JPH04200065A - 画像記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、回転多面鏡を偏向器として用いたレーザ走査
光学系を備えたレーザプリンタやデジタル複写機の画像
記録装置に関する。

従来の技術 従来における電子写真技術とレーザ装置技術とを組み合
わせたレーザプリンタは、普通紙を使用することができ
、しかも、高速で高品質な画像か得られるため、コンピ
ュータの呂ツノ装置やデジタル複写機として普及してき
ている。

第１３図は、そのような画像記録装置におけるレーザ走
査光学系の一例を示すものである。画像信号に応じて変
調されたレーザ光源としての半導体レーザｌから出射さ
れたレーザビームは、レンズ２を介して回転多面鏡（ポ
リゴンスキャナ）３で反射され、結像レンズ（ｆｅレン
ス）４で記録媒体としての感光体５の面上に微小スポッ
トとじて結像される。この微小スポットが回転多面鏡３
と感光体５の回転により感光体５を走査露光し、これに
より画像の静電潜像を形成する。

また、感光体５の走査線上の走査開始側の画像範囲外の
位置には、主走査方向の画像書込み開始位置を制御する
ために受光素子（同期検知素子）６が配設されている。

このような画像形成装置において、中間調を有する画像
をデジタル的（２値記録）に再現するためには、複数の
画素からなる一定のサイズの閾値マトリクスと画像の濃
淡を比較し、その濃淡をドラ（・面積（マトリクス内の
記録画素数）に変換する擬似中間調再現方式（面積階調
法）が一般的に用いられている。

発明が解決しようとする課題 しかし、そのようなマトリクスを用いた擬似中間調再現
方式では、中間調を再現するために複数の画素を用いる
ため解像力の低下が問題となる。

そこで、このような問題点を解決し高品位な画像を得る
ために、１ドツト多値記録方式により解像度と階調性と
を両立させる記録方式が有効である。この場合、１ドツ
ト多値記録方式には、大きく分けて、レーザ光源の光強
度変調方式とパルス幅変調方式とがある。しかし、１ド
ツト多値記録方式では、擬似中間調再現方式と比較して
感光体５の中間露光領域（画像濃度が飽和しない領域）
が多くなり、感光体５の速度変動や偏向器である回転多
面鏡３の反射面の回転軸に対する面倒れによって発生す
る走査線のピッチ変動が露光ムラとなり、その結果、副
走査方向の帯状の濃度ムラ（バンディング）となって可
視化するため画像品質が劣化しやすくなる。特に、光強
度変調方式においては、そのような画像品質の劣化は著
しくなる。

そこで、そのような走査線のピッチムラによる濃度ムラ
の低減のために、従来における技術としては、例えば、
第一の従来例として特開昭６１−２１２８１８号公報や
、第二の従来例として特開昭６３−３１３１１３号公報
に開示されているものがおる。

その第一の従来例の場合、２個のレーザ光源により得ら
れた２本のレーザビームで１ラインの走査線を形成し、
走査線のピッチムラに応じて２本のビームパワーを個々
に変化させ、その合成の光量分布をもつビームで記録を
行い、これにより走査線のピッチムラを補正するように
したものである。第１４図は、その様子を示すものであ
り、横軸は副走査方向（レーザビームを走査する主走査
方向に直交する方向）の走査線のピッチムラを示し縦軸
は露光量を示すものである。この場合、第１４図（ｂ）
（ｃ）は２本のレーザビーム７．８に走査線のピッチム
ラが有る様子を示すものであるのに対して、第１４図（
ａ）は走査線のピッチムラかなくその合成光量９も変動
がない様子を示すものである。

しかし、このような方式では、レーザ光源として用いる
半導体レーザアレイが高価となり、また、２個の半導体
レーザを用いる場合には熱変形により２つのレーザスポ
ットの相対位置が変動し、さらに、２個の半導体レーザ
にそれぞれの駆動回路が必要となり装置が複雑化するな
どの問題かある。

また、その第二の従来例の場合、第１５図に示すように
、半導体レーザ１０から出射されたレーザビームをコリ
メータレンズ１１によって平行化し、走査系であるｆθ
レンズ１２により集光された光スポットＰを記録媒体１
３の面上に導くものである。この場合、半導体レーザ１
０をコリメータレンズ１１に対して図示しない電歪素子
（ピエゾ素子）によって微動（破線で示す）させ、これ
により、記録面上での走査線のピッチムラを補正するよ
うにしている。

しかし、このような方式では、半導体レーザ１０に対し
てコリメータレンズ１１を非常に精度良く位置制御する
必要があり、これによりその制御系が複雑化するという
問題がある。

課題を解決するための手段 そこで、このような問題点を解決するために、請求項１
記載の発明では、レーザ光源から出射されるレーザビー
ムの光出力を画像信号に応じて１画素内で強度変調し、
前記出射されたレーザビームを回転多面鏡により走査さ
せ、これら走査された走査線を記録媒体面上に描くこと
により得られた中間調画像を記録する画像記録装置にお
いて、前記記録媒体面上に描かれる各走査線間の走査ピ
ッチの変動に応じて前記レーザ光源の光出力を微少量可
変するレーザ出力補正手段を設けた。

請求項２記載の発明では、レーザ光源から出射されるレ
ーザビームの光出力を画像信号に応じて１画素内で強度
変調し、前記出射されたレーザビームを回転多面鏡によ
り走査させ、これら走査された走査線を記録媒体面上に
描くことにより得られた中間調画像を記録する画像記録
装置において、前記回転多面鏡の反射鏡の回転軸に対す
る倒れによる走査ピッチムラに対し隣接反射面による走
査線とのピッチが最小である反射面と隣接反射面による
走査線とのピッチが最大となる反射面とによる画像記録
時にのみ前記レーザ光源の光出力を微少量可変するレー
ザ出力補正手段を設けた。

請求項３記載の発明では、請求項１又は２記載の発明に
おいて、レーザ光源の光出力を受光部により検知しこの
受光部から得られる前記レーザ光源の光出力に比例した
受光信号と走査ピッチムラ補正のためのレーザ出力補正
成分を含む発光レベル信号とか等しくなるように前記レ
ーザ光源の順方向電流を制御する光電気負帰還手段と、
前記受光信号と前記発光レベル信号とか等しくなるよう
に前記レーザ光源の光出力順方向電流特性及び前記レー
ザ光源の光出力との結合係数さらには前記受光部の光入
力受光信号特性に基づいて前記発光レベル信号を前記レ
ーザ”光源の順方向電流に変換する電流変換手段とを備
え、１ｆｊ記光電光電気負帰還の制御電流と前記電流変
換手段により生成された電流との和又は差の電流により
前記レーザ光源の光出力を制御するレーザ出力制御回路
を設けた。

作用 請求項１記載の発明においては、走査線のピッチムラに
よる副走査方向の露光量ムラをレーザ光源の光出力で補
正するため、感光体の副走査方向単位面積当りの露光量
が一定となり、これにより、濃度ムラを低減でき高品位
な中間調画像を得ることができる。

請求項２記載の発明においては、回転多面鏡の反射面の
倒れによる走査線のピッチムラによる回転多面鏡一回転
を周期的とする副走査方向の露光量ムラをレーザ光源の
光出力で補正するため、感光体の副走査方向単位面積当
たりの露光量が一定となり、これにより、濃度ムラを低
減でき高品位な中間調画像を得る二とができる。

請求項３記載の発明は、請求項１又は２記載の発明にお
いて、高速、高精度、高分解能なレーザ出力制御回路に
よりレーザ光源を制御しているため、走査線のピッチム
ラによる副走査方向の露光量ムラを精度良く補正するこ
とができ、これにより、濃度ムラを低減でき高品位な中
間調画像を得ることができる。

実施例 まず、請求項１記載の発明の第一の実施例を第１図ない
し第５図に基づいて説明する。本実施例は、画像記録装
置（ここでは、前述した第１３図に示すような画像記録
装置のレーザ走査光学系を用いるものとする）において
、記録媒体としての感光体５の面上に描かれる各走査線
間の走査ピッチの変動に応じてレーザ光源とじての半導
体レーザ１の光出力を微少量可変するレーザ出力補正手
段１４を設けたものである。第１図は、そのレーザ出力
補正手段１４の構成を示すものである。このレーザ出力
補正手段１４は、レーザ出力制御回路１５と、変換テー
ブル１６と、走査線ピッチムラ検出回路１７と、演算回
路１８とにより構成されている。

このような構成において、中間調情報（濃度情報）を含
んだ画像情報ａを変換テーブル１６によって濃度に応じ
た半導体レーザｌの発光レベル信号に変換し、この発光
レベル信号に走査線ピッチムラ検出回路１７からの走査
線ピッチ変動量を演算回路１８によって演算した補正用
発光レベル信号を加算し、この加算した発光レベルで半
導体レーザ１を駆動することによって、単位面積当りの
露光量を一定とし濃度ムラの低減を図ることができる。

ここで、具体例を挙げて説明する。第３図（ｂ）は上述
したようなレーザ走査光学系における感光体５の面上に
走査線（レーザビーム）１９ａ、１９ｂが所定のピッチ
ｄをもって露光される様子を示すものであり、第３図（
ａ）はその場合における副走査方向の露光量分布の様子
を示すものである。この場合、２つの走査線１９ａ、１
９ｂにより得られる合成光量分布Ａは正常な状態を保っ
ている。しかし、回転多面鏡３の反射面３ａの倒れや、
感光体５の送り速度変動等によって、第４図（ｂ）、第
５図（ｂ）に示すように、走査線１９ａ。

１９ｂのピッチｄがそれぞれ士△ｄたけ変動すると、そ
れらの副走査方向の露光分布は第４図（ａ）、第５図（
ａ）に示すように、±△ｄたけの露光ムラが生じること
になる。このように、走査線１９ａ。

１９ｂのピッチムラにより単位面積当りの露光量（ハツ
チング部分）が変動することがわかり、この単位面積当
りの露光量か画像濃度のムラとなって画像品質を劣化さ
せることになる。

そこで、本実施例では、第２図（ａ）に示すように、走
査線１９ａ、］、９ｂのピッチｄが広がった（＋Δｄ）
場合には半導体レーザ１の光出力を上げ、また、第２図
（ｂ）に示すように、走査線１９ａ、１９ｂのピッチｄ
が狭くなった（−Δｄ）場合には半導体レーザ１の光出
力を下げることにより、単位面積当りの露光量を一定と
し、これにより濃度ムラを低減するようにしたものであ
る。

次に、請求項１記載の発明の第二の実施例を第６図に基
づいて説明する。ここでは、前述した第一の実施例のレ
ーザ出力補正手段１４’（第１図参照）を構成する回路
の接続状態を変えたものである。すなわち、走査線ピッ
チムラ検出回路１７と演算回路１８とを変換テーブル１
６の入力段に接続したものである。

このように中間調情報（濃度情報）を含んだ画像情報ａ
と走査線ピッチ検出回路１７からの走査線ピッチ変動デ
ータとを変換テーブル１６によって濃度に応じた半導体
レーザ１の発光レベル信号に変換し、この発光レベルで
半導体レーザ１を駆動することによって、本実施例の場
合にも、単位面積当りの露光量を一定とし濃度ムラの低
減を図ることが可能となる。

次に、請求項１記載の発明の第三の実施例を第７図に基
づいて説明する。ここでは、前述した第一の実施例のレ
ーザ出力補正手段１４　（第１図参照）の内部構成を変
えたものである。すなわち、レーザ出力補正手段１４は
、レーサ出力制御回路１５と、変換テーブル１６と、反
射型センサ２０と、面検出回路２１と、面倒れ補正デー
タ記憶回路２２とにより構成されている。

この場合、走査線のピッチ変動のうち、回転多面鏡３の
反射面３ａの倒れのデータを前もって測定し、そのデー
タを面倒れ補正データ記憶回路２２に記憶しておく。そ
して、記録の際に、第１３図に示すように、その記録に
用いている反射面３ａを回転多面鏡３に付けられたマー
クＮ１を反射型センサ２０などで検品し、その面倒れの
データを読み出し、半導体レーザ１の発光レベルを補正
することによっても、前述した実施例と同様に濃度ムラ
の低減を図ることが可能である。

次に、請求頂上記載の発明の第四の実施例を第８図に基
づいて説明する。ここでは、前述した第三の実施例のレ
ーザ出力補正手段１４　（第１図参照）を構成する回路
の接続状態を変えたものである。すなわち、反射型セン
サ２０と面検出回路２１とを変換テーブル１６の入力段
に接続したちのである。

この場合、変換テーブル１６内に面倒れ補正データを記
憶する回路を含めた構成となっているため、装置全体の
構成を一段と簡素化することができる。

次に、請求項２記載の発明の一実施例を第９図ないし第
１１図に基づいて説明する。本実施例におけるレーザ出
力補正手段１４の回路構成は、前述した請求項１記載の
発明における各実施例（第１図、第６図〜第８図参照）
と同じあるか、ここでは、特に、回転多面鏡３の反射面
３ａにおける面倒れの影響を考慮に入れたものである。

すなわち、本実施例におけるレーザ出力補正手段１４は
、回転多面鏡３の反射鏡３ａの回転軸Ｂに対する倒れに
よる走査ピッチムラに対し、隣接反射面による走査線と
のピッチが最小である反射面と隣接反射面による走査線
とのピッチが最大となる反射面とによる画像記録時にの
み半導体レーザ１の光出力を微少量可変するようにした
ものである。

以下、レーザ出力補正手段１４を上述したような動作内
容とした理由について述べる。レーザ走査光学系に用い
られる回転多面鏡３は、第９図に示すように、ポリゴン
ミラー２３とスキャナモータ２４とにより構成される。

この場合、回転多面鏡３の反射面３ａの面倒れは、反射
面３ａのミラー基準面３ｂに対する直角度のバラツキと
、スキャナモータ２４のロータ上のポリゴン取付面３ｃ
のスラスト方向の振れとによって発生する。

これら２つの要因は、それぞれの加工誤差によるものが
ほとんどであり（例えば、ポリゴンミラー２３の加工時
におけるミラー内径の中心軸と加工軸とのクリアランス
による倒れや、ロータを旋盤加工する際のチャッキング
における傾きなど）、１回転を周期とする正弦波状の反
射面の倒れとなる。その−例として、６面の回転多面鏡
３の反射面３ａの面倒れの様子を第１０図に示す。ただ
し、横軸をポリゴン面の番号（ここでは６面までの番号
）とし、縦軸を反射面３ａの面倒れ（秒）とする。従っ
て、この第１０図の反射面３ａの面倒れによる走査線ピ
ッチムラによる副走査方向の露光量変動は、第１１図（
ｂ）の破線で示すようになる。

そこで、本実施例におけるレーザ出力補正手段１４を利
用して、記録に用いる反射面３ａのうち、隣接走査線と
の走査線ピッチの最も広くなる第２面と、走査線ピッチ
の最も狭くなる第５面とによる画像記録時にのみに半導
体レーザ１の発光レベル（光強度）だけを補正すること
によって、第１１図（ｃ）に示すように、単位面積当り
の露光量を一定とし濃度ムラを低減することが可能とな
る。

なお、第１１図（ａ）は、ピッチムラがない正常な場合
の様子を比較して示すものである。

次に、請求項３記載の発明の一実施例を第１２図に基づ
いて説明する。本実施例では、これまでの請求項１又は
２記載の発明の各実施例の中で述べたレーザ出力補正手
段１４の一部を構成するし・−ザ出力制御回路１５（第
１図、第６図〜第８図参照）についてさらに詳しく説明
するものである。

そのレーザ出力制御回路１５は、光電気負帰還手段とし
ての光電気負帰還回路２５と、電流変換手段としての電
流変換器２６とにより構成されている。前記光電気負帰
還回路２５は、比較増幅器２７と、レーザ光源としての
半導体レーザ２８と、受光部としての受光素子２９とに
より光電気負帰還ループを形成している。

この場合、前記光電気負帰還回路２５は、前記半導体レ
ーザ２８の光出力を受光素子２９により検知し、この受
光素子２９から得られるＭｉＪ記半導体レーザ２８の光
出力に比例した受光信号と、走査ピッチムラ補正のため
のレーザ出力補正手段を含む発光レベル信号とが等しく
なるように前記半導体レーザ２８の順方向電流を制御す
る働きかある。また、前記電流変換器２６は、前記受光
信号と前記発光レベル信号とが等しくなるように、前記
半導体レーザ２８の光出力・順方向電流特性及びその半
導体レーザ２８の光出力との結合係数さらには前記受光
素子２９の光入力・受光信号特性に基づいて、前記発光
レベル信号を前記半導体レーザ２８の順方向電流に変換
する働きがある。

このような構成において、レーザ出力制御回路１５の動
作について説明する。発光レベル指令信号すは比較増幅
器２７及び電流変換器２６に入力され、半導体レーザ゛
２８の光出力の１部が受光素子２９によりモニタされる
。比較増幅器２７は受光素子２９に誘起された光起電流
（半導体レーザ２８の光出力に比例する）に比例する受
光信号と発光レベル指令信号すとを比較してその結果に
より半導体レーザ２８の順方向電流を受光信号と発光レ
ベル信号とが等しくなるように制御する。また、電流変
換器２６は、受光信号と発光レベル信号すとが等しくな
るように発光レベル指令信号すに従って予め設定された
電流（半導体レーザ２８の光出力・順方向電流特性及び
受光素子２９と半導体レーザ２８との結合係数、受光素
子２９の光入力・受光信号特性に基づいて予め設定され
た電流）を出力する。この電流変換器２６の出力電流と
、比較増幅器２７により出力される制御電流との和の電
流が半導体レーザ２８の順ｊ５向電流となる。

この場合、光・電気負帰還ループの開ループでの交差周
波数をｆＯとし、ＤＣゲインを１００００とした時、半
導体レーザ２８の光出力Ｐｏｕｔのステップ応答特性は
次のように近似させることができる。

Ｐｏｕｔ　　＝ＰＬ＋（ＰＳ−ＰＬ）ｅｘｐ（−２ｖｆ
　　Ｏ’ｔ）ただし、 ＰＬ　：　ｔ＝■における光出力 ＰＳ：電流変換器２６により設定された光量光電気負帰
還ループの開ループでのＤＣゲインを１００００として
いるので、設定誤差の許容範囲をｏ、１％以下とした場
合には、ＰＬは設定した光量に等しいと考えられる。

従って、仮に電流変換器２６により設定された光量ＰＳ
がＰＬに等しければ、瞬時に半導体レーザ２８の光出力
がＰＬに等しくなる。また、外乱等によりＰＳが５％変
動したとしてもｆＯ＝４０ＭＨｚ程度であれば、１０　
ｎ、　ｓ　、後には半導体レーザ２８の光出力は設定値
に対する誤差が０．４％以下になる。

上述したようにして実現される高速・高精度・高分解能
のレーザ出力制御回路］５を用いることにより、パルス
幅が短くなっても露光光量を精度良く制御できるため、
感光体５速度変動、回転多面鏡３の反射面３ａの面倒れ
によるレーザ走査ピッチの変動に対して、露光エネルギ
ーを精度良く補正制御でき、これにより高品位画像を得
ることが可能な画像記録装置を得ることができる。

発明の効果 請求項１記載の発明は、レーザ光源から出射されるレー
ザビームの光出力を画像信号に応じて１画素内で強度変
調し、前記出射されたレーザビームを回転多面鏡により
走査させ、これら走査された走査線を記録媒体面上に描
くことにより得られ、た中間調画像を記録する画像記録
装置において、前記記録媒体面上に描かれる各走査線間
の走査ピッチの変動に応じて前記レーザ光源の光出力を
微少量可変するレーザ出力補正手段を設けたので、走査
線のピッチムラによる副走査方向の露光量ムラをレーザ
光源の光出力で補正するため、感光体の副走査方向単位
面積当りの露光量が一定とな番ハこれにより、濃度ムラ
を低減でき高品位な中間調画像を得ることができるもの
である。

請求項２記載の発明は、レーザ光源から出射されるレー
ザビームの光出力を画像信号に応じて１画素内で強度変
調し、前記出射されたレーザビームを回転多面鏡により
走査させ、これら走査された走査線を記録媒体面上に描
くことにより得られた中間調画像を記録する画像記録装
置において、前記回転多面鏡の反射鏡の回転軸に対する
倒れによる走査ピッチムラに対し隣接反射面による走査
線とのピッチが最小である反射面と隣接反射面による走
査線とのピッチが最大となる反射面とによる画像記録時
にのみ前記レーザ光源の光出力を微少量可変するレーザ
出力補正手段を設けたので、回転多面鏡の反射面の倒れ
による走査線のピッチムラによる回転多面鏡一回転を周
期的とする副走査方向の露光量ムラをレーザ光源の光出
力で補正することができるため、感光体の副走査方向単
位面積当たりの露光量が一定となり、これにより、濃度
ムラを低減でき高品位な中間調画像を得ることができる
ものである。

請求項３記載の発明は、請求項１又は２記載の発明にお
いて、レーザ光源の光出力を受光部によす検知しこの受
光部から得られる前記レーザ光源の光出力に比例した受
光信号と走査ピッチムラ補正のためのレーザ出力補正手
段を含む発光レベル信号とが等しくなるように前記レー
ザ光源の順方向電流を制御する光電気負帰還手段と、前
記受光信号と前記発光レベル信号とか等しくなるように
前記レーザ光源の光出力１頃方向電流特性及び前記レー
ザ光源の光出力との結合係数さらには前記受光部の光入
力受光信号特性に基づいて前記発光レベル信号を前記レ
ーザ光源の順方向電流に変換する電流変換手段とを備え
、前記光電気負帰還手段の制御電流と前記電流変換手段
により生成された電流との和又は差の電流により前記レ
ーザ光源の光出力を制御するレーザ出力制御回路を設け
たので、その高速、高精度、高分解能なレーザ出力制御
回路を用いてレーザ光源を制御することによって、走査
線のピッチムラによる副走査方向の露光量ムラを精度良
く補正することができ、これによリ、濃度ムラを低減で
き高品位な中間調画像を得ることができるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は請求項１記載の発明の第一の実施例であるレー
ザ出力補正手段を示すブロック図、第２図は走査線ピッ
チの広狭によりレーザビームの出力調整を行った場合に
おける副走査方向の露光量分布を示す波形図、第３図は
２本の走査線間にピッチムラがない場合における副走査
方向の露光量分布を示す波形図、第４図は２本の走査線
間のピッチムラが＋Δｄたけ生じた場合における副走査
方向の露光量分布を示す波形図、第５図は２本の走査線
間のピッチムラが−△ｄだけ生じた場合における副走査
方向の露光量分布を示す波形図、第６図は請求項１記載
の発明の第二の実施例であるレーザ出力補正手段を示す
ブロック図、第７図は請求項１記載の発明の第三の実施
例であるレーザ出力補正手段を示すブロック図、第８図
は請求項１記載の発明の第四の実施例であるレーザ出力
補正手段を示すブロック図、第９返は請求項２記載の発
明の一実施例である回転多面鏡の分解斜視図、第１０図
は６つの反射面をもつ回転多面鏡の面倒れの様子を示す
特性図、第１１図はその回転多面鏡の反射面の面倒れに
より走査線ピッチにムラか生じた場合における副走査方
向の露光分布を調整する様子を示す波形図、第１２図は
請求項３記載の発明の一実施例であるレーザ゛出力制御
回路を示す回路図、第１３図は画像記録装置の全体構成
を示す斜視図、第１４図は第一の従来例における走査線
のピッチムラを補正する様子を示す波形図、第１５図は
第二の従来例における走査線のピッチムラを補正する様
子を示す波形図である。 １・・・レーザ光源、３・・回転多面鏡、５　記録媒体
、１４・・・レーザ出力補正手段、１５　レーザ出力制
御回路、２５・光電気負帰還手段、２６・・・電流変換
手段 」７１図 一課　７図 （ａ）　　　　　　　　　　（ｂ） 副走査方向ピッチ　　　　　　副走査方向ピ゛シチ（ａ
）（ａ）（ａ） 副走査方向　　　　　　　　　　副走査方向　　　　　
　　副走査方向４０図 １　ｑ　ス ＥＦ、、−１０図 圧

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、レーザ光源から出射されるレーザビームの光出力を
   画像信号に応じて１画素内で強度変調し、前記出射され
   たレーザビームを回転多面鏡により走査させ、これら走
   査された走査線を記録媒体面上に描くことにより得られ
   た中間調画像を記録する画像記録装置において、前記記
   録媒体面上に描かれる各走査線間の走査ピッチの変動に
   応じて前記レーザ光源の光出力を微少量可変するレーザ
   出力補正手段を設けたことを特徴とする画像記録装置。 ２、レーザ光源から出射されるレーザビームの光出力を
   画像信号に応じて１画素内で強度変調し、前記出射され
   たレーザビームを回転多面鏡により走査させ、これら走
   査された走査線を記録媒体面上に描くことにより得られ
   た中間調画像を記録する画像記録装置において、前記回
   転多面鏡の反射鏡の回転軸に対する倒れによる走査ピッ
   チムラに対し隣接反射面による走査線とのピッチが最小
   である反射面と隣接反射面による走査線とのピッチが最
   大となる反射面とによる画像記録時にのみ前記レーザ光
   源の光出力を微少量可変するレーザ出力補正手段を設け
   たことを特徴とする画像記録装置。 ３、レーザ光源の光出力を受光部により検知しこの受光
   部から得られる前記レーザ光源の光出力に比例した受光
   信号と走査ピッチムラ補正のためのレーザ出力補正成分
   を含む発光レベル信号とが等しくなるように前記レーザ
   光源の順方向電流を制御する光電気負帰還手段と、前記
   受光信号と前記発光レベル信号とが等しくなるように前
   記レーザ光源の光出力順方向電流特性及び前記レーザ光
   源の光出力との結合係数さらには前記受光部の光入力受
   光信号特性に基づいて前記発光レベル信号を前記レーザ
   光源の順方向電流に変換する電流変換手段とを備え、前
   記光電気負帰還手段の制御電流と前記電流変換手段によ
   り生成された電流との和又は差の電流により前記レーザ
   光源の光出力を制御するレーザ出力制御回路を設けたこ
   とを特徴とする請求項１又は２記載の画像記録装置。