JPH04229989A - エレクトロルミネセントディスプレイコンポーネントのけい光体層 - Google Patents
エレクトロルミネセントディスプレイコンポーネントのけい光体層Info
- Publication number
- JPH04229989A JPH04229989A JP3176531A JP17653191A JPH04229989A JP H04229989 A JPH04229989 A JP H04229989A JP 3176531 A JP3176531 A JP 3176531A JP 17653191 A JP17653191 A JP 17653191A JP H04229989 A JPH04229989 A JP H04229989A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- activator
- phosphor layer
- host matrix
- matrix material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 102000006830 Luminescent Proteins Human genes 0.000 title 1
- 108010047357 Luminescent Proteins Proteins 0.000 title 1
- 239000012190 activator Substances 0.000 claims abstract description 101
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 69
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 69
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 34
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 claims description 44
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 claims description 35
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 35
- 238000003877 atomic layer epitaxy Methods 0.000 claims description 25
- 239000013543 active substance Substances 0.000 claims description 14
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 10
- JGIATAMCQXIDNZ-UHFFFAOYSA-N calcium sulfide Chemical compound [Ca]=S JGIATAMCQXIDNZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000011572 manganese Substances 0.000 claims description 8
- 239000011575 calcium Substances 0.000 claims description 7
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 5
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N terbium atom Chemical compound [Tb] GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 claims description 3
- KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N samarium atom Chemical compound [Sm] KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000005132 Calcium sulfide based phosphorescent agent Substances 0.000 claims description 2
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052775 Thulium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 150000004645 aluminates Chemical class 0.000 claims description 2
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N europium atom Chemical compound [Eu] OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052976 metal sulfide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- PUDIUYLPXJFUGB-UHFFFAOYSA-N praseodymium atom Chemical compound [Pr] PUDIUYLPXJFUGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011669 selenium Substances 0.000 claims description 2
- 229910052596 spinel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011029 spinel Substances 0.000 claims description 2
- XTQHKBHJIVJGKJ-UHFFFAOYSA-N sulfur monoxide Chemical compound S=O XTQHKBHJIVJGKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- FRNOGLGSGLTDKL-UHFFFAOYSA-N thulium atom Chemical compound [Tm] FRNOGLGSGLTDKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- PFNQVRZLDWYSCW-UHFFFAOYSA-N (fluoren-9-ylideneamino) n-naphthalen-1-ylcarbamate Chemical compound C12=CC=CC=C2C2=CC=CC=C2C1=NOC(=O)NC1=CC=CC2=CC=CC=C12 PFNQVRZLDWYSCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- ZEGFMFQPWDMMEP-UHFFFAOYSA-N strontium;sulfide Chemical compound [S-2].[Sr+2] ZEGFMFQPWDMMEP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 3-(oxolan-2-yl)propanoic acid Chemical compound OC(=O)CCC1CCCO1 WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 claims 2
- COOGPNLGKIHLSK-UHFFFAOYSA-N aluminium sulfide Chemical compound [Al+3].[Al+3].[S-2].[S-2].[S-2] COOGPNLGKIHLSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229910052980 cadmium sulfide Inorganic materials 0.000 claims 2
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 claims 2
- 229910017107 AlOx Inorganic materials 0.000 claims 1
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N Calcium oxide Chemical compound [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910000611 Zinc aluminium Inorganic materials 0.000 claims 1
- HXFVOUUOTHJFPX-UHFFFAOYSA-N alumane;zinc Chemical compound [AlH3].[Zn] HXFVOUUOTHJFPX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- LNTHITQWFMADLM-UHFFFAOYSA-N gallic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC(O)=C(O)C(O)=C1 LNTHITQWFMADLM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims 1
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 claims 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims 1
- XXCMBPUMZXRBTN-UHFFFAOYSA-N strontium sulfide Chemical compound [Sr]=S XXCMBPUMZXRBTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 32
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 5
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 223
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 22
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 11
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- VSCWAEJMTAWNJL-UHFFFAOYSA-K aluminium trichloride Chemical compound Cl[Al](Cl)Cl VSCWAEJMTAWNJL-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 10
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 8
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 8
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 7
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 7
- OTUDGWGELZRVRY-UHFFFAOYSA-N terbium(3+);trisulfide Chemical compound [S-2].[S-2].[S-2].[Tb+3].[Tb+3] OTUDGWGELZRVRY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 description 6
- -1 for example Substances 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 6
- JIAARYAFYJHUJI-UHFFFAOYSA-L zinc dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Zn+2] JIAARYAFYJHUJI-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 6
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 5
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 5
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical compound S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 4
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 4
- 229910000037 hydrogen sulfide Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 235000005074 zinc chloride Nutrition 0.000 description 4
- 239000011592 zinc chloride Substances 0.000 description 4
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- JYMITAMFTJDTAE-UHFFFAOYSA-N aluminum zinc oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Al+3].[Zn+2] JYMITAMFTJDTAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000013522 chelant Substances 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 101100096038 Mus musculus Smox gene Proteins 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BYFGZMCJNACEKR-UHFFFAOYSA-N aluminium(i) oxide Chemical compound [Al]O[Al] BYFGZMCJNACEKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002585 base Substances 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- 229910005535 GaOx Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017586 La2S3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002244 LaAlO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002370 SrTiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001122767 Theaceae Species 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VQYHBXLHGKQYOY-UHFFFAOYSA-N aluminum oxygen(2-) titanium(4+) Chemical compound [O-2].[Al+3].[Ti+4] VQYHBXLHGKQYOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002939 deleterious effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- CMIHHWBVHJVIGI-UHFFFAOYSA-N gadolinium(III) oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Gd+3].[Gd+3] CMIHHWBVHJVIGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001676 gahnite Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CNRZQDQNVUKEJG-UHFFFAOYSA-N oxo-bis(oxoalumanyloxy)titanium Chemical compound O=[Al]O[Ti](=O)O[Al]=O CNRZQDQNVUKEJG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000027756 respiratory electron transport chain Effects 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004763 sulfides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/12—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
- H05B33/14—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of the electroluminescent material, or by the simultaneous addition of the electroluminescent material in or onto the light source
- H05B33/145—Arrangements of the electroluminescent material
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/12—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
- H05B33/18—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the nature or concentration of the activator
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/12—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
- H05B33/22—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of auxiliary dielectric or reflective layers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10S428/917—Electroluminescent
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24942—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including components having same physical characteristic in differing degree
- Y10T428/2495—Thickness [relative or absolute]
- Y10T428/24967—Absolute thicknesses specified
- Y10T428/24975—No layer or component greater than 5 mils thick
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/26—Web or sheet containing structurally defined element or component, the element or component having a specified physical dimension
- Y10T428/261—In terms of molecular thickness or light wave length
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/26—Web or sheet containing structurally defined element or component, the element or component having a specified physical dimension
- Y10T428/263—Coating layer not in excess of 5 mils thick or equivalent
- Y10T428/264—Up to 3 mils
- Y10T428/265—1 mil or less
Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Luminescent Compositions (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
ト(electroluminescent)コンポー
ネントにおけるけい光体層(phosphor lay
er)に関する。
使用されるけい光体材料は、ホストマトリクス中に分散
した活性剤から可視領域(約380 乃至700nm)
における波長の光を発生する。ホストマトリクス材料の
特性は、可視光線の発生に必要な、即ち2eVを超える
エネルギー水準に電子を加速するのに適していなければ
ならない。活性剤原子を取り巻く結晶学的環境は一般に
光放射効率、波長スペクトル及び安定性に影響する。こ
の技術では、ホストマトリクスと活性剤物質の様々な組
み合わせがそれらの放射スペクトルと共に公知である。 例えば、次のような色がそれぞれの物質の組み合わせに
より放射される、即ち、CaS:Euが赤を、ZnS:
Mnが黄−オレンジを、ZnS:Tbが緑を、SrS:
Ceが青−緑を、ZnS:Tmが青を、SrS:Prが
白を放射する。
グして均質な層を形成するための基本的な条件は、活性
剤原子又は全放出中心部が結晶格子中に適合しているこ
とである。この相容性は、とりわけホストマトリクス材
料と活性剤原子との大きさの違いにより、及びおそらく
原子価の差によっても影響を受ける。市販のエレクトロ
ルミネセントディスプレイにおける硫化亜鉛のマンガン
によるドーピングは、活性剤原子がホストマトリクス材
料の中に良く適合した例である。しかし、活性剤とホス
トマトリクス材料との相容性に関する必要条件は、相互
に適合するホストマトリクス/活性剤材料の数を制限し
、一般にホストマトリクス材料中の活性剤の最適濃度を
低下させる。例えば、硫化亜鉛マトリクスを希土類でド
ーピングすることは、ホストマトリクス材料の結晶格子
との寸法的及び化学的な非相容性のために困難である。
起こされるホストマトリクス材料の結晶化度、配向、結
晶格子欠陥及び電気特性の変化は、効率及び安定性が悪
化するためにエレクトロルミネセンスに有害である。そ
の上、ホストマトリクス材料の結晶格子は、活性剤から
の光放射効率にとって好ましくない環境になることもあ
る。ホストマトリクス/活性剤材料系の熱力学的不安定
性のために、光放射の安定性が乏しいことが多い。ホス
トマトリクス/活性剤材料系の放射効率は、異なった活
性化助剤(coactivator) (例えばSrS
:Ce、K 、Cl) 及び/又はより複雑な放射中心
(例えばZnS:Tb、O 、F)を使用することによ
り改善できるが、けい光体層の処理が複雑になる。
ス材料及び比較的相容性の悪い活性剤材料が個々の層に
分離されているけい光体層構造が公知である。例えば、
モルトン、ディー・シー(Morton, D.C.)
及びウィリアムス、エフ(Williams, F.)
による論文「多層薄膜エレクトロルミネセントディスプ
レイ(Multilayer thin−filmel
ectroluminescent display)
」、SID 1981ダイジェスト、12/1巻の3
0乃至31頁を参照されたい。実際には、これは該層が
交互に堆積した多層構造になる。活性剤を含有するドー
ピング層は最少厚が10乃至20nmである。そのよう
な構造の一例としては、厚い硫化亜鉛及びY2O3:E
u が交互に堆積した層からなる赤色放射のけい光体系
が挙げられる。例えば、スヤマ、ティー(Suyama
, T.)、オカモト、ケイ(Okamoto, K.
) 及びハマカワ、ワイ(Hamakawa, Y.)
による論文「多層構造を有する新型の薄膜エレクトロル
ミネセント装置(New type of thin−
film electro−luminescent
device having a multilaye
r structure) 」、アプライドフィジクス
レター(Appln. Phys. Lett.)、4
1(1982)の462 乃至464 頁を参照された
い。
トマトリクス材料の結晶格子を中断し、マトリクス材料
の結晶化度、結晶の大きさ及び配向を維持する上で問題
が生じる。その上、分離した活性剤層は結晶化度が乏し
く無定形であることもあり、これは電子の移動及び光放
射効率にとって好ましくない。電子は厚い活性剤層中で
急速にそのエネルギーを失い、そのために効率が悪くな
り、その上、ホストマトリクス層と活性剤を含むドーピ
ング層との界面における浅い層でしか光放射できなくな
る。
晶化度により、けい光体層の効率及び光放射の全明度が
制限されている。
かの異なったホストマトリクス/活性剤材料の対を調和
させることができる高効率けい光体層を達成することで
ある。
ーピング層をホストマトリクス材料層同士の間に、場合
により調和層で分離して、堆積させることにより、けい
光体層を活性剤でドーピングすることにあるが、該活性
剤含有ドーピング層は、ホストマトリクス材料の結晶構
造及び配向に本質的な障害を起こさないように、原子の
単位の薄さを有する。
の特徴は前述の請求項1の特徴部分に記載してある。
を詳細に説明する。
ディスプレイコンポーネントの機能的な原理並びに薄膜
構造の必要な層は、この技術では良く知られている。こ
の構造は、例えばガラス製の透明基材1、及び該基材上
に形成した薄膜型底部電極を含む。この底部電極2は透
明な材料からなり、その上に、底部絶縁層3と呼ばれる
、図により通常幾つかの薄膜型の個々の層を含むことが
できる、実際に発光する薄膜構造、けい光体層4及び上
部絶縁層5を有する。この発光構造の上に、薄膜型(一
般に金属性)の上部電極6がある。底部電極2及び上部
電極6は、例えばディスプレイマトリクスの列及び行電
極を形成することができる。
の図中の区域A)を、図2で詳細に示す。けい光体層4
は、異なった組成の層、すなわち電子の加速を行なうホ
ストマトリクス材料層7及び光を放射できる活性剤含有
ドーピング層8からなる。活性剤含有ドーピング層8は
非常に薄い。本発明に関するけい光体層4中のドーピン
グ層の数に制限はなく、組成も同じである必要はなく、
むしろ、各種の色を得るために、単一のけい光体層4を
造って異なった種類の活性剤含有ドーピング層8を含む
こともできるし、反対に単一の活性剤含有ドーピング層
8を造って幾つかの異なった種類の活性剤を含むことも
できる。
からなる本発明に関する活性剤含有ドーピング層8の実
施形態を示している。図3に示すのは、一つの実際の活
性剤層10が二つの調和層9の間に挟まれている状態で
ある。以下に、異なったフィルム型層の代表的な寸法、
機能、材料選択及び加工について詳細に説明する。ここ
で、図1、2及び3の尺度は実際の寸法を表わしている
のではないことに注意しなければならない。
マトリクス材料層4における結晶成長及び配向は活性剤
のドーピングにも関わらず維持される。これは、調和層
9及び実際の活性剤層10の、原子の薄さの構造により
可能になる。これらの層は、厚さが極めて小さいために
、その下にある層、即ち基材として作用するホストマト
リクス材料層7の結晶構造の上にエピタキシー的に調和
し、それによって、結晶格子定数及び熱膨張係数の差に
より引き起こされる結晶格子力が層の界面で応力に転換
されるが、有害な量で結晶欠陥に緩和されることはない
。
ストマトリクス材料層7に対しては100nm 未満で
あり、調和層9に対しては5nm未満、好ましくは1n
m未満であり、実際の活性剤層10に対しては5nm未
満、好ましくは0.5 乃至1nmである。調和層及び
実際の活性剤層からなる活性剤層の全厚さは10nmで
よい。
を可視光線放射に十分なエネルギー水準(>2eV)
に加速することである。従って、その結晶構造及び配向
はけい光体層において支配的な役目を果たす。ホストマ
トリクス材料層7の厚さは、実際のディスプレイコンポ
ーネントの具体化に合わせて最適化することができる。 その最少厚さは電子加速及び結晶格子中の許容ひずみ場
に関連する必要条件により決定される。ホストマトリク
ス材料層7は、例えば活性剤含有ドーピング層8により
その結晶構造内に引き起こされるひずみを吸収するのに
十分厚くなければならない。ホストマトリクス材料層7
の厚さの上限は、けい光体層4から得られる光放射の全
明度を最大にすることにより得られる(これは一般的に
は、けい光体層4中の高効率活性剤含有ドーピング層8
の最大数を意味する)。ホストマトリクス材料層7は望
ましいだけ厚くすることができるが、実際には層構造か
ら得られる全明度の最大値に応じて、その最大厚を設定
するのが有利である。けい光体層4の厚さは、ディスプ
レイコンポーネントに設定される必要条件及びその性能
により決定する。
好適な材料の例としては、II−VI 化合物(例えば
ZnS 、CdS 及びZnSe) やアルカリ金属の
カルコゲン化物(例えば、MgS 、CaO 、CaS
、SrS 及びBaS)がある。ホストマトリクス材
料は、ZnS1−xSe又はCa1−xSrxS のよ
うに上記の物質の混合化合物として調製することもでき
る。ホストマトリクス材料は、そのホストマトリクス材
料の電気特性またはその結晶化度を過剰に低下させない
活性剤材料でドーピングすることができる。そのような
活性剤としては、例えば、硫化亜鉛中のMn2+(Zn
S:Mn)または硫化カルシウム中のEu2+(CaS
:Eu)のような等電子活性剤がある。活性化助剤と連
繋して低濃度でドーピングに使用される他の種類の活性
剤も有用である(例えばSrS:Ce、K)。
った結晶構造を調和させることである。調和層の組成は
均質である必要はなく、むしろ、ホストマトリクス及び
活性剤材料の結晶構造を互いに調和させるために、その
層を通して、一つの界面から他の界面に変化することも
できる。さらに、これらの層は、結晶格子パラメータ及
び熱膨張特性の差により引き起こされる応力を等化する
のに役立つ。また、調和層は、実際の活性剤層10とホ
ストマトリクス材料層7の間の化学反応及び拡散を防止
する化学的緩衝剤としても作用する。
しい長所を発揮する。調和層9の機能及び特性から、そ
の厚さは最大で数原子層に限られることが多い。好適な
調和層材料は、幾つかの異なった結晶構造で生じ、空位
、侵入型原子及び混合原子価が、格子位置における置換
と共に存在し得る材料である。該材料には、Al2O3
、TiO2及びSiO2のような異なった酸化物、及
び例えばスピネル又はペロブスキー石構造を有する材料
(ZnAl2O4、ZnAl2S4 、LaAlO3及
びSrTiO3) がある。調和層は、Al2S3 又
はCaS のような金属硫化物を含むこともできる。
マトリクス材料層7の部分層としても加工できる。調和
層9として作用できる、置換により得られる固溶体の例
は、活性剤層と調和する硫化亜鉛の原子層から形成され
るもので、その際、亜鉛又は硫黄が完全に又は部分的に
カルシウム、カドミウム、酸素又はセレンにより置き換
えられるので、調和層の組成は例えばZn1−xCax
S 、Zn1−xCdxS 又はZnS1−xSeXで
ある。
平らにドーピングされる活性剤層を含む。使用する活性
剤の例は、マンガン(Mn)及び希土類、例えばセリウ
ム(Ce)、サマリウム(Sm)、ユーロピウム(Eu
)、プラセオジム(Pr)、テルビウム(Tb)及びツ
リウム(Tm)である。活性剤含有ドーピング層8の基
本結晶格子は、高効率で安定性の良い放射が得られる二
次マトリクス材料により与えられるが、該二次マトリク
ス材料は誘電性でもよい。さらに、その固相中への溶解
性、すなわち実際のホストマトリクス材料層7との直接
的な化学的及び結晶学的相容性に関しては何の必要条件
もない。そのような好適な材料には、例えばZnO 、
ZnS 又はZnSeのようなII−VI 化合物及び
MgS 、CaS 、BaS 又はSrS のようなア
ルカリ土類金属カルコゲン化物がある。また、希土類元
素の酸化物、オキシ硫化物又は硫化物も可能であり、例
えばGd2O3 、Y2O2S 又はLa2S3 、並
びにアルミン酸塩及びガリウム酸塩(M,Ln)AlO
x及び(M,Ln)GaOxがあるが、ここでM=Zn
, Ca, Sr又はBa及びLn=Y, La,Gd
又はCeである。活性剤層は、主として、ハロゲン化物
MX2 、LnX3又はオキシハロゲン化物LnOXか
ら構成されることができる。ここで、M は Ca,
Sr, Ba 又はZnであり、LnはY, La,
Ce 又はGdであり、そして XはF, Cl 又は
Brである。
僅か数原子層なので、その基材上にエピタキシーにより
成長する。本発明に関する平らなドーピング層のために
、活性剤の局所的な濃度は、けい光体層4の体積全体に
わたって平均したみかけ上の活性剤濃度と比較して非常
に高い。活性剤及びホストマトリクス材料は公知である
が、本発明の価値は、新規な材料の組み合わせを使用す
る可能性、及び薄膜エレクトロルミネセントディスプレ
イコンポーネントにおける高効率けい光体層4としてラ
ンプけい光体材料を使用することにある。
ディスプレイコンポーネントにおける、本発明に関する
原子の薄さの平らな層の代表的な挙動及び使用方法を説
明する。
おける結晶化度及び配向に対する、薄いAl2O3:S
m層の影響に関する実施例である。
特許第4,058,430 号)堆積法を使用して図4
に示す層状薄膜構造を調製する。従って、得られた試料
の基本構造は、Nx[(層11)+(層12)]+(層
11)であり、ここでNは整数の乗数であり、層11は
硫化亜鉛であり、層12はサマリウムでドーピングした
酸化アルミである。基材13としてガラスを使用し、処
理中、この基材を500 oCに維持し、処理室内の不
活性雰囲気圧は1mbarである。硫化亜鉛層は、塩化
亜鉛及び硫化水素を初期反応物として使用して堆積させ
、その際、単ALE サイクルあたりのフィルム成長速
度は約1.25オングストロームである。Al2O3:
Sm中間層は、塩化アルミ、Sm(thd)3キレート
及び水を反応物として使用して成長させ、その際、単A
LE サイクルは1AlCl3 パルス及び水パルス、
あるいは単Sm(thd)3パルス及び水パルスからな
る。該Al2O3:Sm中間層は、各中間層の処理が、
先行するAl2O3 層の上に、各中間層の最終層とし
て成長する一つのSmOxサイクルを含むように堆積す
る。すべての試料における個々の硫化亜鉛層11は20
0 ALE サイクルからなり、それらの厚さは約25
0 オングストロームになる。Al2O3:Sm中間層
の厚さは、試料により異なる。中間層が0/0 、1/
1 、3/1 、10/1及び100/1 (Al2O
3/SmOx)ALE サイクルからなる5個の試料を
成長させるが、成長速度は約0.5 オングストローム
/サイクルである。従って、最初の試料は純粋な硫化亜
鉛に等しい。整数の定数Nはすべての試料で30の値を
有する。
折グラフ測定により、下記の結果が得られる。全5試料
のX線回折グラフのピークは硫化亜鉛のウルツ鉱型構造
を示すと考えられ、構造の配向は(00.2)方向に強
く向けられている。基材又は中間層はX線回折グラフ中
で異質なピークを生じない。図5から明らかなように(
00.2)反射を表すピーク(2Θ=約28.5o )
の位置は本質的に一定のままである。そのピークの半値
幅Δ2Θは最初は殆ど一定(約0.19o)であり、層
厚がさらに増加するにつれて広くなり始めるまで、狭く
なることさえある。ピークの強度(その面積又は高さか
ら定義する)は最初は増加し、次いで減少し、最後に急
落する。
の薄い中間層にも拘らず、六方晶構造及び硫化亜鉛の配
向を維持することが立証される。非常に厚い中間層(1
0 ALE サイクルを超える)だけが結晶構造をゆが
めることができる。そこでは、薄い中間層が硫化亜鉛層
構造の結晶状態を改良し、その結晶配向を強化しさえす
るという異常な現象が見られる。
ネセントディスプレイ特性に対する活性剤ドーピングの
影響に関する実施例である。
構造を調製する。透明基材としてガラスを使用し、その
上に原子層エピタキシー堆積法を使用して、厚さ300
nm の、酸化インジウム−スズの透明な、スパッタリ
ングした底部電極2及び厚さ300nmの酸化アルミニ
ウム−チタンの薄膜誘電層を堆積させる。けい光体層4
は、原子層エピタキシー堆積法を使用して、図2に示す
層状薄膜構造に成長させる。けい光体層4の得られた試
料の基本構造はNx[(層7)+(層8)]+(層7)
であり、ここでNは整数の乗数であり、ホストマトリク
ス材料層である層7は硫化亜鉛であり、活性剤含有ドー
ピング層である層8は硫化テルビウムである。処理中、
この基材を500 oCに維持し、処理室内の不活性雰
囲気圧は1mbarである。 硫化亜鉛層は、実施例1と同様にして堆積させ、その際
、フィルム成長速度は単ALE サイクルあたり約1.
25オングストロームであり、硫化テルビウム層はTb
(thd)3キレートおよび硫化水素を初期反応物とし
て使用して成長させ、その際、各ALE サイクルは各
反応物の1パルスからなり、達成された成長速度はAL
E サイクルあたり約0.1 オングストロームになる
。けい光体層上に、原子層エピタキシー堆積法を使用し
て、厚さ300nm の酸化アルミニウム−チタンの誘
電性薄膜絶縁層5を加工する。最後に、厚さ1000n
mのアルミニウムの金属性上部電極薄膜層6を蒸着によ
り調製する。これらの試料における他の薄膜構造の製法
及び特性は、けい光体層の製法及び特性を除いて、実施
例の説明にとって重要ではない。
E サイクルからなる硫化亜鉛層7を有する、3つの試
料構造を成長させる。対応して、硫化テルビウム層8は
a)1、b)5及びc)20 ALEサイクルからなる
。このように、亜鉛とテルビウムの間の相対量の比は各
試料で一定である。試料の厚さを一定に保つために、整
数定数Nを各試料についてそれぞれa)600 、b)
120 及びc)30に変化させる。
折グラフ測定により、下記の結果が得られる。すべての
試料が、硫化テルビウム層が硫化亜鉛結晶格子の成長を
全く阻害しないという注目すべき結果を示している。し
かし、密集した活性剤含有ドーピング層は、調和層がな
いと、結晶の完全性を妨害する。硫化亜鉛層の厚さが増
加するにつれて、結晶の完全性は向上し(Δ2Θが小さ
くなる)、配向の程度が向上する((00.2)方向に
おけるピークの相対強度が増加する)。テルビウム濃度
は、X線蛍光法により測定して、すべての試料で、約1
モル%(Tb/Zn) で等しいことが分かった。
6から明らかなように、励起電圧に対する明度の依存性
が著しく変化することが分かる。硫化亜鉛層が厚い程、
励起電圧に対する明度の依存性が強い。これは、けい光
体層における結晶化度が向上するために、電子の加速及
び移動の効率が高くなるためと考えられる。それ故、エ
レクトロルミネセントディスプレイコンポーネントにお
いて上記の構造を使用する開発可能性が大きく広がる。
ーピングによる、明るい緑色光を放射するエレクトロル
ミネセントディスプレイコンポーネントの調製に関する
実施例である。
ト構造を調製する。けい光体層4を除いて、基材及び薄
膜材料並びにそれらの厚さ及び特性は実施例2で使用し
たものと同等である。原子層エピタキシー法を使用して
、図2及び3に示す原理により、けい光体層4を、ホス
トマトリクス材料層7、実際の活性剤層10及び調和層
9が交互に配置された層状構造に成長させる。このよう
にして得られたけい光体層4の基本構造はNx[(層7
)+(層9) +(層10)+(層9)] +(層7)
であり、ホストマトリクス材料層である層7は硫化亜鉛
であり、活性剤含有ドーピング層である層10は硫化テ
ルビウムであり、調和層である層9は酸化亜鉛アルミニ
ウムである。処理中、この基材を500 oCに維持し
、処理室内の不活性雰囲気圧は1mbarである。硫化
亜鉛層は、実施例1と同様にして堆積させ、硫化テルビ
ウム層は実施例2と同じように堆積させる。酸化亜鉛ア
ルミニウム層は、塩化亜鉛、塩化アルミニウム及び水を
初期反応物として使用することにより成長させるが、そ
の際、1ALE サイクルはAlCl3 、H2O 、
ZnCl2 、H2O 、AlCl3 及びH2Oの連
続パルスからなる。達成された成長速度はALE サイ
クルあたり約1.5 オングストロームである。これら
の試料における他の薄膜構造の製法及び特性は、けい光
体層の製法及び特性を除いて、実施例の説明にとって重
要ではない。
0 ALE サイクルからなる硫化亜鉛層7を有する、
3つの試料構造を成長させる。活性剤含有ドーピング層
8はすべての試料について同等に調製する。活性剤含有
ドーピング層8は、30ALE サイクルの硫化テルビ
ウムからなり、調和層9は単ALE サイクルの酸化亜
鉛アルミニウムからなる。試料の厚さを一定に保つため
に、整数定数Nを各試料についてそれぞれa)60、b
)30及びc)20に変化させる。
折グラフ測定により、下記の結果が得られる。3つの試
料すべてが、少なくとも純粋な硫化亜鉛と同じ位良好な
結晶化度を有する。従って、活性剤含有ドーピング層が
硫化亜鉛結晶格子の成長を終結させることはない。明度
対励起電圧測定により、この構造の有利なエレクトロル
ミネセント特性、即ち励起電圧に対する明度の強い依存
性、並びに光放射の高い効率が立証される。その結果、
エレクトロルミネセント構造の全明度が高くなり、放射
が安定する。閾電圧より35 V高い電圧における明度
測定を図7に示す。全明度はけい光体層系中の活性剤含
有ドーピング層の数と直線的に比例する。本発明に関す
る層状活性剤ドーピング法は、均質に分散させたけい光
体層系に比べて、放射の強度及び安定性を著しく向上さ
せる。
ーピングによる、明るい赤色光を放射するエレクトロル
ミネセントディスプレイコンポーネントの調製に関する
実施例である。
構造を調製する。けい光体層4を除いて、基材及び薄膜
材料並びにそれらの厚さ及び特性は実施例2で使用した
ものと同等である。原子層エピタキシー法を使用して、
図2及び3に示す原理によって、けい光体層4を、ホス
トマトリクス材料層7、実際の活性剤層10及び調和層
9が交互に配置された層状構造に成長させる。このよう
にして得られたけい光体層4の基本構造はNx[(層7
)+(層9) +(層10)+(層9)] +(層7)
であり、ホストマトリクス材料層である層7は硫化亜鉛
であり、実際の活性剤層である層10はユーロピウムで
ドーピングした酸化イットリウムであり、調和層である
層9はカルシウムでドーピングした硫化亜鉛である。処
理中、この基材を500 oCに維持し、処理室内の不
活性雰囲気圧は1mbarである。硫化亜鉛層は、実施
例1と同様にして堆積させる。実際の活性剤層は、Y(
thd)3 及びEu(thd)3キレート及び水を初
期反応物として使用することにより成長させるが、その
際、1ALE サイクルはY(thd)3 、H2O
、Eu(thd)3、H2O 、Y(thd)3 及び
H2O の連続パルスからなる。達成された成長速度は
ALE サイクルあたり約0.3 オングストロームで
ある。調和層9では、各ALE サイクルはCa(th
d)3、H2S 、ZnCl2 及びH2S の連続パ
ルスからなり、成長速度はALE サイクルあたり約1
オングストロームである。これらの試料における他の薄
膜構造の製法及び特性は、けい光体層の製法及び特性を
除いて、実施例の説明にとって重要ではない。
Eサイクルからなるユーロピウムでドーピングした酸化
イットリウムの、実際の活性剤層を有する、3つの試料
構造を成長させる。硫化亜鉛層7はすべての試料につい
て200 ALE サイクルを含むように同等に調製す
る。調和層9はカルシウムで置換した硫化亜鉛中に亜鉛
の一部を含む化合物の、5ALE サイクルからなる。
性剤含有ドーピング層が硫化亜鉛結晶格子の成長を終結
させないことは明らかである。図8に示すように、エレ
クトロルミネセント構造から放射される赤色光線は活性
剤含有ドーピング層が厚くなるにつれて増加する。
の説明では、図1に示す導体−絶縁体−けい光体−絶縁
体−導体構造にのみ関連して使用されているが、本発明
の基本的な考え方によれば、けい光体層の使用はそれに
限定されるものではなく、他の種類のエレクトロルミネ
セントコンポーネントにも使用できる。提案した材料の
選択は、他の考えられる種類のホストマトリクス/活性
剤材料系を本発明の応用範囲から排除するものではない
。
トマトリクス材料の特性及び光放射にとって重要な活性
剤材料の原子環境の両方を個別に、けい光体系の全効率
を改善するように、最適化する方法を提供する。本発明
により、活性剤によるホストマトリクス材料の従来のド
ーピングに伴う問題が防止され、ホストマトリクス/活
性剤材料の新規な組み合わせを効率の高いけい光体層系
に調和させることができ、活性剤の相対濃度を高くする
ことができる。
トマトリクス材料層の、及び同時にけい光体層系全体の
結晶化度、結晶サイズ及び配向は、均質にドーピングし
たけい光体層、又は分離した、ホストマトリクス及び活
性剤材料の厚い層からなる多層けい光体系から得られる
特性よりも優れている。
したけい光体系構造により、従来の構造に関して可能で
あるよりも低い処理温度で、別に熱処理を行なわなくて
も、望ましい結晶状態及び局所的な結晶構造を原子水準
で達成することができることである。調和層及び活性剤
含有ドーピング層を適切に配置することにより、ホスト
マトリクス層の堆積時に起こる結晶欠陥を補償し、欠陥
が結晶格子を通って伝搬するのを防ぐことができる。
プレイコンポーネントの構造である。
ある。
より行なう、けい光体層のドーピングを詳細に示す図で
ある。
成長させて、基材上に堆積させた層構造である。
を示すグラフである。
造の、明度と励起電圧との関係を示すグラフである。
示すグラフである。
を示すグラフである。
Claims (18)
- 【請求項1】 重ね合わせたホストマトリクス材料層
(7) 及び前記ホストマトリクス材料層同士の間に交
互に配置した活性剤含有ドーピング層(8)からなり従
って少なくとも2つの前記ホストマトリクス材料層(7
) 及び少なくとも1つの活性剤含有ドーピング層(8
) があるエレクトロルミネセントコンポーネントのけ
い光体層(4) であって、前記活性剤含有ドーピング
層(8) の厚さが最大10nmであり、そのために活
性剤含有ドーピング層が前記ホストマトリクス材料層(
7) の結晶構造成長を妨害しないように十分に薄いこ
とを特徴とするけい光体層(4) 。 - 【請求項2】 前記活性剤含有ドーピング層(8)
が実際の活性剤層(10)からなり、そのため少なくと
も1つの前記実際の活性剤層(10)があることを特徴
とする請求項1記載のけい光体層(4) 。 - 【請求項3】 前記活性剤含有ドーピング層(8)
が重ね合わせた調和層(9)及び実際の活性剤層(10
)からなり、それにより少なくとも1つの前記調和層(
9)及び少なくとも1つの前記実際の活性剤層(10)
があることを特徴とする請求項1記載のけい光体層(4
) 。 - 【請求項4】 前記実際の活性剤層(9) の厚さが
最大5nm、好ましくは1nmであることを特徴とする
請求項2又は3記載のけい光体層(4) 。 - 【請求項5】 前記調和層(9) の厚さが最大5n
m、好ましくは0.5 乃至1nmであることを特徴と
する請求項3記載のけい光体層(4) 。 - 【請求項6】 前記層が少なくとも2つの異なった種
類の活性剤を含むことを特徴とする請求項1記載のけい
光体層(4) 。 - 【請求項7】 前記層が、異なった種類の活性剤を含
む少なくとも2つの前記活性剤含有ドーピング層(8)
からなることを特徴とする請求項1記載のけい光体層
(4) 。 - 【請求項8】 前記層が少なくとも2つの異なった種
類の活性剤を含むことを特徴とする請求項1記載のけい
光体層(4) 。 - 【請求項9】 前記ホストマトリクス材料層(7)
が、II−VI 化合物、好ましくは硫化亜鉛(ZnS
) 又は例えばセレン化亜鉛(ZnSe)、硫化カドミ
ウム(CdS) 又はアルカリ土類金属のカルコゲン化
物、例えば硫化カルシウム(CaS) 、硫化ストロン
チウム(SrS) 又はZnS1−xSe又はCa1−
xSrxS のようなそれらの物質の混合化合物である
ことを特徴とする請求項1記載のけい光体層(4) 。 - 【請求項10】 前記ホストマトリクス材料層(7)
が、セリウムでドーピングした硫化ストロンチウム(
SrS:Ce)、マンガンでドーピングした硫化亜鉛(
ZnS:Mn)又はユーロピウムでドーピングした硫化
カルシウム(CaS:Eu)であることを特徴とする請
求項1記載のけい光体層(4) 。 - 【請求項11】 前記活性剤含有ドーピング層(8)
が、活性剤としてマンガン(Mn)または希土類元素
、例えばセリウム(Ce)、サマリウム(Sm)、ユー
ロピウム(Eu)、プラセオジム(Pr)、テルビウム
(Tb)又はツリウム(Tm)を含むことを特徴とする
請求項1記載のけい光体層(4) 。 - 【請求項12】 前記実際の活性剤層(10)が、前
記活性剤でドーピングしたZnS 、ZnSe又はCd
S のようなII−VI 化合物、あるいはMgS 、
CaO 、CaS 、SrS 又はBaS のようなア
ルカリ土類金属のカルコゲン化物であることを特徴とす
る請求項11記載のけい光体層(4) 。 - 【請求項13】 前記実際の活性剤層(10)が本質
的に、前記活性剤でドーピングした、Lnが例えばSc
、Y 又はGdでよい希土類元素の酸化物Ln2O3
、Lnが例えばY 又はLaである希土類元素の硫化物
Ln2S3 、又はLnが例えばY 、La又はGdで
ある希土類元素のオキシ硫化物Ln2O2Sであること
を特徴とする請求項11記載のけい光体層(4) 。 - 【請求項14】 前記実際の活性剤層(10)が本質
的に、前記活性剤でドーピングした、M が例えばZn
, Ca, Sr, またはBaであり、LnがY,
La, Gd 又はCeである、アルミン酸塩(M,
Ln)AlOx 又はガリウム酸塩(M, Ln)Ga
Ox であることを特徴とする請求項11記載のけい光
体層(4) 。 - 【請求項15】 前記実際の活性剤層(10)が本質
的に、前記活性剤でドーピングした、M が例えば C
a, Sr 又はBaであり、LnがY, La, G
d 又はCeであり、XがF, Cl 又はBrである
、ハロゲン化物MX2 又はLnX3又はオキシハロゲ
ン化物LnOXであることを特徴とする請求項11記載
のけい光体層(4) 。 - 【請求項16】 前記調和層(9) が金属硫化物、
例えば硫化アルミニウム(Al2S3) 、硫化カルシ
ウム(CaS) 又は亜鉛アルミニウムスピネル(Zn
Al2S4) であることを特徴とする請求項3記載の
けい光体層(4) 。 - 【請求項17】 前記調和層(9) が、部分的に置
換したホストマトリクス材料プロパー(proper)
からなる混合材料であり、前記ホストマトリクス材料プ
ロパー及び置換基が例えば硫化亜鉛及びカルシウム(Z
n1−xCaxS) 、硫化亜鉛及びカドミウム(Zn
1−xCdxS) 又は硫化亜鉛及びセレン(ZnS1
−xSex) であることを特徴とする請求項3記載の
けい光体層(4) 。 - 【請求項18】 前記けい光体層(4) の前記層(
7, 8, 9, 10) が、例えば原子層エピタキ
シー又は分子線エピタキシー法を使用して得られるよう
な原子層で堆積していることを特徴とする請求項1乃至
17のいずれか1に記載のけい光体層(4) 。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI903633 | 1990-07-18 | ||
FI903633A FI84960C (fi) | 1990-07-18 | 1990-07-18 | Lysaemnesskikt foer elektroluminescensdisplay. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04229989A true JPH04229989A (ja) | 1992-08-19 |
JP2812585B2 JP2812585B2 (ja) | 1998-10-22 |
Family
ID=8530819
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3176531A Expired - Lifetime JP2812585B2 (ja) | 1990-07-18 | 1991-07-17 | エレクトロルミネセントディスプレイコンポーネントのけい光体層 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5314759A (ja) |
JP (1) | JP2812585B2 (ja) |
DE (1) | DE4123230B4 (ja) |
FI (1) | FI84960C (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08506449A (ja) * | 1993-05-26 | 1996-07-09 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | ガス充填形過電圧避雷器 |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9317408D0 (en) * | 1993-08-20 | 1993-10-06 | Ultra Silicon Techn Uk Ltd | Ac thin film electroluminescent device |
JPH07335382A (ja) * | 1994-06-14 | 1995-12-22 | Sharp Corp | 薄膜el素子 |
DE4435016A1 (de) * | 1994-09-23 | 1996-03-28 | Hertz Inst Heinrich | Elektrolumineszenzdisplay mit einem Blau/Grün-Strahler, Verfahren zu dessen Herstellung und Vorrichtungen zur Verfahrensdurchführung |
US5796120A (en) * | 1995-12-28 | 1998-08-18 | Georgia Tech Research Corporation | Tunnel thin film electroluminescent device |
KR100265859B1 (ko) * | 1996-12-21 | 2000-09-15 | 정선종 | 전계방출 디스플레이용 발광입자 |
US6642650B1 (en) | 1998-11-10 | 2003-11-04 | Agfa-Gevaert | Refusable personal monitoring device |
EP1001277B1 (en) * | 1998-11-10 | 2005-12-07 | Agfa-Gevaert | Reusable personal radiation monitoring device and method for determining radiation quantity monitored with the device |
WO2000057446A1 (en) * | 1999-03-19 | 2000-09-28 | Fed Corporation | High efficiency electrodes for organic light emitting diode devices |
US6771019B1 (en) * | 1999-05-14 | 2004-08-03 | Ifire Technology, Inc. | Electroluminescent laminate with patterned phosphor structure and thick film dielectric with improved dielectric properties |
US6322712B1 (en) * | 1999-09-01 | 2001-11-27 | Micron Technology, Inc. | Buffer layer in flat panel display |
US6570322B1 (en) * | 1999-11-09 | 2003-05-27 | Micron Technology, Inc. | Anode screen for a phosphor display with a plurality of pixel regions defining phosphor layer holes |
FI117979B (fi) * | 2000-04-14 | 2007-05-15 | Asm Int | Menetelmä oksidiohutkalvojen valmistamiseksi |
JP3472236B2 (ja) * | 2000-04-17 | 2003-12-02 | Tdk株式会社 | 蛍光体薄膜とその製造方法およびelパネル |
KR100393046B1 (ko) * | 2000-12-29 | 2003-07-31 | 삼성에스디아이 주식회사 | 형광체 |
FR2820600B1 (fr) * | 2001-02-05 | 2003-05-02 | Amouyal Andre | Procede pour la fabrication d'un film electroluminescent et application d'un tel film |
US6821647B2 (en) * | 2001-04-19 | 2004-11-23 | Tdk Corporation | Phosphor thin film preparation method, and EL panel |
JP2003055651A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-02-26 | Tdk Corp | 蛍光体薄膜およびelパネル |
JP2003238953A (ja) * | 2002-02-13 | 2003-08-27 | Tdk Corp | 蛍光体およびelパネル |
US6876146B2 (en) * | 2002-03-26 | 2005-04-05 | Tdk Corporation | Electroluminescence phosphor multilayer thin film and electroluminescence element |
WO2005055864A1 (ja) * | 2003-12-15 | 2005-06-23 | Showa Yakuhin Kako Co., Ltd. | 口腔用光照射装置 |
US8049408B2 (en) * | 2004-08-10 | 2011-11-01 | Cambridge Display Technology Limited | Light emissive device having electrode comprising a metal and a material which is codepositable with the metal |
FI117728B (fi) * | 2004-12-21 | 2007-01-31 | Planar Systems Oy | Monikerrosmateriaali ja menetelmä sen valmistamiseksi |
WO2007099881A1 (en) * | 2006-03-03 | 2007-09-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting material, light emitting element, light emitting device and electronic device |
WO2007099883A1 (en) * | 2006-03-03 | 2007-09-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting material, light-emitting element, light-emitting device, electronic device, and manufacturing method of light-emitting material |
KR20080110747A (ko) | 2006-03-21 | 2008-12-19 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광소자, 표시장치 및 전자기기 |
US20070278948A1 (en) * | 2006-06-02 | 2007-12-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing method of light-emitting material, light-emitting element, and light-emitting device and electronic device |
WO2008108254A1 (en) * | 2007-03-07 | 2008-09-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting element and light-emitting device |
US20090035946A1 (en) * | 2007-07-31 | 2009-02-05 | Asm International N.V. | In situ deposition of different metal-containing films using cyclopentadienyl metal precursors |
US8383525B2 (en) * | 2008-04-25 | 2013-02-26 | Asm America, Inc. | Plasma-enhanced deposition process for forming a metal oxide thin film and related structures |
TWI596982B (zh) * | 2012-06-21 | 2017-08-21 | 貝尼克公司 | 透明無機式薄膜電激發光顯示元件及用以製造該顯示元件的方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63158792A (ja) * | 1986-12-22 | 1988-07-01 | 日本電気株式会社 | 電界発光素子 |
JPH0451495A (ja) * | 1990-06-18 | 1992-02-19 | Komatsu Ltd | 薄膜el素子 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1571620A (en) * | 1976-10-29 | 1980-07-16 | Secr Defence | Electroluminescent phosphor panels |
JPH0224995A (ja) * | 1988-07-14 | 1990-01-26 | Hitachi Maxell Ltd | エレクトロルミネセンス素子 |
-
1990
- 1990-07-18 FI FI903633A patent/FI84960C/fi active IP Right Grant
-
1991
- 1991-07-09 US US07/727,662 patent/US5314759A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-07-13 DE DE4123230A patent/DE4123230B4/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-07-17 JP JP3176531A patent/JP2812585B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63158792A (ja) * | 1986-12-22 | 1988-07-01 | 日本電気株式会社 | 電界発光素子 |
JPH0451495A (ja) * | 1990-06-18 | 1992-02-19 | Komatsu Ltd | 薄膜el素子 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08506449A (ja) * | 1993-05-26 | 1996-07-09 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | ガス充填形過電圧避雷器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2812585B2 (ja) | 1998-10-22 |
US5314759A (en) | 1994-05-24 |
DE4123230B4 (de) | 2005-05-25 |
FI84960B (fi) | 1991-10-31 |
FI903633A0 (fi) | 1990-07-18 |
DE4123230A1 (de) | 1992-01-23 |
FI84960C (fi) | 1992-02-10 |
FI903633A (fi) | 1991-10-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2812585B2 (ja) | エレクトロルミネセントディスプレイコンポーネントのけい光体層 | |
EP0740490B1 (en) | Thin-film electroluminescent element | |
US6373184B1 (en) | Red phosphor for fluorescent display and preparation method thereof | |
US5677594A (en) | TFEL phosphor having metal overlayer | |
JP2840185B2 (ja) | 蛍光体薄膜とこれを用いた薄膜elパネル | |
US6254805B1 (en) | Oxide based phosphors and processes therefor | |
US6043602A (en) | Alternating current thin film electroluminescent device having blue light emitting alkaline earth phosphor | |
KR20070041775A (ko) | 신규한 결정 구조를 갖는 바륨 티오알루미네이트 형광재 | |
JP2795194B2 (ja) | エレクトロルミネッセンス素子とその製造方法 | |
JP2005520924A (ja) | イットリウム置換バリウムチオアルミネート蛍光体材料 | |
US6072198A (en) | Electroluminescent alkaline-earth sulfide phosphor thin films with multiple coactivator dopants | |
Benalloul et al. | SrGa2S4: RE phosphors for full colour electroluminescent displays | |
CA2352499C (en) | Phosphor multilayer and el panel | |
US6254740B1 (en) | Sputtering method of producing and electroluminescent device with improved blue color purity | |
US5086252A (en) | Thin film electroluminescence device | |
US5612591A (en) | Electroluminescent device | |
KR100502877B1 (ko) | 화상 표시 장치 | |
JP5192854B2 (ja) | 蛍光体及びこれを用いた表示パネル | |
Charreire et al. | Extended X‐ray Absorption Fine Structure Studies of Luminescent Centers in II–VI Thin Films | |
EP0249942A2 (en) | Thin film electroluminescent layer material | |
Tong et al. | Gas source molecular beam epitaxy growth of SrS: Ce for flat panel displays | |
US5892333A (en) | Electroluminescent device and method for producing the same | |
JP4249571B2 (ja) | 蛍光発光装置とその製造方法 | |
JP4249572B2 (ja) | 蛍光発光装置とその製造方法 | |
JP2828019B2 (ja) | エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980708 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080807 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080807 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090807 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090807 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100807 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110807 Year of fee payment: 13 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |