JPH04206694A - 多層基板の製造方法 - Google Patents

多層基板の製造方法

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JPH04206694A JP33561490A JP33561490A JPH04206694A JP H04206694 A JPH04206694 A JP H04206694A JP 33561490 A JP33561490 A JP 33561490A JP 33561490 A JP33561490 A JP 33561490A JP H04206694 A JPH04206694 A JP H04206694A
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  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、多層構造マイクロ波回路等のスルーホールを
有する多層基板の製造方法に関する。
(従来の技術) マイクロ波を伝送する線路としては、中心導体を上下の
接地導体により遮蔽してなるトリプレートラインが知ら
れている。
多層構造マイクロ波回路は、こうしたトリプレートライ
ンを多層構造とし、トリプレートライン間をスルーホー
ルにて接続してなるものである。
多層構造マイクロ波回路では、各層に各種のマイクロ波
回路を実装できるため、マイクロ波回路の高密度実装化
か容易に実現される。
第8図はこのような多層構造マイクロ波回路における従
来の製造方法の工程を示す図である。
まず、第8図(a)に示すように、一方の面の中心導体
12以外は導体が取り除かれた第2層部基板2□と、一
方の面に中心導体1.が形成され他方の面の全面(後述
するスルーホールが形成される部分の近傍は除く)に接
地導体13が形成された第3〜4層部基板234とを接
着させる。
次に、第8図(b)に示すように、第2層の中心導体1
2と第4層の中心導体14と間て導通を取るスルーホー
ル324を形成するため、所定の位置に穴4□4を貫通
させる。そして、その穴424の内面に無電解メッキか
のり易くするように溶剤で表面を処理した後、その穴4
□4の中に無電解メッキ溶液を流し込み、穴4□4の内
面に薄いメッキ層を形成させる。さらに、穴4□4の内
側の薄いメッキ層に電解メッキをかけ厚いメッキ層5□
4を形成させる。
そして、第8図(c)に示すように、第2層部基板2□
と第3〜4層部基板234の上下に、一方の面にのみ接
地導体11.15が形成された第1層部基板21および
第5層部基板2.を接着させる。
さらに、第8図(d)に示すように、スルーホール3□
、の周囲を囲むように、第1層部基板21の接地導体1
1と第5層部基板2.の接地導体1、とを数個のスルー
ホール315.・・により接続する。なお、これらスル
ーホール316.・・は、上述したスルーホール324
と同様の方法で形成する。
これらスルーホール3,5.・・・により、スルーホー
ル324は同軸線路と見なせるようになる。
以上のような方法により多層構造マイクロ波回路は製造
される。
ところで、昨今マイクロ波回路をさらに高密度実装すべ
く要望が極めて強い。
このため、多層構造マイクロ波回路を上記の5層よりさ
らに多層とし各層に各種のマイクロ波回路を実装するこ
とで、高密度実装のさらなる向上が可能である。
しかしながら、多層構造マイクロ波回路を上記の5層よ
りさらに多層とする場合、上述した従来の製造方法では
製造することができないという問題かある。
このことを第9図に基づき説明する。同図は、多層構造
マイクロ波回路を7層にする場合を示している。
同図に示すように、中心導体6□以外は導体が取り除か
れた第2層部基板7□と一方の面に中心導体64か形成
され他方の面の全面に接地導体73か形成された第3〜
4層部基板734とを接着させ、第2層部基板7□の一
中心導体62と第3〜4層部基板間734の中心導体6
4の導通を取るためのスルーホール8□4を形成させた
後、第3〜4層部基板734の中心導体64と第6層部
基板76の中心導体66の導通を取るためのスルーホー
ルのための穴9を開けである第5層部基板7.と第6層
部基板7゜とを接着させる。
次に、第3〜4層部基板734の中心導体64と第6層
部基板76の中心導体66の導通を取るためのスルーホ
ールの穴9の中に無電解メッキ溶液を流し込まなければ
ならないが、この穴9の両側か開いていないため無電解
メッキ溶液を流し込むことかできない。すなわち、従来
の製造方法では、第3〜4層部基板7,4の中心導体6
4と第6層部基板76の中心導体66の導通を取るため
のスルーホールを形成できないのである。
(発明か解決しようとする課題) このように多層構造マイクロ波回路の従来の製造方法で
は、多層構造マイクロ波回路を5層よりさらに多層とす
る場合には製造することかできないという問題があった
本発明は、このような事情に基つき成されたもので、多
層構造でかつスルーホールにより各層間を接続してなる
多層基板を製造することができる多層基板の製造方法を
提供することを目的としている。
[発明の構成コ (課題を解決するための手段) 本発明は、各層をスルーホールにより接続してなる多層
基板を製造する方法において、前記各層の前記スルーホ
ールを形成する位置に穴を開ける第1の工程と、前記穴
の内面のうちメッキを必要としない穴の内面に除去の容
易な溶剤を塗布する第2の工程と、前記穴の内面に無電
解メッキ溶液を塗布する第3の工程と、前記穴の内面か
ら前記塗布された除去の容易な溶剤とともに、この溶削
土に塗布された前記無電解メッキを除去する第4の工程
と、前記穴の内面のうち前記無電解メッキの残存する面
に電解メッキを施す第5の工程とを具備する。
(作 用) 本発明では、多層基板を5層以上に積層しても無電解メ
ッキ溶液を流し込む際にスルーホールの穴を基板で閉し
てしまうことがないので、多層構造でかつスルーホール
により各層間を接続してなる多層基板を製造することか
できる。
(実施例) 以下、本発明の実施例の詳細を図面に基づき説明する。
ここでは、7層構造マイクロ波回路を製造する場合の一
実施例を説明する。
第1図(a)〜(g)は各層の構成を示す図であり、こ
れらは基板をエツチングすることにより製造される。
第1図(a)に示すように、第1層部111は、誘電体
121の一方の面の全面に接地導体13、を形成してな
る。第2層部112は、第1図(b)に示すように、誘
電体122の一方の面に中心導体132を形成してなる
。第3〜4層部113゜]14は、第1図(C)に示す
ように、それぞれ誘電体12.4の一方の面の全面に接
地導体133を形成し、他方の面に中心導体134を形
成してなる。第5層部11.は、第1図(d)に示すよ
うに、誘電体12.の一方の面の全面に接地導体13、
を形成してなる。第6層部116は、第1図(e)に示
すように、誘電体12゜の一方の面に中心導体136を
形成してなる。第7層部117は、第1図(d)に示す
ように、誘電体127の一方の面の全面に接地導体13
□を形成してなる。そして、これら誘電体121 、’
122,1234.125,126.127を第1図(
g)に示すように配置する。
次に、第2図に示すように、誘電体122上の中心導体
132と誘電体1234上の中心導体134とを、誘電
体1234上の中心導体134と誘電体126上の中心
導体136とをそれぞれ接続するスルーホールを形成す
るため、誘電体12、。
122.1234,125.126.127の所定位置
に穴14を開け、各人14の内面に樹脂用表面処理剤を
注入して表面処理をし、無電解メッキがのり易くする。
次に、第3図に示すように、メッキを必要としない穴1
4の内面にエツチングレジスト膜形成剤15を塗布する
次に、第4図に示すように、誘電体121,122.1
234,125.126.127を接着し積層する。
次に、第5図に示すように、穴14に無電解メッキ溶液
を注入しその内面に無電解メッキを形成する。なお、エ
ツチングレジスト膜形成剤15上に形成された無電解メ
ッキは、エツチングレジスト膜形成剤15とはなじみに
くいので、すぐに剥かれやすい状態となっている。
次に、第6図に示すように、穴14をHCI等の水溶液
にてエツチングレジスト膜形成剤15をその表面に形成
された無電解メッキとともに分離するように除去する。
そして、無電解メッキ上に電解メッキをかけ厚いメッキ
層16を形成させる。
これにより誘電体12□上の中心導体132と誘電体1
234上の中心導体13.とを、誘電体12.4上の中
心導体134と誘電体12゜上の中心導体136とをそ
れぞれ接続するスルーホール1724.1746か形成
される。
次に、第7図に示すように、スルーホール17241 
1746の各周囲を囲むように、接地導体131+  
133,135.13.を数個のスルーホール18.・
・・により接続する。これらスルーホール18、・・・
により、スルーホール17□4.174うは同軸線路と
見なせるようになる。
よって本実施例によれば、多層構造マイクロ波回路にお
いて、5層以上積層する際でも無電解メッキ溶液を流し
込む際にスルーホールの穴を基板で閉じてしまうことか
ないので無電解メッキ溶液を流し込みスルーホールを形
成することかできる。
なお、上述した実施例は、多層基板として多層構造マイ
クロ波回路の場合について説明したか、本発明は他の多
層回路基板であっても同様に実施することかできる。
[発明の効果コ 上記のような製造方法により、多層基板を5層以上に積
層しても無電解メッキ溶液を流し込む際にスルーホール
の穴を基板で閉じてしまうことがないので、多層構造で
かつスルーホールにより各層間を接続してなる多層基板
を製造することができる。この結果、本発明の製造方法
により高密度実装が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明における各層の上面図と断面図、第2図
は本発明における各層にスルーホールのための穴を開け
た際の断面図、第3図は本発明における各層のスルーホ
ールのための穴にエツチングレジスト膜剤を塗布した際
の断面図、第4図は本発明における各層を接着し積層し
た際の断面図、第5図は本発明においてスルーホールの
ための穴に無電解メンキを形成した際の断面図、第6図
は本発明においてスルーホールのための穴のエツチング
レジスト膜形成剤を取り除いた際の断面図、第7図は本
発明において各層の中心導体を接続するスルーホールの
穴の周りに数個の地導体間の導通を取るためのアース用
スルーホールを形成した際の断面図と上面図、第8図は
従来の製造方法による5層構造マイクロ波回路の上面図
と断面図、第9図は従来の製造方法による7層構造マイ
クロ波回路の断面図である。 111・・・第1層部、11□・・・第2層部、1]3
・・・第3層部、114・・・第4層部、115・・第
5層部、116・・・第6層部、117・・・第7層部
、121.122.1234,125,126,127
・・・誘電体、130,133.1B9,13フ・・・
接地導体、13□、134,136・・中心導体、14
・・・穴、15・・・エツチングレジスト膜形成剤、1
6・・・メッキ層、1724. 1746. 18・・
スルーホール。 出願人      株式会社 東芝 代理人  弁理士 須 山 佐 − //126 (e) 第3図 19ム≠第4図 (a) 第8図 第8図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  各層をスルーホールにより接続してなる多層基板を製
    造する方法において、 前記各層の前記スルーホールを形成する位置に穴を開け
    る第1の工程と、 前記穴の内面のうちメッキを必要としない穴の内面に除
    去の容易な溶剤を塗布する第2の工程と、前記穴の内面
    に無電解メッキ溶液を塗布する第3の工程と、 前記穴の内面から前記塗布された除去の容易な溶剤とと
    もに、この溶剤上に塗布された前記無電解メッキを除去
    する第4の工程と、 前記穴の内面のうち前記無電解メッキの残存する面に電
    解メッキを施す第5の工程と を具備することを特徴とする多層基板の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001144511A (ja) * 1999-11-17 2001-05-25 Mitsubishi Electric Corp 平面型導波路の接続用変換器
WO2014196911A1 (en) * 2013-06-05 2014-12-11 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Selective partitioning of via structures in printed circuit boards

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US10201098B2 (en) 2013-06-05 2019-02-05 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Selective partitioning of via structures in printed circuit boards

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