから例えばア
ルゴンガスが導入される。円筒18の中央部には分析試
料導入用の開孔19が備えられている。円筒状加熱体1
1にも同じく前記開孔と同軸に開花26が備えられてい
る。例えば20μQの試料液滴2Qは、注射器(Mic
ro syringe)などを用いて、前記開孔19.
開孔26を介して円筒加熱体11の内部に注入される。
管21から一定流量の乾燥アルゴンガスが流入され、開
孔26.開孔19を通り流出することにより、円筒状加
熱体11の内部の空気が追い出され、例えば3000℃
の高温に加熱された円筒加熱体11の酸素との反応によ
る消耗を防止する。
孔26.開孔19を通り流出することにより、円筒状加
熱体11の内部の空気が追い出され、例えば3000℃
の高温に加熱された円筒加熱体11の酸素との反応によ
る消耗を防止する。
第2図において、従来、円筒状加熱体11としては、高
純度の黒鉛材料の長さ40nn、内径5 +nm 。
純度の黒鉛材料の長さ40nn、内径5 +nm 。
外径8mの小さな円筒が用いられる。
この円筒状加熱体11に、A、C,12volt。
400 Ampereの電流を供給すると、その表面温
度は約300℃に達する。この状態で若し酸素ガスが存
在すれば激しく反応して炭酸ガスとなり消耗する。実際
の分析操作においては、あらかじめ、円筒状加熱体11
に供給する電流と温度の関係を求めておき一定の加熱工
程(Heating progra+n)を作り、これ
に従って、円筒状加熱体11を加熱することが行なわれ
ている。
度は約300℃に達する。この状態で若し酸素ガスが存
在すれば激しく反応して炭酸ガスとなり消耗する。実際
の分析操作においては、あらかじめ、円筒状加熱体11
に供給する電流と温度の関係を求めておき一定の加熱工
程(Heating progra+n)を作り、これ
に従って、円筒状加熱体11を加熱することが行なわれ
ている。
第3図に、第2図の電気炉を加熱する加熱工程の一例を
示す。
示す。
第2図における例えば20μQの試料水滴20は、第3
図の1加熱工程により次のように加熱される。
図の1加熱工程により次のように加熱される。
(a) fit’h工程(Dryjng stage
) :温度を90’Cに6時間を60秒間保つことに
より、溶媒の水を窯発させ乾燥する。
) :温度を90’Cに6時間を60秒間保つことに
より、溶媒の水を窯発させ乾燥する。
続いて、
(b) 灰化工程(Ashing stage)
: 10秒間、温度600 ’Cに加熱することにより
乾燥した溶質中に含まれる有機物を灰化する。
: 10秒間、温度600 ’Cに加熱することにより
乾燥した溶質中に含まれる有機物を灰化する。
続いて、
(C) 原子化工程(Atomizing staに
e) : l 0秒間。
e) : l 0秒間。
温度を2800 ’Cに加熱することにより、灰化した
無機成分を気化させる。無機成分は熱分解し、原子状態
に解離される。
無機成分を気化させる。無機成分は熱分解し、原子状態
に解離される。
′第2図において、窓17から入射する測定用の光線2
3は、円筒加熱体11の内部に、前記原子化工程(At
omizing st那e)で生成された原子により吸
収され残りの光線22が窓16から電気炉の外に透過す
る。
3は、円筒加熱体11の内部に、前記原子化工程(At
omizing st那e)で生成された原子により吸
収され残りの光線22が窓16から電気炉の外に透過す
る。
一ヒ述の方法により、試料水滴20中に溶解している例
えば、カドミニウム元素などの濃度を測定することが行
われている。
えば、カドミニウム元素などの濃度を測定することが行
われている。
1)乾燥(Drying)所要時間が長い第2図に示さ
れた、従来例になる電気炉の円筒形加熱体11の中に注
入された20μQの液滴20を乾燥、灰化、ff量子化
する前記加熱工程において、乾燥に要する(Dryin
g)時間は60秒である。乾燥過程で若し液滴20が突
沸して、飛散すると、電極12.13の内壁に付着した
り、窓16.17の内面に付着したりする。これ等の部
分の温度は比較低いために60秒で乾燥されない。
れた、従来例になる電気炉の円筒形加熱体11の中に注
入された20μQの液滴20を乾燥、灰化、ff量子化
する前記加熱工程において、乾燥に要する(Dryin
g)時間は60秒である。乾燥過程で若し液滴20が突
沸して、飛散すると、電極12.13の内壁に付着した
り、窓16.17の内面に付着したりする。これ等の部
分の温度は比較低いために60秒で乾燥されない。
また温度が低いため、次の工程の灰化(Ashinl<
) 。
) 。
原子化(Atomizjng)が実質的に行なわれない
。したがって、乾燥上%”5 (Dryjng sta
ge)は、液滴20が決して突沸しない温度、即ち沸点
よりも充分に低い温度90°Cに設定する必要があり、
その結果乾燥までに約60秒を要することになる。引き
続き、灰化工程(Ashingstage)、原子化工
程(Atomizing stage)においては、突
沸現象が発生しないので温度を高く設定することができ
、それぞれ10秒と短かい。
。したがって、乾燥上%”5 (Dryjng sta
ge)は、液滴20が決して突沸しない温度、即ち沸点
よりも充分に低い温度90°Cに設定する必要があり、
その結果乾燥までに約60秒を要することになる。引き
続き、灰化工程(Ashingstage)、原子化工
程(Atomizing stage)においては、突
沸現象が発生しないので温度を高く設定することができ
、それぞれ10秒と短かい。
上述の通り、乾燥時間が60秒と長いため、1個の試料
の分析に80秒を要し、したがって、一時に最大45回
しか分析できないという欠点がある。実際には注射器に
よる試料注入の時間が約10秒必要であり、さらに作業
能率は低くなる。
の分析に80秒を要し、したがって、一時に最大45回
しか分析できないという欠点がある。実際には注射器に
よる試料注入の時間が約10秒必要であり、さらに作業
能率は低くなる。
2)原子吸収の感度の低下
第1図に示された従来例になる原子吸光分光々度肝にお
いて、光源1としては、よく知られた中空陰極放電管が
用いられている。この放電管はネオンガスあるいはアル
ゴンガスなどの不活性ガスが封入されていて、その圧力
は通常4〜12Torrの範囲にある。放電状態では陰
極物質の原子スペク!−ルが発生し、外に放射される。
いて、光源1としては、よく知られた中空陰極放電管が
用いられている。この放電管はネオンガスあるいはアル
ゴンガスなどの不活性ガスが封入されていて、その圧力
は通常4〜12Torrの範囲にある。放電状態では陰
極物質の原子スペク!−ルが発生し、外に放射される。
良く知られているように原子の発光スペクi〜ルル、(
Ato+++j、c C耐5sion 1ine)、原
子の吸収スペクトル(Atomjc absorpti
on 1ine)の形状は、その原子が置かれている雰
囲気(aton+5phere)ガスの圧力(pres
sure)と温度(temperature)により定
まり、実験による測定データおよび理論的数式が数多く
報告されている。
Ato+++j、c C耐5sion 1ine)、原
子の吸収スペクトル(Atomjc absorpti
on 1ine)の形状は、その原子が置かれている雰
囲気(aton+5phere)ガスの圧力(pres
sure)と温度(temperature)により定
まり、実験による測定データおよび理論的数式が数多く
報告されている。
V旦
中空陰極放電管(t(ollow c;+thode
]amp)の原子スペクトル((Atomjc 5pe
ck:ra)と大気圧雰囲気のアセチレ炎(Acety
lene flame)より放射された原子スペクトル
のプロフィル(profile)を測定した報告として
次の文献がある。
]amp)の原子スペクトル((Atomjc 5pe
ck:ra)と大気圧雰囲気のアセチレ炎(Acety
lene flame)より放射された原子スペクトル
のプロフィル(profile)を測定した報告として
次の文献がある。
(1) H,C,Wagenaar+L、deGal
an、5pectroc)+in+。
an、5pectroc)+in+。
Acta 28 B 、 157−177 。
原子吸収現象における、光源の原子スペク1〜ルのプロ
ファイル(1+rofNe)と原子吸収効率の関係を測
定した報告として次の文献がある。
ファイル(1+rofNe)と原子吸収効率の関係を測
定した報告として次の文献がある。
(2) K、Yasuda、 Ana、1.c
h em、 3 8 、 5 9 2 −59
9 (1966)。
h em、 3 8 、 5 9 2 −59
9 (1966)。
真空ポンプを接続することに依り部屋の内部の真空度を
50〜760 Torr、の範囲で調節できるようにし
た部屋の内部に、酸素とアセチレンの混合炎を燃焼させ
て、この炎の中に亜鉛(Zn)原子を導入し、亜鉛の原
子吸収スペクトルZn307.59nm のプロファイ
ル(profile)を測定して、このプロファイルの
炎の真空度に対する依存性を測定した公知例として次の
文献がある。
50〜760 Torr、の範囲で調節できるようにし
た部屋の内部に、酸素とアセチレンの混合炎を燃焼させ
て、この炎の中に亜鉛(Zn)原子を導入し、亜鉛の原
子吸収スペクトルZn307.59nm のプロファイ
ル(profile)を測定して、このプロファイルの
炎の真空度に対する依存性を測定した公知例として次の
文献がある。
1:3) TJ、11o11ander、H,P、
Broida、Combustjonand Flam
c、 13.63−70 (1969) 。
Broida、Combustjonand Flam
c、 13.63−70 (1969) 。
これらの報告の内容を要約すると。
(1)原子スペクトルの幅(WidLh)は、′!7囲
気ガスの圧力(pressure)が高くなる程広くな
る(文献〔3〕)と共に、スペクトル(spectru
m)のピーク(peak)は長波長方向に変位(8hi
ft)する。
気ガスの圧力(pressure)が高くなる程広くな
る(文献〔3〕)と共に、スペクトル(spectru
m)のピーク(peak)は長波長方向に変位(8hi
ft)する。
第4図に文献〔1〕に報告されている、アルミニウムの
波長396.Lnm の原子スペク1−ルA、(139
6,1について、中空1’2 不放電管から放射された
ものと、大気圧(760Torr)で炎燃するアセチレ
ン炎から放射されたものの二つのスペク1−ルを比1絞
して示す、同図において、縦軸は光の強度軸で相対目盛
である。横軸は光の振動数軸(Axis of fre
guency)である。図中は圧力8 Torrの中空
陰極放電管(llollow csthode lam
p)から放射されたAQ 396.1nmの低圧発光ス
ペクトルである。βは圧カフ 60 Torrのアセチ
レン炎から放射された。同じくAQ :396 、1
n mの大気圧発光スペクトルである。
波長396.Lnm の原子スペク1−ルA、(139
6,1について、中空1’2 不放電管から放射された
ものと、大気圧(760Torr)で炎燃するアセチレ
ン炎から放射されたものの二つのスペク1−ルを比1絞
して示す、同図において、縦軸は光の強度軸で相対目盛
である。横軸は光の振動数軸(Axis of fre
guency)である。図中は圧力8 Torrの中空
陰極放電管(llollow csthode lam
p)から放射されたAQ 396.1nmの低圧発光ス
ペクトルである。βは圧カフ 60 Torrのアセチ
レン炎から放射された。同じくAQ :396 、1
n mの大気圧発光スペクトルである。
また、文献〔2〕によると、中空陰極放電管から放射さ
れた原子スペクトルAQ 396.]nmの幅は86±
1 (X 10−”cjo−’)である。大気圧のア
セチレン炎から放射された同じく原子スペクトルAQ
396.1nmの幅は、301±3(X 10−3c
m−’)であり、しかも、後者は前7トニ対して長波長
側(小振動数It、向)に48±2(X 10−3an
−1)だけ変位(shift) していろ。
れた原子スペクトルAQ 396.]nmの幅は86±
1 (X 10−”cjo−’)である。大気圧のア
セチレン炎から放射された同じく原子スペクトルAQ
396.1nmの幅は、301±3(X 10−3c
m−’)であり、しかも、後者は前7トニ対して長波長
側(小振動数It、向)に48±2(X 10−3an
−1)だけ変位(shift) していろ。
さて原子による光の吸収の効率は1分析対象原子の吸収
スペクトルと光源として用いられろ原子の発光スペクト
ルの雨音のスペクトル形状(profile)が一致し
ている場合に最も高い。
スペクトルと光源として用いられろ原子の発光スペクト
ルの雨音のスペクトル形状(profile)が一致し
ている場合に最も高い。
したがって、第1−図、第2図に示される従東装置にお
いては1発光原子は圧力8 Torrの中空lI2I2
極管電管に在り、分析試料原子は、大気圧(760To
rr)のアルゴンガス雰囲気で動作する電気炉の中に在
る。
いては1発光原子は圧力8 Torrの中空lI2I2
極管電管に在り、分析試料原子は、大気圧(760To
rr)のアルゴンガス雰囲気で動作する電気炉の中に在
る。
この装置を用いて例えばアルミニウム(AQ)の分析を
行う場合、光源の発光スペクトルと試料原子の吸収スペ
クトルの関係は、第4図に示される場合と極めて近いも
のとなっている。即ち、両スペクI−ルの間に大きな不
一致があるため、従来装置においては、光の吸収の効率
、即ち、原子吸収の感度が大きく低下していることが理
解される。
行う場合、光源の発光スペクトルと試料原子の吸収スペ
クトルの関係は、第4図に示される場合と極めて近いも
のとなっている。即ち、両スペクI−ルの間に大きな不
一致があるため、従来装置においては、光の吸収の効率
、即ち、原子吸収の感度が大きく低下していることが理
解される。
このようなことから、本発明はこのような事情に基づい
てなされたものであり、その目的は、分析作業時間を短
くし、かつ原子吸収の感度を高くすることのできる原子
吸光分光4変計を提供するにある。
てなされたものであり、その目的は、分析作業時間を短
くし、かつ原子吸収の感度を高くすることのできる原子
吸光分光4変計を提供するにある。
このような目的を達成するために、本発明は、原子スペ
クトルを放射する低圧雰囲気放電管を光源とし、この光
源からの光線を、分析試料である一定量の液滴を注入し
これf!:<+を燥、灰化後原子化する電気炉の中に発
生する原子蒸気に入射させ、透過光線を分光器に入射さ
せて分析目的原子によって吸収された原子吸収線の波長
の光、線を選択する原子吸光分光4変計において、前記
電気炉に前記光源の内部の真空圧力とほぼ同じ程度の圧
力に真空排気できる気密構造と、前記真空排気の工程で
1前記液滴の乾燥、灰化お、よび原子化の加熱を行う手
段とを備えたものである。
クトルを放射する低圧雰囲気放電管を光源とし、この光
源からの光線を、分析試料である一定量の液滴を注入し
これf!:<+を燥、灰化後原子化する電気炉の中に発
生する原子蒸気に入射させ、透過光線を分光器に入射さ
せて分析目的原子によって吸収された原子吸収線の波長
の光、線を選択する原子吸光分光4変計において、前記
電気炉に前記光源の内部の真空圧力とほぼ同じ程度の圧
力に真空排気できる気密構造と、前記真空排気の工程で
1前記液滴の乾燥、灰化お、よび原子化の加熱を行う手
段とを備えたものである。
このように、電気炉に光源の内部の真空圧力とほぼ同じ
程度の圧力に真空排気できるようにすることにより、前
記電気炉内の試料水滴の蒸発速を極めて速くすることが
できる。また、この状態で、前記液滴の乾燥、灰化およ
び原子化の加熱を行うことにより、光源の温度に対して
電気炉の温度を高くでき、吸収側と発光側の原子の置か
れた雰囲気圧力を等しくすることができる。このため原
子吸収の効率を大幅に改善させることができる。
程度の圧力に真空排気できるようにすることにより、前
記電気炉内の試料水滴の蒸発速を極めて速くすることが
できる。また、この状態で、前記液滴の乾燥、灰化およ
び原子化の加熱を行うことにより、光源の温度に対して
電気炉の温度を高くでき、吸収側と発光側の原子の置か
れた雰囲気圧力を等しくすることができる。このため原
子吸収の効率を大幅に改善させることができる。
第5図は本発明による原子吸光分光々変針の一実施例を
示す構成図で、特にその電気炉を示している。第2図と
同符号のものは同材料を示している。
示す構成図で、特にその電気炉を示している。第2図と
同符号のものは同材料を示している。
同図において、円筒状加熱体11は、右側電極12、左
側電極13によりはさまれていて、電気的に接続されて
いる。右側端子14.左側端子15から電流が供給され
、円筒状加熱体11が加熱されるようになっている。
側電極13によりはさまれていて、電気的に接続されて
いる。右側端子14.左側端子15から電流が供給され
、円筒状加熱体11が加熱されるようになっている。
前記右側電極12には原子吸光測定用の光線22を透過
する例えば石英材料の窓16が備えられている。
する例えば石英材料の窓16が備えられている。
また、左側電極13にも同じく、光線23を入射する窓
7が備えられている。
7が備えられている。
右側電極12と左側電極13には、電気的絶縁14料(
Electrical 1nsulator)から成る
円筒18か被せられていて気密用O−リング24.25
により両者の接触部分の気密性を保っている。
Electrical 1nsulator)から成る
円筒18か被せられていて気密用O−リング24.25
により両者の接触部分の気密性を保っている。
右側電極12には、開閉器(Valve) 28を介し
て真空排気ポンプ26が接続されている。
て真空排気ポンプ26が接続されている。
円筒18の中央部には分析試料導入用の開孔19が備え
られている。円筒状加熱体11にも同じく開花26が備
えられている。例えば20μQの試料液)音20は例え
ば注射器(Micro syringe)などを用いて
、開孔9.開花16を通り、円筒状加熱体11の内部に
注入した後、内部の気密性を保つため蓋27が設置され
ている。
られている。円筒状加熱体11にも同じく開花26が備
えられている。例えば20μQの試料液)音20は例え
ば注射器(Micro syringe)などを用いて
、開孔9.開花16を通り、円筒状加熱体11の内部に
注入した後、内部の気密性を保つため蓋27が設置され
ている。
開閉器28を間き、真幸排気ポンプ26を(Pf+作さ
せることにより、円筒状加熱体11の内部の空気が排出
されるようになっている。
せることにより、円筒状加熱体11の内部の空気が排出
されるようになっている。
円筒状加熱体11に供給する電流と、円筒状加熱体11
の温度との関係ばあらかしめ求められていて、第1図に
示す電源4の中に一定の加熱工程(lleatin已p
rogram)が組込まれている。この加熱工程により
、第5図の円筒状加熱体11が加熱されろようになって
いる。
の温度との関係ばあらかしめ求められていて、第1図に
示す電源4の中に一定の加熱工程(lleatin已p
rogram)が組込まれている。この加熱工程により
、第5図の円筒状加熱体11が加熱されろようになって
いる。
第6図に、第5図に示す電気炉を用いて原子吸光測定を
行う場合の加熱工程(tleatinB pro3r+
+m)を示す。
行う場合の加熱工程(tleatinB pro3r+
+m)を示す。
同図において、加熱工程(Stage)は、乾燥(nr
ying) l灰化(Ashin(H) +原子化(A
tomizing)の三つの工程に分類される。第5図
の円筒状加熱体]1を加熱する温度(Tenρerat
ure)とその時間(time) により加熱工程が
定まるようになっている。
ying) l灰化(Ashin(H) +原子化(A
tomizing)の三つの工程に分類される。第5図
の円筒状加熱体]1を加熱する温度(Tenρerat
ure)とその時間(time) により加熱工程が
定まるようになっている。
第5図において、例えば20μΩの液滴10を乾燥、灰
化、原子化する工程を説明する。第1図に示す電源4に
より、第5図に示す開閉器28゜真空排気ポンプ26お
よび端子14.15から供給される電流が制御され第6
図に示す加熱工程が進行さ九、原子吸光d1す定が次の
ようにして行なわれる。
化、原子化する工程を説明する。第1図に示す電源4に
より、第5図に示す開閉器28゜真空排気ポンプ26お
よび端子14.15から供給される電流が制御され第6
図に示す加熱工程が進行さ九、原子吸光d1す定が次の
ようにして行なわれる。
先ず始めに、第5図に示す真空排気ポンプ26が動作を
開始する。次に、開閉器28が開き1円筒状加熱体11
の内部が、例えば8 Torrの真空度に排気される。
開始する。次に、開閉器28が開き1円筒状加熱体11
の内部が、例えば8 Torrの真空度に排気される。
次に加熱工程が開始する。端子14.15から、第6図
の加熱工程により定められた加熱電流が供給され、光源
23の光線が原子吸収され電気信号に交換される。
の加熱工程により定められた加熱電流が供給され、光源
23の光線が原子吸収され電気信号に交換される。
このようにして構成した原子吸光分光4腐計は次のよう
な効果が得られる。
な効果が得られる。
(1)加熱工程時間の短縮
第5図の円筒状加熱体11の内部が8 Torrの真空
度に保たれているため、試料水l高20の蒸発速度は、
第2図の大気圧(7G OTorr)の場合と比較して
極めて速くなり、第6図に示す乾燥の時間は約1/4の
16秒に短縮される。灰化工程は雰囲気圧力より、温度
が支配的であるため、2軸灰工程はどの短縮はないが、
それでも約1/2に短縮される。
度に保たれているため、試料水l高20の蒸発速度は、
第2図の大気圧(7G OTorr)の場合と比較して
極めて速くなり、第6図に示す乾燥の時間は約1/4の
16秒に短縮される。灰化工程は雰囲気圧力より、温度
が支配的であるため、2軸灰工程はどの短縮はないが、
それでも約1/2に短縮される。
原子化工程では1分析対象元素の化合物が気化する温度
が雰囲気圧力よりも優先するため、時間短縮の効果は比
較的小さい。
が雰囲気圧力よりも優先するため、時間短縮の効果は比
較的小さい。
しかし、乾燥、灰化、原子化の全工程の合計時間は、第
3図に示す従来例に比較して約1/3の28秒に短縮さ
れる。
3図に示す従来例に比較して約1/3の28秒に短縮さ
れる。
(2)原子吸収の感度の向上
第7図において縦軸は光の強度を示し、目盛は相対値(
Relative value)である。横軸は光の振
動数(frequeng cm−’)を示している。図
中α′は圧力8 Torrの中空陰極放電管(Ilol
iow cathode]、a u+ p )から放射
されたA12 396.inmの低圧発光スペクトルで
ある。β′は圧力8 Torr 、温度2800℃の電
気炉の中のAQ 396.inm低圧吸収スペクトル
である。中空陰極放電管の放電状態に於ける温度が約4
00℃に対して、電気炉の温度は2800 ’Cと高い
ため、β′に示す吸収スペクトルはα′の発光スペクト
ルに対して幾分低振動数側に変位(shift) L/
ているが、原子の置かれた雰囲気圧力が等しいため、両
スペクトルの重なり部分は第4図に比較してはるかに大
きく、原子吸収の効率は大幅に改善されることが理AT
される。
Relative value)である。横軸は光の振
動数(frequeng cm−’)を示している。図
中α′は圧力8 Torrの中空陰極放電管(Ilol
iow cathode]、a u+ p )から放射
されたA12 396.inmの低圧発光スペクトルで
ある。β′は圧力8 Torr 、温度2800℃の電
気炉の中のAQ 396.inm低圧吸収スペクトル
である。中空陰極放電管の放電状態に於ける温度が約4
00℃に対して、電気炉の温度は2800 ’Cと高い
ため、β′に示す吸収スペクトルはα′の発光スペクト
ルに対して幾分低振動数側に変位(shift) L/
ているが、原子の置かれた雰囲気圧力が等しいため、両
スペクトルの重なり部分は第4図に比較してはるかに大
きく、原子吸収の効率は大幅に改善されることが理AT
される。
(3)分析性能の改善度
第8図において、樅1pthは吸光度(Absorba
nce)を示し、横軸は試料中のアルミニラ1s(AQ
)元宏の濃度(Concentration in p
pm)を示している。
nce)を示し、横軸は試料中のアルミニラ1s(AQ
)元宏の濃度(Concentration in p
pm)を示している。
図中Aは従来例になる第2図の電気炉を用いた場合のA
Q 396.inmに検量線(Calibratjo
nCllrVe)である。従来装置に於ては、第4図に
示されるように、発光スペクトルαと吸収スペクl−ル
βに極めて大きな不一致があるため、第8図の検量線A
は、1吸光度の値、約2.0 において飽和(Satu
ration)状態に近づいている。しかし、本実施で
ある第S図に示されろ電気炉を用いた場合のΔα 3!
16.inmの4倹計線は1吸光度の値が3.0 近く
士で直線的(Linear)であり、かつ試料の中のA
Qの濃度(Conc(・ntration)の埴は60
ppmに於ては、原子吸収の効率、即ち、感度(Sen
sitivity)が、従来装置に於ける検量線αに対
して約1.4倍向上している。
Q 396.inmに検量線(Calibratjo
nCllrVe)である。従来装置に於ては、第4図に
示されるように、発光スペクトルαと吸収スペクl−ル
βに極めて大きな不一致があるため、第8図の検量線A
は、1吸光度の値、約2.0 において飽和(Satu
ration)状態に近づいている。しかし、本実施で
ある第S図に示されろ電気炉を用いた場合のΔα 3!
16.inmの4倹計線は1吸光度の値が3.0 近く
士で直線的(Linear)であり、かつ試料の中のA
Qの濃度(Conc(・ntration)の埴は60
ppmに於ては、原子吸収の効率、即ち、感度(Sen
sitivity)が、従来装置に於ける検量線αに対
して約1.4倍向上している。
以」二説明したように1本発明による原子吸光分光々度
泪によれば、分析作業時間を短くでき、かつ〃;(子吸
収の感度を高くすることができる。
泪によれば、分析作業時間を短くでき、かつ〃;(子吸
収の感度を高くすることができる。
第1図は原子吸光分光4腐計の概略図、第2図は従来の
電気炉の一例を示オ構成図、第3図は的記電気炉の加熱
工程を示す説明図、第4図は従来の原子吸光分光4度H
−1の特性を示す説明図、第S図は本発明による電気炉
の一実施例を示す構成図、第6図は本発明による電気炉
の加熱工程を示す説明図、第7図および第8U:j′I
は本発明による原子吸光分光々度肝の特性を示す説明図
である。 11・・・円筒状加熱体、12・・・右側電極、13・
・・左側電極、14・・・右側端子、15・・・左側端
子、16・・右側窓、17 ・左側窓、18・・・円筒
、19・・開孔、20・・・試料液滴、21・・・管、
22・・透過光線、23・・入射光線、24.25・・
・気密用オーリング、26・・・真空排気ポンプ、27
・・・蓋、28・・・開閉器。
電気炉の一例を示オ構成図、第3図は的記電気炉の加熱
工程を示す説明図、第4図は従来の原子吸光分光4度H
−1の特性を示す説明図、第S図は本発明による電気炉
の一実施例を示す構成図、第6図は本発明による電気炉
の加熱工程を示す説明図、第7図および第8U:j′I
は本発明による原子吸光分光々度肝の特性を示す説明図
である。 11・・・円筒状加熱体、12・・・右側電極、13・
・・左側電極、14・・・右側端子、15・・・左側端
子、16・・右側窓、17 ・左側窓、18・・・円筒
、19・・開孔、20・・・試料液滴、21・・・管、
22・・透過光線、23・・入射光線、24.25・・
・気密用オーリング、26・・・真空排気ポンプ、27
・・・蓋、28・・・開閉器。
Claims (1)
- 1、原子スペクトルを放射する低圧雰囲気放電管を光源
とし、この光源からの光線を、分析試料である一定量の
液滴を注入しこれを乾燥、灰化後原子化する電気炉の中
に発生する原子蒸気に入射させ、透過光線を分光器に入
射させて分析目的原子によつて吸収された原子吸収線の
波長の光線を選択する原子吸光分光々度計において、前
記電気炉に前記光源の内部の真空圧力とほぼ同じ程度の
圧力に真空排気できる気密構造と、前記真空排気の工程
で前記液滴の乾燥、灰化および原子化の加熱を行う手段
とを備えたことを特徴とする原子吸光分光々度計。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62076562A JPS63241453A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 原子吸光分光々度計 |
US07/175,320 US4840484A (en) | 1987-03-30 | 1988-03-30 | Atomic absorption spectrophotometer with furnace at pressure equal or near light source pressure |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62076562A JPS63241453A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 原子吸光分光々度計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63241453A true JPS63241453A (ja) | 1988-10-06 |
Family
ID=13608683
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62076562A Pending JPS63241453A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 原子吸光分光々度計 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4840484A (ja) |
JP (1) | JPS63241453A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4011338A1 (de) * | 1990-04-07 | 1991-10-10 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Verfahren und vorrichtung zur analyse von proben mittels atomabsorptions-spektrometer |
DE102009037729A1 (de) * | 2009-08-17 | 2011-02-24 | Linseis Meßgeräte GmbH | Analysiervorrichtung und Verfahren zum Analysieren einer Probe |
JP5961482B2 (ja) * | 2012-08-20 | 2016-08-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分光光度計 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55103451A (en) * | 1979-02-02 | 1980-08-07 | Hitachi Ltd | Sample atomization device |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3591289A (en) * | 1968-09-24 | 1971-07-06 | Sprague Electric Co | Atomic absorption sample cell |
DE2314207C3 (de) * | 1973-03-22 | 1979-11-15 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co Gmbh, 7770 Ueberlingen | Atomisierungsvorrichtung zum Atomisieren einer Probe für flammenlose Atomabsorptionsmessungen |
US4660976A (en) * | 1984-05-04 | 1987-04-28 | Jenoptik Jena Gmbh | Method and device for electrothermal atomization of a sample material |
-
1987
- 1987-03-30 JP JP62076562A patent/JPS63241453A/ja active Pending
-
1988
- 1988-03-30 US US07/175,320 patent/US4840484A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55103451A (en) * | 1979-02-02 | 1980-08-07 | Hitachi Ltd | Sample atomization device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4840484A (en) | 1989-06-20 |
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