JPH04223203A - カンチレバー型プローブ、これを用いた情報処理装置及び情報処理方法 - Google Patents

カンチレバー型プローブ、これを用いた情報処理装置及び情報処理方法

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JPH04223203A
JPH04223203A JP40667890A JP40667890A JPH04223203A JP H04223203 A JPH04223203 A JP H04223203A JP 40667890 A JP40667890 A JP 40667890A JP 40667890 A JP40667890 A JP 40667890A JP H04223203 A JPH04223203 A JP H04223203A
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JP
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cantilever
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JP40667890A
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English (en)
Inventor
Katsuhiko Shinjo
克彦 新庄
Hiroyasu Nose
博康 能瀬
Takayuki Yagi
隆行 八木
Osamu Takamatsu
修 高松
Toshimitsu Kawase
俊光 川瀬
Yutaka Hirai
裕 平井
Masaru Nakayama
中山 優
Harunori Kawada
河田 春紀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、走査型トンネル顕微鏡
またはその原理を応用した高密度記録再生装置等の走査
型トンネル電流検知装置用のカンチレバー型プローブ、
これを用いた情報処理装置及び情報処理方法に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】近年において、導体の表面原子の電子構
造を直接観測できる走査型トンネル顕微鏡(以下、ST
Mと略す)が開発され(G.Binnig  etal
.Phys.Rev.Lett.49(1982)57
)、単結晶、非晶質を問わず実空間像を著しく高い分解
能(ナノメートル以下)で測定できるようになった。 STMは金属のプローブと導電性物質の間に電圧を加え
て、1nm程度の距離まで近づけるとトンネル電流が流
れることを利用している。この電流は両者の距離変化に
非常に敏感で指数関数的に変化するので、トンネル電流
を一定に保つようにプローブを走査することにより実空
間の表面構造を原子オーダーの分解能で観察することが
できる。STMを用いた解析は導電性材料に限られるが
、導電性材料の表面に薄く形成された絶縁膜の構造解析
にも応用され始めている。更に、係る装置・手段は微小
電流を検知する方法を用いているため、媒体に損傷を与
えずに、かつ低電力で観測できる利点をも有する。また
、大気中での動作も可能であるためSTMの広範囲な応
用が期待されている。
【0003】特に、特開昭63−161552号公報、
特開昭63−161553号公報等に提案されている様
に、高密度な記録再生装置としての実用化が積極的に進
められている。これはSTMと同様のプローフを用いて
、プローブと記録媒体間に印加する電圧を変化させて記
録を行うもので、記録媒体として電圧−電流特性に於い
てメモリ性のあるスイッチング特性を示す材料、例えば
カルコゲン化物類、π電子系有機化合物の薄膜層を用い
ている。再生は、係る記録を行った領域とそうでない領
域のトンネル抵抗の変化により行っている。この記録方
式の記録媒体としては、プローブに印加する電圧により
記録媒体の表面形状が変化するものでも記録再生が可能
である。
【0004】このSTM操作あるいはSTM応用の記録
再生を行う場合、プローブと記録媒体との距離をÅオー
ダーで制御すること、及び記録再生においては媒体上に
2次元に配列した情報を記録再生するために、プローブ
の2次元走査を数10Åオーダーで制御することの2点
が重要である。さらに、記録・再生システムの機能向上
、特に高速化の観点から多数のプローブを同時に駆動す
ること(プローブのマルチ化)が提案されている。つま
り、多数のプローブが配置された面積内で上記の精度で
プローブと媒体の相対位置を3次元的に制御しなければ
ならない。
【0005】従来、この制御には、プローブ側あるいは
媒体側に取りつけた、積層型圧電素子、円筒型圧電素子
等を用いている。しかし、これらの素子は変位量は大き
くとれるものの集積化には適しておらず、マルチプロー
ブ型の記録再生装置に使用するのは不利である。
【0006】この観点からプローブを長さ数100μm
程度のカンチレバー(片持ちばり)上に取りつけ、この
カンチレバーを圧電体で駆動する方法が考えられている
【0007】従来、このカンチレバーの作製法としては
、半導体製造プロセス技術を用い、一つの基板上に微細
な構造を作る加工技術により、圧電体薄膜、金属膜等の
多層構造を有するカンチレバーを作成する方法がある。 (T.R.albrechtet  al.″Micr
ofabrication  of  integra
ted  canning  tunneling  
microscope″;Proceedings  
Fourth  International  Co
nference  on  scanning  t
unneling  microscopy/spec
troscopy  1990)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記カ
ンチレバーは薄膜を積層したもので、厚みは高々10μ
m程度であり可動変位量は大きくとれるものの構造的に
弱いものである。また、カンチレバーという構造体は駆
動時にカンチレバー支持部に応力が集中しやすい。
【0009】依って、STM操作あるいは記録再生装置
において、高速かつ連続的にカンチレバー動作させると
、応力の集中するカンチレバー支持部に疲労が生じ、ク
ラックの発生、圧電体薄膜のリーク等が起こりやすくな
り、長時間の安定した動作を行うことを困難にしていた
。これは、記録再生装置として使用した際、トラッキン
グエラー、読み出しエラー等を引き起こすため、致命的
な欠点となる。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴とするとこ
ろは、第1に、2層の圧電体薄膜の界面及び上下面に、
圧電体薄膜を逆圧電効果により変位させるための駆動用
電極を設けたカンチレバー状変位素子の自由端部に情報
入出力用プローブを有するカンチレバー型プローブであ
って、少なくとも1つの駆動用電極が他の駆動用電極と
長さを異にすることを特徴とするカンチレバー型プロー
ブであり、第2に、2層の圧電体薄膜の界面及び上下面
に、圧電体薄膜を逆圧電効果により変位させるための駆
動用電極を設けたカンチレバー状変位素子の自由端部に
情報入出力プローブを有するカンチレバー型プローブで
あって、少なくとも1つの駆動用電極が、その端部が支
持体の支持部よりも先端側にくるように設けられている
ことを特徴とするカンチレバー型プローブであり、第3
に、2層の圧電体薄膜の界面状及び上下面に、圧電体薄
膜を逆圧電効果により変位させるための駆動用電極を設
けたカンチレバー状変位素子の自由端部に情報入出力プ
ローブを有するカンチレバー型プローブであって、圧電
体薄膜に対する電圧印加部の端部と1つの駆動用電極の
端部がずれていることを特徴とするカンチレバー型プロ
ーブである。
【0011】また第4に、上記第1乃至第3に記載のカ
ンチレバー型プローブ、該変位素子を駆動させるための
駆動手段、該駆動手段を制御するための制御手段、該プ
ローブと試料媒体との間に電圧を印加し、試料媒体表面
を観察する手段を備えたことを特徴とする情報処理装置
であり、第5に、上記第4に記載の情報処理装置が、走
査型トンネル顕微鏡であることを特徴とする情報処理装
置であり、第6に、上記第1乃至第3に記載のカンチレ
バー型プローブ、該変位素子を駆動させるための駆動手
段、該駆動手段を制御するための制御手段、該プローブ
と記録媒体との間に記録用電圧を印加するための記録電
圧印加回路を備えたことを特徴とする情報処理装置であ
り、第7に、上記第1乃至第3に記載のカンチレバー型
プローブ、該変位素子を駆動させるための駆動手段、該
駆動手段を制御するための制御手段、該プローブと記録
媒体との間に再生用電圧を印加するための再生電圧印加
回路を備えたことを特徴とする情報処理装置であり、第
8に、上記第1乃至第3に記載のカンチレバー型プロー
ブ、該変位素子を駆動させるための駆動手段、該駆動手
段を制御するための制御手段、該プローブと記録媒体と
の間に記録用電圧及び再生用電圧を印加するための記録
電圧印加回路及び再生電圧印加回路を備えたことを特徴
とする情報処理装置であり、第9に、前記制御手段が、
記録媒体プローブとの間に流れる電流の検出結果に基づ
き、前記変位素子を変位させるためのバイアス電圧を変
化させ、その信号を変位素子の電極に付与する上記第4
〜第8に記載の情報処理装置であり、第10に、前記記
録媒体が、電気メモリー効果を有する上記第6〜第9に
記載の情報処理装置であり、第11に、前記記録媒体の
記録面が、非電気伝導性である上記第10に記載の情報
処理装置である。
【0012】更に第12に、上記第1乃至第3に記載の
カンチレバー型プローブを導電性試料の表面に近接させ
、試料とプローブの間に電圧を印加することにより試料
とプローブの間に流れるトンネル電流を検知して試料表
面を観察することを特徴とする情報処理方法であり、第
13に、上記第1乃至第3に記載のカンチレバー型プロ
ーブを記録媒体の表面に近接させ、記録媒体とプローブ
の間にパルス電圧を印加することにより記録媒体に情報
の記録を行うことを特徴とする情報処理方法であり、第
14に、上記第1乃至第3に記載のカンチレバー型プロ
ーブを情報が記録された記録媒体の表面に近接させ、記
録媒体とプローブの間にバイアス電圧を印加することに
より記録媒体の情報を読み取ることを特徴とする情報処
理方法であり、第15に、情報第1乃至第3に記載のカ
ンチレバー型プローブを情報が記録された記録媒体の表
面に近接させ、記録媒体とプローブの間にパルス電圧を
印加することにより記録媒体の情報を消去することを特
徴とする情報処理方法である。
【0013】図1に、本発明のカンチレバー型プローブ
の平面図を示す。1はカンチレバー、2は支持体、3は
プローブ、4は駆動用電極を示す。
【0014】本発明の特徴は、駆動時に最も応力が発生
しやすい駆動電極の端部5を、構造的に最も弱いカンチ
レバー支持部6に対し、カンチレバー先端側あるいは支
持体側にずらすことによって実効的な応力を緩和しよう
とすることである。
【0015】この構造により、カンチレバーを構成して
いる材料に作用する応力は減少し、長時間あるいは高速
駆動に適したプローブとなる。
【0016】さらに詳しく述べると、例えば2層の圧電
体を用いたバイモルフカンチレバー型プローブにおいて
、圧電体電界印加部の端部とカンチレバー支持部との位
置をずらす方法としては図4〜図9に示すようなものが
ある。図中101は圧電体、102はシリコン基板、1
03は圧電体駆動用電極、a、bはそれぞれ上部および
下部圧電体の電界印加部の端部、cはカンチレバー支持
部である。図4、図5はa、bのうち一方のみがcと一
致しておらず、図6はaとbが一致しておりこれらがc
と異なるもので、図7〜図9は、a、b、cすべて異な
るものである。応力の緩和耐破壊性を考慮すると図4、
図5のカンチレバーよりも図6のカンチレバーの方が好
ましく、さらに図7〜図9のカンチレバーがより好まし
い。なお、圧電体電界印加部の端部とは、実効的に圧電
体変位に寄与する部分の境界であり、引き出し用電極部
は含まない。
【0017】図10、図11で、圧電体が一層の場合を
用いて説明すると図10で201はSiN等の基体、2
02は駆動用電極(上部)、203はその引き出し部、
204は駆動用電極(下部)、205はその引き出し部
、206はSi等の基板、207は圧電体である。
【0018】図10において、圧電体電界印加部の端部
はeにあたり、斜線部dは含まない。すなわち斜線部d
は圧電体全体の変位に寄与する割合が小さい。図11は
図10を矢印P方向から見た図である。駆動用電極20
2、204はその周辺部でテーパーがついている場合、
エッジは下部電極204ではe1、上部電極202では
e2となり、圧電体電界印加部の端部はこの場合e2(
=e)となる。また、上部カンチレバー型プローブを用
いた記録装置、再生装置、記録再生装置において、情報
書き込み検出方法としては、媒体の表面あるいは内部に
、2次元的に配列された記録ビットを3次元的に可動で
きるプローブで書き込み検出する方法であればどのよう
な方法でもよく、トンネル電流によるもの(STM)、
原子間力によるもの(AFM)、磁気力によるもの(M
FM)等手段を問わない。
【0019】
【実施例】以下本発明を実施例を用いて詳細に説明する
。 <実施例1>図2に本実施例のカンチレバーの断面図を
示す。図3は図2中A−A′での断面図である。図中7
はSi基板、8、16はSiNx層、9〜13は駆動用
電極、14、15は圧電体薄膜、17はプローブ、18
はプローブ用電極である。ここでカンチレバーは、バイ
モルフ構造を有し、さらに、該バイモルフ構造を2分割
することによって、3次元的に駆動可能とした。以下に
、その作製工程を記す。
【0020】まず、Si(100)基板(厚さ0.5μ
m)上に、CVD法によりSi3N4膜を0.15μm
の厚さに成膜した。使用した原料ガスは、SiH2Cl
2:NH3(1:9)であり、基板温度は800℃であ
った。次に、フォトリソグラフィー、CF4ドライエッ
チングにより、Si3N4を所望の形状にパターニング
した。続いて、Cr0.01μm、Au0.09μm成
膜しフォトリソグラフィーおよびウェットエッチングに
よりパターニングした。次に、スパッタ法でAlNを0
.3μm成膜した。ターゲットはAlを用い、Ar+N
2雰囲気でスパッタした。さらにフォトリソグラフィー
とAl用エッチング液によるウェットエッチングでパタ
ーニングした。その後上記の工程をくり返し、結局Si
基板−Au/Cr−AlN−Au/Cr−AlN−Au
/Crのバイモルフ構造を形成した。さらに保護層とし
てアモルファスSiNを0.15μmCVD法により成
膜した。その後、タングステンプローブを蒸着法で作製
した後、KOHによるSiの異方性エッチングを用いて
、Si3N4がついていない部分を除去し、カンチレバ
ーを作製した。最後に、Wプローブ側をPtコーティン
グし、カンチレバー型プローブを作製した。
【0021】カンチレバーの寸法は700μm×230
μmで、図2中上部および下部の駆動電極9、10、1
2、13の端部19とカンチレバー支持部20との水平
距離d=120μmであった。また作製直後の共振周波
数は3.3KHz、1V印加時にカンチレバーの先端は
1.8μm変位した。次に、圧電体に振幅3V、1KH
zの正弦波を24時間連続で印加した後、再び共振周波
数および変位量測定したところ、共振周波数3.3KH
z、1V印加時の変位量は1.75μmとなった。
【0022】上記カンチレバーとの比較のために、d=
0のカンチレバーにおいても同様の試験を行ったところ
、共振周波数、変位量は、3V正弦波印加時の前後で、
それぞれ3.4KHz→3.7KHz、1.9μm→1
.8μmとなった。これは、d=0の場合、カンチレバ
ー支持部がダメージを受け固定端の条件からやや単純支
持端の条件の移行したことを示す。本発明では共振周波
数の変化はみられず、カンチレバー支持部はダメージを
受けていないことがわかった。
【0023】尚本発明において好ましいdの大きさは、
カンチレバーの全長をl、厚みをmとしたとき、3m<
d<l/5の関係を満足するものが好適である。 <実施例2>実施例1において、d=−300μmつま
り、駆動用電極の端が支持体の方にずれているものを作
製した。このカンチレバー型プローブを、実施例1と同
様の方法で試験したところ、共振周波数は、試験の前後
で変化しなかった。このことは、カンチレバー支持部が
圧電体駆動によってダメージを受けなかったことを意味
する。 <実施例3>実施例1と同様の寸法で構成が図7のタイ
プのものを作製した。図7中、aとcの間隔は120μ
m、dとcの間隔は200μmであった。このカンチレ
バー型プローブを実施例1と同様の方法で試験したとこ
ろ先端の変位量、共振周波数は1.6μm/V、3.3
KHzで、試験の前後で変化しなかった。このことは、
カンチレバー支持部が、圧電体駆動によりダメージを受
けなかったことを意味する。 <実施例4>次に本発明のカンチレバー型プローブを用
いた情報処理装置の第1の態様である走査型トンネル顕
微鏡の説明を行う。
【0024】図12は、本発明の走査型トンネル顕微鏡
の概略図である。
【0025】301は実施例1で用いた本発明のカンチ
レバー型プローブ302を形成したシリコン基板、30
5はシリコン基板301をZ方向に駆動する粗動用圧電
素子、315は粗動用圧電素子305及びカンチレバー
型プローブ302を試料表面に接近させる接近機構、3
03は表面観察する導電性の試料で、304は試料30
3はXY方向に微動するXY微動機構である。
【0026】本発明の走査型トンネル顕微鏡の動作を以
下に説明する。
【0027】接近機構315は、Z方向の移動ステージ
からなり、手動又はモーターにより、カンチレバー型プ
ローブ302のプローブが試料303の表面に粗動用圧
電素子305のストローク内に入るように接近させる。
【0028】その際、顕微鏡等を用いて、目視により接
近の程度をモニターするか、もしくはカンチレバー型プ
ローブ302にサーボをかけた状態でモーターにより自
動送りを行い、プローブと試料間にトンネル電流が流れ
るのを検出した時点で接近を停止する。
【0029】試料303の観察時には、バイアス回路3
06によりバイアス電圧をかけられた試料303とプロ
ーブに間に流れるトンネル電流をトンネル電流検出回路
307により検出し、Z方向サーボ回路310を通して
プローブと試料表面の平均距離が一定となるようにカン
チレバー型プローブ302をZ方向に制御している。
【0030】その状態でカンチレバー型プローブ302
をXY位置制御回路309でXY方向に走査することに
より試料表面の微小な凹凸により変化したトンネル電流
が検出され、それを制御回路312に取り込み、XY走
査信号に同期して処理すればコンスタントハイトモード
のSTM像が得られる。
【0031】STM像は、画像処理、例えば2次元FF
Tなどの処理をしてディスプレイ314に表示される。
【0032】その際、カンチレバー型プローブ302の
Z方向のストロークが小さいので、装置の温度ドリフト
、試料303の表面の凹凸、傾きが大きいと追従できな
くなるため、粗動用圧電素子305を用いてトンネル電
流検出回路307の信号をZ方向粗動駆動回路311を
通して、0.01〜0.1Hz程度の帯域のフィードバ
ックを行い、Z方向の大きな動きに追従するように制御
している。
【0033】又観察場所を変えるときは、試料側のXY
微動機構304をXY微動駆動回路313によりXY方
向に移動させ、所望の領域にプローブがくるようにして
観察を行う。
【0034】本発明の走査型トンネル顕微鏡を用いるこ
とにより、試料観察を正確にしかも安定して行うことが
可能になった。 <実施例5>実施例1の方法により作製したカンチレバ
ー型プローブを用い2組立てた本発明の情報処理装置の
第2の態様である記録再生装置のブロック図を図13に
示す。図中29は出力信号波形、31は入力信号波形で
ある。
【0035】記録媒体22は、ガラス基板23上にAu
を蒸着し、さらにその上部にポリイミドLB膜を4層(
約15Å)成膜したものを用いた。
【0036】上述の構成において、プローブ21と記録
媒体の下地のAu電極との間に図14に示すパルスを印
加することにより記録媒体の抵抗率が2ケタ程度変化し
、この状態が保持されることによって情報を記録するこ
とができた。なお、その領域の大きさは約100Å×1
00Åと非常に小さく、超高密度の記録を行うことがで
きた。続いて記録の時と同一のプローブを用いて該プロ
ーブと上記Au電極との間に0.1Vのバイアス電圧を
印加し、プローブ−電極間のトンネル電流の変化を読み
とることにより、記録媒体上で、抵抗率の異なる部分を
検出することができ、同一プローブで記録情報の書き込
み、読み出しを行えることが確認できた。
【0037】また100Kbpsのスピードで3時間連
続再生させた後、再び1時間再生した場合においてもト
ラッキングエラー、再生エラーは発生しなかった。さら
にプローブは情報消去にも用いることができる。つまり
、プローブと記録媒体の下地電極との間に図15に示す
パルスを印加することにより、記録されていた情報を消
去することができる。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように、駆動電極の端部と
カンチレバーの支持部をずらすことにより、長時間安定
して高速駆動が可能となる。記録再生装置においては、
アクセスタイムを短縮することができ、大容量かつ高速
な記録再生装置となる。
【0039】また、構造的に強固なプローブを作ること
ができるので、カンチレバーの厚みを薄くすることが可
能で同一変位量を達成すためのカンチレバーの寸法が小
さくなり、集積化に好適となる。また記録再生装置とし
て本発明のカンチレバー型プローブを用いる際、記録媒
体として電気メモリー効果を有するものを用いると同一
プローブで書き込み、読み出し、消去が行え、小型かつ
大容量かつ安定性の高い記録再生装置となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のカンチレバー型プローブの平面図であ
る。
【図2】図1のカンチレバー型プローブの縦断面図であ
る。
【図3】図2のカンチレバー型プローブのA−A′横断
面図である。
【図4】本発明のカンチレバー型プローブの1態様を示
す図である。
【図5】本発明のカンチレバー型プローブの1態様を示
す図である。
【図6】本発明のカンチレバー型プローブの1態様を示
す図である。
【図7】本発明のカンチレバー型プローブの1態様を示
す図である。
【図8】本発明のカンチレバー型プローブの1態様を示
す図である。
【図9】本発明のカンチレバー型プローブの1態様を示
す図である。
【図10】カンチレバー型プローブにおける圧電体の電
界印加部を説明する平面図である。
【図11】図10の縦断面図である。
【図12】本発明の走査型トンネル顕微鏡を示すブロッ
ク図である。
【図13】本発明の記録再生装置を示すブロック図であ
る。
【図14】情報書き込み時に印加するパルスを示す図で
ある。
【図15】情報消去時に印加するパルスを示す図である
【符号の説明】
1  カンチレバー 2  支持体 3  プローブ 4  駆動用電極の位置 5  駆動電極の端部 6  カンチレバー支持部 7  Si基板 8、16  SiNx層 9、10、11、12、13  駆動用電極14、15
  圧電体薄膜 17  プローブ 18  プローブ用電極 19  駆動用電極の端部 20  カンチレバー支持部 21  プローブ 22  記録媒体 23  基板 24  プローブ電流増幅器 25  Z方向サーボ回路 26  カンチレバー 27  XY粗動機構 28  再生信号復調回路 29  出力信号波形 30  パルス電圧回路 31  入力信号波形 101  圧電体 102  Si基板 103  圧電体駆動用電極 201  基体 202、204  駆動用電極 203、205  引き出し部 206  基板 207  圧電体

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  2層の圧電体薄膜の界面及び上下面に
    、圧電体薄膜を逆圧電体効果により変位させるための駆
    動用電極を設けたカンチレバー状変位素子の自由端部に
    情報入出力プローブを有するカンチレバー型プローブで
    あって、少なくとも1つの駆動用電極が他の駆動用電極
    と長さを異にすることを特徴とするカンチレバー型プロ
    ーブ。
  2. 【請求項2】  2層の圧電体薄膜の界面及び上下面に
    圧電体薄膜を逆圧電効果により変位させるための駆動用
    電極を設けたカンチレバー状変位素子の自由端部に情報
    入出力用プローブを有するカンチレバー型プローブであ
    って、少なくとも1つの駆動用電極が、その端部が支持
    体の支持部よりも先端側にくるように設けられているこ
    とを特徴とするカンチレバー型プローブ。
  3. 【請求項3】  2層の圧電体薄膜の界面及び上下面に
    圧電体薄膜を逆圧電効果により変位させるための駆動用
    電極を設けたカンチレバー状変位素子の自由端部に情報
    入出力用プローブを有するカンチレバー型プローブであ
    って、圧電体薄膜に対する電圧印加部の端部と1つの駆
    動用電極の端部がずれていることを特徴とするカンチレ
    バー型プローブ。
  4. 【請求項4】  請求項1乃至3に記載のカンチレバー
    型プローブ、該変位素子を駆動させるための駆動手段、
    該駆動手段を制御するための制御手段、該プローブと試
    料媒体との間に電圧を印加し、試料媒体表面を観察する
    手段を備えたことを特徴とする情報処理装置。
  5. 【請求項5】  請求項4に記載の情報処理装置が、走
    査型トンネル顕微鏡であることを特徴とする情報処理装
    置。
  6. 【請求項6】  請求項1乃至3に記載のカンチレバー
    型プローブ、該変位素子を駆動させるための駆動手段、
    該駆動手段を制御するための制御手段、該プローブと記
    録媒体との間に記録用電圧を印加するための記録電圧印
    加回路を備えたことを特徴とする情報処理装置。
  7. 【請求項7】  請求項1乃至3に記載のカンチレバー
    型プローブ、該変位素子を駆動させるための駆動手段、
    該駆動手段を制御するための制御手段、該プローブと記
    録媒体との間に再生用電圧を印加するための再生電圧印
    加回路を備えたことを特徴とする情報処理装置。
  8. 【請求項8】  請求項1乃至3に記載のカンチレバー
    型プローブ、該変位素子を駆動させるための駆動手段、
    該駆動手段を制御するための制御手段、該プローブと記
    録媒体との間に記録用電圧及び再生用電圧を印加するた
    めの記録電圧印加回路及び再生電圧印加回路を備えたこ
    とを特徴とする情報処理装置。
  9. 【請求項9】  前記制御手段が、記録媒体とプローブ
    との間に流れる電流の検出結果に基づき、前記変位素子
    を変位させるためのバイアス電圧を変化させ、その信号
    を変位素子の電極に付与する請求項4〜8に記載の情報
    処理装置。
  10. 【請求項10】  前記記録媒体が、電気メモリー効果
    を有する請求項6〜9に記載の情報処理装置。
  11. 【請求項11】  前記記録媒体の記録面が、非電気伝
    導性である請求項10に記載の情報処理装置。
  12. 【請求項12】  請求項1乃至3に記載のカンチレバ
    ー型プローブを導電性試料の表面に近接させ、試料とプ
    ローブの間に電圧を印加することにより試料とプローブ
    の間に流れるトンネル電流を検知して試料表面を観察す
    ることを特徴とする情報処理方法。
  13. 【請求項13】  請求項1乃至3に記載のカンチレバ
    ー型プローブを記録媒体の表面に近接させ、記録媒体と
    プローブの間にパルス電圧を印加することにより記録媒
    体に情報の記録を行うことを特徴とする情報処理方法。
  14. 【請求項14】  請求項1乃至3に記載のカンチレバ
    ー型プローブを情報が記録させた記録媒体の表面に近接
    させ、記録媒体とプローブの間にバイアス電圧を印加す
    ることにより記録媒体の情報を読み取ることを特徴とす
    る情報処理方法。
  15. 【請求項15】  請求項1乃至3に記載のカンチレバ
    ー型プローブを情報が記録させた記録媒体の表面に近接
    させ、記録媒体とプローブの間にパルス電圧を印加する
    ことにより記録媒体の情報を消去することを特徴とする
    情報処理方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100451435B1 (ko) * 2001-12-27 2004-10-06 학교법인 포항공과대학교 고종횡비 팁을 갖는 압전 캔티레버 및 그 제조 방법

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