JPH04211521A - ディジタル−アナログ変換器 - Google Patents

ディジタル−アナログ変換器

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JPH04211521A
JPH04211521A JP3044535A JP4453591A JPH04211521A JP H04211521 A JPH04211521 A JP H04211521A JP 3044535 A JP3044535 A JP 3044535A JP 4453591 A JP4453591 A JP 4453591A JP H04211521 A JPH04211521 A JP H04211521A
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circuit
signal
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terminal
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Marcellinus J M Pelgrom
マルセリヌス ヨハネス マリア ペルフロム
Der Veen Martien Van
マルティーン ファン デル フェーン
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    • H03M1/66Digital/analogue converters
    • HELECTRICITY
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    • H03M1/765Simultaneous conversion using switching tree using a single level of switches which are controlled by unary decoded digital signals

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタル入力信号を
アナログ出力信号に変換する変換器であって、・ディジ
タル入力信号接続用のディジタル入力端子及びアナログ
出力信号を取り出し得るアナログ出力端子と、・ノード
点で相互接続された抵抗素子の直列回路から成り、この
直列回路の両端に基準電圧の接続端子を有する基準分圧
器と、 ・選択信号に応答して前記ノード点の1つを前記アナロ
グ出力端子に結合する回路であって、各別のノード点に
結合された第1主電極、前記アナログ出力端子に結合さ
れた第2主電極及び各別の選択信号に結合された制御電
極を有するスイッチングトランジスタを具えた選択回路
と、 ・ディジタル入力信号に応答して選択信号を活性化する
デコーダ回路と、を具えたディジタル−アナログ変換器
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】このようなディジタル−アナログ(D/
A)変換器は型式名PNA7518として既知であり、
既知の並列選択システムに従って動作する。このD/A
変換器では、基準分圧器は基準電圧を複数の等しいステ
ップ電圧に分圧し、これら電圧をノード点に発生させ、
これらノード点をスイッチングトランジスタによりアナ
ログ出力端子に接続する。ディジタル入力信号に応答し
てデコーダ回路がこれらスイッチングトランジスタの1
つを駆動し、その結果としてアナログ出力信号の値が関
連するノード点の電圧に対応するようにしている。
【0003】このタイプのD/A変換器は常に1つのス
イッチングトランジスタを駆動させるだけでよいから構
成が簡単である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、アナログ信号
出力端子における寄生容量を充電する充電回路の信号レ
ベル依存RC時定数の結果としての信号歪みにより及び
更にスイッチングトランジスタのターンオン及びオフに
より生ずるスイッチング雑音並びに寄生容量の充電時の
電流サージによりアナログ出力信号の信号品質が低下す
る。その信号品質低下はこの従来のD/A変換器の実効
ビット分解能及び/又は処理速度を制限する。
【0005】寄生容量は常に基準分圧器の選択されたノ
ード点の位置に依存する実効値を有する直列抵抗を経て
種々のアナログ信号電圧に充電又は放電させるので、ア
ナログ出力端子の電圧がその値を変化し得る速度は全て
の信号レベルに対し同一にならない。従って、アナログ
出力信号内の特性階段状雑音信号はアナログ出力信号の
有用帯域内に位置する周波数を有する成分を含み、これ
ら成分は慣例の低域通過フィルタにより除去することは
できない。これらの成分はアナログ出力信号の歪みとし
て現われ、この歪みはビット分解能の増大につれ又はこ
のタイプのD/A変換器の処理速度の増大につれて増大
する。
【0006】充電回路の信号レベル依存直列抵抗値の第
1の原因は基準分圧器のノード点ごとに実効出力抵抗値
が変化することにある。出力抵抗値は基準分圧器の中心
点で最大であり、その両端で最小である。第2の原因は
スイッチングトランジスタの第1及び第2主電極間の順
方向抵抗値が変化することにある。全てのスイッチング
トランジスタの制御電極への選択信号は同一の値である
。しかし、これらスイッチングトランジスタの順方向抵
抗値を決定する制御電極と第1主電極との間の電圧は、
それらの第1主電極が基準分圧器のそれぞれ異なるタッ
プに接続されるために変化する。
【0007】本発明の目的はアナログ出力信号の信号品
質を改善し、上述した従来のタイプのD/A変換器をも
っと高いビット分解能及び/又は処理速度に一層適する
ようにすることにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は頭書に記載した
タイプのD/A変換器において、更に、・ノード点で相
互接続した抵抗素子の直列回路から成り、この直列回路
の両端にバイアス電圧の接続端子を有するバイアス分圧
器にバイアス電圧の接続端子を有するバイアス分圧器と
、・各々入力端子、出力端子及び電源端子を有し、入力
信号レベルを電源端子に接続された電圧に応じた異なる
出力信号レベルにシフトさせる複数のシフト段を具え、
それらの入力端子を前記各別の選択信号にそれぞれ接続
し、それらの出力端子を各別の選択信号に対応するスイ
ッチングトランジスタの制御電極にそれぞれ接続し、そ
れらの電源端子を前記バイアス分圧器のノード点にそれ
ぞれ接続して成るレベルシフト回路と、を具えたことを
特徴とする。
【0009】各シフト段はデコーダ回路の出力の選択信
号の振幅をこのシフト段が給電されるバイアス分圧器の
ノード点の電圧により決まる振幅を有する信号に変換す
る。これにより各スイッチングトランジスタの制御電極
と第1主電極との間の実効電圧の変化が小さくなるため
、第1及び第2主電極間の順方向抵抗の変化も小さくな
る。この効果は、シフト段をグループにしてバイアス分
圧器の同一のノード点に接続しても得ることができる。 しかし、スイッチングトランジスタの順方向抵抗値の変
化を最低にするために、本発明のD/A変換器の一実施
例ではバイアス分圧器の抵抗直列回路は基準分圧器の抵
抗直列回路と同数のノード点を有するものとする。
【0010】シフト段はいくつかの方法で実現すること
ができる。本発明のD/A変換器の第1の実施例では、
各シフト段は第1及び第2主電極を当該シフト段の出力
端子及び電源端子にそれぞれ接続し、制御電極を当該シ
フト段の入力端子に接続して成るトランジスタを具える
ものとする。
【0011】本発明のD/A変換器の第2の実施例では
、各シフト段は論理入力端子が当該シフト段の入力端子
に、論理出力端子が当該シフト段の出力端子に、電源端
子が当該シフト段の電源端子に接続された論理ゲート回
路の形態にする。論理ゲート回路はアクティブな高及び
低出力電圧を有する好適な回路素子であるため、非選択
スイッチングトランジスタの制御電極がフローティング
になることはなく、また他の選択信号からのクロストー
クにより誤って駆動されることもない。
【0012】論理ゲート回路の出力信号の振幅はその電
源電圧により決まる。このように論理ゲート回路をバイ
アス分圧器のノード点から給電すると、入来選択信号の
信号振幅をノード点の電圧とともに変化する出力選択信
号の信号振幅に変換することができる。
【0013】本発明のD/A変換器の第3の実施例では
、前記基準分圧器の抵抗直列回路のそれぞれ同数の順次
の抵抗素子の直列回路部分をグループにして配置し、各
グループ内のスイッチングトランジスタの第2主電極を
グループバスバーを経てアナログ出力端子に結合し、前
記デコーダ回路はそれぞれ行選択信号及び列選択信号を
活性化する行デコーダ及び列デコーダを含み、且つ前記
論理ゲート回路には前記シフト段の別の入力端子に接続
された別の論理入力端子を設け、各グループ内の論理ゲ
ート回路の第1入力端子の全てを行選択信号の1つに接
続し、それらの別の入力端子を各別の列選択信号に接続
した構成にする。このD/A変換器はディジタル入力信
号の行及び列デコード手段を具えたマトリクスとして構
成し、スイッチングトランジスタをグループにしてグル
ープバスバーに接続する。その結果として選択信号の数
が著しく減少する。これによりアナログ出力信号内のス
イッチング雑音が減少し、その結果として信号品質が向
上する。
【0014】本発明のD/A変換器の第4の実施例では
、前記直列回路部分と並列に並列抵抗素子を配置する。 これら並列抵抗素子は基準分圧器のインピーダンスレベ
ルを低減すると共に基準分圧器のノード点の実効出力イ
ンピーダンスの変化を低減する。更に、この場合には基
準分圧器を予め決められた出力抵抗値を越えることなく
集積化に好適な抵抗値で実現することがてきる追加の利
点が得られる。
【0015】本発明のD/A変換器の第5の実施例ては
、前記グループバスバーを当該グループと関連する行選
択信号が活性化される時にグループスイッチを経てアナ
ログ出力端子に接続するようにする。これらグループス
イッチは非選択グループをアナログ出力端子から切り離
すため、この出力端子における寄生容量が小さくなる。 この場合、寄生容量を充電する電流サージがこれに応じ
て小さくなるため、アナログ出力信号内のスイッチング
雑音が減少する。更に、RC時定数の変化の影響がかな
り小さくなる。
【0016】本発明のD/A変換器の第6の実施例では
、前記各グループは、当該グループと関連する行選択信
号が不活性の間、そのグループバスバーを固定電位点に
接続するホールドスイッチを更に具えるものとする。 ホールドスイッチは非選択グループのグループバスバー
を固定電位に接続する。この固定電位は関連するグルー
プの抵抗直列回路部分の中点の電位に等しくするのが好
ましい。これによりバスバー電位が不所望に大きくずれ
た電圧にドリフトするのが阻止され、従って大きくずれ
た電圧をそのグループの選択時にふたたび等しくする必
要がなくなり、従ってこれに伴うスイッチング雑音が除
去される。
【0017】本発明のD/A変換器の他の実施例によれ
ば、RC時定数の変化を更に低減することができ、この
実施例では前記グループバスバーをノード点で相互接続
した抵抗素子のアレーとして設計し、そのグループのス
イッチングトランジスタの第2主電極をこれらノード点
に接続する。バスバー内の抵抗素子は基準分圧器のノー
ド点における出力インピーダンス変化を補償する。
【0018】スイッチングトランジスタの第1及び第2
主電極間の順方向抵抗値はトランジスタのしきい値電圧
にも依存する。本発明D/A変換器の更に他の例では、
スイッチングトランジスタの基板端子を基準分圧器のノ
ード点に接続する。基板に制御電極及び第1主電極に対
し変化する電圧を供給すると、スイッチングトランジス
タのしきい値電圧が良好な程度に互いに等しくなり、順
方向抵抗値の変化が小さくなる。
【0019】図面につき本発明を説明する。図1は本願
人が型式名PNA7518として市販しているタイプの
従来既知のディジタル−アナログ(D/A)変換器を示
す。このD/A変換器は直列配置の抵抗アレーから成る
抵抗ラダー回路網10を具え、図1にはそのうちの抵抗
R10,R11, R12及びR13 を示してある。 抵抗ラダー回路網の両端11及び12は動作中高電圧V
1と低電圧V2にそれぞれ接続される。この基準分圧器
のノード点を複数のCMOSトランジスタから成る選択
回路30に接続し、各トランジスタを基準分圧器10の
各ノード点とバスバー31との間に接続し、バスバー3
1を出力端子32に接続し、この出力端子に出力電圧 
VOUT が得られる。図1には選択回路のCMOSト
ランジスタT10, T11,T12 及びT13 を
示してある。
【0020】更に、このD/A変換器はデコーダ回路2
0を具え、このデコーダ回路は入力端子21に供給され
るnビット入力信号をデコードしてデコーダ回路20の
2n 個の出力端子22の1つに1ビット信号を供給す
る。デコーダ回路20の各出力端子を選択回路30内の
CMOSトランジスタのそれぞれのゲートに接続する。 図1にはデコーダ回路20とトランジスタT10, T
11, T12, T13との間の接続を示してある。
【0021】動作中、予め決められた電圧V1及びV2
が基準分圧器の両端に供給されると共にディジタル入力
信号が入力端子21に供給される。このディジタル入力
信号はデコーダ回路20により出力端子22の1つに対
応する単一信号に変換される。この信号が選択回路内の
CMOSトランジスタの1つを導通させる。この結果、
このCMOSトランジスタが接続されたノード点の電圧
がバスバー31に転送され、D/A変換器の出力端子3
2に出力電圧 VOUT として現われる。
【0022】デコーダ回路20は出力端子22の各々か
ら等しいレベルの制御電圧を供給するものとすると、選
択回路内のトランジスタT10, −−−− T13 
の各々は異なるゲート−ソース電圧 Vgsで動作し、
この Vgsは関連するCMOSトランジスタが接続さ
れるノード点に依存すること明らかである。この Vg
sの変化はCMOSトランジスタの順方向抵抗値の変化
を生じるため、出力端子32の寄生容量を充電又は放電
する抵抗値が変換すべき瞬時信号レベルに依存すること
になる。このためアナログ出力端子の電圧がその値を変
化し得る速度が全ての信号レベルに対し同一にならない
。従って、アナログ出力信号内の特性階段状雑音信号は
アナログ出力信号の有用帯域内に含まれる周波数成分を
含み、これら成分は慣例の低域通過フィルタにより除去
することはできない。これら成分はアナログ出力信号の
歪みとして現われ、この歪みはこのタイプのD/A変換
器のビット分解能の増大又は処理速度の増大につれて増
大する。
【0023】
【実施例】図2は上述した欠点を除去もしくは少なくと
も相当程度軽減した本発明によるD/A変換器の回路配
置の一実施例を示す。図1に示す素子に対応する素子に
は図2でも同一の参照符号を付してある。
【0024】図1に示した素子に加えて、図2の回路配
置はバイアス分圧器40を具え、この分圧器の抵抗R2
0, R21, R22, R23を図2に示してある
。このバイアス分圧器の両端41及び42を動作中電圧
V3及びV4に接続する。バイアス分圧器40のノード
点をレベルシフト回路50の一部を構成する半導体スイ
ッチング素子に接続する。これら半導体スイッチング素
子は図2に示すようにCMOSトランジスタで構成する
ことができるが、異なる素子で構成することもできる。 このレベルシフト回路50のトランジスタT20, T
21, T22 及びT23 を図2に示してある。
【0025】図1と相違して、デコーダ回路20の出力
端子22を選択回路30のトランジスタのゲート端子に
接続しないで、レベルシフト回路50のトランジスタの
ゲート端子に接続する。レベルシフト回路50のトラン
ジスタのソース端子を選択回路30のトランジスタのゲ
ート端子に接続する。このレベルシフト回路50のソー
ス端子と選択回路30のゲート端子との接続は、レベル
シフト回路50内の順次のトランジスタT20, ──
T23 のソースをこの順序で選択回路30の順次のト
ランジスタT10,───T13 のゲート端子に接続
するようにする。選択回路30の非選択トランジスタの
ゲートがフローティングになるのを阻止するために、選
択回路30の全てのゲートを接地抵抗R30, R31
, R32, R33 (又は異なる適当な電位に接続
された抵抗) に接続する。
【0026】バイアス分圧器の抵抗の数を基準分圧器の
抵抗の数に等しく選択すると共に、それらの抵抗比を等
しく選択すると、種々の電圧V1, ──V4を適切に
選択してトランジスタT10,───T13 のゲート
端子の各々に予め決めた異なる電圧を供給することがで
きる。トランジスタT10,───T13 の各々に対
し、この電圧はこれらの各トランジスタのソース−ゲー
ト電圧が少なくともほぼ等しくなるようにする。このよ
うにすると、このゲート−ソース電圧は基準分圧器の1
つのノード点から、出力電圧Voutが取り出されるバ
スバー31への電圧転送中に何の歪みも発生しない。
【0027】本発明によるD/A変換器の他の実施例を
図3に示す。図3のD/A変換器も基準分圧器10、デ
コーダ回路20、選択回路30、バイアス分圧器40及
びレベルシフト回路50を具える。図2に示す実施例と
図3に示す実施例との差異はデコーダ回路20とレベル
シフト回路50の構成にある。本例ではレベルシフト回
路50に複数個のゲート回路を設け、これらゲート回路
を図3に 51, 52, 53, 54 で示してあ
る。各ゲートの出力端子を図3に示すように選択回路3
0のトランジスタのそれぞれのゲート端子に接続する。 ゲート回路の入力端子をデコーダ回路20により供給さ
れる信号により制御する。
【0028】本例ではデコーダ回路20は2つのデコー
ダユニット23及び26を含む。デコーダユニット23
は入力端子24に2進入力信号を受信し、この信号を出
力端子25の1つに対応する信号にデコードする。デコ
ーダユニット26も同様に動作し、入力端子27の2進
信号を出力端子28の1つに対応する信号に変換する。 出力端子25及び28をレベルシフト回路50内のゲー
ト51, ──54の入力端子に、ユニット23の入力
端子24の2進入力信号がレベルシフト回路50内の一
群のゲートを選択すると共にユニット26の入力端子2
7の2進信号が選択されたこの一群内のゲートの1つを
選択するように接続する。
【0029】更に、ゲート51, ──54には基準分
圧器40から得られる電圧を供給する。一例ではレベル
シフト回路50のゲートは ANDゲートの形態にする
。2つの入力信号がこのゲートの入力端子に存在する場
合、換言すればこのゲートがデコーダ回路20により選
択されると、このゲートの出力電圧はバイアス分圧器4
0から供給される前記ゲート供給電圧に等しくなる(又
は比例する)。斯くして、この実施例でも、選択回路3
0内のトランジスタのゲート端子に供給する電圧を選択
回路30内のこのトランジスタの位置に依存させて、選
択回路30内の各トランジスタのゲート−ソース電圧が
少なくともほぼ等しくなるようにすることができる。こ
の実施例では論理ゲート回路の使用により明確に定めら
れた高及び低選択電圧が選択回路30に供給されるため
、非選択トランジスタの制御電極のクローティングが阻
止される。
【0030】図3ではAND ゲートを用いているが、
本発明では異なるタイプのゲートを用いて同様の結果を
得ることもできる点に注意されたい。図2のD/A変換
器及び図3のD/A変換器の何れにおいても、端子42
を端子11に接続することにより2つの分圧器を1つの
抵抗ラダー回路網に一体化することができる。明瞭のた
め、この接続は図に示していない。この場合には予め決
められた電圧を供給する必要のある端子が2つだけ、即
ち比較的高い電圧V3を供給する必要のある端子41及
び比較的低い電圧V2を供給する必要のある端子12だ
けになるという追加の利点が得られる。
【0031】本発明のD/A変換器はバイアス分圧器4
0内にもっと少数の抵抗を用いて実現することもできる
。 その一例を図4に示す。図4では基準分圧器は接続ライ
ン61と端子59との間に直列に配置された抵抗R40
, R41, ──R63 から成る。バイアス分圧器
は端子60と接続ライン61との間に接続された抵抗R
64, R65, ──R67 から成る。上述したよ
うに、この接続ライン61は2つの分圧器間のスルー接
続を与え、実際には端子59と60との間に1つの分圧
器を形成する。
【0032】基準分圧器の抵抗R40,───R63 
の各々と1つの選択トランジスタ及び選択ゲートが関連
する。選択トランジスタT40,── T63は相まっ
て前記選択回路を構成し、選択ゲートP40,───P
63 が相まってレベルシフト回路を構成する。明瞭の
ため、参照符号はトランジスタT40, T41及びゲ
ートP40, P41にのみ示した。他の抵抗と関連す
るトランジスタ及びゲートもこれら抵抗の参照符号に対
応する参照符号を有するものとする。
【0033】図4から明らかなように、基準分圧器の抵
抗は行及び列に配置し、その最上行は抵抗R40,──
─R45 から成り、その左列は抵抗R40, R46
, R52,───R58 から成る。これらゲートの
アドレッシングのために、行デコーダユニット67と列
デコーダユニット68に分割したデコーダ回路を用いる
。行デコーダユニット67は入力端子70と出力端子7
2を有し、列デコーダユニット68は入力端子71と出
力端子73を有する。行デコーダユニット67の最上位
出力端子72a を最上行の全ゲート、即ちゲートP4
0,───P45 の一方の入力端子に接続する。行デ
コーダユニット67の出力端子72b を第2行の全ゲ
ート、即ちゲートP46,───P51 の一方の入力
端子に接続し、以下同様に接続する。列デコーダユニッ
ト68の最左出力端子73a を最左列の全ゲート、即
ち P40, P46, P52, ───P58 の
他方の入力端子に接続する。列デコーダユニット68の
出力端子73b を左側から2番目の列の全ゲート、即
ちP41,P47, P53, ──P59 の他方の
入力端子に接続し、以下同様に接続する。このようにす
ると、一部が入力端子70に、残部が入力端子71に供
給されるディジタル入力信号により行列配置の全ゲート
から1つのゲートが選択され、従って基準分圧器の1つ
の所定のノード点の所定の電圧が選択される。この結果
、選択されたゲートにより関連するスイッチングトラン
ジスタが導通し、所望の電圧が分圧器の関連するノード
点からこのトランジスタを経て出力端子62に供給され
る。
【0034】この実施例では、全てのゲート P40〜
P63 に抵抗R64,───R67 から成るバイア
ス分圧器から発生する電圧を供給する。このためにこの
バイアス分圧器の端子63を第1行に属する全ゲートP
40,───P45 の電源入力端子に接続する。端子
64を第2行に属する全ゲートP64,───P51 
の電源入力端子に接続し、端子65を第3行に属する全
ゲートP52,───P57 の電源端子に接続し、以
下同様に接続する。このようにすると全てのゲート−ソ
ース電圧を等しくすることはできないが、選択回路内の
トランジスタに対し各行内のゲート−ソース電圧の変化
は極めて小さくなるため、出力信号の歪みが有効に低減
される。この有効な歪み低減はバイアス分圧器に比較的
少数の抵抗を用いて得ることができる。更に、行列配置
構造を用いるために、選択信号の数が著しく減少し、そ
の結果として出力端子59におけるアナログ信号内のス
イッチング雑音の低減が得られる。
【0035】図5は基準分圧器が粗ラダー回路網と精ラ
ダー回路網の組合せとして設計されているD/A変換器
に本発明のD/A変換器を適用した実施例を示す。図5
のD/A変換器内の素子の一部分は上述した図4のD/
A変換器内にも存在し、これら素子には同一の符号を付
してあり、これは特に行デコーダユニット67、列デコ
ーダユニット68及び抵抗 R64〜R67 から成る
バイアス分圧器について言える。本実施例では基準分圧
器は粗ラダー回路網と精ラダー回路網とから成る。粗ラ
ダー回路網は抵抗R80, R81, R82,───
R83 から成る。この回路網によってライン61と端
子59との間の電圧が粗いステップ電圧に分割される。 精ラダー回路網を構成する多数の抵抗の直列回路を粗ラ
ダー回路網の各抵抗の両端間に接続する。明瞭のため精
ラダー回路網の一部分、特に粗ラダー回路網の抵抗R8
3 と並列に配置された部分にのみ符号を付した。精ラ
ダー回路網のこの部分は抵抗R90, R91, ──
─R103から成る。これらの並列抵抗は基準分圧器の
インピーダンスレベルを減少させると共に基準分圧器の
ノード点の実効出力インピーダンスの変化を減少させる
。 本例では、更に、この基準分圧器を予め決められた最大
出力抵抗値を越えることなく集積化に好適な抵抗値で実
現することができる追加の利点が得られる。
【0036】図4と同様に、精ラダー回路網の各タップ
をゲート回路で制御されるCMOSスイッチングトラン
ジスタに接続する。これらのスイッチングトランジスタ
の出力端子はグループごとにグループバスバーに常時接
続する。これらのトランジスタに、関連する抵抗と同一
の符号を与えるものとすると、トランジスタT90,─
─T103の全てのドレイン端子はグループバスバー7
5に接続される。これらグループバスバーは直接相互接
続することもできるが、図5に示すようにスイッチング
回路網77を介して出力端子76に接続することもでき
る。
【0037】図6はスイッチング回路網77の可能な一
実施例を略図示したものである。このスイッチング回路
網は非選択グループのグループバスバーを出力端子76
から切り離すグループスイッチTS1,───TS4を
具える。グループスイッチTS1,───TS4 はそ
のゲート電極が行デコーダユニット67により制御され
るCMOSトランジスタとすることができる。行デコー
ダユニット67が精ラダー回路網の所定の部分を選択す
ると、これと同時にこの選択された部分と関連するグル
ープバスバーが関連するグループスイッチにより出力端
子76にスルー接続される。全ての非選択グループを切
り離すことにより出力端子76の寄生容量が著しく小さ
くなるため、寄生容量を充電する電流サージがこれに応
じて小さくなり、その結果としてアナログ出力信号内の
スイッチング雑音が減少する。更に、RC時定数の変化
の影響も相当小さくなる。
【0038】ホールドスイッチTH1,───TH4 
は関連するグループスイッチと反対に駆動される (即
ち、グループスイッチが開のとき、ホールドスイッチが
閉、閉のとき開になる) 。これらスイッチは関連する
グループが非選択の場合に関連するグループバスバーを
固定電位点に接続する。これにより関連するバスバーを
スイッチング回路網77を経て出力端子76にスルー接
続されない場合にも固定電位点に保持してバスバー電位
が不所望な大きく偏移した電圧にドリフトするのを阻止
することができる。各バスバーのこの電位はこのバスバ
ーを経て出力端子に供給すべき電圧レンジ内に位置する
電位に選択するのが好ましい。特に、当該バスバーによ
り処理すべき電圧レンジのほぼ中間に位置する電圧を選
択するのが好ましい。図6にこの好適例をスイッチTH
4 とR95 及びR96 間のノード点とを接続して
表わしてある。
【0039】図7は精ラダー回路網の一つの部分と関連
するバスバーの他の改良例を示すものである。図7では
粗ラダー回路網の抵抗の1つをR110で示し、精ラダ
ー回路網の対応する部分の抵抗をR111〜R118で
示してある。 更に、選択回路の関連するスイッチングトランジスタを
 T111 〜T118で示し、これらトランジスタを
駆動するゲート回路をP111〜P118で示してある
。本例ではグループバスバーをノード点で相互接続した
抵抗の直列回路で構成し、図7の実施例では抵抗R12
0〜R123を具える。先に述べたように、グループバ
スバーのインピーダンスはスイッチングトランジスタの
1つにより出力端子76に接続される精ラダー回路網の
タップ位置に応じて変化する。 このインピーダンス変化を補償するために、本例では抵
抗R120〜R123を図7に示すようにグループバス
バー内に挿入する。この場合、各抵抗の値は、出力端子
76における総合インピーダンスが任意の瞬時に出力端
子76にスイッチ接続される精ラダー回路網のノード点
に応じて変化しない又は殆んど変化しないように選択す
る必要がある。図7の実施例では、精ラダー回路網の各
部分に対しこの部分内の抵抗の数の半数の補償抵抗を必
要とする。 しかし、もっと少数の抵抗、例えば抵抗R121及びR
123を挿入するだけで補償を得ることもできるが、こ
の場合には得られる改善は小さくなる。
【0040】最後に、選択回路網内のスイッチングトラ
ンジスタの順方向抵抗値、即ちスイッチングトランジス
タの第1及び第2主電極間で測定される順方向抵抗値は
これらトランジスタのしきい値電圧にも依存する。この
依存性を除去するため、又はこの依存性を十分に低減す
るためにこのスイッチングトランジスタの基板端子を基
準分圧器のノード点に接続するのが好ましい。このよう
にこれらスイッチングトランジスタの基板に、制御電極
の電圧及び第1主電極の電圧に対し変化する電圧を供給
すると、これらスイッチングトランジスタのしきい値電
圧はかなりの程度に互い等しくなるため、スイッチング
トランジスタの順方向抵抗値の変化が更に減少する。
【0041】尚、図5,6及び7に示したD/A変換器
に用いる全てのゲート、例えばゲートP90,───P
103,  P111,───P118及び詳しく述べ
なかった他のゲートも図4につき述べたと同様にして抵
抗R64,───R67 から成るバイアス分圧器から
の供給電圧で給電される。従って、例えばゲートP90
,───P103の全てがバイアス分圧器のタップ66
からの電圧で給電される。この場合にはいくつかのスイ
ッチングトランジスタのゲート−ソース電圧の完全な等
化は達成されないが、極めて良好な近似は得られるため
、全てのゲートが等しい電圧で給電される場合に発生す
る出力信号歪みの著しい低減が依然として得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のD/A変換器の構成図である。
【図2】本発明のD/A変換器の第1実施例の構成図で
ある。
【図3】本発明のD/A変換器の第2実施例の構成図で
ある。
【図4】本発明のD/A変換器の第3実施例の構成図で
ある。
【図5】本発明のD/A変換器の第4実施例の構成図で
ある。
【図6】図5のD/A変換器のスイッチング回路網の一
実施例の構成図である。
【図7】図5のD/A変換器のグループバスバーの改良
例の構成図である。
【符号の説明】
10  基準分圧器 V1, V2  基準電圧 20  デコーダ回路 30  選択回路 T10 〜T13   CMOSトランジスタ40  
バイアス分圧器 V3, V4  基準電圧 50  レベルシフト回路 T20 〜T23  CMOS トランジスタ23, 
26  デコーダユニット 51〜54  ゲート回路 R40 〜R63   基準分圧器 R64 〜R67   バイアス分圧器P40, P4
1  選択ゲート T40, T41  選択トランジスタ62  アナロ
グ出力端子 67  行デコーダ 68  列デコーダ R80 〜R83   粗ラダー回路網R90 〜R9
6   精ラダー回路網75  グループバスバー 76  アナログ出力端子 77  スイッチング回路網 TS1, TS4  グループスイッチTH1, TH
4  ホールドスイッチR111〜R118  精ラダ
ー回路網P111〜P115  ゲート回路 R120〜R123  補償抵抗

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  ディジタル入力信号をアナログ出力信
    号に変換する変換器であって、 ・ディジタル入力信号接続用のディジタル入力端子及び
    アナログ出力信号を取り出し得るアナログ出力端子と、
    ・ノード点で相互接続された抵抗素子の直列回路から成
    り、この直列回路の両端に基準電圧の接続端子を有する
    基準分圧器と、 ・選択信号に応答して前記ノード点の1つを前記アナロ
    グ出力端子に結合する回路であって、各別のノード点に
    結合された第1主電極、前記アナログ出力端子に結合さ
    れた第2主電極及び各別の選択信号に結合された制御電
    極を有するスイッチングトランジスタを具えた選択回路
    と、 ・ディジタル入力信号に応答して選択信号を活性化する
    デコーダ回路と、を具えたディジタル−アナログ変換器
    において、更に、 ・ノード点で相互接続した抵抗素子の直列回路から成り
    、この直列回路の両端にバイアス電圧の接続端子を有す
    るバイアス分圧器にバイアス電圧の接続端子を有するバ
    イアス分圧器と、 ・各々入力端子、出力端子及び電源端子を有し、入力信
    号レベルを電源端子に接続された電圧に応じた異なる出
    力信号レベルにシフトさせる複数のシフト段を具え、そ
    れらの入力端子を前記各別の選択信号にそれぞれ接続し
    、それらの出力端子を各別の選択信号に対応するスイッ
    チングトランジスタの制御電極にそれぞれ接続し、それ
    らの電源端子を前記バイアス分圧器のノード点にそれぞ
    れ接続して成るレベルシフト回路と、を具えたことを特
    徴とするディジタル−アナログ変換器。
  2. 【請求項2】  前記バイアス分圧器の抵抗直列回路は
    前記基準分圧器の抵抗直列回路と同数のノード点を有す
    ることを特徴とする請求項1記載のディジタル−アナロ
    グ変換器。
  3. 【請求項3】  前記バアイス分圧器と前記基準分圧器
    の抵抗直列回路とを直列に接続したことを特徴とする請
    求項1又は2記載のディジタル−アナログ変換器。
  4. 【請求項4】  各シフト段は第1及び第2主電極を当
    該シフト段の出力端子及び電源端子にそれぞれ接続し、
    制御電極を当該シフト段の入力端子に接続して成るトラ
    ンジスタを具えることを特徴とする請求項1〜3の何れ
    かに記載のディジタル−アナログ変換器。
  5. 【請求項5】  各シフト段は論理入力端子が当該シフ
    ト段の入力端子に、論理出力端子が当該シフト段の出力
    端子に、電源端子が当該シフト段の電源端子に接続され
    た論理ゲート回路の形態であることを特徴とする請求項
    1〜3の何れかに記載のディジタル−アナログ変換器。
  6. 【請求項6】  前記基準分圧器の抵抗直列回路のそれ
    ぞれ同数の順次の抵抗素子の直列回路部分をグループに
    して配置し、各グループ内のスイッチングトランジスタ
    の第2主電極をグループバスバーを経てアナログ出力端
    子に結合し、前記デコーダ回路はそれぞれ行選択信号及
    び列選択信号を活性化する行デコーダ及び列デコーダを
    含み、且つ前記論理ゲート回路には前記シフト段の別の
    入力端子に接続された別の論理入力端子を設け、各グル
    ープ内の論理ゲート回路の第1入力端子の全てを行選択
    信号の1つに接続し、それらの別の入力端子を各別の列
    選択信号に接続したことを特徴とする請求項5記載のデ
    ィジタル−アナログ変換器。
  7. 【請求項7】  前記直列回路部分と並列に並列抵抗素
    子を配置したことを特徴とする請求項6記載のディジタ
    ル−アナログ変換器。
  8. 【請求項8】  前記グループバスバーはそのグループ
    と関連する行選択信号の活性化に応答してグループスイ
    ッチを経てアナログ出力端子に接続されるようにしたこ
    とを特徴とする請求項6又は7記載のディジタル−アナ
    ログ変換器。
  9. 【請求項9】  各グループはそのグループバスバーを
    当該グループと関連する行選択信号が不活性の間固定電
    位点に接続するホールドスイッチを更に具えることを特
    徴とする請求項8記載のディジタル−アナログ変換器。
  10. 【請求項10】  前記固定電位点は当該グループの抵
    抗直列回路部分の最も中心にあるノード点であることを
    特徴とする請求項9記載のディジタル−アナログ変換器
  11. 【請求項11】  前記グループバスバーをノード点で
    相互接続した抵抗素子のアレーとして設計し、そのグル
    ープのスイッチングトランジスタの第2主電極をこれら
    ノード点に接続したことを特徴とする請求項6〜10の
    何れかに記載のディジタル−アナログ変換器。
  12. 【請求項12】  スイッチングトランジスタの基板端
    子を基準分圧器のノード点に接続したことを特徴とする
    請求項1〜11の何れかに記載のディジタルアナログ変
    換器。
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